「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

A test signal IS from the maintenance testing device X is inspected by the relay inspecting circuit Fi and a maintenance inspecting circuit B of the maintenance testing device X.例文帳に追加

保守試験装置Ｘからの試験信号ＩＳを、中継検査回路Ｆ_i と保守試験装置Ｘの保守検査回路Ｂとで検査する。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine and a hardness testing method that can perform an automatic test independent from an error of an inclination and a flatness of a sample.例文帳に追加

試料の傾きや平面度の誤差に依存せず、自動試験を行うことのできる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device testing a plurality of DUTs simultaneously at a high speed, while suppressing deterioration of a test signal waveform.例文帳に追加

試験信号波形の劣化を抑えながら、複数のＤＵＴの試験を同時に高速で行える半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.例文帳に追加

テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device of internal engines that can perform the durability and performance test of different types of engines, using the same testing device.例文帳に追加

同一の試験装置で異なる種類のエンジンの耐久および性能試験を行うことができる内燃機関の試験装置を提供する。 - 特許庁

Black-box testing is the application of test data derived from the specified functional requirements without regard to the final program structure. 例文帳に追加

ブラック・ボックス法(black box testing)は,最終的なプログラム構造に関わりなく,特定の機能的要件から導き出されたテストデータを適用することである． - コンピューター用語辞典

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

To efficiently supply order receiving information and a test schedule related to an entrusted test to be provided at a testing place, to facilitate ordering of the entrusted test and work management and further to speedily report or disclose the test schedule and work progress conditions to a client or testing place.例文帳に追加

試験所が提供する受託試験に係る受注情報、試験計画を顧客に効率的に供給し、受託試験の発注と作業管理を容易なものとし、さらに試験計画と作業進捗状況を顧客または試験所に迅速に報告又は公開することを可能とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

The device testing apparatus 1 is equipped with a testing apparatus body 10 of the widely-used testing apparatus for testing the device, and the serial signal generating apparatus 20 for generating the series signal, and performs a test of a DUT 40 which is the receiving device.例文帳に追加

デバイス試験装置１は、デバイスの試験を行う汎用の試験装置である試験装置本体１０とシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置２０とを備えており、受信デバイスであるＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

This cold thermal shock testing device 1 has a high-temperature testing laboratory 2 and a low temperature testing laboratory 3 The device can change the test environment in the cold thermal shock test by moving a rack 4, on which a sample is placed between both the laboratories.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温試験室２と低温試験室３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動することにより、冷熱衝撃試験の試験環境を切り替え可能な構成とされている。 - 特許庁

To provide an automatic flat-plate load testing apparatus for flexibly controlling the load applied to a sinking test ground, reducing the workload of a testing person, and which is able to suppress errors, in a test result, due to the capability and individual difference in the testing person.例文帳に追加

沈下する試験地盤に対して柔軟な荷重制御が可能であり、試験員の労力を減らし、かつ、試験員の能力や個人差による試験結果の誤差を極力抑えることが可能な自動平板載荷試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a method and a tool for testing breakage strength for a gear tooth capable of carrying out a test efficiently using a general strength testing machine, and capable of conducting the stable test even when a testing gear is a helical gear.例文帳に追加

一般的な強度試験機を用いて効率良く試験を行え、また、試験歯車がはすば歯車であっても安定した試験が行える歯車の歯折れ強度試験方法と歯折れ強度試験治具を提供することを課題としている。 - 特許庁

To provide a urine testing paper test bar capable of making human urine contact a test specimen easily without being dirtied by excreted urine, flowing it into a flush toilet after the test, and reducing an amount of urine testing indicator-containing ink composition adhered, for urine testing paper test specimens used for human urine tests.例文帳に追加

人間の尿検査に用いる尿検査用試験体に関し、該試験体に手軽に尿を接触させしかも指先を排泄尿で汚すことなく、使用後は水洗トイレに流すことが可能であり、更に、尿検査用指示薬含有インク組成物の付着量を減少させることが可能な尿検査用紙製試験体棒を提供する。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

The apparatus includes the test head for outputting an input signal of the image driver, and a testing part set to an upper part of the test head for testing an output of the image driver.例文帳に追加

本装置は、映像駆動ドライバの入力信号を出力するテストヘッドと、このテストヘッドの上部に、映像駆動ドライバの出力を試験する試験部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a material testing machine that accurately measures a position of an edge using the entire area of a profile of a test piece edge, and a method for measuring test piece width of a material testing machine.例文帳に追加

試験片の端縁のプロファイルの全域を利用して端縁の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor which enables easy grasp of a test result of a direct current test without imposing troublesome work upon a user, and thus enables enhancement of testing efficiency.例文帳に追加

ユーザに対して煩雑な作業を強いることなしに直流試験の試験結果を容易に把握することができ、これにより試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of an examined product which can reduce a time required for a test of an examined product, realize an automatization of a testing procedure, and improve a reliability of a determination of a test result.例文帳に追加

被試験製品の試験に要する時間を短縮し、試験手順の自動化を実現し、試験結果の判定の信頼性を向上させることができる被試験製品の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a capacitor-testing device that can apply test electric power with a desired frequency and a sufficient high voltage to the capacitor of a test object to surely perform the testing needed.例文帳に追加

試験対象となるコンデンサに対して、所望の周波数での試験電力を充分な高電圧で印加して、必要な試験を確実に行うことが可能なコンデンサ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus of a semiconductor device and a test board that can perform continuous automatic test inexpensively with a socket for the testing apparatus having a structure capable of responding to many forms and a plurality of manufacturers.例文帳に追加

多品種および複数メーカにも対応可能な構造の、試験装置用ソケットにより、安価で連続的自動試験が可能な、半導体デバイスの試験装置およびテストボードを提供する。 - 特許庁

To provide a testing process and a testing program capable of facilitating a single operation confirmation test of a nuclear power plant control device and an operation confirmation test combined with another control device actual machine.例文帳に追加

原子力発電プラント制御装置の単体での動作確認試験、及び他の制御装置実機と組合せた動作確認試験が容易となる試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a rubber tensile testing method capable of clarifying anisotropy in tensile test due to the effects of calender grain etc. of vulcanized rubber even through the use of a testing apparatus for ring-like test strips.例文帳に追加

リング状試験片用の試験装置を用いてなお、加硫ゴムの、カレンダー列理等の影響による、引張試験における異方性を明確にすることができる、ゴムの引張試験方法を提供する。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

An image processor 21 is provided with a test item registering means for testing an image processor 20, an update means of firmware, a test execution means and a print test execution means for selecting and executing test items registered in the test item registering means and a report preparation means for preparing a report by analyzing the test result after ending the test.例文帳に追加

情報処理装置２１は画像処理装置２０をテストするためのテスト項目登録手段と、ファームウェアのアップデート手段と、テスト項目に登録したテスト項目を選択し実行するテスト実行手段と印刷テスト実行手段と、テスト終了後、テスト結果を解析してレポートを作成するレポート作成手段を備える。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

To realize a testing apparatus for image drivers which can test the image drivers without depending on a test head.例文帳に追加

テストヘッドに依存することなく、映像駆動ドライバの試験を行うことができる映像駆動ドライバの試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested.例文帳に追加

この摩擦試験機では、４つの正四角柱状の試験片の２つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。 - 特許庁

To shorten the time required for testing a plurality of circuit modules by reducing the volume of test data and test results data being inputted/ outputted externally.例文帳に追加

複数個の回路モジュールをテストするのに外部と入出力するテストデータ及びテスト結果データの量を減らし、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.例文帳に追加

真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test.例文帳に追加

イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.例文帳に追加

商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a protocol test device capable of testing a network using an optional protocol and to provide a protocol test method.例文帳に追加

本発明は、任意のプロトコルを用いてネットワーク試験を行うことができるプロトコル試験装置又はプロトコル試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to the plurality of test sockets Sc of a component test part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットＳｃに電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing a digital filter easily and sufficiently by simple constitution, without increasing the number of test data.例文帳に追加

より簡単な構成で、テストデータ数を増加させることなく、デジタルフィルタのテストを簡単且つ十分に行うことができるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins.例文帳に追加

金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables the simple and early acquisition of test results in a dyeing fastness test, and a testing machine therefor.例文帳に追加

染色堅ろう度試験において、簡易、かつ、早期に試験結果を得ることができる方法及びその試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING IT, AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WHERE SCAN TEST CIRCUIT IS MOUNTED例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁