「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties.例文帳に追加

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。 - 特許庁

ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF FORMING AUXILIARY CIRCUIT FOR TESTING THE SAME, AND TEST VECTOR CONVERTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置およびその試験用補助回路の生成方法およびそのテストベクタ変換方法 - 特許庁

To provide a testing device capable of identifying a defective optical module, with normal passage of test signal being allowed.例文帳に追加

不良品の光モジュールの特定が可能で、試験信号の正常通過も可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which output a current.例文帳に追加

本発明は、電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

1. Test equipment designed for testing S-parameters of transistors at frequencies exceeding 31.8 gigahertz 例文帳に追加

（一）　三一・八ギガヘルツを超える周波数でトランジスタのエスパラメータを試験することができるように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the examination of the Shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test) class, the highest level in Kakyo, testing the ability of making a poem was especially emphasized. 例文帳に追加

科挙の最高クラスである進士科の試験科目でも詩作の能力が特に重視されている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a semiconductor test system capable of improving the testing efficiency by shortening the time in wasteful standby state.例文帳に追加

無駄な待機状態を短縮することによりテスト効率を改善できる半導体テストシステムを実現すること。 - 特許庁

A testing apparatus 2 is configured to test an electronic module 1 which is to be mounted in a vehicle, before mounting in the vehicle.例文帳に追加

検査装置２は、車両に搭載される電子モジュール１を車両に搭載する前に検査するものである。 - 特許庁

To provide a device for testing temperature change which can suitably perform a test for temperature change in a semiconductor chip.例文帳に追加

好適に半導体チップの温度変化試験を行うことができる温度変化試験装置を提供する。 - 特許庁

To propose a tool for performing a compression test by utilizing a tensile testing machine that is widely in use as it is.例文帳に追加

広く普及している引張試験機をそのまま利用して圧縮試験を実施できる治具を提案する。 - 特許庁

To detect a failure in contact chain by effectively utilizing a testing pattern to conduct the voltage contrast test.例文帳に追加

ボルテージコントラスト検査を行う場合における検査パターンを有効に利用してコンタクトチェーンの不良を検出する。 - 特許庁

To provide a substrate test device capable of efficiently and randomly testing plural kinds of substrates with one device.例文帳に追加

１台で複数種類の基板をランダムに且つ効率よく検査することができる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the control part 3A comprises a test circuit 21 for testing the master filter 2A and the slave filter 1A.例文帳に追加

さらに、制御部３Ａは、マスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａをテストするためのテスト回路２１を含んでいる。 - 特許庁

To provide a test chamber capable of testing a semiconductor device efficiently under a more accurate temperature condition.例文帳に追加

半導体デバイスをより正確な温度条件の下で、効率的に試験することができるテストチャンバを提供する。 - 特許庁

TEST CONTACT SYSTEM FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT WITH PACKAGE HAVING ARRAY OF SIGNAL AND POWER CONTACT例文帳に追加

信号および電力接点のアレイを有するパッケージを備えた集積回路を試験するための試験接点システム - 特許庁

HIGH-FREQUENCY IC SOCKET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

高周波ＩＣソケット、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁

When you click Finish, the IDE creates the skeleton unit test file to which you add your specific testing code. 例文帳に追加

「完了」をクリックするとスケルトンの単体テストファイルが作成されるので、ここに具体的なテストコードを追加します。 - NetBeans

Provides a simple framework for creating a test application to automate testing of functions and classes. 例文帳に追加

関数およびクラスを自動的にテストするテスト用アプリケーションを作成するための簡単なフレームワークを提供します。 - PEAR

The basic building blocks of unit testing are test cases --single scenarios that must be set up and checked for correctness. 例文帳に追加

単体テストの基礎となる構築要素は、テストケース -- セットアップと正しさのチェックを行う、独立したシナリオ -- です。 - Python

A semiconductor testing device 100 is provided with a tester processor 100, a tester main body 20, and a test head 30.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、テスタプロセッサ１０、テスタ本体２０、テストヘッド３０を含んで構成されている。 - 特許庁

To provide a method for reclaiming a test substrate that has been used for testing a semiconductor manufacturing tool.例文帳に追加

半導体製造ツールをテストするために使用されたテスト基板が各々のテスト基板を再生利用すること。 - 特許庁

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus that makes it possible to efficiently test a plurality of kinds of devices to be tested.例文帳に追加

複数種類の被試験器の試験を効率的に行うことを可能とする自動試験装置を提供する。 - 特許庁

The first needle body is connected to a contact head, sends a test signal to the object for testing, and executes detection.例文帳に追加

第１の針本体は、コンタクトヘッドに接続され、テスト用物体にテスト信号を送り、検出を実行する。 - 特許庁

To provide a discharge characteristic testing apparatus and a discharge characteristic testing method which can shorten a charge time per discharge characteristic test and reduce a unit price of the apparatus.例文帳に追加

１回の放電特性テスト当たりの充電時間を短くでき、また、装置単価を低廉にできる放電特性テスト装置、および放電特性テスト方法の提供を図る。 - 特許庁

When the test is conducted, the trimming code outputting circuit outputs the trimming codes for testing to the voltage generating circuit, and the voltage generating circuit generates the driving voltage according to the trimming codes for testing.例文帳に追加

テスト時、トリミングコード出力回路はテスト用トリミングコードを電圧生成回路に出力し、電圧生成回路はテスト用トリミングコードに従って駆動電圧を生成する。 - 特許庁

To evade damage of a test pad caused by contact of a defective probe needle by a simple mechanism, with respect to a vertically-movable type probe card, testing method and testing device.例文帳に追加

上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置に関し、簡単な機構により不具合のあるプローブ針のコンタクトによるテストパッドの損傷を回避する。 - 特許庁

To provide a relaxation test method, testing device and a testing tool capable of measuring stress relaxation of a material efficiently and highly accurately by a simple method.例文帳に追加

材料の応力緩和を簡便な方法で、効率よく、高精度に測定することができるリラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具を提供すること。 - 特許庁

Further, or instead, the sequence for testing circuit block of discrete die is selected so as to manage or reduce the test resource used for testing of dies.例文帳に追加

さらに、または、その代わりに、個別のダイの回路ブロックをテストするためのシーケンスは、ダイのテストで使用されるテストリソースをやりくりし、または、減らすように選択される。 - 特許庁

A test aid device for testing the digital circuit of the IC is disposed in the vicinity of the substrate of a testing circuit which communicates with a signal with the IC.例文帳に追加

半導体集積回路のディジタル回路を試験するテスト補助装置を、半導体集積回路と信号のやり取りを行なうテスト回路基板に近傍に配置する。 - 特許庁

To provide a method for water pressure testing of a steel pipe capable of drastically and efficiently improving a water pressure test by achieving a simple improvement in a conventional water pressure testing device.例文帳に追加

既存の水圧試験装置に簡単な改良を加えることによって、大幅に水圧試験の能率を向上できる鋼管の水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

An evaluation test device 10 includes a cooling water supply device 14 for supplying cooling water to the testing object 12, and a heater 16 for heating the testing object 12.例文帳に追加

評価試験装置１０は、試験体１２に冷却水を供給する冷却水供給装置１４と、試験体１２を加熱する加熱装置１６とを備える。 - 特許庁

To prevent the shock generation of a material-testing machine when the control mode is changed while the material-testing machine is maintained to be in operation during the execution of a fatigue crack growth test.例文帳に追加

疲労き裂進展試験の実行中に材料試験機を運転状態に維持したままでその制御モードを切換える際の、材料試験機のショック発生を防止する。 - 特許庁

To provide a testing device for obtaining accurate test results by mounting a tire with a wheel without making it eccentric to a tire mounting shaft, and to provide a testing method.例文帳に追加

ホイール付きタイヤをタイヤ取り付け軸に対して偏心させることなく装着し、正確な試験結果を得ることを可能にした試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic testing system, capable of transmitting test result data by an automatic testing device from a transmitter and receiving the transmission at a receiver arranged at a required location.例文帳に追加

自動試験装置による試験結果データを送信機で送信させ、その送信を必要な場所に配置した受信機で受信できる自動試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test sample mounting device, a bending testing apparatus, and a bending testing method, etc. which can accurately apply load to an object.例文帳に追加

当該対象物に正確に荷重を加えることができる試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置及び曲げ強さ試験方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tire running test method and a tire running testing apparatus for evaluating the fault of a tire by testing precisely with a small number of error detections.例文帳に追加

試験で生じるタイヤの故障を、高い精度でしかも少ない誤検出で評価できるタイヤ走行試験方法及びタイヤ走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of outstandingly reducing labor required for preparation of a test signal applied to a plurality of kinds of ECUs.例文帳に追加

複数種類のＥＣＵに印加する試験用信号の作成に要する手間を大幅に低減することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR IT, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストパターン作成方法、半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、および、半導体集積回路試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing device which can easily test a semiconductor wafer owing to less number of components intervening between the semiconductor wafer and a testing board.例文帳に追加

半導体ウェハ及び検査ボード間に介装する部材点数が少なく、半導体ウェハの検査を簡易に行なうことができる半導体ウェハの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a collision testing device which assures desk test technique only with a cab without using a real vehicle, relating to a collision testing device for a cab of a track.例文帳に追加

本発明はトラックのキャブの衝突試験装置に係り、実車を使わず、キャブのみの台上試験手法を確立した衝突試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the test threads are called and requested for testing the mounted HDDs, the respective allocated threads execute a series of test operations one-by-one, and the test status of each HDD is recorded at every time one operation of the test is ended by the test thread.例文帳に追加

装着されたＨＤＤをテストするためにテストスレッドが呼出しおよび要求された時，それぞれの割り当てられたスレッドは一連のテスト作業を一つずつ行い，テストスレッドによってテストの一作業が終了する度に各ＨＤＤのテスト状態が記録される。 - 特許庁

In an inventive rolling/sliding fatigue life testing method for steel materials, a test body 3b of a steel material is immersed in a lubricant 2 in a test oil tank 1, and a load causing rolling/sliding contact is applied to the test body 3b to test the rolling/sliding fatigue life of the test body 3b.例文帳に追加

この鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法は、試験油槽１内の潤滑油２に鋼製材料の被試験体３ｂを浸漬して、転がりすべり接触を生じる負荷を与え、被試験体３ｂの転がりすべり疲労寿命の試験を行う。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁