super sampleとは 意味・読み方・使い方

To provide a total focus reflection type optical microscope capable of focusing on all the surface at the time of observing a super thin film sample on a substrate through a reflection type microscope.例文帳に追加

基板上の超薄膜試料を反射型顕微鏡で観察する際に、全面に焦点が合うような全焦点反射型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional confocal laser microscope system capable of providing the super-depth image of a sample at a real time by scanning an objective lens at high speed.例文帳に追加

対物レンズを高速に走査することによって、リアルタイムで試料の超深度画像を得ることのできる３次元共焦点レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

This ATR prism 1 of the present invention has a super-semispherical spherical face part 1a irradiated with incident light such as an infrared ray, and a super-hemispherical plane part 1b formed with a focal point O1 of the incident light, and a sample is set in the focal point O1.例文帳に追加

本発明のＡＴＲプリズム１は、赤外光等の入射光が照射される超半球形状の球面部１ａと、入射光の焦点Ｏ１が形成される超半球形状の平面部１ｂとを有し、焦点Ｏ１に、試料が設置されることを特徴とする。 - 特許庁

The ATR prism 1 comprises both a super-semispherical spherical part 1a that is irradiated with an incident light of infrared light etc., a super-semispherical flat part 1b in which the focal point O1 of incident light is formed, and a sample is mounted on the focal point O1.例文帳に追加

本発明のＡＴＲプリズム１は、赤外光等の入射光が照射される超半球形状の球面部１ａと、入射光の焦点Ｏ１が形成される超半球形状の平面部１ｂとを有し、焦点Ｏ１に、試料が設置されることを特徴とする。 - 特許庁

The slit light is reflected by a dichroic mirror 5, transmitted through the back focal plane, and then, made incident on the super high numerical aperture objective lens 7, then, refracted so as to reach the sample such as cells on a cover glass 8.例文帳に追加

スリット光はダイクロイックミラー５で反射され、後焦点面を通過して超高開口数対物レンズ７に入射し、屈折されてカバーガラス８上の細胞などの標本に達する。 - 特許庁

To provide an immunoassay reagent which achieves highly sensitive and specific measurement of a super trace quantity of antigen existing in a sample, while allowing a handy measurement thereof with a general purpose automatic analyzer without requiring B/F separation.例文帳に追加

試料中に超微量存在する抗原を高感度かつ特異的に測定することができると共に、Ｂ／Ｆ分離を必要とせず汎用自動分析装置によって簡便に測定を行うことができる免疫測定試薬を提供する。 - 特許庁

By allowing the middle position between each pixel of the real low resolution image Fa forming a remarkable frame to be a reference position, the real low resolution image of the frame close to a sample point (pixel position) is selected as a real low resolution image so that super-resolution processing is carried out.例文帳に追加

注目フレームとなる低解像度実画像Ｆａの各画素間の中間位置を基準位置とし、この基準位置に対して、そのサンプル点（画素位置）が近いフレームの低解像度実画像を、超解像処理を行うための低解像度実画像として選択する。 - 特許庁

To provide a manipulation device for fine work of an electron microscope constituted by mounting a dual probe which enables an operator not only to observe an extremely fine and minute sample but also to smoothly and surely perform electric measurement and further electric super-fine working while observing an image by the microscope.例文帳に追加

極めて微細かつ精緻な顕体試料の観察のみならず、オペレーターが顕微鏡の画像を観察しながら、電気的測定、さらには電気的超微細加工を、円滑かつ確実に行なうことを可能とするデュアルプローブを載置した電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置の提供。 - 特許庁