wafer mapとは 意味・読み方・使い方

To provide the wafer map display device of a semiconductor test device, which can display a chip and a character in sizes corresponding to the window size of wafer map display.例文帳に追加

ウエハマップ表示のウィンドウサイズに対応した大きさでチップと文字を表示可能とする半導体試験装置のウエハマップ表示装置を提供する。 - 特許庁

A wafer map is produced from the fetched picture data, and a map coordinate in which a defective semiconductor chip is located is recognized.例文帳に追加

取り込まれた画像データからウエハマップを生成し、不良品の半導体チップが位置するマップ座標を認識する。 - 特許庁

To provide a device and a method for fabrication of a semiconductor wafer test MAP chart which fabricates a MAP chart by which an user can recognize the test result of a chip on a wafer visually.例文帳に追加

使用者がウエハ上のチップのテスト結果を視覚的に認識できるＭＡＰ図を作成する半導体ウエハテストＭＡＰ図作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

In this analysis method, a semiconductor wafer is measured for every chip by measuring means 1, and wafer map data 6 of the semiconductor wafer are formed based on the data resulting from the measurement for every chip, and the pattern of this wafer map data 6 of the semiconductor wafer is compared with the image pattern formed for every defective factor and stored in a memory part.例文帳に追加

半導体ウエハを測定手段１でチップ毎に測定し、その測定によるチップ毎の測定結果のデータによって、半導体ウエハのウエハマップデータ６を作成し、この作成したウエハマップデータ６のパターンと予め不良要因毎に作成されて記憶部に格納されている画像パターンとを比較する。 - 特許庁

To provide a wafer mapping system capable of forming map data with cheap and simple arrangement.例文帳に追加

安価かつ簡素な構成でマップデータを作成することのできるウェハマッピングシステムを提供する。 - 特許庁

Further, whether the product performance is good or not is measured from defects of a finished wafer, whereby a fail map is formed.例文帳に追加

また、完成したウエハの欠陥から製品特性の良否を測定し、フェイルマップを作製する。 - 特許庁

WAFER MAP AUTOMATIC DISCRIMINATION CONTROL METHOD, SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウェハマップ自動判定制御方法及び半導体検査装置、半導体製造装置、半導体装置 - 特許庁