wafer mapとは 意味・読み方・使い方

Two-dimensional map informations displaying the nondefectives or defectives of chips on a semiconductor wafer are arrayed on a one-dimensional map in the horizontal direction.例文帳に追加

半導体ウエハ上のチップの良否を示す２次元マップ情報を横方向の１次元マップに配列する。 - 特許庁

A region to be inspected is clicked or dragged (chip selected) for specification from among effective chips on a wafer map 101 and a map in chips.例文帳に追加

図７に示す検査領域の画面では、ウエハマップ及びチップ内マップ上の有効チップの中で、検査の対象とする領域を指定する。 - 特許庁

WAFER MAP AUTOMATIC DISCRIMINATION CONTROL METHOD, SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウェハマップ自動判定制御方法及び半導体検査装置、半導体製造装置、半導体装置 - 特許庁

To provide a wafer mapping system capable of forming map data with cheap and simple arrangement.例文帳に追加

安価かつ簡素な構成でマップデータを作成することのできるウェハマッピングシステムを提供する。 - 特許庁

Further, whether the product performance is good or not is measured from defects of a finished wafer, whereby a fail map is formed.例文帳に追加

また、完成したウエハの欠陥から製品特性の良否を測定し、フェイルマップを作製する。 - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

To provide the wafer map display device of a semiconductor test device, which can display a chip and a character in sizes corresponding to the window size of wafer map display.例文帳に追加

ウエハマップ表示のウィンドウサイズに対応した大きさでチップと文字を表示可能とする半導体試験装置のウエハマップ表示装置を提供する。 - 特許庁

The wafer is also measured after the processing to compare an actual outcome with the targeted outcome, and the difference thereof is used to refine the transformation from a dimension map to a processing parameter map for a subsequent wafer.例文帳に追加

ウェーハはまた、目的の出力と実際の出力とを比較するために処理後に測定され、その差分は、後続のウェーハのために寸法マップから処理パラメータマップへの変換を改善するように用いられる。 - 特許庁