例文 (220件) |
プラズマ酸窒化の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 220件
さらに、この第2のプラズマ酸化膜の上にプラズマ窒化膜を形成する。例文帳に追加
Moreover, a plasma nitride film is formed on the second plasma oxide film. - 特許庁
トンネル絶縁膜15aは、プラズマ酸化膜とプラズマ窒化膜とを積層した積層膜である。例文帳に追加
The tunnel insulating film 15a is a laminate film in which a plasma oxide film and a plasma nitride film are laminated. - 特許庁
下地絶縁膜1の上にプラズマシリコン窒化膜2、プラズマTEOS酸化膜3を形成する。例文帳に追加
A plasma silicon nitride film 2 and a plasma TEOS oxide film 3 are formed on a substrate insulating film 1. - 特許庁
続いて、シリコン酸化膜に対してプラズマ窒化を行う(ステップS3)。例文帳に追加
Then, the silicon oxide film is plasma-nitrided (step S3). - 特許庁
そして、ステップ3では、半導体基板が亜酸化窒素プラズマに晒される。例文帳に追加
In a step 3, the semiconductor substrate is exposed to nitrous oxide plasma. - 特許庁
次に、プラズマ中の窒化ラジカルによって、シリコン酸化膜105の少なくとも表面部を窒化する。例文帳に追加
At least a surface portion of the silicon oxide film 105 is then nitrided by nitriding radicals in plasma. - 特許庁
上記プラズマは、窒素ガス、アルゴンガス、酸素ガス、フッ素系炭化水素ガスから選ばれる少なくとも1種のガス中で発生させたプラズマである。例文帳に追加
The plasma is generated in at least one gas selected from a nitrogen gas, an argon gas, an oxygen gas and a fluorinated hydrocarbon gas. - 特許庁
絶縁基板101を酸素プラズマでクリーニングした後窒素プラズマ処理にて安定化させた清浄処理層102を形成する。例文帳に追加
An insulating substrate 101 is cleaned with oxygen plasma, then stabilized by treatment with nitrogen plasma to form a clean treated layer 102. - 特許庁
酸素プラズマにてレジストを除去し、プラズマCVD法により窒化膜16を厚さ1.0μm着膜する。例文帳に追加
The resist is removed by oxide plasma, and a nitride film 16 with a thickness of 1.0 μm is stuck by the plasma CVD method. - 特許庁
これらのゲート電極の上にプラズマTEOS膜からなるシリコン酸化膜5、シリコン窒化膜7、プラズマTEOS膜からなるシリコン酸化膜9を形成し、その上面にプラズマシラン膜10を形成する。例文帳に追加
A silicon oxide film 5 composed of a plasma TEOS film, a silicon nitride film 7, and a silicon oxide film 9 composed of the plasma TEOS film are formed on the gate electrodes, and a plasma silane film 10 is formed on the upper surface. - 特許庁
このベースSiON膜は、Si基板の熱酸窒化もしくはSi基板上の酸窒化膜の堆積により形成し、その後、酸化工程(プラズマ酸化、もしくはO_2酸化)を行い、引き続きプラズマ窒化を行う。例文帳に追加
The base SiON film is formed through thermal oxidization/nitrization of a Si substrate or deposition of an oxidized/nitided film on the Si substrate, and then oxidization step (plasma oxidization or O_2 oxidization) is followed by plasma nitirization. - 特許庁
プラズマ触媒反応器、空気浄化装置、窒素酸化物浄化装置、及び燃焼排ガス浄化装置例文帳に追加
PLASMA CATALYST REACTOR, AIR CLEANER, NITROGEN OXIDE CLEANER AND WASTE COMBUSTION GAS CLEANER - 特許庁
タンタル又は窒化タンタル膜は、酸化性プラズマ化学物質を用いて選択的に取り除かれる。例文帳に追加
The tantalum or the tantalum nitride film is selectively removed, using an oxidative plasma chemical substance. - 特許庁
そして、プラズマ窒化処理後のシリコン酸化膜表面またはシリコン酸窒化表面を大気に曝露させないようにプラズマ窒化処理に連続してALD処理を施し、その上にシリコン窒化膜を堆積する(ステップS3)。例文帳に追加
Subsequently, ALD processing is performed continuously on the surface of the silicon oxide film or the silicon oxide nitride film subjected to plasma nitriding so that the surface is not exposed to the atmosphere, and a silicon nitride film is deposited thereon (step S3). - 特許庁
このプラズマ窒化の結果、活性窒素の導入によりシリコン酸化膜が窒化され、シリコン酸窒化膜が得られる。例文帳に追加
As a result of the plasma nitriding, active nitrogen is introduced and the silicon oxide film is nitrided and consequently a silicon oxynitrided film is obtained. - 特許庁
酸化窒化珪素膜3を成膜する前に、酸化窒化珪素膜のソースガスである亜酸化窒素(N_2O)ガスを用いてプラズマ前処理した。例文帳に追加
Before forming the oxynitride silicon film 3, pretreatment with plasma is done by using nitrous oxide (N2O) gas, which is a source gas of the oxynitride silicon film. - 特許庁
プラズマによる有機ハロゲン化合物の分解装置の窒素酸化物除去装置例文帳に追加
NITROGEN OXIDE REMOVING UNIT OF APPARATUS FOR DECOMPOSING HALOGENATED ORGANIC COMPOUND BY PLASMA - 特許庁
この酸化膜14を形成したのと同じプラズマ装置を連続して用い、窒素プラズマ18を生成し、酸化膜14を窒化し、酸窒化膜20を形成する。例文帳に追加
The same plasma apparatus as one that forms the oxide film 14 is continuously used to generate nitrogen plasma 18 for nitriding the oxide film 14, and then to form an oxynitrided film 20. - 特許庁
次いで、プラズマにより発生させた窒素ラジカルまたは窒素イオンでシリコン酸化膜に窒素を導入しシリコン酸窒化膜を形成する。例文帳に追加
Then, nitrogen is introduced in the form of nitrogen radicals or nitrogen ions generated by plasmas into the silicon oxide film to form the silicon oxynitride film. - 特許庁
プラズマ励起用のガスを用いてプラズマを発生させ、処理用ガスを前記プラズマ内に導入して被処理物を処理するプラズマ処理方法で、処理用ガスは亜酸化窒素ガスを含み、かつ前記亜酸化窒素ガスを電子温度が2.24eV未満のプラズマ中に導入することで絶縁膜にダメージを与えるイオンの発生を軽減させることで、高品質な酸窒化を実現できるプラズマ処理方法、及びこのプラズマ処理方法を使った電子装置の製造方法を実現できる。例文帳に追加
The manufacturing method of an electronic device can be realized using the plasma processing method. - 特許庁
そして、窒素原子を有するガス雰囲気下においてプラズマを発生させることにより、上記酸化膜の一部をプラズマ窒化させ、酸化膜上に窒素原子を含む絶縁膜が形成された半導体基板を得る。例文帳に追加
Plasma is generated under an atmosphere of a gas containing nitrogen atoms and plasma nitridation is performed on part of the oxide film, so that a semiconductor substrate in which an insulating film containing nitrogen atoms is formed over the oxide film is obtained. - 特許庁
次いで初期酸窒化物層にプラズマ窒化物形成を行い、それによって、最終物理厚を有する最終酸窒化物層が得られる。例文帳に追加
Then a plasma nitride forming treatment is applied for the initial oxynitride layer, and the final oxynitride layer having the final physical thickness is formed. - 特許庁
二酸化シリコン層のリモート・プラズマ窒化が行われ、酸化に対する耐性を有するシリコン酸化窒化物層(106)をつくる。例文帳に追加
The silicon dioxide layer is subjected to remote plasma nitriding, so that a silicon oxide/nitride layer 106 of oxidation resistance is formed. - 特許庁
エンジンからの排ガスの流路に備えられるプラズマ発生器によってプラズマを発生させ、該排ガス中の窒素成分をプラズマ化して二酸化窒素を生成し、排ガス中の黒鉛微粒子を酸化燃焼することを特徴とするエンジン排ガスの処理方法、並びに、エンジン排ガスの処理装置。例文帳に追加
The method and device for processing the exhaust gas from the engine include a plasma generator installed in a passage for the exhaust gas from the engine for generating plasma, whereby the nitrogen component of the exhaust gas is turned into plasma so that nitrogen dioxide is produced, and graphite particulates in the exhaust gas are oxidated and combusted. - 特許庁
半導体基板上に形成された窒化チタン膜に対して、希ガスまたは窒素を含み、酸素を含まない処理ガスをプラズマ化して得たプラズマを照射することにより、前記窒化チタン膜の比抵抗率を増加させる。例文帳に追加
By irradiating the titanium nitride film formed on a semiconductor substrate with plasma obtained by changing a processing gas containing a rare gas or nitrogen without containing oxygen into plasma, specific resistivity of the titanium nitride film is increased. - 特許庁
プラズマとして大気圧非平衡プラズマを用い、還元剤を複数段に分割注入することにより、亜酸化窒素の再生成を抑制し、排ガス中の亜酸化窒素をほぼ完全に分解することができる。例文帳に追加
An atmospheric-pressure equilibrated plasma is used as the plasma, and the reducing agent is charged in two or more stages in a divided manner so as to control re-formation of nitrous oxide and decompose nitrous oxide in the exhaust gas nearly completely. - 特許庁
コンデンサを搭載した化合物半導体装置であって、該コンデンサの絶縁体は、プラズマCVDシリコン酸化膜上にプラズマCVDシリコン窒化膜を形成することにより、下層のプラズマCVD酸化膜中のシリコン原子の余った結合手により水素原子が捕獲され信頼性の悪化を招かない。例文帳に追加
Since hydrogen atoms are captured by excess bonds of silicon atoms in the underlying plasma CVD silicon oxide film, the reliability is not deteriorated. - 特許庁
シリコン酸化膜をリモートプラズマ処理により窒化して酸窒化膜を形成する成膜方法において、金属汚染を抑制する。例文帳に追加
To suppress metal contamination in a film deposition method for forming an oxynitride film by nitriding a silicon oxide film by remote plasma processing. - 特許庁
成膜条件変更によりプラズマCVDシリコン窒化膜の高電界破壊強度化を図り、それと共に窒化膜下層にプラズマCVDシリコン酸化膜を形成する。例文帳に追加
In the compound semiconductor device mounting a capacitor, an insulator of the capacitor is obtained by forming a plasma CVD nitride film on a plasma CVD silicon oxide film. - 特許庁
シリコン酸化膜を窒化処理する際に、リモートプラズマ源への窒化ガスの供給量を、リモートプラズマ源のガス通路のスパッタに使われるエネルギ増加し始める所定値以下に設定する。例文帳に追加
When a silicon oxide film is subjected to nitriding, amount of nitriding gas supply to a remote plasma source is set lower than a predetermined level at which energy used for sputtering the gas passage of the remote plasma source begins to increase. - 特許庁
半導体装置の製造方法は、半導体基板上に形成された酸素を含んだ絶縁膜をプラズマ窒化する工程(S102)において、連続して実行するプラズマ窒化処理を、100マイクロ秒以上の間隔をあけて2回以上行う。例文帳に追加
In this manufacturing method of a semiconductor device, in a process S102 of plasma-nitriding an insulation film formed on a semiconductor substrate, and containing oxygen, a plasma nitriding treatment is executed two or more times at an interval of ≥100 μsec. - 特許庁
亜酸化窒素を含む排ガスを、アンモニアを還元剤としてプラズマにより無触媒で窒素と酸素と水に還元する。例文帳に追加
The exhaust gas containing nitrous oxide is reduced to nitrogen, oxygen and water by plasma with ammonia as a reducing agent and without a catalyst. - 特許庁
窒化シリコンと酸化シリコンを有する被処理物において、略常圧下で前記窒化シリコンを選択的にプラズマエッチングする。例文帳に追加
To selectively conduct the plasma etching to silicon nitride under the almost normal pressure for the processing object including silicon nitride and silicon oxide. - 特許庁
溝の内部に窒化金属膜を介して埋め込まれたフォトレジストのプラズマアッシングに際して、窒化金属膜の酸化を防止する。例文帳に追加
To prevent oxidation of a metal nitride film on the occasion of plasma ashing of photoresist embedded into the groove via the metal nitride film. - 特許庁
半導体ウエハ上のフッ素添加カーボン膜の表面部を、窒素ガスをプラズマ化して得られるプラズマ雰囲気に曝すことにより窒化処理し、次いで半導体ウエハを例えばトリメチルシランガス及び酸素ガスをプラズマ化して得られるプラズマに曝すことによりフッ素添加カーボン膜の上に例えばSiCO膜を成膜する。例文帳に追加
The SiCO film for example is formed on a fluorine-added carbon film by subjecting a surface of the fluorine-added carbon film on a semiconductor wafer to a nitriding processing, by exposing the same to a plasma atmosphere obtained by making nitrogen gas plasma and then exposing the semiconductor wafer to plasma obtained by making triethylsilane gas and oxygen gas for example plasma. - 特許庁
窒化チタン10の表面を、150℃以上での酸素プラズマ処理または酸化雰囲気での400℃以上での熱処理により酸化させる。例文帳に追加
The surface of a titanium nitride 10 is oxidized in an oxygen plasma process at 150°C or above, or a thermal process in an oxidizing atmosphere at 400°C or above. - 特許庁
この基材Wを温調手段40で350℃程度に加熱、温調しながら、酸素と窒素の混合ガス等からなる結晶化用処理ガスをプラズマ照射手段10にてプラズマ化し、このプラズマを基材Wに照射する。例文帳に追加
While the base material W is heated to about 350°C by a temperature control means 40, so as to perform temperature control, a treatment gas for crystallization, e.g., composed of a gaseous mixture of oxygen and nitrogen is converted into plasma by a plasma irradiation means 10, and the base material W is irradiated with the plasma. - 特許庁
この多層シリコン酸化膜をプラズマ窒化法などにより窒化してシリコン酸化窒化膜5、6を形成し、上層ほど窒素濃度が高い窒素濃度プロファイルを有する多層シリコン酸化窒化膜を形成する。例文帳に追加
The multilayered silicon oxide film is nitrided through a plasma nitriding method into silicon oxide nitride films 5 and 6, so that the multilayered silicon oxide nitride film whose upper part gets higher in nitrogen concentration than its lower part can be formed. - 特許庁
シリコン酸化膜が形成された前記シリコン基板を準備する工程と、前記シリコン酸化膜上に窒素ガスを導入してプラズマを生成して該プラズマ処理する工程と、前記シリコン酸化膜の上部を前記プラズマにより窒化して、該シリコン酸化膜の上部をシリコン窒化膜に変化させる工程とを有する。例文帳に追加
The plasma processing method includes the steps of: preparing a silicon substrate where a silicon oxide film is formed; performing plasma processing by introducing nitrogen gas on the silicon oxide film to generate plasma; and nitrifying an upper part of the silicon oxide film with the plasma to change the upper part of the silicon oxide film into a silicon nitride film. - 特許庁
このような窒素濃度プロファイルを実現するためには、酸化膜又は酸窒化膜を形成してからその表面領域をプラズマ窒化処理するか、窒化膜又は酸窒化膜を形成してからSi基板の表面領域を酸化する。例文帳に追加
In order to realize this nitrogen concentration profile, the surface region of the oxide film or oxinitride film is subjected to plasma nitriding after the film is formed or the surface region of the Si substrate 1 is oxidized after a nitride film or the oxinitride film is formed. - 特許庁
2軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルムの表面をマイクロ波でプラズマ化した窒素ガスによりプラズマ処理し、さらに無機酸化物を積層することを特徴とする透明蒸着フィルムの製造方法を提供する。例文帳に追加
In the production method for the transparent vapor-deposited film, the surface of a biaxially oriented polyethylene terephthalate film is subjected to plasma treatment with a gaseous nitrogen made into plasma by microwaves, and further an inorganic oxide is layered on the film. - 特許庁
SiCO膜をハードマスクとして使用する場合に、CF膜をシリコンの有機化合物例えばトリメチルシランガスを活性化したプラズマ雰囲気に例えば5〜10秒程度曝し、次いでこのプラズマに窒素プラズマを加えてフッ素添加カーボン膜の上にSiCN膜を成膜し、その後例えばトリメチルシランガスと酸素ガスとを活性化したプラズマによりSiCO膜を成膜する。例文帳に追加
When the SiCO film is used as the hard mask, a method includes: exposing the CF film for about 5-10 seconds in a plasma atmosphere activated with an organic compound of silicon, for example, trimethyl silane gas; next, adding nitrogen plasma to this plasma and depositing the SiCN film on the fluorine-added carbon film; and thereafter, depositing the SiCO film by the plasma activating trimethyl silane gas and oxygen gas. - 特許庁
第1のプラズマ窒化処理が終了し、処理容器1から1枚のウエハWを搬出した後に、処理容器1内から酸素を排出させるプラズマシーズニングを行う。例文帳に追加
After first plasma nitriding treatment is completed and one wafer is carried out of the treatment container 1, plasma seasoning for discharging oxygen from the treatment container 1 is carried out. - 特許庁
プラズマ触媒反応器、空気浄化装置、窒素酸化物浄化装置、燃焼排ガス浄化装置、ダイオキシン分解装置、及びフロンガス分解装置例文帳に追加
PLASMA CATALYTIC REACTOR, AIR CLEANING APPARATUS, NITROGEN OXIDE CLEANING APPARATUS, WASTE COMBUSTION GAS CLEANING APPARATUS, DIOXINE DECOMPOSING APPARATUS AND FLUOROCARBON GAS DECOMPOSING APPARATUS - 特許庁
シリコン酸化膜106およびシリコン窒化膜107は、ラジアルラインスロットアンテナを用いたマイクロ波プラズマ処理によって形成される。例文帳に追加
The silicon oxide film 106 and the silicon nitride film 107 are formed by microwave plasma processing using a radial line slot antenna. - 特許庁
水素のプラズマ励起種はタンタルの酸化状態を低減し、それによって、基板上に実質的に導電性の窒化タンタル膜を形成する。例文帳に追加
The plasma-excited species of hydrogen reduce the oxidized state of tantalum, thereby yielding a substantially conductive tantalum nitride film on the substrate. - 特許庁
プラズマCVD法を用いてゲート電極形成用の導電層上に酸化窒化膜からなる反射防止膜27aを形成する。例文帳に追加
A antireflection film 27a, consisting of an oxynitride film, is formed on a conductive layer for gate electrode formation using plasma CVD method. - 特許庁
シリコン窒化膜6bを形成した後には、高密度プラズマ法によりシリコン酸化膜6cを形成する。例文帳に追加
After forming the silicon nitride film 6b, a silicon oxide film 6c is formed by the dense plasma method. - 特許庁
引張り応力を有する酸化窒化シリコン膜は、SiH_4、N_2O及びNH_3からなる混合ガスを用いたプラズマCVD法により形成する。例文帳に追加
The oxidized silicon nitride film having the tensile stress is formed by a plasma CVD method using mixture gas composed of SiH_4, N_2O and NH_3. - 特許庁
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