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ポゴピンを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 91



例文

コンタクトピン及びポゴピン例文帳に追加

CONTACT PIN AND POGO PIN - 特許庁

半導体テスタのポゴピンブロック例文帳に追加

POGO PIN BLOCK OF SEMICONDUCTOR TESTER - 特許庁

ICテスタのポゴピンブロック例文帳に追加

POGO PIN BLOCK OF IC TESTER - 特許庁

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクター例文帳に追加

POGO PIN AND CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST EQUIPPED WITH THE POGO PIN - 特許庁

例文

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクターを提供する。例文帳に追加

To provide a pogo pin and a contactor for semiconductor element testing that is equipped with the pogo pin. - 特許庁


例文

ポゴピンの汚れを容易にクリーニングする。例文帳に追加

To easily clean dirt from a pogo pin. - 特許庁

前記コンタクトは、ポゴピンであってもよい。例文帳に追加

The above contact may be a pogo pin. - 特許庁

集積回路パッケージ検査用ポゴピン例文帳に追加

POGO PIN FOR INSPECTING INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE - 特許庁

ポゴピン26を支持するハウジング27を備える。例文帳に追加

The socket includes a housing 27 for supporting the POGO pins 26. - 特許庁

例文

ポゴピン60はチャックリード板54に接触する。例文帳に追加

The pogo pin 60 contacts the chuck lead plate 54. - 特許庁

例文

ポゴピン(ばね内臓式接触ピン)6は、ポゴピン上部6aとポゴピン下部6bとばね6cを有しており、半導体装置1が装着されない状態で、ポゴピン上部6aはアースコンタクタ3と接触している。例文帳に追加

A pogopin (spring-incorporating contact pin) 6 has a pogopin upper part 6a and pogopin lower part 6b and a spring 6c, and the pogopin upper part 6a contacts an earth contactor 3 in a state the semiconductor device 1 is not installed. - 特許庁

ポゴピンソケットおよびそれを用いた半導体ウェハの検査装置と半導体ウェハの検査方法並びにポゴピンの抜取方法例文帳に追加

POGO PIN SOCKET AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER USING IT, AND METHOD FOR EXTRACTING POGO PIN - 特許庁

ポゴピンインターポーザは、変換基板と電気的に接続するポゴピン13が表面に設けられ、変換基板をこの表面上に載置できる。例文帳に追加

The surface of the pogo-pin interposer is provided with pogo pins 13 for electrically connecting to the conversion substrate, and the conversion substrate can be mounted on the surface. - 特許庁

IC2のバンプ13の接地用のものに両端ポゴピン8を対応させ、信号用のものに両端ポゴピン9を対応させている。例文帳に追加

Double end POGO pins 8 are made to correspond to grounding bumps 23 out of bumps 13 in an IC 2, and double end POGO pins 9 are made to correspond to the bumps 13 for signals. - 特許庁

ポゴピン31は、帯状金属板材をU字状に折り曲げてポゴピン本体部31aを構成させる。例文帳に追加

The pogo pin 31 composes a pogo pin body part 31a by bending a strip-shaped metal plate into a U shape. - 特許庁

伝導性ゴム材質のコンタクトパッド部と、コンタクトパッド部の下部に形成されたバネと、を備えるポゴピン、及び、かかるポゴピンが複数配置されたポゴピンアレイと、ポゴピンアレイを固定するハウジングと、を備える半導体素子テスト用コンタクターである。例文帳に追加

The contactor for semiconductor element test is provided with the pogo pin which is equipped with a contact pad part made of an electrical conductive rubber and a spring formed under part of the contact pad part, and a pogo pin array which is mounted in plural number with the pogo pin, and a housing fixing the pogo pin array. - 特許庁

チャックトップ49の周辺部にはポゴピン60を固定する。例文帳に追加

A pogo pin 60 is secured at the peripheral part of the chuck top 49. - 特許庁

テストボード12とプローブカード16との間に、両ポゴピンボード20を配置し、主としてポゴピン22,24、両ポゴピンボード20の厚みに相当する空間を形成する。例文帳に追加

A dual pogo pin board 20 is disposed between a test board 12 and a probe card 16, to mainly form spaces of a depth corresponding to the thickness of pogo pins 22, 24/the dual pogo pin board 20. - 特許庁

グラウンド電位の電位をポゴピンブロック単位にて同電位にでき、且つ、ポゴピンブロック単位で周囲部品との絶縁が実施できる半導体テスタのポゴピンブロックを実現する。例文帳に追加

To achieve a pogo pin block of a semiconductor tester for equalizing a ground potential, and insulating peripheral components by each unit of the pogo pin block. - 特許庁

ポゴピンソケットの挿入穴に挿入したポゴピンのプランジャが破損した場合に破損したポゴピンを挿入穴から容易に抜取る手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means for extracting a damaged pogo pin from the insertion hole of a pogo pin socket easily, when the plunger of the pogo pin inserted into the insertion hole is damaged. - 特許庁

本ピンブロック・ストラクチャは、複数のポゴピンを挿入するための複数のポゴホール有するポゴピンブロックと、そのポゴピンブロック内において所定数のポゴホールについてポゴピンが同じ空間を共有するように設けられた接続ホールと、そのポゴピンをあらかじめ定められたポゴホールにロックするためのポゴキャップとにより構成される。例文帳に追加

This pin block structure consists of a pogo pin block 13 having plural pogo holes 17 for inserting plural pogo pins 11, a connecting hole formed within the pogo block 13 for a prescribed number of the pogo holes 17 to share the same space with the pogo pins 11, and a pogo cap 12 for locking the pogo pins 11 in the preset pogo holes 17. - 特許庁

本発明のESD試験装置は、複数個のポゴピンをマトリックス状に配置し、前記ポゴピンに対応させて設けられた複数のスイッチにより選択されたポゴピンに接続するLSIの端子に対してCDMに基づくESD試験を行うことを特徴としている。例文帳に追加

In the ESD-testing device, a plurality of pogo pins are arranged into a matrix form, and an ESD test based on CDM is performed to LSI terminals connected to the selected pogo pins by a plurality of switches provided corresponding to the pogo pins. - 特許庁

複数のワイヤと複数のポゴピンをソケットを介して接続するように構成されたポゴブロックにおいて、ポゴブロック内にポゴピン用貫通型ノイズ対策部材を埋め込むとともに、ポゴピン用貫通型ノイズ対策部材に前記ソケットを埋め込んだ。例文帳に追加

In a pogo block constituted so as to connect a plurality of wires to a plurality of pogo pins via a socket, a penetration type noise measures member for the pogo pins is buried into the pogo block, and the socket is buried into the penetration type noise measures member for the pogo pins. - 特許庁

半導体装置1が押圧されると{図(c)}、ポゴピン上部6aも下部方向に摺動し、ポゴピン上部6aはアースコンタクタ3との接触が解かれ、半導体装置1の半田ボール1aがポゴピン6を経由して測定装置に接続されていることにより測定開始可能な状態となる。例文帳に追加

When the semiconductor device 1 is pressed {figure (c)}, the pogopin upper part 6a also slides in the lower direction, the pogopin upper part 6a is released from contact to the earth contactor 3, the solder ball 1a of the semiconductor device 1 is connected to the measuring device by way of the pogopin 6 so as to be in a state capable of starting measuring. - 特許庁

上記バックボード17が上記ピンカード16とポゴピンヘッド26との間に位置して上記コネクタ22で上記ピンカード16に接続されると共に、上記バックボード17のコネクタ22と上記ポゴピンヘッド26の各ポゴピン29とがケーブル23で接続された。例文帳に追加

The back board 17 located between the pin card 16 and the pogopin head 26 is connected to the pin card 16 by a connector 22, and also, the connector 22 of the back board 17 and each pogopins 29 of the pogopin head 26 are connected by a cable 23. - 特許庁

ポゴピン3と、このポゴピンに接することなくこれを内部に保持し、且つGND処理されたスルーホール1を備える筐体2と、この筐体の前記スルーホール開口面に設置され、前記ポゴピンを固定する絶縁シート4、4'とを具備する例文帳に追加

This high-frequency socket is provided with pogo pins 3, a case having GND (ground)-processed through holes 1 holding the pogo pine 3 inside in no contact with them, and insulating sheets 4 and 4' installed on the opening faces of the through holes to fix the pogo pins. - 特許庁

ポゴピン構造のプローブ針を有するプローブカードとプローブ針の交換方法例文帳に追加

METHOD FOR EXCHANGING PROBE CARD WITH PROBE NEEDLE OF POGO PIN STRUCTURE WITH PROBE NEEDLE - 特許庁

この複数の板材を貫通して、ポゴピン26を支持する支持穴35を設けた。例文帳に追加

Support holes 35 which pierce the plurality of plates and support the POGO pins 26 are prepared. - 特許庁

また、検査装置の接続ユニットの各ポゴピン挿入穴に、上記接触子を備えた。例文帳に追加

The contactors are provided in each pogo pin insertion hole of a connection unit of an inspection device. - 特許庁

また、他の面に、テーパ状に拡径したポゴピンガイド17bが設けられている。例文帳に追加

Furthermore, pogo pin guides 17b which have diameters enlarged in tapered states are provided on the other surface. - 特許庁

本発明のプローブカードは、被検査体の各電極に電気的に接触される複数のポゴピンを備えたプローブカードであって、前記各ポゴピンを支持する支持基板を備え、当該支持基板が、前記各ポゴピンの下部を位置決めして支持する堅牢な支持部材と、前記各ポゴピンの中間部を支持する柔軟性のあるシート状支持部材とを備えた。例文帳に追加

The probe card, which is a probe card including a plurality of pogo pins contacting electrically with each electrode of an inspected body, includes a supporting substrate supporting the each pogo pin, and the supporting substrate concerned includes a strong supporting member positioning and supporting the lower part of the each pogo pin and a sheet-like flexible supporting member supporting an intermediate part of the each pogo pin. - 特許庁

接続ホールは、ポゴホールとその接続ホールにより形成された内部の空間を、ポゴピンとそのポゴピンに接続されたケーブルが自由に通過できるように構成されている。例文帳に追加

The connecting hole has such geometrical configuration that the pogo pins 11 and their connecting cables 15 can freely pass through an inner space formed by the pogo holes 17 and the connecting hole. - 特許庁

接続基板は、半導体装置へ信号を伝達する信号ランド7がポゴピンの設置位置に対応した表面に設けられ、ポゴピンインターポーザがこの表面上に載置される。例文帳に追加

The surface of the connecting substrate is provided at locations corresponding to the locations of pogo-pin installation with signal lands 7 for transmitting signals to semiconductor devices, and the pogo-pin interposer is mounted on the surface. - 特許庁

ベース基板、接続基板及びポゴピンインターポーザの各々は半導体装置の属性に関わらず共通であり、変換基板はポゴピンインターポーザから着脱可能である。例文帳に追加

The base substrate; the connecting substrate; and the pogo-pin interposer are each common regardless of attributes of semiconductor devices, and the conversion substrate can be attached to and removed from the pogo-pin interposer. - 特許庁

ユニット51上へのユニット52の搭載時及び取り外し時はエアシリンダ54によってポゴピン58と隔壁ボード37の電極が接触しない状態とすることができ、ポゴピン58の変形を防止できる。例文帳に追加

In attaching and detaching the unit 52 to an from the unit 51, the pogo pin 58 and the electrode of the partition board 37 are kept out of contact by the air cylinder 54 so as to prevent deformation of the pogo pin. - 特許庁

基板1に、複数のポゴピン5を備えたICソケット本体3が設けられ、ポゴピン5の基板側ピン5aはランド11に接触されている。例文帳に追加

A base plate is provided with an IC socket main body 3 equipped with a plurality of pogo pins 5, base-plate-side pins 5a of which are in contact with a land 11. - 特許庁

検査デバイスとコンタクトするポゴピンを備えたICソケットにおいて、ポゴピンが存在しないICソケットの領域にアライメントマークを付加する。例文帳に追加

In the IC socket provided with pogo pins which are in contact with an inspection device, an alignment mark is added to a region of the IC socket in which the pogo pins do not exist. - 特許庁

上記ポゴピンヘッド26の移動を許容する可動接続機構27と、上記ポゴピンヘッド26を上記プローブカード43に対して正確に位置決めして接触させる案内ガイド33,47とを備えた。例文帳に追加

The test head 11 includes a movable connecting mechanism 27 for permitting the movement of the pogopin head 26, and guides 33, 47 for positioning the pogopin head 26 to contact against the probe card 43. - 特許庁

一方、ドーターボード11の接地用ポゴピン8に対応する位置には、スルーホールを設けず、接地用のポゴピン8のプローブ17は接地ベタパターン15に当接する。例文帳に追加

On the other hand, no through-hole is provided in positins corresponding to the grounding pins 8 of the daughter board 11 to bring probes 17 of the grounding pins 8 into contact with a grounding solid pattern 15. - 特許庁

本発明の接触子は、互いに対向して設けられた2つの基板の各電極にそれぞれ接触して各電極間を電気的に接続するポゴピンと、当該ポゴピンの外周を囲繞して設けられ当該ポゴピンを支持すると共に上記2つの基板にそれぞれ当接して各基板間を設定間隔に維持する外側筒とを備えて構成した。例文帳に追加

Contactors include pogo pins which contact with each electrode of two substrates provided facing each other so as to electrically connect the electrodes, and outer tubes which are provided surrounding outer peripheries of the pogo pins so as to support the pogo pins and which contact with each of the two substrates so as to maintain a setting interval between the substrates. - 特許庁

ドーターボード11の信号用のポゴピン9に対応する位置にはスルーホール14を設け、マザーボード6の信号用ポゴピン9に対応する位置に信号用のコンタクトパッド7を設け、信号用のポゴピン9のプローブ17がスルーホール14を通り抜けコンタクトパッド7に当接するようにしてある。例文帳に追加

Through holes 14 are provided in positions corresponding to the pins 9 for signals of a daughter board 11, contact pads 7 for signals are provided in positions corresponding to the pins 9 for signals of a mother board 6, and probes 17 of the pins 9 for signals are constituted to pass through the through holes 14 to abut to the contact pads 7. - 特許庁

コンタクトピン(ポゴピン3)の先端9と、電極パッド(ポゴ座1)の凹部5は、それぞれ錐状に形成されている。例文帳に追加

The tip 9 of the contact pin (pogo pin 3) and the recess 5 of the electrode pad (pogo seat 1) are formed to be truncated, respectively. - 特許庁

SBcには、ICソケットSKTと、そのソケット端子に配線で接続されたポゴピンパッドPPDを設ける。例文帳に追加

On the SBc, an IC socket SKT and a pogo pin pad PPD connected to the socket terminal with wiring is provided. - 特許庁

半導体検査治具1は、変換基板12とポゴピンインターポーザ11と接続基板6とベース基板2とを有する。例文帳に追加

The semiconductor inspection jig 1 has a conversion substrate 12; a pogo-pin interposer 11; a connecting substrate 6; and a base substrate 2. - 特許庁

被検査体を載置することで、この被検査体の電極とポゴピン26とが電気的に接続されて検査を行う検査ソケットである。例文帳に追加

This inspection socket is employed for inspecting an inspection body by putting the inspection body on the socket and connecting electrodes of this inspection body to POGO pins 26 electrically. - 特許庁

例えば、バーンインボード103cを、ソケットボードSBcと、ポゴピンボードPNBと、回路形成ボードPBcによって構成する。例文帳に追加

For example, the burn-in board 103c is constituted of a socket board SBc, a pogo pin board PNB, and a circuit-forming board PBc. - 特許庁

ICソケットのポゴピンの上端部は、BGAパッケージ410の平坦な底面と接触面積を増大させるために平坦である。例文帳に追加

The upper end of the pogo pin of the IC socket is flat to increase the contact area with the flat bottom of the BGA package 410. - 特許庁

ポゴピン5のICデバイス側ピン5b上に、フローティングボード15に支持されて導電性接続端子13が配置されている。例文帳に追加

Conductive connecting terminals 13 supported by a floating board 15 are arranged on the IC-device-side pins 5b of the pogo pins 5. - 特許庁

前記半導体装置を検査する半導体検査装置のテストヘッド(5)が備えるポゴピン(52a)は、前記接点と当接する。例文帳に追加

A pogo pin (52a) with which a test head (5) of the semiconductor inspecting apparatus for inspecting the semiconductor device is equipped, is configured so as to contact with the contact point. - 特許庁

例文

コンタクトピン(ポゴピン3)の先端9の角度θ1と凹部5の底部の角度θ2とが互いに略等しい。例文帳に追加

An angle θ1 of the tip 9 of the contact pin (pogo pin 3) and an angle θ2 on the bottom of the recess 5 are approximately equal to each other. - 特許庁

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