「ポゴピン」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

本発明は、被試験対象をパフォーマンスボードに搭載し、このパフォーマンスボードに接続するポゴピンブロックのポゴピンを介して信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。例文帳に追加

The IC tester which tests an object under test is improved in such a way that the object is mounted on a performance board and that a signal is transferred via the POGO pin of a POGO pin block connected to the performance board. - 特許庁

本体ブロックと接続ブロックとが積層され同軸プローブとグラウンドプローブとが埋設され取付台に取付けられるポゴピンブロックであって、前記接続ブロックが絶縁材で構成されたことを特徴とする半導体テスタのポゴピンブロックである。例文帳に追加

In the pogo pin block of the semiconductor tester, a body block and a connection block are stacked, coaxial probes and ground probes are embedded and attached to an attachment platform, and the connection block comprises an insulator. - 特許庁

ピンカード１６と、当該ピンカード１６が接続されるバックボード１７と、プローブカード４３の接触端子に接触するポゴピン２９が複数取り付けられたポゴピンヘッド２６とを備えた試験装置用テストヘッド１１である。例文帳に追加

The test head 11 for a testing device includes a pin card 16, a back board 17 connected to the pin card 16, and a pogopin head 26 for mounting a plurality of pogopins 29 contacting to the contacting terminals of the probe card 43. - 特許庁

ケースの外部に引き出し可能なスリーブ１１４と、スリーブの下端部に連結されたストッパー１１６と、ストッパーの内部及び下端部に設けられたポゴピンとを備える外装型アンテナ１００、並びに、外装型アンテナ１００がケース１１１の内部に挿入される時、ポゴピンと電気的に接触する追加アンテナパターン１３０、を含むことを特徴とする。例文帳に追加

The structure includes the external antenna 100 including a sleeve 114 capable of being drawn outside the case, a stopper 116 connected to a low end portion of the sleeve, and pogo pins provided inside the stopper and at a low end portion of the stopper, and an additional antenna pattern 130 to contact to the pogo pins electrically when the external antenna 100 is inserted inside the case 111. - 特許庁

本発明の除電機構２０は、スイッチとして機能する除電用の接触子（例えば、ポゴピン）２１と、このポゴピン２１と電気的に導通自在に接続され且つ導電性金属によって形成された除電用ブロック２２と、この除電用ブロック２２と電気的に接続され且つ接地された抵抗体２３とを備えている。例文帳に追加

A discharging mechanism 20 of this invention is provided with a contactor (probe pin, for instance) 21 for discharging functioning as a switch, a block 22 for the discharging freely electrically conductively connected to the probe pin 21 and formed of a conductive metal, and a resistor 23 electrically connected to the block 22 for the destaticization and grounded. - 特許庁

これにより、上部に導電性ゴム材質のコンタクトパッドを使用することによって、ソルダーボール接触時に発生するソルダーボールの損傷問題及びソルダーボールとの接触により、鉛成分がポゴピンの金メッキに影響を及ぼしてポゴピンの表面を酸化させる問題を根本的に防止できる。例文帳に追加

As a result, the problem wherein a lead component affects a gold-plated part of the pogo pin and causes the surface of the pogo pin to oxidize, due to the problem of solder balls being generated at solder ball contact and contact with the solder ballscan be prevented fundamentally, by using the contact pad of the electrical conductive rubber on the upper part. - 特許庁

パフォーマンスボード２０とプローブカードとの間に配置されるリング状の配線板３０であって、パフォーマンスボード２０上の所定配線と接触するポゴピン３３と、一端はポゴピン３３に接続され、かつ他端はパフォーマンスボード２０とプローブカードとの間から引き出された配線３４とを有するものである。例文帳に追加

The ring-like wiring board 30 to be arranged between the performance board 20 and a probe card comprises both probe pins 33 in contact with the prescribed wires on the performance board 20 and wires 34 each having one end connected to a probe pin 33 and the other ends drawn from between the performance board 20 and the probe card. - 特許庁

本発明の課題は、ＩＣテスタのテストヘッドとウェハプローバを接続する際の間隔を一定にし、ポゴピンをプローブカードに確実かつ正確に接触させることである。例文帳に追加

To allow pogo pins accurately and surely make contact with a probe card by permitting an interval, when connecting a test head of an IC tester to a wafer prober to be constant. - 特許庁

最下層基板１１は、ウェーハレベルＣＳＰ１０００の電極１１００の総てがポゴピン２０００を介して接続される下面端子１１１を備える。例文帳に追加

The lowest layer substrate 11 includes lower surface terminals 111 connected to all electrodes 1100 of a wafer level CSP 1000 through pogo pins 2000. - 特許庁

ＩＣソケット１００は、ガイドプレート１と、半導体装置５１の端子配置に対応した配列形状で配列されたポゴピン３とを有している。例文帳に追加

The IC socket 100 has a guide plate 1 and pogo pins 3 which are aligned in an alignment shape adapting to the terminal arrangement of the semiconductor apparatus 51. - 特許庁

電子部品検査装置は、複数の電極パッド（例えば、ポゴ座１）を有する検査用ボード２と、複数のコンタクトピン（例えば、ポゴピン３）を有するＩＣソケットと、を備える。例文帳に追加

An apparatus for inspecting an electronic component includes an inspection board 2 having a plurality of electrode pads (pogo seats 1, for example) and an IC socket having a plurality of contact pins (pogo pins 3, for example). - 特許庁

このような構成を用いると、同一パッケージを備えた複数品種の半導体デバイスに対して、ソケットボードＳＢｃやポゴピンボードＰＮＢを共通に使用することが可能となる。例文帳に追加

By using such a constitution, with respect to a plurality of kinds of semiconductor devices, the socket board SBc or pogo pin board PNB becomes commonly useable. - 特許庁

したがって、テストヘッド１０とウェハプローバ４０を接続する毎の両者の間隔を一定に保つことができ、ポゴピン３０をプローブカード５０の所定位置に正確かつ確実に接触できる。例文帳に追加

Thus, the interval between the test head 10 and the wafer prober 40 is kept constant every time they are connected, so the pogo pins 30 accurately and surely make contacts with prescribed positions of a probe card 50. - 特許庁

ポゴブロック３内にポゴピン用フェライトコアを埋め込むことで、衝撃に強く、固定が容易で、ワイヤにストレスのかからない構成のポゴブロックを実現する。例文帳に追加

To provide a pogo block with a constitution that is highly resistant to impact, is easily fixed, and does not apply stress to a wire by burying a ferrite core for a pogo pin into the pogo block 3. - 特許庁

ガイドプレート１のプレート本体１３には、ポゴピン３と半導体装置５１の端子配置に対応した配列形状で複数の貫通孔１１が設けられている。例文帳に追加

A plate body 13 of the guide plate 1 has a plurality of through-holes 11 provided in the alignment shape that adapts to the terminal arrangement of the pogo pins 3 and the semiconductor apparatus 51. - 特許庁

接続電極に半田電極を備えた半導体素子の検査において、従来のポゴピン方式接触子による接触抵抗増加を抑制し、低接触抵抗で安定した検査を実現する。例文帳に追加

To achieve stable inspection of low contact resistance by preventing increase of contact resistance due to a conventional POGO pin type contact, in the inspection of a semiconductor device provided with a soldering electrode in a connection electrode. - 特許庁

各ポゴピン対応部Ａ〜Ｉの属性をスイッチにより自由に変更可能に構成されるので、１枚のテストボードで多品種のＩＣ評価に対応することができる。例文帳に追加

Since attributes of each pogo pin corresponding parts A to I can be freely changed by the switches, it is possible to correspond to the evaluation of various kinds of ICs by one test board. - 特許庁

半導体装置１が載置されると｛図（ａ），（ｂ）｝、半田ボール１ａはポゴピン上部６ａ、前記アースコンタクタ３、抵抗７を経由して接地される。例文帳に追加

When the semiconductor device 1 is put on {figures (a) and (b)}, a solder ball 1a is grounded by way of the pogopin upper part 6a, the earth contactor 3 and a resistor 7. - 特許庁

ＩＣパッケージのテストにあたりその外部端子とテスターの測定基板とを電気接続するためのポゴピンにおいて、プランジャの芯振れを抑制すると共に、半田ボール電極の欠落を検出するのを可能にする。例文帳に追加

To suppress the run-out of a plunger and to detect the omission of a soldered ball electrode in a pogo pin for electrically connecting an external terminal and a measuring substrate of a tester in an IC package test. - 特許庁

例えばポゴピンのようなコンタクトピンを他のコンタクトピンと取り替えたり、コンタクトピンの位置変更を容易にできるように構成したピンブロック・ストラクチャを提供する。例文帳に追加

To provide a pin block structure capable of easily replacing such a contact pin as pogo pin with another contact pin and of easily changing the contact pin position. - 特許庁

テスト機器に別の同軸ケーブルを介して接続されたコネクタに設けられたポゴピンが信号接触ゾーン１５、接地接触１４ゾーンと接触し、被検デバイスとテスト機器とが電気的に接続される。例文帳に追加

A pogo pin provided for the connector 1 connected to the test equipment through another coaxial cable contacts with the signal contact zone 15 and the ground contact zone 14 to electrically connect the test device and the test equipment to each other. - 特許庁

テスト装置は、テスト装置のチャンネルと連結される配線パターンを有するテストボードと配線パターンのランドとそれぞれ連結される複数のポゴピンを有するＩＣソケットとを備える。例文帳に追加

The testing device is provided with a test board having a wiring pattern connected with the channel of the testing device and an IC socket having a plurality of pogo pins that are respectively connected with the land of the wiring pattern. - 特許庁

ＰＢｃには、バーンイン装置本体との接続端子となるコネクタＣＮと、このＣＮ内の各ピンに配線で接続されたポゴピンパッドＰＰＤを設ける。例文帳に追加

On the PBc, a connector CN to be a connection terminal to the burn-in device body, and the pogo pin pad PPD connected with each pin in the CN with wiring are provided. - 特許庁

ＣＳＰ５の接続子６がポゴピン２２に当接するように、導電性ボールの付いていないＣＳＰ５の外周側面を側部固定部３２により位置決めする構造としてある。例文帳に追加

An outer circumferential face of a CSP 5 with no conductive ball is constituted to be positioned by a side part fixing part 32 to bring a connector 6 of the CSP 5 into contact with a pogo pin 22. - 特許庁

例えば、ポゴピン対応部Ａ〜Ｉを２層により構成した場合、上層は各スイッチを介して電源配線またはＧＮＤ配線へと接続され、下層は信号ピンへと接続される。例文帳に追加

For example, when the pogo pin corresponding parts A to I are constituted by two layers, an upper layer is connected with the power supply wiring or the GND wiring through each switch, and a lower layer is connected with a signal pin. - 特許庁

所定形状に配列されている複数のポゴピン４１０の一部を不動支持部４２０が支持しており、他部をスライド自在な可動支持部４３０が支持している。例文帳に追加

A part of a plurality of pogo pins 410 arrayed in a prescribed shape is supported by an immobile support 420, and the other part is supported by a slidable mobile support 430. - 特許庁

コンタクトピン（又はポゴピン）を一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造１で構成し、さらに、前記ベローズ構造１に、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリット２が設けたことを特徴とする。例文帳に追加

The contact pin (or pogo pin) is constituted of the bellows structure 1 having a spring function of the integrated structure, and the plurality of slits 2 is provided in the periphery of a projection part of the bellows, in the bellows structure 1. - 特許庁

検査装置のプローブカードは、コイル型プローブ針とその内側に配置されたポゴピン型プローブ針とで構成されたケルビンコンタクト用プローブ針および２端子測定用プローブ針を備えている。例文帳に追加

A probe card in an inspection apparatus includes probe needles for Kelvin contacts each comprising a coil type probe needle and a pogo pin type probe needle disposed in the inside thereof, and a probe needle for two-terminal measurement. - 特許庁

加工コストが従来に比べて低く、しかも低背化が容易であり、耐瞬断性能の問題も生じないポゴピン式圧接型コネクタの提供。例文帳に追加

To provide a pogo pin type press contact type connector which reduces processing costs compared with the traditional connectors, can be easily made short in height and prevents a problem of instantaneous interruption resistance property. - 特許庁

加工コストが従来に比べて低く、しかも低背化が容易であり、耐瞬断性能の問題も生じないポゴピン式圧接型コネクタの提供を目的としてなされたものである。例文帳に追加

To provide a pogo pin type pressure-contact connector capable of being processed at a lower cost than a conventional one and being easily made in a lower profile and moreover not causing a problem in a shut-off resistance performance. - 特許庁

ポゴピン２９をプローブカード４３の接触端子に確実に接触させて信頼性を向上させるとともに、部品点数を減らしてコスト低減を図る。例文帳に追加

To reduce costs by decreasing the number of parts while improving reliability by surely contacting pogopins 29 to contacting terminals of a probe card 43. - 特許庁

ユニット５２はチャンバベース３３に配置されてパフォーマンスボード４４と上端がコネクタ接続され、下端にポゴピン５８を備えたコンタクトボード３９を有するものとする。例文帳に追加

The unit 52 has a contact board 39 disposed on a chamber base 33, with the upper end thereof connected to a performance board 44 by a connector, the lower end being provided with a pogo pin 58. - 特許庁

ポゴピン（20）のプランジャ（24）は、外筒（22）の大径部（28）に摺動案内されたガイド部（34）と、外筒（22）の小径部（30）に摺動案内された軸部（36）を有する。例文帳に追加

A plunger 24 of this pogo 20 has a guide part 34 slidingly guided in a large diameter part 28 of an outer cylinder 22, and a shank 36 slidingly guided in a small diameter part 30 of the outer cylinder 22. - 特許庁

複数のコンタクトピン（ポゴピン３）の各々は、一端が電子部品の複数の端子のうちの対応する端子とそれぞれ接触し、他端である先端９がそれぞれ対応する電極パッド（ポゴ座１）に形成された凹部５に嵌入される。例文帳に追加

Each of the plurality of contact pins (pogo pins 3) has one of ends coming into contact with a corresponding terminal among a plurality of terminals of an electronic component, and a tip 9 at the other end is fitted into a recess 5 formed at each of corresponding electrode pads (pogo seats 1). - 特許庁

この押し込みにより、半導体装置１０５の上面における厚みのバラツキが、コンタクトプッシャ１０１の下部に取り付けた複数のポゴピン１０３により吸収され、半導体装置１０５の上面に対して垂直方向に均一な押圧力を加えることができる。例文帳に追加

The irregularity of the thickness in the upper face of the semiconductor device 105 is absorbed by the plurality of the pogo pins 103 attached to the lower part of the contact pusher 101 and uniform push force can be applied in a vertical direction to the upper face of the semiconductor device 105. - 特許庁

そのコア基板の１つであるテスト容易化回路内装基板１０ｃには、テスト対象の集積回路であるＤＵＴ１２１を装着するソケット１２２が搭載されており、また、そのソケット１２２内に設けられたポゴピン１２２０には、インピーダンス整合用のチップ抵抗１２２４、インダクタ１２２５などの受動素子が設けられている。例文帳に追加

On a test facilitating circuit interior substrate 10c, which is one of the core substrates, a socket 122 with a DUT 121 as a test-target integrated circuit being attached thereto is mounted, and a pogo pin 1220 disposed in the socket 122 comprises passive elements such as an impedance matching chip resistor 1224 and an inductor 1225. - 特許庁