「小角散乱」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

超小角Ｘ線散乱測定の測定結果表示方法、及び超小角Ｘ線散乱測定に基づく配向度の解析方法例文帳に追加

MEASUREMENT RESULT DISPLAY METHOD FOR SUPER-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING MEASUREMENT, AND ANALYZING METHOD OF ORIENTATION BASED ON ULTRA-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING MEASUREMENT - 特許庁

小角散乱測定用のＸ線光学装置と多層膜ミラー例文帳に追加

X-RAY OPTICAL DEVICE FOR SMALL ANGLE SCATTERING MEASUREMENT AND MULTILAYER FILM MIRROR - 特許庁

小角Ｘ線散乱と広角Ｘ線散乱とを同時に測定できると共に、広角Ｘ線散乱の測定精度を向上できる小角広角Ｘ線測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a small angle/wide angle X-ray measuring device capable of measuring simultaneously small angle X-ray scattering and wide angle X-ray scattering, and improving measurement accuracy of the wide angle X-ray scattering. - 特許庁

試料からの微弱な散乱光を、超小角領域まで精度よく検出できる光散乱測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for measuring light scattering, capable of accurately detecting weak light scattered from a sample in a ultra-small angle region. - 特許庁

本発明の多孔質材料の構造解析方法は、小角電子線散乱により多孔質材料の電子線回折像の中央部に現れる小角電子線散乱部分を結像させることで小角電子線散乱像１５を形成することを特徴とする。例文帳に追加

A method for analyzing the structure of a porous material allows small angle electron beam scattering to form a small angle electron beam scattering image 15 through image formation of a small angle electron beam scattering portion emerging at the central part of the electron beam diffraction image of the porous material. - 特許庁

小角度で散乱される円錐状の電子は、ポストコラムEELS分光計に入射する。例文帳に追加

The cone-shaped small-angle scattered electrons enter a post-column EELS spectrometer.  - 科学技術論文動詞集

特に、小角電子線散乱像１５の画像データに構造解析処理を施すことができる。例文帳に追加

In particular, the image data of the small angle electron beam scattering image 15 can be processed for structure analysis. - 特許庁

また、小角電子線散乱部分の構造解析処理を併用することができる。例文帳に追加

The structure analysis processing for the small angle electron beam scattering portion may be combined for use. - 特許庁

（２）小角Ｘ線散乱測定における赤道方向の半価幅のなす角が２．５度以下。例文帳に追加

(2) The half-width angle of equatorial direction in small angle X-ray scattering measurement is ≤2.5°. - 特許庁

小角Ｘ線散乱法を用いる延伸フィルムの応力変化率評価方法例文帳に追加

EVALUATION METHOD FOR RATE OF CHANGE OF STRESS IN ORIENTED FILM BY USING SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING METHOD - 特許庁

入射Ｘ線の光軸を中心とする小角度領域における散乱Ｘ線を検出できるＸ線測定装置を用いて、異なる湿度に置かれたイオン交換膜２９のそれぞれについて小角散乱線図を求める。例文帳に追加

small angle scatter diagrams are derived respectively for the ion exchange film 29 placed under different humidity. - 特許庁

入射Ｘ線の光軸を中心とする小角度領域における散乱Ｘ線を検出できるＸ線測定装置を用いて、イオン交換膜の小角散乱線図Ｇを求める。例文帳に追加

a small angle scatter diagram G is derived. - 特許庁

試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed. - 特許庁

スメアリング現象の発生を抑えることにより、超小角領域における試料からの散乱線を正確に捕えることができる超小角Ｘ線散乱測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a super-small-angle X-ray scattering measuring device capable of accurately capturing a scattering line from a sample in a super-small-angle region by suppressing the occurrence of a smearing phenomenon. - 特許庁

一台の装置で、小角散乱、Ｘ線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus capable of easily performing measurement of small angle scattering, X-ray diffraction, or reflectance by use of one apparatus. - 特許庁

（１）小角Ｘ線散乱測定における方位角スキャンの最大ピーク強度の半価幅のなす角が６０度以上。例文帳に追加

(1) The angle of half- width of maximum peak strength in azimuth scan is ≥60° in small-angle X-ray scattering measurement. - 特許庁

小角散乱線図ＧのピークＰの角度位置及び強度によって、イオン交換膜の分子構造、従ってイオン交換能力を評価する。例文帳に追加

On the basis of the angle position and the intensity at the peak P on the small angle scatter diagram G, the molecular structure of the ion exchange membrane, accordingly the ion exchange ability, is evaluated. - 特許庁

Ｘ線反射率と小角Ｘ線散乱とを組み合わせた測定を試料に行う方法及びシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a method and a system for measurement for a sample combined with an X-ray reflectance and small angle scattering. - 特許庁

（２）小角Ｘ線散乱測定における子午線方向の散乱の赤道方向への広がりの半価幅をサンプルからみた角度であらわした場合その角度が２．５度以下。例文帳に追加

(2) The angle of half-width of the equatorial direction spread in meridional direction is ≤2.5° based on the sample in the small-angle X-ray scattering measurement. - 特許庁

散乱Ｘ線を測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、検出器面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させることにより、正確に鏡面反射Ｘ線を検出する。例文帳に追加

To accurately detect mirror surface reflected X rays by attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of a detector in a reflected X-ray small angle scattering device for measuring scattered X rays. - 特許庁

小角Ｘ線散乱スペクトルのギニエプロット（Ｘ線散乱強度−ｑ^２値）で得られるプロフィールにおいて、ｑ^２値が６×１０^−３（Å^−２）以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。例文帳に追加

The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinier plot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity-q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3(Å^-2) of the q^2 value. - 特許庁

小角Ｘ線散乱スペクトルのギニエプロット（Ｘ線散乱強度−ｑ^2値）で得られるプロフィールにおいて、ｑ^2値が６×１０^-3（Å^-2）以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。例文帳に追加

The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinier plot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity -q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3 (Å^-2) of the q^2 value. - 特許庁

そして、この樹脂組成物は、その硬化物について、シンクロトロン放射光を用いた小角Ｘ線散乱による散乱プロファイルを取得したとき、散乱プロファイルが、散乱ベクトルｑの大きさが０．０２〜１［ｎｍ^−１］の範囲内に少なくとも１つの特異点構造を有しているという特徴を有するものである。例文帳に追加

The resin composition has a feature that the cured products thereof have the scattering profile having at least one singular point structure within a range of 0.02-1 [nm^-1] scattering vector q size, when obtaining the scattering profile by small angle X-ray scattering using synchrotron radiation. - 特許庁

実験室レベルのＸ線小角測定装置を用いて配向性試料の結晶性を簡単且つ正確に評価できる超小角Ｘ線散乱測定に基づく配向度の解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an analyzing method of the orientation based on ultra-small-angle X-ray scattering measurements capable of easily and accurately evaluating the crystallinity of the orientation sample, by using an X-ray small-angle measuring device of a laboratory level. - 特許庁

測定光学系（３，４，５，６）により測定された被測定粒子群による回折・散乱光の空間強度分布に、ファーストボトムＢ１が存在している場合には、小角度側からそのファーストボトムＢ１までの回折・散乱光の空間強度分布データを用いて粒度分布を算出する。例文帳に追加

When first bottom B1 exists in the spatial intensity distribution of diffraction-scattered light from the measuring particle group measured by measuring optical systems (3, 4, 5, 6), the spatial intensity distribution data of the diffraction-scattered light from small angle side to that first bottom B1 is used to compute the particle size distribution. - 特許庁

基板上の試料５に対してＸ線を微小角度で照射し、前記試料から散乱されるＸ線を２次元型の検出器６を用いて測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、前記検出器６面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させる減衰機構７を設ける。例文帳に追加

In the reflected X-ray small angle scattering device for irradiating the sample 5 on a substrate with X rays at a fine angle and measuring X rays scattered from the sample using a two-dimensional detector 6, an attenuation mechanism 7 for attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of the detector 6. - 特許庁

例えば、それらの小角散乱線図におけるピークの角度位置及び強度によって、イオン交換膜の分子構造（従って、イオン交換能力）の湿度変化に従った特性変化を評価する。例文帳に追加

For example, on the basis of the angle position and intensity at the peak on these small angle scatter diagrams, performance variation is evaluated correspondingly on the humidity variation of the molecular structure of the ion exchange membrane (accordingly, the ion exchange ability). - 特許庁

２次元平面におけるナノサイズの粒子の大きさを測定するとともに、その粒子の２次元平面での平面的分布を測定するＸ線小角散乱測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray small angle scattering measuring instrument for measuring the size of nanosize particles on a two-dimensional plane and also measuring the planar distribution of the nanosize particles on the two-dimensional plane. - 特許庁

また、Ｘ線小角散乱法により測定されるコバルトとスズとの金属間化合物の結晶相の大きさが１０ｎｍ以下のものである。例文帳に追加

In this case, the content of the carbon is 9.9% by mass or higher and 29.7% by mass or smaller, and the ratio of the cobalt to the total of tin and cobalt is 30% by mass or higher and 70% by mass or smaller. - 特許庁

キャビティリングダウン分光法を用いた分析装置であり、小角を含む広範囲の前方及び後方散乱光を検出可能とすることである。例文帳に追加

To provide a particle analyzer using a cavity ring down spectrometric method and capable of detecting forward scattering light and back scattering light over a wide range including a small angle. - 特許庁

本発明は、小角Ｘ線散乱用途に使用するＸ線ビームのビーム発散を減少させるＸ線ビームを生成する方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide method and system for generating X-ray beam which reduces beam divergence of X-rays used for small angle X-ray scattering application. - 特許庁

Ｘ線小角散乱法で測定した一次粒子径が１８乃至５０ｎｍであり、電子顕微鏡で観察した個々の粒子の円形度が０．７０乃至０．８５であることを特徴とする。例文帳に追加

The amorphous silica has a primary particle size of 18 to 50 nm as measured by a small angle X-ray scattering method, and each particle of the amorphous silica has a circularity of 0.70 to 0.85 as observed with an electron microscope. - 特許庁

（ａ）特定のメルトフローレート、（ｂ）特定の融点、（ｃ）特定のＱ値、および（ｄ）特定の小角Ｘ線散乱法で求めた長周期と融点との関係を有する結晶性プロピレン・α−オレフィン共重合体。例文帳に追加

This crystalline propylene/α-olefin copolymer has (a) a specific melt flow rate, (b) a specific melting point, (c) a specific Q value and (d) a specific relation between a long cycle obtained by small-angle X-ray scattering and a melting point. - 特許庁

引っ張り強度が１５ｃＮ／ｄｔｅｘ以上、及び引っ張り弾性率が３００ｃＮ／ｄｔｅｘ以上のポリエチレン繊維であり、かつ小角Ｘ線散乱測定において１００Ａ以下の長周期構造が観察される高強度ポリエチレン繊維。例文帳に追加

This high strength polyethylene fiber which has a tensile strength of ≥15 cN/dtex and a tensile elastic modulus of ≥300 cN/dtex and in which a long cycle structure of ≤100A is observed on a measurement of small angle X-ray scattering, is provided. - 特許庁

ビームラインが短く、分解能が高く、且つ短時間で２次元領域の測定が可能な分析装置、特にＸＡＦＳ分析装置又は小角散乱Ｘ線分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an analyzer, especially an XAFS analyzer or a small angle scattering X-ray analyzer having a short beam line and high resolving power and capable of measuring a two-dimensional region in a short time. - 特許庁

小角Ｘ線散乱法により求められる長周期が、２０ｎｍ以下で、かつ非晶部の厚さが１５ｎｍ以下であり、フィルムの厚みが３０〜７０μｍであることを特徴とするポリビニルアルコール系フィルムである。例文帳に追加

The polyvinyl alcohol film has ≤20 nm long period and ≤15 nm thickness of an amorphous part, measured by small angle X-ray scattering, and 30-70 μm thickness of the film. - 特許庁

カラーフィルターに好ましく用いることのできる顔料の提供のための、小角エックス線散乱法に基づいて求められる顔料の平均一次粒子径が５〜１８ｎｍであることを特徴とするジオキサジンバイオレット顔料の提供、並びにそれを含有するカラーフィルターの提供。例文帳に追加

There are provided the dioxazine violet pigment capable of being preferably used for the color filters, characterized in that a pigment average primary particle diameter determined on the basis of a small angle X-ray scattering method is 5 to 18 nm; and the color filter containing the same. - 特許庁

ポリエステルＡを１５〜９８重量％とポリエステルＡ以外の有機成分Ｂを２〜８５重量％含有するフィルムであって、かつ、９０℃、３分熱処理後における小角Ｘ線散乱法による慣性半径Ｒｇが０．１〜５ｎｍであるポリエステルフィルムである。例文帳に追加

This polyester film is made up of 15-98 wt.% of a polyester A and 2-85 wt.% of an organic component B other than the polyester A and has an inertial radius Rg of 0.1-5 nm determined by small angle X-ray scattering method after heat treatment at 90°C for 3 min. - 特許庁

本発明に係る光学素子としての対物レンズ７は、光学用樹脂材料を用いて成型されたものであり、当該光学用樹脂材料は、樹脂と無機粒子とを含有し、Ｘ線小角散乱測定により得られるPorod領域のフラクタル形状パラメータが２．２〜３．８である。例文帳に追加

An objective lens 7 as this optical element is molded by using an optical plastic material, and the optical plastic material includes a resin and inorganic particles and has 2.2-3.8 of a fractal shape parameter in a Porod range measured by the X-ray small angle scattering measurement. - 特許庁

試料Ｓから出射したＸ線を検出する検出器７と、Ｘ線実焦点Ｆと試料Ｓとの間に設けられたＸ線平行化ミラー１６と、ミラー１６と試料Ｓとの間に設けられたモノクロメータ２２と、試料Ｓと検出器７との間に設けられたアナライザ２３とを有する超小角Ｘ線散乱測定装置である。例文帳に追加

The super-small-angle X-ray scattering measuring device comprises a detector 7 for detecting an X-ray emitted from a sample S, an X-ray parallelizing mirror 16 disposed between an X-ray actual focal point F and the sample S, a monochromator 22 disposed between the mirror 16 and the sample S, and an analyzer 23 disposed between the sample S and the detector 7. - 特許庁

脂環式重合体からなる層と、熱可塑性樹脂からなる層との間に、、メタロセン触媒によって好適に重合される、小角度Ｘ線散乱法で測定される長周期が２７５オングストローム以下であり、好ましくはさらにラメラ厚みが１４５オングストローム以下である直鎖状低密度ポリオレフィンを含む層を接着層とし挟み込んで積層されてなるフィルムを提供する。例文帳に追加

A laminated film is constituted by laminating a layer comprising an alicyclic polymer and a layer comprising a thermoplastic resin through an adhesive layer containing a low density straight chain polyolefin suitably polymerized by a metallocene catalyst and characterized by that a long cycle measured by a small angle X-ray scattering method is 275 Å or less and lamellar thickness is pref. 145 Å or less. - 特許庁

少なくとも一種類の有機基と結合したＳｉ原子を含み、かつ、Ｘ線小角散乱測定によって観測されるスペクトルより求められるシロキサンポリマーの分岐度数値Ａが −２．０＞Ａ＞−２．８、（Ａ値は無次元）であるシロキサンポリマーを含むことを特徴とする半導体装置用絶縁膜形成用塗布液。例文帳に追加

The coating liquid for forming an insulating film for a semiconductor device contains an Si atom combined with at least one kind of organic group, and a siloxane polymer whose branching frequency A found by a spectrum observed by small-angle X-ray scattering is within a range of -2.0>A>-2.8 (A is a dimensionless value). - 特許庁