「Differential-interference」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LUMINOUS FLUX CONTROLLER, INTERFERENCE DEVICE AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加

光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE OBSERVATION METHOD AND MICROSCOPE例文帳に追加

微分干渉観察方法及び顕微鏡 - 特許庁

TRANSMITTED ILLUMINATION TYPE DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE例文帳に追加

透過照明型微分干渉顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁

A surface defect inspection device includes a differential interference image acquisition part 2 containing a differential interference optical system for forming a differential interference optical image of the workpiece 1 and a photographing part for acquiring a differential interference image by photographing the differential interference optical image, and a processing part 3 for processing the differential interference image and detecting the defect on the surface of the workpiece.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の微分干渉光学像を形成する微分干渉光学系と前記微分干渉光学像を撮像して微分干渉画像を得る撮像部とを有する微分干渉画像取得部２と、前記微分干渉画像を処理して、被検査物１の表面における欠陥を検出する処理部３と、を備える。 - 特許庁

In image composition, the first differential interference image and the second differential interference image are composed by sum-of-squares processing, whereby they are composed.例文帳に追加

画像合成に際し、第１の微分干渉像と第２の微分干渉像とを２乗和処理して画像合成を行う。 - 特許庁

To provide a device which detects, in a short period of time, a quantity of phase change of an observation object from a differential interference image obtained by a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の位相変化量等を微分干渉顕微鏡により得た微分干渉画像から短時間で検出する装置を提供する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING METHOD例文帳に追加

画像処理装置、微分干渉顕微鏡、および、画像処理方法 - 特許庁

To provide a zoom objective lens which satisfactorily performs differential interference at an arbitrary magnification.例文帳に追加

任意の倍率での微分干渉を良好に行ない得るようにする。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL PHASE MEASUREMENT METHOD, AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE USED FOR SAME例文帳に追加

３次元位相計測方法とそれに使われる微分干渉顕微鏡 - 特許庁

In this state, a scan is performed and a differential interference image is captured.例文帳に追加

この状態において走査を行い、微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of miniaturizing a device configuration.例文帳に追加

装置構成を小型化できる微分干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detecting method and detector for exactly measuring the phase of an observation object by using an interference optical system and differential interference optical system.例文帳に追加

干渉光学系や微分干渉光学系を使って、観察物体の位相を正確に測定するための検出方法及び検出装置を提供する。 - 特許庁

To form the differential interference image of matter without using an exclusive interference device (e.g., a Nomarski microscope or the like).例文帳に追加

専用の干渉装置（例えばノマルスキープリズムなど）を用いることなく物体の微分干渉画像を生成する。 - 特許庁

A Nomarski prism 117 is used to constitute a differential interference observation optical system.例文帳に追加

ノマルスキープリズム１１７は微分干渉観察光学系を構成するために使用される。 - 特許庁

To provide a differential signal harness having reduced skew and reduced EMI (electromagnetic interference) or crosstalk.例文帳に追加

スキューを低減し、かつ、ＥＭＩやクロストークを低減した差動信号用ハーネスを提供する。 - 特許庁

The differential interference image on the substrate surface is supplied to defect detecting means (34) for detecting a defect.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate differential interference microscope, capable of moving a Nomarski prism to a desired position on an optical axis interlocked with the switching of an objective at observation of differential interference.例文帳に追加

微分干渉観察時に対物レンズの切換えに連動させてノマルスキープリズムを光軸上の所望位置に移動させることができる操作の容易な微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the differential interference microscope, the differential interference image of a sample is picked up by an imaging apparatus (11) and its video signal is output to an image processing device.例文帳に追加

本発明による微分干渉顕微鏡は、試料の微分干渉像を撮像装置(11)により撮像し、その映像信号を画像処理装置に出力する。 - 特許庁

A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

An image processing device 5 sets a defect candidate slice level, based on an image example of a reference sample including defects with respect to the differential interference images and selects defect candidates from among the differential interference images.例文帳に追加

画像処理装置５では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。 - 特許庁

As for the differential pressure gauge 120, an optical interference type micro differential pressure gauge which detects a motion of a partition receiving two pressures by using the Fabry-Perot interference may be employed so as to constitute a small current meter.例文帳に追加

差圧計１２０としては、２つの圧力を受ける隔壁の動きをファブリ・ペロー干渉を利用して検出する光干渉型マイクロ差圧計を用いることで、小型の流速計を構成することができる。 - 特許庁

A confocal differential interference image of an SiC substrate surface or epitaxial layer surface is picked up using a confocal scanner including a differential interference optical system.例文帳に追加

本発明では、微分干渉光学系を含む共焦点走査装置を用いて、SiC基板表面又はエピタキシャル層表面の共焦点微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

In the image processing device, a first differential interference image in a first shearing direction and a second differential interference image in a second shearing direction orthogonal to the first shearing direction are composed.例文帳に追加

画像処理装置において、第１のシャーリング方向の第１の微分干渉像と第１のシャーリング方向と直交する第２のシャーリング方向の第２の微分干渉像とを画像合成する。 - 特許庁

A demodulating part (105, 106 and 107) performs the delay interference of received differential M phase-shift modulated signal light to demodulate it.例文帳に追加

復調部（１０５，１０６，１０７）は、受信された差動Ｍ位相偏移変調信号光を遅延干渉させて復調する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope which permits easy changing of observation conditions without requiring intricate operations, such as mechanical actions.例文帳に追加

機械的な動作などの煩雑な操作を必要とすることなく、観察条件を容易に変更できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

First of all, an observation image of the electrode pad 3 through a transparent mounting substrate 1 by a differential interference microscope 8 is acquired as electronic image data.例文帳に追加

まず、微分干渉顕微鏡８による透明な実装基板１を介した電極パッド３の観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

The mounted position of the electronic component 2 to the electrode pad 3 is inspected from an observation image of the differential interference microscope 8.例文帳に追加

そうして、微分干渉顕微鏡８の観察像から電極パッド３に対する電子部品２の実装位置を検査する。 - 特許庁

In the present invention, a scanner, including a differential interference optical system, scans a surface of a silicon carbide substrate or a surface of an epitaxial layer.例文帳に追加

本発明では、微分干渉光学系を含む走査装置を用いて、炭化珪素基板の表面又はエピタキシャル層の表面を走査する。 - 特許庁

The signal processing device includes 2-dimensional image generating means (32) for forming a differential interference image of a silicon carbide substrate surface.例文帳に追加

信号処理装置は、炭化珪素基板表面の微分干渉画像を形成する２次元画像生成手段（３２）を有する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of picking up the image of a defect without depending on the directivity of the defect even when it is the defect having the directivity.例文帳に追加

方向性を有する欠陥であっても、欠陥の方向性に依存することなく欠陥像を撮像できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Two luminous intensity detectors detect the interference light and applies differential detection to the light to obtain a voltage output in response to the phase difference (0 or π).例文帳に追加

干渉光を２つの光強度検出器で検出し差動検波することでパルス対の位相差（０またはπ）に応じた電圧出力を得る。 - 特許庁

The surface of a silicon carbide substrate or the surface of an epitaxial layer is scanned using a scanning device including a differential interference optical system.例文帳に追加

本発明では、微分干渉光学系を含む走査装置を用いて、炭化珪素基板の表面又はエピタキシャル層の表面を走査する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope fabricated by using a birefringent optical member which is simply manufactured and has satisfactory performance.例文帳に追加

製造が簡単で性能のよい複屈折光学部材を使用した微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The interference signal is taken into a computer 27 by detectors 17, 18, a differential amplifier 23, a demodulator 24 and an AD converter 25.例文帳に追加

その干渉信号をディテクタ１７、１８、差動アンプ２３、復調器２４、ＡＤコンバータ２５によりコンピュータ２７に取り込む。 - 特許庁

To provide a differential pressure measuring system capable of forming an interference fringe on a light receiving element by correcting an optical path difference.例文帳に追加

光路差を補正することにより受光素子上に干渉縞を形成可能な差圧測定システムを提供する。 - 特許庁

The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

A grounding capacitor is also connected to the midpoint of the inductor of a differential oscillator 12 to suppress unnecessary interference and avoid a noise sneak path.例文帳に追加

差動発振器１２のインダクタ中点には接地容量２３が接続され、不要な干渉を抑え、ノイズ回り込みを抑制する。 - 特許庁

The signal processor (11) has two-dimensional image generation means (32) for forming a differential interference image of the surface of the silicon carbide substrate.例文帳に追加

信号処理装置は、炭化珪素基板表面の微分干渉画像を形成する２次元画像生成手段（３２）を有する。 - 特許庁

To provide a cover glass holding tool which allows a culture fluid to be replaced and enables a user to perform phase difference observation and differential interference observation using transmitted light.例文帳に追加

培養液交換ができ、かつ透過光を用いる位相差観察や微分干渉観察などが行えるカバーガラス保持具を提供する。 - 特許庁

To sharply improve an interference wave characteristic by adjusting a differential signal (True/Bar) route in a mixer circuit.例文帳に追加

ミキサ回路における差動信号（Ｔｒｕｅ／Ｂａｒ）経路を調整することにより、妨害波特性を大幅に改善する。 - 特許庁

To eliminate the interference of each shaft with each other by using a compact differential mechanism.例文帳に追加

本発明は、コンパクトな差動機構により各軸における干渉を取り除くことを目的とするものである。 - 特許庁

In the first inspection mode, a shirring direction of a differential interference optical system is set in parallel with an extending direction of the step bunching by adjusting the shirring direction of the differential interference optical system or a rotation angle of a stage supporting a substrate.例文帳に追加

第１の検査モードでは、微分干渉光学系のシャーリング方向を調整し又は基板を支持するステージの回転角度を調整することにより、微分干渉光学系のシャーリング方向をステップバンチングの延在方向と平行に設定する。 - 特許庁

A standard pattern using a wavelength as a parameter for the differential value of interference light with reference to the prescribed step of a first material to be treated and a standard pattern using a wavelength as a parameter for the differential value of interference light with reference to the prescribed mask residual film thickness of the material to be treated are set.例文帳に追加

第１の被処理材の所定段差に対する干渉光の微分値の、波長をパラメータとする標準パターンと被処理材の所定マスク残膜厚さに対する干渉光の微分値の、波長をパラメータとする標準パターンを設定する。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁