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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > P シリコンに関連した英語例文

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P シリコンの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1255



例文

Subsequently, a CMOS device comprising p-type and n-type MIS transistors having the silicon oxynitride film 12 as a gate oxide film and a polysilicon film as a gate electrode is formed.例文帳に追加

その後、シリコン酸窒化膜12をゲート酸化膜とし、ポリシリコン膜をゲート電極とするp型及びn型MISトランジスタを備えたCMOSデバイスを形成する。 - 特許庁

An N-type high-concentration diffusion layer 2 is selectively formed on a P-type silicon substrate 1, and a silicon oxide film is formed as a first interlayer insulating film 3 on the surface on the diffusion layer 2.例文帳に追加

P型シリコン基板1上には選択的にn型高濃度拡散層2が形成され、その表面には第1層間絶縁膜3としてシリコン酸化膜が配置されている。 - 特許庁

A gate-insulating film 12 of silicon oxynitride is formed on the P-type silicon substrate 1, and a gate electrode 13 is formed on the gate insulating film 12.例文帳に追加

P型シリコン基板1上には、シリコンオキシナイトライドからなるゲート絶縁膜12が形成され、ゲート絶縁膜12上にゲート電極13が形成されている。 - 特許庁

Floating gate electrodes 16 formed of n-type polysilicon are formed respectively between side wall films 13 on device separating films 12 on a substrate 11 of p-type silicon and on first-layer gate oxide films 15.例文帳に追加

P型シリコンからなる基板11上の素子分離膜12に設けられたサイドウォール膜13同士の間で且つ第1層ゲート酸化膜15の上には、n型ポリシリコンからなるフローティングゲート電極16が形成されている。 - 特許庁

例文

The amount of a hole that is implanted in the n-type semiconductor layer 2 from the p-type polysilicon layer is controlled at forward voltage application since there exists much grain boundary in the polysilicon layer.例文帳に追加

これによりポリシリコン層中では、結晶粒界が多いため、順方向電圧印加時にp型ポリシリコン層からn−型半導体層2に注入されるホール量を抑制できる。 - 特許庁


例文

Subsidiary polysilicon gates 16 are formed on a p-type silicon semiconductor substrate 10, so as to cross over control gates 15 and extend on element isolation regions 13.例文帳に追加

p型シリコンからなる半導体基板10上には、素子分離領域13上に延びるように且つコントロールゲート15と交差してこれを跨ぐように形成されたポリシリコンからなる補助ゲート16が形成されている。 - 特許庁

The layer of silicon or SiGe can be formed in the thickness of about 5 to 120nm, and is doped by a dopant such as, for instance, indium (In) in order to prevent the p-type dopant from passing through the layer of silicon or SiGe.例文帳に追加

シリコン又はSiGeの層は、約5から120ナノメートルの厚みに形成され得、p型ドーパントがシリコン又はSiGe層を通り抜けることを阻止するように、例えば、インジウム(In)などのドーパントでドープされる。 - 特許庁

A barrier metal layer 7 and a surface electrode layer 8 are formed on the p-type silicon region 5 and the n-type silicon region 3 exposed to the surface thus forming an SBD structure.例文帳に追加

表面に露出するp型シリコン領域5及びn型シリコン領域3A上にバリアメタル層7、表面電極層8が形成してSBD構造を形成する。 - 特許庁

A base body 2 comprises a substrate 11 of p-type single- crystalline silicon wafer and an epitaxial layer 12 of n-type single-crystalline silicon formed on a surface of the substrate 11.例文帳に追加

基体2は、p型単結晶シリコンウエハからなる基板11と、その基板11の表面に形成されたn型単結晶シリコンからなるエピタキシャル層12とから構成されている。 - 特許庁

例文

Phosphorous ions 6 and boron ions 8 are respectively implanted into the n-type MOS region B and p-type MOS region A of a polysilicon film 5 formed on a silicon substrate via a separation oxide film 2 and a gate oxide film 3.例文帳に追加

シリコン基板1上に分離酸化膜2,ゲート酸化膜3を介して形成したポリシリコン膜4のnMOS領域Bに燐6を、pMOS領域Aにボロン8をイオン注入する。 - 特許庁

例文

The semiconductor device includes: a gate electrode 14A which has a p-type polysilicon layer 14A1 and silicide layer 14A2; and a gate electrode 14B which has an n-type polysilicon layer 14B1 and silicide layer 14 B2.例文帳に追加

p型ポリシリコン層14A1およびシリサイド層14A2を有するゲート電極14Aと、n型ポリシリコン層14B1およびシリサイド層14B2を有するゲート電極14Aとを備える。 - 特許庁

In an n^+-silicon substrate 1 having the main surface 1a and rear surface 1b, a trench 2 is extended in thickness direction from the main surface 1a and a p-type silicon layer 3 made of epitaxial films is formed in the trench 2.例文帳に追加

主表面1aと裏面1bとを有するN^+シリコン基板1においてトレンチ2が主表面1aから厚み方向に延設され、トレンチ2内にエピタキシャル膜からなるP型シリコン層3が形成されている。 - 特許庁

The low dark current generation is achieved by quenching the interface states by placing a p+ implant near the silicon-silicon dioxide (Si-SiO_2) interface.例文帳に追加

低い暗電流の生成は、シリコン−二酸化シリコン(Si−SiO_2)インターフェスの近くにp^+インプラントを実行して、インターフェス状態を消去することによって達成される。 - 特許庁

An MISFET is formed using a p-type silicon layer 13 formed on a silicon substrate 11 while being isolated by an insulating film 12 as a floating channel body.例文帳に追加

シリコン基板11上に絶縁膜12により分離された状態で形成されたp型シリコン層13をフローティングのチャネルボディとしてMISFETが形成される。 - 特許庁

On a p silicon substrate 1011, a microparticle diffusion region 1012, an SiO_2 film 1015 functioning as an insulating film, and an n polysilicon electrode 1016 functioning as an upper electrode are provided sequentially from below.例文帳に追加

p型シリコン基板1011上には、微粒子分散領域1012、絶縁膜として機能するSiO_2膜1015、及び上部電極として機能するn型多結晶シリコン電極1016が下から順に設けられている。 - 特許庁

A buried oxide film 2 is so formed on a silicon substrate 1 and a P-type silicon layer 3 is further so formed thereon as to constitute an SOI substrate.例文帳に追加

シリコン基板1上に埋込酸化膜2が形成され、更にその上にP型シリコン層3が形成されてSOI基板10が構成されている。 - 特許庁

The silicon purification method is characterized by that in eliminating P by evaporating it from molten silicon in a purification apparatus, at least either of an SiO gas or an Si gas is used as the main component of the atmosphere in the apparatus.例文帳に追加

精製装置内で溶融シリコンからPを蒸発させて除去する方法において、精製装置内の雰囲気をSiOまたはSiの一方または両方のガスを主成分とすることを特徴とするシリコンの精製方法である。 - 特許庁

After forming a TEOS oxide film 7 on a polycrystalline silicon film 6 for a dual gate, P-type (N-type), impurities 10 (9) are injected into the polycrystalline silicon film 6, using a resist 8 as a mask.例文帳に追加

デュアルゲート用多結晶シリコン膜6上にTEOS酸化膜7を形成した後、レジスト8をマスクとして多結晶シリコン膜6にP型(N型)不純物10(9)を注入する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device that can suppress shape defects when a p-type silicon layer and an n-type silicon layer of a dual-gate structure are patterned.例文帳に追加

デュアルゲート構造のP型シリコン層とN型シリコン層とをパターニングする際に、形状不良の発生を抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A PMOS transistor gate structure is formed in an n-type silicon region 20, and an NMOS transistor gate structure is formed in a p-type silicon region 10.例文帳に追加

n型シリコン領域(20)にPMOSトランジスタ・ゲート構造が形成され、p型シリコン領域(10)にNMOSトランジスタ・ゲート構造が形成される。 - 特許庁

To provide a crystal defect evaluating method of a silicon single crystal substrate for quickly evaluating a crystal defect of the p-type low resistance silicon single crystal substrate at a low cost with higher accuracy, by reducting roughness at the front surface of the substrate.例文帳に追加

P型低抵抗のシリコン単結晶基板の結晶欠陥を、低コストで基板表面の面あれを小さくして高精度で迅速に評価することができるシリコン単結晶基板の結晶欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

In this case, the film thickness of the silicon germanium film 14_p of the p-channel-MOSFET forming region is made smaller than the film thickness of the silicon germanium film 14_n of the n-channel-MOSFET forming region.例文帳に追加

pチャネルMOSFET形成領域のシリコンゲルマニウム膜14_pの膜厚が、nチャネルMOSFET形成領域のシリコンゲルマニウム膜14_nの膜厚より薄い半導体装置を提供する。 - 特許庁

A gate insulating film 102 is formed on an Si substrate 101, and an n-type gate silicon layer 105 and a p-type gate silicon layer 107 are formed thereupon in different areas.例文帳に追加

Si基板101上にゲート絶縁膜102を形成し、その上に、領域を分けて、N型ゲートシリコン層105とP型ゲートシリコン層107とを形成する。 - 特許庁

To form silicon oxide films with different thicknesses on a p-type diffusion region and an n-type diffusion region formed on the same silicon layer without need of a complicated process.例文帳に追加

複雑なプロセスを必要とせずに、同一のシリコン層に形成されたp型拡散領域およびn型拡散領域に、それぞれ異なる膜厚でシリコン酸化膜を形成する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device of a structure, where boron in a polysilicon film is diffused into the side of a barrier film and the polysilicon film is surely prevented from being depleted in a P-type polymetal gate, and the manufacturing method of the semiconductor device.例文帳に追加

p型ポリメタルゲートにおいて、ポリシリコン中のホウ素がバリア膜側に拡散し、ポリシリコンが空乏化するのを確実に防止した、半導体装置とその製造方法の提供が望まれている。 - 特許庁

When viewed from the upper face side of the N^- type silicon substrate 1, the P-type isolation region 2 is formed to surround N^- region 1a, which is a part of the N^- type silicon substrate 1.例文帳に追加

また、N^-型シリコン基板1の上面側から眺めた場合、P型分離領域2は、N^-型シリコン基板1の一部分であるN^-領域1aを取り囲んで形成されている。 - 特許庁

On the base 10, a first electrode 111, a p-type polysilicon layer 112, an i-type intermediate layer 113, an n-type amorphous silicon layer 114, and a second electrode 12 are laminated in order.例文帳に追加

基材10上に、第1電極111、p型ポリシリコン層112、i型中間層113、n型アモルファスシリコン層114、第2電極12を順に積層する。 - 特許庁

On a P-type silicon substrate 2 are laminated a box layer 3 consisting of silicon oxide, an N^+ type lateral direction conductive layer 4 and an N^- type surface layer 5.例文帳に追加

P型シリコン基板2上には、酸化シリコンからなるボックス層3、N^+型横方向導電層4およびN^−型表面層5が積層されている。 - 特許庁

The p+ type layer D1 is composed of a silicon-germanium mixture (Si_1-xGe_x (0<x≤1)), and the n- type layer D2 and n+ type layer D3 are constructed with silicon (Si).例文帳に追加

p+型層D1はシリコン−ゲルマニウム混合物(Si_1−xGe_x(0<x≦1))で構成され、n−型層D2、n+型層D3はシリコン(Si)で構成されている。 - 特許庁

A buried conductive layer 23 is buried in a silicon oxide layer 11 under a base lead-out layer 21 while surrounded by a base layer 15, an emitter layer 17 and a p^+ type single crystal silicon layer 19.例文帳に追加

埋込導電層23がベース引出層21下のシリコン酸化層11に、ベース層15、エミッタ層17及びp^+型単結晶シリコン層19を囲んで埋め込まれている。 - 特許庁

A gate insulating film 31 and a polycrystalline silicon film 41 are formed on a P-type well region 13, and thereafter the films 31 and 41 on a core part are selectively removed.例文帳に追加

p型ウェル領域13上にゲート絶縁膜31と多結晶シリコン膜41を成膜後、コア部のゲート絶縁膜31と多結晶シリコン膜41とを選択的に除去する。 - 特許庁

For instance, a groove part 12 comprising a shallow first groove 12a and a deep second groove 12b is formed on the surface part of a p type silicon substrate, and a plurality of silicon columns 13 are provided.例文帳に追加

たとえば、p型シリコン基板11の表面部に、浅い第1の溝12aと深い第2の溝12bとからなる溝部12を形成し、複数のシリコン柱13を設ける。 - 特許庁

The heater 36 and the polysilicon thin wires 41 of the thermopiles 37, 38 are doped with P (phosphorus) by an ion implantation operation or the like, and the doping amount of the heater 36 is set to be larger than that of the polysilicon thin wires 41.例文帳に追加

ここで、ヒータ36とサーモパイル37、38のポリシリコン細線41には、P(燐)がイオン注入等によってドーピングされており、ヒータ36のドーピング量がポリシリコン細線41よりも大きくなっている。 - 特許庁

The narrow segment 17 has a width direction cross section smaller than a width direction cross section of a non-opposite region of the element isolation layer 12 in the p-type polysilicon layer 14A1 and n-type polysilicon layer 14B1.例文帳に追加

狭窄部17は、p型ポリシリコン層14A1およびn型ポリシリコン層14B1のうち素子分離層12との非対向領域の幅方向断面積よりも小さな幅方向断面積を有する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device which can suppress the occurrence of side etching during formation of an n-type polysilicon gate while preventing boron from punching through a substrate due to the diffusion of boron in a p-type polysilicon gate.例文帳に追加

p型ポリシリコンゲート中のボロンの拡散による基板側への突き抜けを防止しつつ、n型ポリシリコンゲートの形成時におけるサイドエッチの発生を抑制しうる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A p-type polycrystalline silicon layer 3 of this thin-film polycrystalline silicon solar battery 10 is composed of a first layer 32 and a second layer 34, successively arranged on a positive electrode 2.例文帳に追加

薄膜多結晶シリコン太陽電池10のp型多結晶シリコン層3は、正極2上に順次配置される第一の層32と、第二の層34とからなる。 - 特許庁

After a first silicon film 16 is deposited with boron which is a doped p-type impurity, a non-doped second silicon film 17 is deposited, forming a two-layer gate electrode.例文帳に追加

p型不純物であるホウ素を添加して第1のシリコン膜16を堆積した後、ノンドープの第2のシリコン膜17を堆積し、2層のゲート電極を形成する。 - 特許庁

After n-type diffused layers 5a and 5b are formed on the surface of a p-type semiconductor substrate 1, polysilicon layers 10a and 10b are sequentially formed on the n-type diffused layers 5a and 5b, providing a gettering site layer.例文帳に追加

p型半導体基板1の表面にn型拡散層5a及び5bを形成した後、n型拡散層5a及び5bの上にポリシリコン層10aとポリシリコン層10bとを順次形成して、ゲッタリングサイト層とする。 - 特許庁

This p-channel power MOSFET includes an n-type polysilicon linear field plate electrode and an n-type polysilicon linear gate electrode in each trench thereof.例文帳に追加

本願の一つの発明は、N型ポリシリコン線状フィールドプレート電極およびN型ポリシリコン線状ゲート電極を各トレンチ部に有するPチャネル型パワーMOSFETである。 - 特許庁

To provide a crystal silicon-based solar cell which is excellent in photoelectric conversion efficiency, in a heterojunction solar cell using a thin p-type single crystal or polycrystalline silicon substrate.例文帳に追加

薄いp型単結晶あるいは多結晶シリコン基板を用いたヘテロ接合太陽電池において、光電変換効率に優れた結晶シリコン太陽電池を提供する。 - 特許庁

The low dark current generation is achieved by quenching interface states by placing a p^+ implant near the silicon-silicon dioxide (Si-SiO_2) interface.例文帳に追加

低い暗電流の生成は、シリコン−二酸化シリコン(Si−SiO_2)インターフェスの近くにp^+インプラントを実行して、インターフェス状態を消去することによって達成される。 - 特許庁

The quantitative analysis limit is determined based on a quantitative value provided by obtaining iron concentration in the silicon by the analysis method during Fe-B pair separation in the boron-doped p-type silicon.例文帳に追加

上記定量分析限界を、ボロンドープp型シリコン中のFe−Bペア乖離中に、上記分析方法により該シリコン中の鉄濃度を求めることによって得られた定量値に基づき決定する。 - 特許庁

Next, by performing heating processing in a condition such as at 900°C for about 10 minutes in an oxygen atmosphere, thermal oxidation films 107 and 107a are formed on the silicon core 131 and the p-type silicon core 132a, respectively.例文帳に追加

次に、酸素雰囲気で、900℃・10分程度の条件で加熱処理することで、熱酸化膜107,107aを、シリコンコア131およびp型シリコンコア132aに形成する。 - 特許庁

At least part of the n+ type layer D3 is comprised of a silicon-carbide mixture (Si_1-xC_x(0<x<1)) and the p+ type layer D1 is comprised of silicon (Si).例文帳に追加

n+型層D3の少なくとも一部がシリコン−カーバイド混合物(Si_1−xC_x(0<x<1))で構成され、p+型層D1がシリコン(Si)で構成されている。 - 特許庁

To fabricate a high performance silicon carbide power device enabling preferable diffusion from a deep p-type implant region to a surface of a silicon carbide surrounding a shallow n-type implant region.例文帳に追加

深いp型注入領域から浅いn型注入領域を囲む炭化シリコンの表面への好ましい拡散が可能な高性能炭化シリコン・パワーデバイスを製造する。 - 特許庁

The back gate electrode 21 and the gate electrode 22 are formed by conductive films 18 of a three-layer structure where an n-type silicon layer 15, a metal silicide layer 16 and a p-type silicon layer 17 are laminated in order from lower layer side.例文帳に追加

バックゲート電極21及びゲート電極22は、下層側から順に、n型シリコン層15、金属シリサイド層16、p型シリコン層17が積層された3層構造の導電膜18により形成する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a silicon wafer which allows effective acquisition of an IG effect even in a defect-free silicon wafer in which defect-free regions [P] are distributed in the entire area.例文帳に追加

無欠陥領域[P]が全域に分布する無欠陥のシリコンウェーハであっても、IG効果が有効に得られるシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

In the method, p-type silicon single crystal 2 is grown from an initial silicon melt solution having a boron concentration of not higher than 4E14 atoms/cm^3 and a ratio of a phosphorus concentration to a boron concentration of not lower than 0.42 and not higher than 0.50 by the Czochralski method.例文帳に追加

ボロンの濃度が4E14atoms/cm^3以下で、ボロンの濃度に対するリンの濃度の比が0.42以上0.50以下である初期シリコン融液からチョクラルスキー法によりp型シリコン単結晶2を成長させる。 - 特許庁

A collector buried layer 2 is formed on the entire surface of a p-type silicon wafer 1, and an n-type epitaxial silicon layer 3 is formed thereon.例文帳に追加

選択酸化領域の形成後、表面の清浄化を行い、ウエハ表面全体を多結晶シリコン膜で覆い、エミッタ直上の多結晶シリコン膜を最後まで除去せずに素子を形成する。 - 特許庁

例文

To provide a method of manufacturing a silicon single crystal to manufacture a p-type silicon single crystal by the Czochralski method and from which a wafer having high specific resistance, favorable in the uniformity of the specific resistance within a surface and small in the fluctuation of the specific resistance can be obtained.例文帳に追加

比抵抗が高く、比抵抗の面内均一性が良く、比抵抗のバラツキが小さいウエハを取得可能なp型シリコン単結晶をチョクラルスキー法により製造するシリコン単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

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