「Spring Probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

VERTICAL COIL SPRING PROBE例文帳に追加

垂直コイルスプリングプローブ - 特許庁

COAXIAL SPRING CONTACT PROBE例文帳に追加

同軸スプリングコンタクトプローブ - 特許庁

SCANNING PROBE SYSTEM WITH SPRING PROBE例文帳に追加

ばねプローブを有する走査プローブシステム - 特許庁

PROBE HOLDING STRUCTURE AND SPRING TYPE PROBE例文帳に追加

プローブ保持構造およびバネ型プローブ - 特許庁

VERTICAL COIL SPRING PROBE例文帳に追加

垂直型コイルスプリングプローブ - 特許庁

SPRING PROBE AND IC SOCKET例文帳に追加

スプリングプローブ及びＩＣソケット - 特許庁

SPRING PROBE, SPRING PROBE ASSEMBLY, AND THEIR ASSEMBLING METHOD例文帳に追加

ばねプローブ、ばねプローブ組立体及びそれらの組立方法 - 特許庁

VERTICAL COIL SPRING PROBE AND PROBE UNIT USING THE SAME例文帳に追加

垂直型コイルスプリングプローブとこれを用いたプローブユニット - 特許庁

VERTICAL COIL SPRING PROBE, AND PROBE UNIT USING THE SAME例文帳に追加

垂直コイルスプリングプローブ及びこれを用いたプローブユニット - 特許庁

SPRING PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

スプリングプローブ及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE PIN OF EXTERNAL SPRING TYPE例文帳に追加

外ばね方式のプローブピンの製造方法 - 特許庁

SPRING PROBE APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

スプリングプローブ装置及び半導体試験装置 - 特許庁

Finally, by bring the unused probe 27a out from the probe storage plated spring 30 to load on the probe fixing plated spring 29, the probe exchanging is completed.例文帳に追加

未使用のプローブ２７ａをプローブ収納板ばね３０から取り出し、プローブ固定板ばね２９に装着すればプローブ交換が完了する。 - 特許庁

PROBE SPRING, PROBE USING THE SAME, AND CONTACT DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ用スプリングと、それを用いたプローブと、それを用いたコンタクト装置 - 特許庁

VERTICAL COIL SPRING PROBE, COIL SPRING USED THEREFOR, AND PROBE UNIT USING PROBE例文帳に追加

垂直型コイルスプリングプローブ、この垂直型コイルスプリングプローブに用いられるコイルスプリング及びこの垂直コイルスプリングプローブを用いたプローブユニット - 特許庁

The inspection probe device is provided with a leaf spring 2 and a probe 3 which is fixed directly to the leaf spring 2.例文帳に追加

検査用プローブ装置は、板バネ２と、この板バネ２に直接固定された検針３とを備える。 - 特許庁

WAFER PROBE HAVING NEEDLE IMPROVED BY SPRING例文帳に追加

ばねによって改良されたニードルを有するウェーハプローブ - 特許庁

The spring probe block assembly includes an insulative housing.例文帳に追加

スプリングプローブブロックアセンブリは、絶縁性ハウジングを有する。 - 特許庁

To provide a probe pin for a probe card and a probe card of high reliability, the probe pin being superior in spring characteristic and preventing contact resistance from temporally increasing.例文帳に追加

バネ特性が優れ、また接触抵抗の経時的な増加のないプローブカード用プローブピンおよび信頼性の高いプローブカードを提供する。 - 特許庁

Next, the used probe 27 is removed from a probe fixing plated spring 29 to put in an empty probe storage section 35.例文帳に追加

次に使用済のプローブ２７をプローブ固定板ばね２９から取り外し、空のプローブ収納部３５に収納する。 - 特許庁

To provide a spring probe block assembly with a high cost-performance so as to mount an electrically common probe and an electrically separate probe within a probe block.例文帳に追加

電気的に共通のプローブおよび電気的に分離したプローブをプローブブロック内に設けるための、費用効率が高いバネプローブブロック組立体を提供する。 - 特許庁

The leaf spring mechanism 300 includes a thin leaf spring cover 360, to be connected to a probe card substrate 410 and a leaf spring 330, and has a probe-retaining substrate 310 for mounting the probe holder 200.例文帳に追加

板ばね機構部３００は、プローブカード基板４１０に接続される板ばねカバー３６０と、薄板ばね３３０を含み、かつプローブホルダー２００を取り付ける針組基板３１０とを有する。 - 特許庁

PROBE ASSEMBLY WITH IMPEDANCE-CONTROLLED SPRING CONTACT PIN OR RESISTOR TIP SPRING PIN CONTACT PIN例文帳に追加

インピーダンス制御されたばねコンタクトピン又は先端抵抗器ばねコンタクトピンを有するプローブアセンブリ - 特許庁

To provide a probe card allowing easy replacing work of a coil spring.例文帳に追加

コイルばねの取換作業が簡単に行えるプローブカードを提供する。 - 特許庁

A spring 12 applies an elastic force to the leading end of the probe pin 1.例文帳に追加

プローブピン１は、その先端側へバネ１２で弾力を加えられる。 - 特許庁

When the probe is inserted into the coupling, the probe comes into contact with the shaft of the check valve, and presses the check valve to the open position against the spring force of the spring.例文帳に追加

カップリングに挿入されたとき、プローブは逆止弁のシャフトと接触し、逆止弁をバネの付勢に抗して押圧して、開位置とする。 - 特許庁

The spring energizing type probe pin may be a resistor tip spring pin having a small resistor 13 in its tip.例文帳に追加

ばね付勢式ピンは、先端に小型の抵抗器（１３）を有する先端抵抗器ばねピンであってもよい。 - 特許庁

Accordingly, a spring contact probe device with an extremely easy structure can be provided without using other spring members such as a coil spring.例文帳に追加

従って、コイルスプリングなどの他のスプリング部材を用いることなく、極めて簡易な構成のスプリングコンタクトプローブ装置を提供できる。 - 特許庁

The probe 2B includes a first spring part 4, a support part 5, and a contact part (9).例文帳に追加

プローブ２Ｂは、第１ばね部４、支持部５および接触部（９）を有する。 - 特許庁

To control an uncontrolled characteristic impedance along a spring energizing type probe pin.例文帳に追加

ばね付勢式のプローブピンに沿う未制御の特性インピーダンスを制御すること。 - 特許庁

To provide a spring probe block assembly for use in a high bandwidth application.例文帳に追加

高帯域幅アプリケーションで使用されるスプリングプローブブロックアセンブリを提供する。 - 特許庁

The contact probe 1 has the spring layer 7 adhered to the reverse surface of its film 4.例文帳に追加

コンタクトプローブ１において、そのフィルム４の裏面にバネ層７を被着した。 - 特許庁

The spring energy generates a normal force between the ground probe and the grounding part which retains the ground probe at its position.例文帳に追加

スプリングエネルギは、接地プローブと接地部との間に垂直力を発生させ、それが接地プローブをその位置で保持する。 - 特許庁

To solve problems that a diameter of a spring probe used in a probe test of an integrated circuit chip cannot be sufficiently reduced, many spring probes cannot be arranged at a narrow pitch, the number of parts is large, and manufacturing cost cannot be easily reduced because the spring probe is energized by a coil spring stored in a barrel.例文帳に追加

集積回路チップのプローブテストに用いるスプリングプローブは、バレル内に収容したコイルスプリングでプローブを付勢する構造であるから、十分に小径化できず、多数のスプリングプローブを狭ピッチで配置することができず、部品数も多く製作費を低減するのが難しい。 - 特許庁

To provide a probe having a spring function, which can be manufactured at low cost.例文帳に追加

低コストで製造することのできるスプリング機能を有するプローブを提供する。 - 特許庁

The probe assembly 100 to be mounted on the probe card has a probe holder 200 for holding a plurality of probes Q, at predetermined positions and a leaf spring mechanism 300 for attaching the probe holer 200.例文帳に追加

プローブカードに取り付けられるプローブ組立体１００は、複数のプローブＱを予め決められて位置に保持するプローブホルダー２００と、プローブホルダー２００を取り付ける板ばね機構部３００とを有する。 - 特許庁

The grounding part is configured to elastically deform the ground probe in such a manner as to create spring energy in the ground probe.例文帳に追加

接地部は、接地プローブにスプリングエネルギをもたらすような方法で接地プローブを弾力的に変形するように構成される。 - 特許庁

An upper movable pin and a lower movable pin of a spring probe apparatus are comprised of plate-like members.例文帳に追加

スプリングプローブ装置の上可動ピン及び下可動ピンを平板状の部材で構成する。 - 特許庁

The probe 9 comprises a male screw cylindrical body 21, a shaft rod 23, a contactor 25, a coil spring 27 and a stopper 29.例文帳に追加

プローブ9は、雄ねじ筒体21、軸棒23、接触子25、コイルばね27、ストッパー29からなる。 - 特許庁

To manufacture a spring probe reducing production cost and improving inspection accuracy.例文帳に追加

製造コストの低減及び検査精度の向上を図ることができるスプリングプローブを製造する。 - 特許庁

To provide a cantilever that includes a lever having a low spring constant, and a high-durability probe.例文帳に追加

低バネ定数のレバー部と、耐久性の高い探針とを有するカンチレバーを提供する。 - 特許庁

A compression coil spring 38 is housed inside the probe body 12, and the probe body 12 is energized upward relative to the guide shaft 22 by the compression coil spring 38, to thereby slide the probe body 12 relative to the guide shaft 22.例文帳に追加

また、プローブ本体１２の内部には圧縮コイルスプリング３８が収容されており、この圧縮コイルスプリング３８によりプローブ本体１４がガイド軸２２に対して上方へ付勢され、ガイド軸２２に対してプローブ本体１２がスライドする。 - 特許庁

Then, in order to prevent removal of the inner probe section 6 from the peripheral side probe section 4, a barrel 14 of the inner probe section 6 is bonded (adhesive 32) to a coil spring 24 of the peripheral side probe section 4 at intermediate parts.例文帳に追加

そして、内側プローブ部６の周側プローブ部４からの抜けを防止するため、内側プローブ部６のバレル１４と、周側プローブ部４のコイルスプリング２４とを中間部同士にて接着（接着剤３２）する。 - 特許庁

The spring contact is used to constitute a spring probe for inspection, for a low-cost spring probe, etc. capable of stable inspection.例文帳に追加

また、このスプリングコンタクトを絶縁体に形成した中空筒状の穴部に収容し、前記先端部を前記絶縁体表面から突出させて所定接触面に直接接触させるように単体スプリングコンタクトあるいはスプリングプローブを構成する。 - 特許庁

A cantilever 2 for an atomic force microscope 1 includes: a vibration part formed of a vertical spring 2A and a rotary spring 2B; and a probe 2C.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１用のカンチレバー２は縦バネ２Ａおよび回転バネ２Ｂからなる振動部と探針２Ｃとを備える。 - 特許庁