「Spring Probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The spring contact is housed in a hole part which is cylindrical and hollow and formed at an insulator, and its tip protrudes from the surface of the insulator to directly contact a prescribed contact surface, constituting a single spring contact or a spring probe.例文帳に追加

平常時において、内側ほど先端側に突出する形状に渦巻状に巻回するとともに、先端部が軸に直交する平面上にあるように形成したタケノコバネを少なくとも一つ含み、このタケノコバネの先端部を所定接触面に直接接触させるようにスプリングコンタクトを構成する。 - 特許庁

This biological information measuring probe A includes a pair of housings 1 and 2 openably/closably formed, a coil-like spring 4 energizing a force in the direction of closing the pair of housings 1 and 2, and a capacity adjusting mechanism 5 for adjusting the length of the spring 4 to adjust the capacity of the spring 4.例文帳に追加

開閉可能に形成された一対のハウジング１、２と、一対のハウジング１、２が閉じる方向に力を付勢するコイル形状のばね４とを有し、ばね４の長さを調整し、ばね４の力量を調整する力量調整機構５を備えている生体情報測定用プローブＡ。 - 特許庁

A spring probe 20 configuring a contact probe assembly 10 includes: a needle-shaped plunger 25 whose tip 25A is brought into contact with an inspection point; a barrel 24 into which the other end side of the plunger 25 is inserted so as to move forward and backward; and a spring 26 for deviating the plunger 25 to the movement limit of a projecting direction to the barrel 24.例文帳に追加

コンタクトプローブアセンブリ１０を構成するスプリングプローブ２０は、先端部２５Ａが検査ポイントに接触される針状のプランジャ２５と、該プランジャ２５の他端側が進退可能に挿入されたバレル２４と、プランジャ２５をバレル２４に対する突出方向の移動限に偏移させるスプリング２６とを含んで構成されている。 - 特許庁

A spring probe 20 constituting a contact probe assembly 10 includes a point-shaped plunger 25 whose front end 25A is brought into contact with a checking point; a barrel 24, in which the other end of the plunger 25 is inserted so as to be advanceable and retractable; and a spring 26 for deviating the plunger 25 to a movement limit in the protruding direction to the barrel 24.例文帳に追加

コンタクトプローブアセンブリ１０を構成するスプリングプローブ２０は、先端部２５Ａが検査ポイントに接触される針状のプランジャ２５と、該プランジャ２５の他端側が進退可能に挿入されたバレル２４と、プランジャ２５をバレル２４に対する突出方向の移動限に偏移させるスプリング２６とを含んで構成されている。 - 特許庁

Prior to defect correction of the isolated pattern 4, a conductive coil spring 3 is formed at a tip of a conductive probe 1 by a focused ion beam-induced chemical vapor-grown metal film, and the probe is conducted with the isolated pattern 4 while reducing the contact pressure with a mask pattern by the coil spring 3 to prevent the charge-up.例文帳に追加

導電性プローブ1の先端に集束イオンビーム誘起化学気相成長金属膜で導電性のコイルバネ3を形成し、コイルバネ3によりマスクパターンとの接触圧を緩和して孤立したパターン4との導通を取り、チャージアップが起こらないようにしてから集束イオンビーム7で欠陥修正を行う。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁

A plurality of low contact pressure small-sized spring contact modules 14d are provided between a probe card 15 and a wafer-measuring board 14, thereby electrically connecting the probe card 15 to the wafer measuring board 14 by the modules 14d.例文帳に追加

プローブカード１５とウエーハ測定用ボード１４との間に低接圧の小型スプリング・コンタクト・モジュール１４d を複数個設け、小型スプリング・コンタクト・モジュール１４d によってプローブカード１５とウエーハ測定用ボード１４とを電気的に接続した。 - 特許庁

The touch sensing probe includes: a nozzle body 2 including a contact tip 1 for energization inside the body; and a tip end probe 3 detachably mounted by being threaded into an end of the nozzle body 2, and electrically connected with the contact tip 1 by a contact spring 5.例文帳に追加

内部に通電用のコンタクトチップ１を有するノズル本体２と、ノズル本体２先端部にネジ式で着脱自在に取り付けられ、コンタクトチップ１と接触バネ５により電気的に接続される先端プローブ３とを備える。 - 特許庁

This probe device for connecting the connector of the inspection object 100 having a circuit and the connector 104 to be connected to the circuit, to the terminal of the tester for inspecting the circuit operation of the inspection object is equipped with a spring probe 31 to be in contact with the connector.例文帳に追加

回路及び回路に接続されるコネクタ104を有する被検査物100のコネクタと、被検査物の回路の動作を検査するテスタの端子と、を接続するプローブ装置であって、コネクタに接触するスプリングプローブ31を備える。 - 特許庁

To correspond to reduced diameter of a contact probe for grounds by using a coil spring of a predetermined shape for electrical connection between the contact probe for grounds and a metal block and to reduce cost of manufacturing and omission of preparation process at the time of built-in.例文帳に追加

グランド用コンタクトプローブと金属ブロック間の電気的接続に所定形状のコイルスプリングを用いることで、グランド用コンタクトプローブの小径化に対応可能にし、製造コストの低減、組み込み時の調整工程の省略を図る。 - 特許庁

In a monitoring device to paper feeding, a probe element is formed of one active spring formed of the complex of one or a plurality of piezoelectric actuators in case, or itself is formed of one active spring.例文帳に追加

給紙に対する監視装置においては、プローブ要素が、場合によっては１つまたは複数の圧電アクチュエータの複合体から形成された１つの能動バネによって形成され、あるいはそれ自体が１つの能動バネから形成される。 - 特許庁

Further, in the present invention probe card pin, the cross section of a drum part 1 is set to a square or rectangular shape, thus extremely improving bending strength (spring property).例文帳に追加

さらに、本発明のプローブカードピンにおいて、胴部１の横断面形状を正方形または長方形にすることにより、特に曲げ強度（ばね性）の向上が顕著である。 - 特許庁

The probe is at least constituted of a metal spring 1 sharpened at its one end, a tuning fork type quartz vibrator 2 being a piezoelectric element and a plurality of holders 6 and 3 for supporting them.例文帳に追加

プローブは、少なくとも、一端を先鋭化した金属バネ１と、圧電素子である音叉型水晶振動子２と、これらを支持する複数のホルダー６、３から構成される。 - 特許庁

To provide a contact probe and a socket enhancing reliability of inspection by surely bringing a plunger and a close winding part of a coil spring to each other at a fixed contact pressure.例文帳に追加

プランジャーとコイルスプリングの密着巻き部とを一定の接圧で確実に接触させることで検査の信頼性を高めることが可能な、コンタクトプローブ及びソケットを提供する。 - 特許庁

Since the coupling 20 comprises a spring-loaded check valve, when the coupling 20 is not fitted to the probe, gas does not flow through the coupling.例文帳に追加

カップリング２０は、ばねで付勢される逆止弁を有しており、これによりカップリング２０がプローブに取り付けられていないとき、ガスがカップリングを通って流れないようにする。 - 特許庁

By using the contacts a compact structure, that does not have a complex structure, such as the spring-incorporated probe pin can be obtained and enables transmission of a large number of signals.例文帳に追加

本接触子を活用する事でバネ内蔵式のプローブピンの様な複雑な構造を持たない為小型で多数の信号を伝達することが可能となった。 - 特許庁

This probe card 1 includes a contactor 3 having a spring part 3a erected from a wiring board 2 and formed in a bow shape bent in a horizontal direction.例文帳に追加

本発明のプローブカード１は、配線板２から起立しており水平方向に湾曲する弓形状に形成されているばね部３ａを有する接触子３を備えている。 - 特許庁

A probe 23 being fixed to a spring 22 and having a tip ball 232 at the other end and a displacement detection optical system 24 for optically detecting the deformation of an Eden spring 22 are provided.例文帳に追加

２枚の平行板ばね２２１、２２２を有するエデンばね２２と、一端がエデンばね２２に取り付けられ他端に先端球２３２を有する測定子２３と、エデンばね２２の撓みを光学的に検出する変位検出光学系２４とが設けられる。 - 特許庁

This contact probe has a plunger part 1 for contacting with an inspection object, a spring part 2 for supporting the plunger part 1 on one end, a lead wire connecting part 6 for electrically connecting the other end of the spring part 2 and a lead wire, and a conducting path part 7.例文帳に追加

コンタクトプローブは、被検査物に接触させるためのプランジャ部１と、一端においてプランジャ部１を支持するスプリング部２と、スプリング部２の他端とリード線とを電気的に接続するリード線接続部６と、導通パス部７とを備える。 - 特許庁

The contact probe is equipped with an apex part for contacting it with a plane to be measured, a support part for performing support and electrical linkage, and a spring part linking the apex part to the support part.例文帳に追加

本発明のコンタクトプローブは、被測定面に接触させるための先端部と、支持および電気的接続を行なうための支持部と、先端部を支持部に接続するスプリング部とを備える。 - 特許庁

To provide a contact pin and a contact probe capable of mitigating stress concentration on a specific portion by devising the shape of a spring, and enlarging displacement by enhancing flexibility.例文帳に追加

スプリング部の形状を工夫して特定部位への応力集中を緩和し、また撓み易くして変位量を大きくすることを可能にしたコンタクトピン及びコンタクトプローブを提供する。 - 特許庁

Specifically, the heat avoiding section 14 contacts a face 15b different from a face 15a at the tip 11a in a probe base 15 comprising the contact section 11, the spring section 12 and the support section 13.例文帳に追加

具体的には、接触部１１、バネ部１２、および支持部１３からなるプローブベース１５において先端部１１ａ側の面１５ａと異なる面１５ｂに接続されている。 - 特許庁

The cantilever is equipped with a support part 102, the leaf spring-shaped lever part 104 supported on the support part 102 in a cantilevered fashion and the probe 108 provided on the free end part of the lever part 104.例文帳に追加

カンチレバーは、支持部１０２と、支持部１０２により片持ちに支持された板バネ状のレバー部１０４と、レバー部１０４の自由端部に設けられた探針１０８とを備えている。 - 特許庁

Furthermore, the coaxial probe includes insulation holders 30A and 30B disposed between the two outer contact parts, and a spring 40 disposed between the two outer contact parts together with the holders.例文帳に追加

また、同軸プローブは、２つの外側接触部の間に配置される絶縁性のホルダ３０Ａ，３０Ｂと、ホルダとともに２つの外側接触部の間に配置されるバネ４０とを備えている。 - 特許庁

This contact probe is equipped with a cylindrical sleeve 22; the plunger 24 sliding in the axial direction inside the sleeve 22; a coil spring 26 stored inside the sleeve 22, and axially urging the plunger 24 of the sleeve 22; and a short pin 28 in contact with a fixed end 26a of the coil spring 26.例文帳に追加

円筒状のスリーブ２２と、スリーブ２２の内部を軸方向に摺動するプランジャー２４と、スリーブ２２の内部に収容され、プランジャー２４をスリーブ２２の軸方向に付勢するコイルスプリング２６と、コイルスプリング２６の固定端２６ａと接するショートピン２８と備える。 - 特許庁

A measuring probe 42 is brought into contact with a part where a damper spring 16 extends a damper wire 17 so that no force is applied from the damper spring 16, the damper wire 17 is cut, and the elastic repulsion force 16 is measured by a digital force gauge 41.例文帳に追加

ダンパースプリング１６がダンパーワイヤ１７を架張している部分にダンパースプリング１６から力を印加されない様に測定子４２を接触させ、ダンパーワイヤ１７を切断してダンパースプリング１６の弾性反発力をデジタル式フォースゲージ４１で測定する。 - 特許庁

In this way, a voltage drop due to increase of the electric resistance of the spring probe 10 can be compensated even if the narrowed electrode pitch of a semiconductor device 8 to be inspected requires thinning of the spring probe 10.例文帳に追加

ソケット本体に設けられた、スプリングプローブ１０挿入用の穴１２の内壁に導電性表面処理部１３を形成することで、全体の電気抵抗を低下させることができ、被検査対象の半導体装置８の電極のピッチが狭くなってスプリングプローブ１０を細くする必要性が生じた場合のスプリングプローブ１０の電気抵抗が増大することに起因した電圧降下分を補償することができる。 - 特許庁

Also, a measuring probe-retaining device 11 for retaining the measuring probe 10VT in the vertical direction being pressed is equipped with a retreat mechanism by a spring 16, thus preventing deformation and damage while both escape each other even if the device 11 collides with the gap detector 4VT when the sample is broken.例文帳に追加

また、押圧する鉛直方向の測定子１０ＶＴを保持する測定子保持装置１１には、スプリング１６による後退機構を備え、もし供試体の破壊時に間隙検出器４ＶＴと衝突しても、両者が互いに逃げて、変形や破損を抑制防止する。 - 特許庁

Each contact probe 2 is a probe, where a pair of conductive elements (conductive plungers) 4, 6 are inserted into a barrel 14 so that an elastically touching conductive spring 8 is interposed between them, and that their respective outside parts project out from the barrel 14; and the barrel 14 is made from an insulating material, polyimide resin, for example.例文帳に追加

一つのバレル１４に、一対の導電子（導電性プランジャ）４、６をその間に弾接用導電スプリング８が介在し、各々外側の部分が該バレル１４から食み出すように、挿入したコンタクトプローブ２であって、上記バレル１４を絶縁材、例えばポリイミド樹脂により形成する。 - 特許庁

When the tip of a mating probe 30 is brought into contact with a contact face 11a in the earth terminal 11, contact between the fixed terminal 12 and the movable contact 17 is broken while a central contact 32 of the counterpart side probe 30 is electrically connected to the spring terminal 13 via the movable contact 17.例文帳に追加

相手側プローブ３０の先端をアース端子１１の接触面１１ａに当接させると、固定端子１２と可動接点部材１７との接触が断たれるとともに、相手側プローブ３０の中心コンタクト３２が、可動接点部材１７を介してばね端子１３に電気的に接続する。 - 特許庁

The probe pin 100 includes a sleeve 110 made of a conductive metal, a spring 120 axially housed in the sleeve, a plunger 130 projectable from one end of the sleeve 110 and connected to one end of the spring 120, and a plunger 140 projectable from the other end of the sleeve 110 and connected to the other end of the spring 120.例文帳に追加

プローブピン１００は、導電性金属からなるスリーブ１１０と、スリーブ内の軸方向に収容されるスプリング１２０と、スリーブ１１０の一端から突出可能であり、かつスプリング１２０の一端に接続されるプランジャー１３０と、スリーブ１１０の他端から突出可能であり、かつスプリング１２０の他端に接続されるプランジャー１４０とを有する。 - 特許庁

A probe pin 100 comprises: a sleeve 110 made of a conductive metal; a spring 120 axially housed in the sleeve; a plunger 130 which is projectable from one end of the sleeve 110 and connected to one end of the spring 120; and a plunger 140 which is projectable from the other end of the sleeve 110 and connected to the other end of the spring 120.例文帳に追加

プローブピン１００は、導電性金属からなるスリーブ１１０と、スリーブ内の軸方向に収容されるスプリング１２０と、スリーブ１１０の一端から突出可能であり、かつスプリング１２０の一端に接続されるプランジャー１３０と、スリーブ１１０の他端から突出可能であり、かつスプリング１２０の他端に接続されるプランジャー１４０とを有する。 - 特許庁

A displacement of a plate spring member 3 generated by contact of the contact terminals 2 with the inspection object 15 is detected when the probe card X1 has structure held with the plurality of contact terminals 2 onto the plate spring member 3 with one portion fixedly supported to an elastically displaceable support member.例文帳に追加

プローブカードＸ１が，支持部材１に対して一部が固定支持されて弾性変位する板ばね部材３に複数の接触端子２が保持された構造を有する場合に，接触端子２と被検査物１５との接触によって生じる板ばね部材３の変位を検知する。 - 特許庁

When a probe card X1 is pushed in along a pressing direction, the cantilever-like parts 20a, 20b are deflected to narrow a clearance 5a between the second plate spring 21 and a protrusion member 5.例文帳に追加

更にプローブカードＸ１が押圧方向に押し込まれると，片持ち梁状部２０ａ，２０ｂが夫々更に撓むことで，第２の板ばね２１と突起部材５との間の隙間５ａが狭くなっていく。 - 特許庁

The contact probe has a plurality of rod-like contacts 3, each independently movably held on a support body by a coil spring 2.例文帳に追加

支持体１にコイルばね２によりそれぞれ独立に移動可能に保持された複数の棒状の接触子３からなり、それらの複数の棒状の接触子３は支持体１に電気的に導通している。 - 特許庁

A retainer plate 7 with an ultrasonic probe 8 fixed is assembled in a socket 1 for fastening screw, and energized in the direction toward the tip of the socket 1 by a compression spring 6 between the retainer plate 7 and a sliding body 6.例文帳に追加

ねじ締め用のソケット１の中に、超音波プローブ８の固着された保持板７が組み込まれ、摺動体６との間で圧縮ばね６によりソケット１の先端方向に付勢される。 - 特許庁

The cantilever comprises both a lever part 8 provided with a sharpened probe 9 at its tip and a support part 2 for supporting the lever part 8, and has a mechanism for changing the spring constant of the lever part 8.例文帳に追加

先鋭化されたプローブ９を先端に設けたレバー部８と、該レバー部８を支持する支持部２とからなるカンチレバーであって、前記レバー部８のバネ定数を可変する機構を有するカンチレバーとした。 - 特許庁

When the protrusion member 5 abuts to the second plate spring 21, relatively great reaction acts on the contacts 1a, 1b only by pushing slightly the probe card X1 in.例文帳に追加

また，第２の板ばね２１に突起部材５が当接すると，プローブカードＸ１が僅かに押し込まれただけで，接触子１ａ，１ｂに対して第２の板ばね２１の比較的大きい反力が作用する。 - 特許庁

To provide a probe card pin that has sufficient characteristics, especially sufficient wear resistance and spring properties, even if the dimensions are set to extremely small values and has small increase in contact resistance values even if the card pin is used for a long time.例文帳に追加

極細寸法にした場合でも十分なプローブカードピン特性を有し、特に十分な耐摩耗性，ばね性があり、長時間使用しても接触抵抗値の増加が小さいプローブカードピンを提供する。 - 特許庁

This contact probe is equipped with a tip 1 for bringing it into contact with the surface being measured, a supporting part 3 for supporting and electrically connecting, and a spring part 2 for connecting the tip part to the supporting part.例文帳に追加

コンタクトプローブは、被測定面に接触させるための先端部１と、支持および電気的接続を行なうための支持部３と、上記先端部を上記支持部に接続するスプリング部２とを備える。 - 特許庁

Furthermore, a displacement detection unit of a stylus 5 is thinned by using a diffraction grating and is further thinned, by using a pulley and constant load spring to support a probe, and thereby the structure is made simple and compact, and easy to manufacture.例文帳に追加

さらに、スタイラス５の変位検出ユニットを回折格子を使って薄くし、プローブの支持を滑車と定荷重バネを使うことによりさらに薄くし、構造が単純、小型化、製作容易にした。 - 特許庁

Because of a constant spring pressing force by a cantilever 2, a probe 3 penetrates the viscous solvent 32 in the Z-axis direction while moving the viscous solvent 32 and the grain type sample 31 inside the cell 34.例文帳に追加

カンチレバー２の一定のバネ押圧力により探針３はセル３４内において粘性溶媒３２と粒状試料３１とを移動させながら粘性溶媒中をＺ軸方向に侵入して行く。 - 特許庁

Since a first stopper 91 is fixed and a compression spring 92 acts between the first stopper 91 and the housing 8, the probe 85 is urged to touch the body part.例文帳に追加

第１ストッパ９１が取り付けられているとともに、圧縮ばね９２が第１ストッパ９１とハウジング８０との間に作用することによって、プローブ８５が、ボディ部に接するように付勢されている。 - 特許庁

A probe 102 is hung on one end of the simple balance or pulley, while a balance weight 114 is connected to the other end, and a spring 115 is installed between the balance weight and the moving member.例文帳に追加

前記天秤またはプーリーの一端部にプローブ１０２を吊下げ、他端部には、バランス重り１１４を連結し、ばね１１５を前記バランス重りと移動部材との間に設けたことを特徴とする。 - 特許庁

In this contact probe, a helical R flute 2 of which sliding edge of section area is in a round form is formed at a helical flute of a plunger 1 and a plane calking 5 and a spring 8 are provided at a sleeve 7.例文帳に追加

プランジャー１の捩じれ溝に於いて、その断面の摺動辺がＲ形状をなす捩じれＲ溝２を形成し、スリーブ７に平面カシメ５及びスプリング８を設けた事を特徴とするコンタクトプローブ。 - 特許庁