「Spring Probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The surgical probe comprises a body, a cannula attached to the body coaxially, the sleeve slidably installed on the cannula, and a spring which urges the sleeve to a distance on the cannula.例文帳に追加

本発明による外科プローブは、本体、前記本体に同軸に取り付けられたカニューレ、前記カニューレ上に摺動自在に受けられたスリーブ、および前記カニューレ上で前記スリーブを遠位へ付勢するバネを含む。 - 特許庁

To provide an in-pipe insertion ultrasonic flaw inspection apparatus smoothly moved in a pipe by a water stream pressure only without use of a cable for supplying power to an ultrasonic probe and transmitting/receiving a signal to/from the ultrasonic probe and a cable using a coil spring for transferring an ultrasonic flaw inspection apparatus in the pipe.例文帳に追加

超音波探触子への電源供給や信号の送受のためのケーブルと、超音波探傷検査装置の管内移送のためのコイルバネ等を用いたケーブルを用いることなく、水流圧だけでスムーズに管内を移動できるようにした管内挿入式超音波探傷検査装置を提供する。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

To provide a continuity inspection system which allows an operator to feel the sense of force caused by contact of a wire with a tip part without inserting the wire until the wire is brought into contact with a tubular body, or an outer shell part, of a contact probe or until a spring within the body of the contact probe strikes against the bottom.例文帳に追加

作業者が、コンタクトプローブの筒状の本体、すなわち外殻部、に電線が接触するまで、もしくは、コンタクトプローブ本体内部のスプリングが底突きするまで電線を挿入することなく、電線が先端部に接触した力覚を感じることができる導通検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card which enables grating arrangement of a contact without reducing spring properties of the contact and besides can prevent breakdown of a circuit or a circuit element incorporated in a chip or an interposer.例文帳に追加

接触子のばね性を低下させずに接触子を格子配置することができ、また、チップまたはインターポーザに内在する回路や回路要素が破壊されることを防止することができるプローブカードを提供する。 - 特許庁

This connection pin for the probe card for inspecting the semiconductor device has a U-shaped or V-shaped spring part manufactured by etching or press-work of metal.例文帳に追加

半導体デバイスを検査するプローブカード用のコネクトピンであって、該コネクトピンは金属のエッチングあるいはプレス加工によって製造された、Ｕ字型あるいはＶ字型形状のバネ部を有することを特徴とするコネクトピン。 - 特許庁

A probe pin 1, comprising a straight part 2 and a tapered part 3, is superior in conductivity, corrosion resistance, abrasion resistance, spring properties and extensibility to prevent cracks or breaking of a bent part 4 at bending work, as much as possible.例文帳に追加

ストレート部２、テーパ部３からなるプローブピン１において、導電性、耐腐食性、耐摩耗性およびバネ性に優れ、かつ展延性にも優れて曲げ加工時の屈曲部４の割れや折れを可及的に防止できる。 - 特許庁

This probe card 10 is equipped with an annular disc spring 14 comprising inner and outer edge parts severally fixed to a first fixing member 15 in a middle part of a back face of the PCB board 11 and to a second fixing member 16 in a peripheral part thereof.例文帳に追加

ＰＣＢ基板１１の背面の中央部の第１固定部材１５と周縁部の第２固定部材１６とにそれぞれ固定された内縁部及び外縁部を有する環状の皿ばね１４を備える。 - 特許庁

While including a conductive coil spring 30 arranged between a contact probe 1 for grounds which is arranged coaxially to a through-hole 11 of a metal block 10 and an inner circumference surface of the through-hole 11, a large diameter coil section 31 and a small diameter coil section 32 are formed eccentrically each other in the coil spring 30.例文帳に追加

金属ブロック１０の貫通孔１１に対して同軸配置されたグランド用コンタクトプローブ１と、貫通孔１１の内周面との間に配置される導電性コイルスプリング３０を有し、コイルスプリング３０には、大径コイル部３１と小径コイル部３２とが相対的に偏心して形成されている。 - 特許庁

When installing mating side receptacle, the mating side receptacle contacts the contact surface 82a of the external conductor plunger 80, the external conductor plunger 80 slides in the external conductor probe 70 against energizing force of a spring 71, a center contact of the mating side receptacle contacts the tip part 52, and the central conductor plunger 50 slides in the center conductor probe 40 against energizing force of a spring 41.例文帳に追加

相手側レセプタクルの装着の際には、外部導体プランジャ８０の接触面８２ａに相手側レセプタクルが接触すると共に、ばね部材７１の付勢力に抗して外部導体プランジャ８０が外部導体プローブ７０内を摺動し、かつ、先端部５２に相手側レセプタクルの中心コンタクトが接触すると共に、ばね部材４１の付勢力に抗して中心導体プランジャ５０が中心導体プローブ４０内を摺動する。 - 特許庁

With the probe card with a plurality of contact pins connected on a circuit board to be connected in contact with electrodes for inspection for a semiconductor chip for inspecting electric characteristics of the semiconductor chip, contact pins are to be of micro-spring structure.例文帳に追加

半導体チップの電気的特性を検査するために半導体チップの検査用電極と接触接続されるコンタクトピンが配線基板の表面に複数植設されたプローブカードにおいて、コンタクトピンをマイクロスプリング構造とする。 - 特許庁

To provide a spring contact probe capable of preventing invasion of dust or the like through transparent holes 16, 18 into a conductive tube 10 having transparent holes 16, 18 bored on the blocked end side and having the inner peripheral wall plated with a conductive thin film.例文帳に追加

閉塞端側に透孔１６，１８を穿設して内周壁に導電薄膜のメッキを施した導電チューブ１０内に、透孔１６，１８を介して塵埃などが侵入することのないスプリングコンタクトプローブを提供する。 - 特許庁

The probe is characterized by installing a connection ring 10 to which a lead wire 6 is connected inside a handle rod 5, installing also a pressing coil spring 4, and installing an internal thread 9 connecting to an external thread of the contact body 7 on the left head.例文帳に追加

取手棒５の内部にはリード線６が接続された接続リング１０を設け、更に押コイルスプリング４を設け、左先端には接触体７の雄ネジ８と接続する雌ネジ９が設けてあることを特徴とする。 - 特許庁

A flexure 8 includes: a frame part 10; a plate part 12 extending from the communication part 10b of the frame part 10; a spring part 14; an E shape pressure part 16; and a probe part 18 formed by cutting and erecting a part of the frame part 10.例文帳に追加

フレクシャ８は、枠部１０と、枠部１０の連絡部１０ｂから延伸するプレート部１２と、バネ部１４と、Ｅ字形状の押え部１６と、枠部１０の一部が切り起こされて形成されたプローブ部１８と、を有する。 - 特許庁

In the probe 1, an electrically conductive coil spring 5 which does not bias the plunger 3 is inserted between the inner circumference of the barrel 2 and the outer circumference of the plunger 3 to bring the inner circumference of the barrel 2 and the outer circumference of the plunger 4 into contact with each other via the coil spring 5 and acquire a stable state of electrical contact.例文帳に追加

このプローブ１において，前記バレル２の内周と，前記プランジャー３の外周間に，前記プランジャー３を付勢しない導電性のコイルスプリング５を挿入し，このコイルスプリング５を介して前記バレル２の内周と前記プランジャー４の外周間の電気的な接触を行うことで，安定した電気的接触状態を得る。 - 特許庁

When the stopper member 20 is moved backward against the elastic force of the coil spring 24 by inserting the substrate 18 to be connected, the abutment of the projection 12b is released, and the probe 28 provided on the second clip member 12 abuts on the terminal of the substrate 18 to be connected.例文帳に追加

被接続基板１８の挿入により、コイルバネ２４の弾力に抗してストッ部材２０を後方向に移動させると、突起１２ｂの当接が外れて、第２クリップ部材１２に設けたプローブ２８が被接続基板１８の端子に当接する。 - 特許庁

In a testing apparatus, a shaft core part 14b is formed at a front end side of a shaft part 14 of a probing bar 16 constituting a probe 12, and a contact electrode part 15 is loosely fitted in the shaft part 14, and biased towards the front end side by a resilient spring 17.例文帳に追加

検査装置は、プローブ１２を構成する触針棒１６の軸体部１４の先端側に軸心部１４ｂが形成され、接触電極部１５が軸体部１４に遊嵌されて弾性ばね１７によって先端側に付勢されている。 - 特許庁

The contact probe is composed of a pair of plungers 10 each of which has a contact section 11 to an object at one end and has a sliding surface 12 formed slant at the other end, and a cylindrical spring 20 having a slit in the longitudinal direction and having elasticity in the radial direction.例文帳に追加

一端に対象物との接触部１１を有し、他端に斜めに形成された摺動面１２を有する一対のプランジャ１０と、長手方向にスリットを有し、係方向に弾性を有する筒状バネ２０とから構成される。 - 特許庁

To solve the problems wherein a well-known microminiature spring load type LVDT is unsuitable for inspection of many mounted components because a probe and a detector are used as a pair therefor, and accurate operation thereof cannot be expected even when driven by the power for high frequency excitation by using an electronic component in a comparatively inexpensive zone.例文帳に追加

周知な超小型バネ荷重型ＬＶＤＴは、プローブと検出器を対で用いるため、多数の実装部品の検査に好適せず、比較的低価格帯の電子部品を用いて高周波励磁用電力で駆動しても正確な動作が期待できない。 - 特許庁

An overlapping surface 20b of a movable terminal 20 made of metal plate is adhered on a surface of an insulating substrate 10 by bending of a spring movable portion 20e and a contact point 20h of the movable terminal 20 is pressed and contacted to a fixed terminal electrode 25 when the probe 30 is not mounted.例文帳に追加

金属板からなる可動端子２０は、プローブ３０の非装着時において、ばね可動部２０ｅの撓みによって合わせ面部２０ｂが絶縁基板１０の表面に密着すると共に接点部２０ｈが固定端子電極２５に圧接している。 - 特許庁

The spherical shell type contact 1 includes a spring part 2 formed in the partially buried spherical shell shape as if a part of a spherical shell body is buried to a wiring board 4 to be used for a probe card and the shape that one or more through holes are provided.例文帳に追加

本発明の球殻型接触子１は、プローブカードに用いられる配線板４に対して球殻体の一部が埋設されたような部分埋設球殻形状であって１個もしくは複数の貫通孔が設けられた形状に形成されたばね部２を備える。 - 特許庁

An intermediate shaft 12, in a plunger 10 at a tip section 21 in an accommodation cylinder 20, is formed by a material having higher resistance as compared with that of other parts in a probe 2, having the accommodation cylinder 20, the plunger 10 accommodated in the accommodation cylinder 20, and a spring 25 for pressing the plunger 10 axially against the accommodation cylinder 20.例文帳に追加

収容筒２０と、収容筒２０に収容されたプランジャ１０と、プランジャ１０を収容筒２０の軸方向に押圧するスプリング２５を具備したプローブ２で、収容筒２０の先端部２１とプランジャ１０の中軸１２を他の部分に比べて高抵抗の材料で形成する。 - 特許庁

The trigger probe is composed of a stator 1, a guide 6 of insulating substance installed inside the stator, a stylus 2, a stylus support 20 and an electric circuit, wherein the stylus support 20 is held on the stator 1 through a spring 220, and the stylus 2 is movable from the standstill position in response to a deflecting force.例文帳に追加

このプローブは、固定子（１）と、その内側に設けた絶縁物の案内子（６）と、スタイラス（２）と、スタイラス支持体（２０）と電気回路とを含み、スタイラス支持体（２０）は固定子（１）に対し、ばね（２２０）により保持され、スタイラス（２）は静止位置から偏向力に対応して移動できる。 - 特許庁

The contact probe of the socket for the electronic parts such as an IC socket is provided with a cylinder having an electrical connection, a plunger having the electrical connection which can reciprocate in the cylinder, and a coil spring which is arranged outside along the cylinder and the plunger and compressed when equipped to the IC socket.例文帳に追加

電子部品用ソケット、例えば、ＩＣソケットのコンタクトプローブは、電気的接続部を有するシリンダと、電気的接続部を有し、前記シリンダ内を往復動可能なプランジャと、前記シリンダ及び前記プランジャに沿って外側に配置され、ＩＣソケットに設置されたとき圧縮されるコイルバネとを備える。 - 特許庁

A thin plate with spring properties at a central conductor, made of an extremely thin linear body, is connected in one piece to form the contact probe, the width of the thin plate is set smaller than the diameter of the ultra-thin linear body, and the central conductor is elastically moved backward and forward by the elastic force of the thin plate.例文帳に追加

極細線状体からなる中心導体にバネ性を有する薄板を一体として連設してコンタクトプローブを形成し、該薄板の幅は前記極細線状体の径より小さくし、薄板の弾性力によって、中心導体を前後方向に弾性移動し得るように構成した。 - 特許庁

When the test probe is compressed between the IC package and the printed wiring board, inherent twisting of the coil spring inclines the contact to generate electric contact with the contact coil, and a direct electric route is established between the IC package and the printed wiring board, by the minimum resistance and the minimum inductance.例文帳に追加

テストプローブがＩＣパッケージとプリント配線基板との間で圧縮されると、コイルばねの固有の捩れが、接点を傾倒させ密着コイルと電気的接触を生じさせ、それによって、最小限の抵抗および最小限のインダクタンスによりＩＣパッケージとプリント配線基板との間に直接的な電気的経路を確立する。 - 特許庁

The mounting member 4 is formed with a hollow 4a, and the probe card substrate 5 is fit and mounted in the hollow, and an electrode pad is arranged on the internal surface of the hollow, and the electrode pad is brought into contact with the conductive metallic sphere, and the metallic sphere is connected through a conductive spring to the internal surface of the recess.例文帳に追加

装着部材４には窪み４ａが設けられ、この窪みにプローブカード基板５が嵌め込まれて装着され、前記窪みの内面には電極パッドが配置され、この電極パッドが導電性金属球に接触され、金属球と前記凹部の内面とは導電性バネで繋げられている。 - 特許庁

A center conductor pin 15 is disposed, protruding from a probe body 10 and twelve ground pins 17 are concentrically disposed, to surround the center conductor pin 15, in which the twelve ground pins 17 are provided at an outer conductor 12 via spring members 18, independently and freely movably in the axial direction.例文帳に追加

中心導体ピン１５をプローブ本体１０に突設して配置し、この中心導体ピン１５を囲んだ周囲に１２本のグランドピン１７を同軸的に配し、この１２本のグランドピン１７を、ばね部材１８を介して外導体１２に軸方向に独立して移動自在に設けて構成したものである。 - 特許庁

The first inclined surface 11 is an inclined surface on displacing side while the flat surface 10 comes in contact with the surface to be measured by elastic deformation produced in the spring part when the contact probe is pressed against the surface to be measured, and the radius of curvature of a corner part 14 is made larger than that of a corner part 13.例文帳に追加

第１傾斜面１１は、コンタクトプローブを被測定面に押し当てたときにスプリング部に生じる弾性変形によって平坦面１０が被測定面に当接したまま変位する側の斜面であって、角部１３の曲率半径より、角部１４の曲率半径の方が大きくなっている。 - 特許庁

A friction force microscope includes a calculation mechanism which calculates the effective probe height and twist spring constant of a cantilever in the friction force microscope by bending sensitivity obtained from displacement information of the cantilever in the bending direction and twisting sensitivity obtained from displacement information in the twisting direction, respectively, and calculates a friction force using the calculation values.例文帳に追加

摩擦力顕微鏡においてカンチレバーの有効な探針高さおよび捻れバネ定数を、それぞれカンチレバーの撓み方向の変位情報から求めた撓み感度および捩れ方向の変位情報から求めた捩れ感度により算定し、該算定値を用いた摩擦力の算定機構を備えた摩擦力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The probe 10 for a semiconductor device comprises a double- conical test pin 1 to contact a semiconductor wafer, a lead pin arm 2 for rotatably supporting the test pin 1 and electrically connecting to the test pin 1, a frame 3 for turnably supporting the lead pin arm 2 with a spring 4 and a lead wire 5 for electrically connecting the lead pin arm 2 to a tester.例文帳に追加

半導体ウェーハに接触させるそろばん珠形状のテストピン１と、テストピン１を回転自在に支持するとともに、テストピン１と電気的接続をとるためのリードピンアーム２と、リードピンアーム２を回動自在に支持するフレーム３およびバネ４と、リードピンアーム２とテスター装置との電気的接続をとるためのリード線５と、からなる半導体用プローブ１０。 - 特許庁

The probe includes: a housing 2; a head tip 3 that is movable with respect to the housing and vibrates in contact with a measuring object 8 in vibration detection; a spring 24 for biasing the head tip; a vibration insulating member 41 disposed between the housing and the head tip insulating transmission of vibration between both; and an acceleration sensor 35 connected to the head tip.例文帳に追加

ハウジング２と、そのハウジングに対して可動であって振動検出時に測定対象物８に接触して振動するヘッドチップ３と、ヘッドチップを付勢するバネ２４と、ハウジングとヘッドチップとの間に配置され、両者間での振動の伝達を絶縁する振動絶縁物４１と、ヘッドチップに接続された加速度センサ３５を備える。 - 特許庁

Contact pressure between a needle 13b and an IC 21 is relieved and adjusted by causing stretching deflection evenly in 2 directions perpendicular to a pressing direction by an S-shaped spring 13c elastically holding the needle 13b against a pressing force applied when a probe pin 13 is brought into contact with an IC pad 22 provided on the IC 21.例文帳に追加

プローブピン１３をＩＣ２１上に設けられたＩＣパッド２２に接触させる際に印加される押圧力に対して、ニードル１３ｂを弾性的に保持するＳ字型スプリング１３ｃにより、押圧方向に垂直な２方向に均等に伸縮たわみを生じさせて、ニードル１３ｂとＩＣ２１間の接触圧力を緩和調整する。 - 特許庁

A detecting probe 10 disposed at the front end of an elastic body 14 such as a leaf spring has a radius (r) of curvature of 15 nm≤r≤0.5 cm, and its surface is covered with an easy charge-transfer substance 32 consisting of metal, intermetallic compound, oxide semiconductor, organic compunds capable of becoming electron donor and acceptor, respectively, and the like.例文帳に追加

板バネ等の弾性体１４の先端に配置される検出用探針１０は曲率半径ｒが１５ｎｍ≦ｒ≦０．５ｃｍの大きさを有し、かつ、その表面が金属及びその金属間化合物、酸化物半導体、電子供与体となりうる有機化合物、電子受容体となりうる有機化合物等からなる易電荷移動物質３２により被覆されている。 - 特許庁

This test instrument 14 for matched impedance of a printed circuit board has an upper plate 26 holding the printed circuit board, a matched impedance circuit trace 36 which is elongated from a test position on the printed board which needs an impedance test, and a spring probe transmitting a test signal from the test position on the printed circuit board to the matched impedance circuit trace is elongated via a hole 33 of the upper plate.例文帳に追加

プリント回路基板の整合インピーダンステスト用器具(14)は、前記プリント回路基板を支持する上端プレート(26)を有し、整合インピーダンステストを必要とする前記プリント回路基板上にあるテスト位置から延びる整合インピーダンス回路トレース(36)を有し、前記プリント回路基板上のテスト位置から前記整合インピーダンス回路トレースにテスト信号を伝送するスプリングプローブが、上端プレートにある穴(33)を通して延びる。 - 特許庁