「Spring Probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a low profile type contact probe which does not require spring properties for the terminal itself.例文帳に追加

端子自体にはバネ性を必要としない低背タイプのコンタクトプローブを提供することを目的とする。 - 特許庁

The probe holding member mounting member 23 is pressed to the inspection object 1 side by a coil-shaped spring 26.例文帳に追加

プローブ保持部材取付け部材２３は、コイル状バネ２６によって被検査体１側へ押圧されている。 - 特許庁

A coil spring 14 and a plunger 1 is inserted thereinto to manufacture the contact probe.例文帳に追加

これにコイルバネ１４及びプランジャー１を挿入することによりコンタクトプローブを製造することが出来る。 - 特許庁

The probe includes, a spring cantilever (31) mechanically fixed to the probe holding structure during operation of the probe, a chip (32) equipped with a tip of a nanoscale, and an actuator for positioning the chip (32) in longitudinal direction.例文帳に追加

プローブは該プローブの動作中、プローブ保持構造体に機械的に固定されるスプリング・カンチレバー（３１）と、ナノスケールの先端を備えたチップ（３２）と、チップ（３２）の横方向の位置決め用のアクチュエータとを含む。 - 特許庁

To provide a plunger for a contact probe by which normal measurement can be performed, and which has stable conductivity in electric measurement when being used in the contact probe, specially a vertical spring type probe.例文帳に追加

コンタクトプローブ、特に垂直スプリング型プローブに用いる場合において、電気的測定の際に安定した導電性を有し、常に正常な測定を行うことができるコンタクトプローブ用プランジャーを提供する。 - 特許庁

This probe card is provided with a cylindrical probe support part 1 fixed onto a card substrate 10, and embedded with a guide sphere 2 into an inner wall thereof, a spring 4 with one end fixed onto an inner top plate 3 of the probe support part 1, and the columnar probe pin 5 suspended in the other end of the spring, and having a groove 6 engraved diagonally on a side face.例文帳に追加

プローブカードは、カード基板１０に固定され、その内壁にガイド球２が埋め込まれた円筒状のプローブ支持部１と、プローブ支持部１の内部天板３に一端が固着されたバネ４と、バネ４の他端に縣下され、側面に斜めに彫られた溝６を有する円柱形のプローブピン５と、を備える。 - 特許庁

The spring section 2A is formed on a wiring board 20a of a probe card 20 with ceramics.例文帳に追加

ばね部２Ａはプローブカード２０の配線基板２０ａの表面上においてセラミックを用いて形成されている。 - 特許庁

For a spacer tool in another state, the arm is apart from the probe and its slide contact surface rides on the spring.例文帳に追加

別の形態のスペーサ工具では、アームがプローブから離間していてその枢動接触面がばねにまたがる。 - 特許庁

A probe unit 12 is freely movably maintained at the front end of a shank 11 by way of an adapter 13 and the probe unit 12 is energized forward by a compressed coil spring 34.例文帳に追加

シャンク１１の前端部に触針ユニット１２をアダプタ１３を介して移動自在に保持し、触針ユニット１２を圧縮コイルばね３４により前方に付勢する。 - 特許庁

To provide a probe card in which a spring structure used for the probe card is improved and the replacing and adjusting work of springs is facilitated and which is not affected by variations in the lengths of the springs.例文帳に追加

プローブカードに用いられるばね構造を改良し、ばねの交換および調整作業が容易で、ばねの長さのバラツキに影響を受けないプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card device capable of performing satisfactory characteristic inspection, by preventing contact failure between a probe pin and an IC pad due to spring deterioration with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成でスプリングの劣化に伴うプローブピンとＩＣパッドとの接触不良を防止し、良好な特性検査を実行することができるプローブガード装置を提供する。 - 特許庁

To generate force canceling a dead weight of a probe contacting with a measured object and force as a spring element varied by a displacement of the probe, by a compact magnetic circuit.例文帳に追加

コンパクトな磁気回路によって、被測定物に接触するプローブの自重をキャンセルする力とプローブの変位によって変化するばね要素としての力を発生させる。 - 特許庁

To propose an ultrafine coiled spring which has a predetermined elasticity, e.g., a required elasticity for a coiled spring of a contact probe, though it is an ultrafine coiled spring, and the nickel electrocasting pipe equipped with the coiled spring structure partly.例文帳に追加

超微細なコイル状のスプリングでありながら所定の弾性、例えば、コンタクトプローブ用のコイル状スプリングに要求される弾性を有する超微細コイル状スプリング及び、当該コイル状スプリング構造を一部に備えているＮｉ電鋳パイプを提案する。 - 特許庁

An inexpensive spring probe or the like allowing stable inspection is obtained when constituting the spring probe for the inspection using the spring contact.例文帳に追加

平常時において、内側ほど先端側に突出する形状に渦巻状に巻回するとともに、先端部が軸に直交する平面上にあるように形成したタケノコバネを少なくとも一つ含み、このタケノコバネの先端部を所定接触面に直接接触させるようにスプリングコンタクトを構成する。 - 特許庁

Namely, when tracing is performed normally, a force as a weak spring element is applied to the probe shaft, and when being sprung up by refuse or the like, the probe is returned quickly onto the measuring surface by enhancing rigidity of the spring element.例文帳に追加

すなわち、正常にトレースが行われている時は、弱いばね要素としての力をプローブシャフトに作用させ、ごみ等により跳ね上げられた時は、ばね要素の剛性を強める事で素早くプローブを測定面に戻すようにする。 - 特許庁

The insulation metal spring w, extending from the stopper part 4 to the tip plated part 7, is set as a probe part 2, and the insulation metal spring w in the rear side of the stopper part 4 is set as a lead wire part 3, so as to form this contact probe 1 with the lead wire.例文帳に追加

ストッパー部４から先端めっき加工部７までの絶縁金属ばね線ｗをプローブ部２とし、またストッパー部４以降の絶縁金属ばね線ｗをリード線部３としてリード線付きコンタクトプローブ１とする。 - 特許庁

A number of spring probe apparatuses thus configured are provided in a test board and test signals and output signals are exchanged with a semiconductor integrated circuit via the spring probe apparatus, thereby testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

このような構成のスプリングプローブ装置をテストボードに多数備え、スプリングプローブ装置を介して半導体集積回路との間で試験信号及び出力信号のやり取りを行い、半導体集積回路の試験を行なう。 - 特許庁

In a holding member 25 of a clamp part 32 clamping a biotissue in a space up to a probe 14, the tip side opposite to the probe 14 is given desired energizing force in the probe direction through a first spring member 27, and the base end side opposite to the probe 14 is given desired energizing force through a second spring member 28 having a larger energizing force than the first spring member 27.例文帳に追加

プローブ１４との間で生体組織を挟持するクランプ部２３の把持部材２５を、そのプローブ１４に対向する先端部側を第１のばね部材２７を介してプローブ方向に所望の付勢力を付与し、そのプローブ１４に対向する基端部側を第１のばね部材２７に比して付勢力の大きな第２のばね部材２８を介して所望の付勢力を付与するように構成したものである。 - 特許庁

The device has a supported probe 2 capable of plunging into the coating, a solenoid 3 and a reset spring 4 for allowing the probe 2 to plunge into the coating with a controlled force, and a load cell 5 for detecting a resistance force received from the coating by the probe 2 when the probe 2 plunges into the coating.例文帳に追加

塗膜に対して押込み自在に支持されたプローブ２と、プローブ２を塗膜に対し制御された力で押込むための、ソレノイド３及び復帰バネ４と、プローブ２の塗膜への押込み時にプローブ２が塗膜から受ける抵抗力を検出するロードセル５と、を有することとした。 - 特許庁

The reliability of the jig which uses a probe 1 having spring property so that the probe 1 itself curves as usual is improved by preventing probes 1 from coming into contact with each other, by adding a control board 11 which controls the curving direction of the probe 1 nearby the probe 1.例文帳に追加

従来からある、プローブ１自身が湾曲することでバネ性を持つプローブ１を使用した治具に対して、プローブ１の中央付近にプローブ１の湾曲する方向を制御する制御板１１を追加することで、プローブ１同士の接触を防ぎ、治具の信頼性を向上させる。 - 特許庁

Each probe 1 is structured so that the spring constant of the spring part 3 is smaller than that of the cantilever part 5, and the spring constant of the spring part 3 increases to exceed the spring constant of the horizontal cantilever part 5 when the spring part 3 is contracted by a load from the lower end to make contact with an inner wall of the tubule 16.例文帳に追加

プローブ１は、垂直スプリング部３のバネ係数が片持ち梁部５のバネ係数より小さく、下端からの荷重によって垂直スプリング部３が収縮して、プローブ一体型細管１６の内壁に接触した時に、垂直スプリング部３のバネ係数が大きくなり、水平方向の片持ち梁部５のバネ係数より大きくなるように構成する。 - 特許庁

The characteristic impedance along the spring energizing type probe pin is prevented from being brought into an uncontrolled state, by providing a stepped shelf ground layer 29 extended outwards along the spring energizing type probe pins 7, 42 and toward a probed target signal direction.例文帳に追加

ばね付勢式のプローブピン（７、４２）に沿って外側に、且つ、プロービングされるターゲット信号方向に延在する、段違い棚状のグランド層（２９）を設けることで、ばね付勢式のプローブピンに沿う特性インピーダンスが未制御となるのを防ぐことができる。 - 特許庁

In a probe 2 of a probe card 1, a first beam part 4 and a second beam part 5 which are formed into toroidally-shaped elliptic plate are slantingly arranged as a spring part.例文帳に追加

本発明のプローブカード１のプローブ２においては、ばね部として、ドーナツ形状の楕円板状に形成された第１ビーム部４および第２ビーム部５が傾斜配置されている。 - 特許庁

To provide a contact type probe capable of actively varying any force or contact force applied to the probe, removing vibration of mechanical resonance frequency generated by the probe weight and a spring for dead weight compensation under non-contact conditions, and reducing the probe weight as well as accurately detecting the initial position of the probe.例文帳に追加

本発明は、プローブに加わる力や接触力をアクティブに可変でき、非接触状態に発生するプローブ重量と重力補償用ばねによる機械共振周波数の振動を除去でき、プローブの重量を低減できると共にプローブの初期位置を精度良く検出できる接触式プローブを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for easily manufacturing an external spring probe which can be handled in a single state of not being fixed in a socket.例文帳に追加

ソケットに固定しない単独状態で取り扱うことが可能な外ばねプローブを容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁

Moreover, the respective probe pins (13) are constituted by including a plunger (15), a flange (17), a coil spring (23), and a support member (25).例文帳に追加

また、当該プローブピン（１３）各々は、プランジャー（１５）と、フランジ（１７）と、コイルバネ（２３）と、支持部材（２５）と、を含めて構成してある。 - 特許庁

In the first state, the arm is contained in the probe, the micrometer drive head displaces the tip end of the arm outward, accordingly displaces the spring outward and reduces the spring force by this.例文帳に追加

第一の形態では、アームがプローブ内に収容され、マイクロメータドライブヘッドがアームの末端を外向きに変位させ、これに応じてばねを外向きに変位させ、これによりばね力を軽減する。 - 特許庁

Each of respective probes 10 to 15 has a structure in which a probe pin 33 is force-fitted into a receptacle 31 via a spring 32, and the probe pin 33 is urged to the downward direction so as to be freely moved in the vertical direction.例文帳に追加

各プローブ１０〜１５は、それぞれ、レセプタクル３１内にスプリング３２を介してプローブピン３３を圧入した構造を有し、プローブピン３３は下方向に付勢されて上下方向に移動自在である。 - 特許庁

A clad wire formed of a noble metal or its alloy for its interior and of a metal with proper spring characteristic for its outer peripheral portion is used as the probe pin.例文帳に追加

内部が貴金属あるいはその合金よりなり、外周部はバネ特性の良い金属よりなるクラッド線をプローブピンとする。 - 特許庁

To provide a spring contact probe device advantageous in probing a high-density mounted semiconductor device or the like while simplifying the structure.例文帳に追加

構造の簡略化を図れ、高密度実装化された半導体デバイスなどをプローブするのに有利なスプリングコンタクトプローブ装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a substitute for conventional spring-incorporated probe pin, which is compact, without having a complex structure, as well as, connection for a large number of signals.例文帳に追加

従来のバネ内蔵式のプローブピンの代替を複雑な構造を持たず小型で尚且つ多くの信号の接続を実現する。 - 特許庁

The probe pin 100 comprises an upper plunger 200 and lower plunger 300 formed of a metal plate material, and a coil spring 400.例文帳に追加

プローブピン１００は、金属製の板材から形成された上プランジャー２００および下プランジャー３００と、コイルスプリング４００とを有する。 - 特許庁

The support 20 may be a helical spring connected with the probe 26 at its inner end, and connected with the insulation type body 12 at its outer end.例文帳に追加

支持体２０は、内端がプローブ２６に接続され、外端２４が絶縁型本体１２に接続されている、つる巻きバネであってよい。 - 特許庁

To provide an integrated circuit test probe constituted of an elongated screw machining contact biased by a coil spring and attached to a through hole of a non-conductive substrate.例文帳に追加

コイルばねによってバイアスされ、不導性基板のスルーホールに取り付けられた伸長ねじ加工接点より構成されるテストプローブ。 - 特許庁

The probe pin 10 comprises: a plurality of spring portions 31 which are stacked in the vertical direction; and a contact section 30 contacting with a wafer W.例文帳に追加

プローブピン１０が，上下方向に積層された複数のばね部３１と，ウェハＷに接触する接触部３０を有している。 - 特許庁

The single spring contact or the spring probe is constituted to store the spring contact in a hollow cylindrical hole part formed into an insulator, and to project the tip part from an insulator surface to contact directly with the prescribed contact face.例文帳に追加

また、このスプリングコンタクトを絶縁体に形成した中空筒状の穴部に収容し、前記先端部を前記絶縁体表面から突出させて所定接触面に直接接触させるように単体スプリングコンタクトあるいはスプリングプローブを構成する。 - 特許庁

Each probe 3 includes a spring portion 5 in the shape of a cantilever surrounded by a penetrated groove 8 of a dome-shaped object 4, a stopper 6 composed of the part of the dome-shaped object 4 other than its spring portion 5, and a contact part 7 erected from the surface of the spring portion 5.例文帳に追加

プローブ３は、ドーム屋根形状体４の貫通溝８に囲まれたカンチレバー形状のばね部５、ドーム屋根形状体４からばね部５を除いた部分からなるストッパ部６、および、ばね部５の表面から起立する接触部７を有する。 - 特許庁

The support mechanism 10 comprises a plate spring 11 held with a cantilever, an attaching plate 12 fixed to the tip end of the plate spring 11, the contact probe 13 fixed to the attaching plate 12 and a position regulator plate 14 regulating the downward position of the plate spring 11.例文帳に追加

支持機構１０は、片持ち支持された板ばね１１と板ばね１１の先端部に固定された取付板１２と、取付板１２に固定されたコンタクトプローブ１３と板ばね１１の下方への位置を規制する位置規制板１４とを備える。 - 特許庁

The probe terminal consists of an upper terminal (1), a lower terminal (2), and a coil spring (3) which is used as a configuration in which the upper terminal (1) and the lower terminal (2) are constructed, to mutually interlace inside the coil spring (3) in an inverted manner.例文帳に追加

プローブ端子は上端子（１）、下端子（２）及びコイルスプリング（３）より構成されコイルスプリング（３）の内部に上端子（１）と下端子（２）とが互いに逆さまにくみ合わさった形態として用いられる。 - 特許庁

A probe section in contact with a contact terminal of an inspection object is formed in the upper part, and a spring section for providing elastic force is integrally extended in the lower part of the probe section, thereby making current flow from the inspection object to the lower part of the spring section.例文帳に追加

上部には、検査対象物の接触端子に接触する探針部が形成され、前記探針部の下部には弾性力を提供するスプリング部が一体に延設されることにより、検査対象物から前記スプリング部の下部に電流が通ずるように構成される。 - 特許庁

To provide an alternative material for conventional probe pins which has a sufficient hardness required for probe pins, and conductivity, higher spring performance, oxidation resistance, and further excellent workability.例文帳に追加

従来のプローブピンの代替材料として、プローブピンに要求される十分な硬度を有するとともに、導電性、高ばね性、耐酸化性を有し、さらには加工性が良い材料を提供しようとするものである。 - 特許庁

Since a plunger 32 is pressed to a rod end 5b by a plate spring 51 provided between the flange 32 of a probe 11b and a diameter-reduced part 21, the probe 11b is inhibited from moving to the rod end 5b side (to the right), and also the probe 11b is inhibited from moving to the left.例文帳に追加

プローブ１１ｂのフランジ３２と縮径部２１との間に設けられた板ばね５１によって、フランジ３２がロッドエンド５ｂに押し付けられているので、プローブ１１ｂのロッドエンド５ｂ側（右側）への移動が抑制されるとともに、プローブ１１ｂの左側への移動が抑制される。 - 特許庁

The probe 2C is mounted at such a position as being displaced according to the vibration of the vertical spring 2A and as allowing the vibration part to excite the vibration of the rotary spring 2B by a change in the interatomic force based on the displacement.例文帳に追加

探針２Ｃは、縦バネ２Ａの振動に伴って変位する位置であって、且つ、当該変位に基づく原子間力の変化により回転バネ２Ｂの振動を振動部に励起させる位置に付設される。 - 特許庁

The probe needle 31 includes a contact needle 41 electrically connected to the electrode 12, a projection 42 serving as a positioning means, and a spring 43 serving as an absorber.例文帳に追加

プローブ針３１は、電極部１２と電気的に接続される触針４１と、位置決め手段である突起部４２と、吸収部であるバネ４３とを有する。 - 特許庁

An inspection tool for a print circuit board of the present invention includes holding boards 10, 12, a probe pin 34 movably provided in the holding board 10, and a spring member 36 accommodated in the holding board 12.例文帳に追加

保持ボード１０，１２と、保持ボード１０に進退動自在に保持されるプローブピン３４と、保持ボード１２に収容されるばね部材３６と、を備える。 - 特許庁