「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST DATA FILING SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラム - 特許庁

To provide a test method for data network.例文帳に追加

データ・ネットワークのためのテスト方法を提供する。 - 特許庁

In a test system side, reference data are provided.例文帳に追加

テストシステム側では基準データを準備している。 - 特許庁

To test a performance of data transfer of a mobile device.例文帳に追加

モバイル装置のデータ転送の性能をテストする。 - 特許庁

the test data is fed and run the program 例文帳に追加

テストデータが入力されプログラムが実行される - コンピューター用語辞典

The method of generating the test data includes a first plane data generating step, a second plane data generating step, and a test layout data generating step.例文帳に追加

テストデータ生成方法は、第１平面データ生成工程と第２平面データ生成工程とテストレイアウトデータ生成工程とを備える。 - 特許庁

To prevent personal data from being distributed in a test data generation system that uses a computer for preparing test data on the basis of practical personal data.例文帳に追加

実際の個人データに基きテストデータを作成するコンピュータを利用したテストデータ生成システムにおいて、個人データの分散を防ぐ。 - 特許庁

It also comprises a memory means (for example, RAM6)for storing reference data in which test pattern data of the vibration test of the test body and a reference transmission characteristics data of the vibrator in vibration test in accordance with the test pattern data are correlated.例文帳に追加

供試体の振動試験の試験パターンデータと、当該試験パターンデータに応じた振動試験における加振部の基準伝達特性データとが対応付けられた基準データを記憶する記憶手段（例えば、ＲＡＭ６）を備える。 - 特許庁

The system controller 32 test-writes test data by changing power prior to interruption of data recording, and relation between signal quality of the test data and power is calculated.例文帳に追加

システムコントローラ３２は、データ記録中断に先だってパワーを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータの信号品質とパワーとの関係を算出する。 - 特許庁

The printer 12 receives the test data stream of the response pulse width selected at present, and compares the received test data stream with the predetermined test data stream.例文帳に追加

プリンタ１２は、現在選択されている応答パルス幅でテストデータ列を受信し、受信したテストデータ列を予め定めたテストデータ列と比較する。 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

Selective test data log method related to one embodiment includes a step for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data, and a step for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。 - 特許庁

A printer section 2 has density test pattern data 241.例文帳に追加

プリンタ部２は濃度テストパターンデータ２４１を備える。 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR MEDIA DRIVE OF DATA STORAGE SYSTEM例文帳に追加

データ・ストレージ・システムのメディア・ドライブのためのテスト・システム - 特許庁

The CPU 10 sequentially selects test data from combination test data of a start-up screen in accordance with a predetermined rule.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、スタート画面の組合せテストデータから所定ルールに従って順次テストデータを選択する。 - 特許庁

To put it concretely, after the read test of a data track 113a is carried out, the write test of this data track is carried out.例文帳に追加

具体的には、データ・トラック１１３ａのリード・テストを行った後、そのデータ・トラックのライト・テストを行う。 - 特許庁

DATA COMMUNICATION DEVICE, DATA COMMUNICATION METHOD, TEST SPECIMEN CLASSIFICATION DEVICE AND TEST SPECIMEN CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加

データ通信装置及びデータ通信方法、並びに試験体分類装置及び試験体分類方法 - 特許庁

This is a selective test data log system, equipped with codes for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data and codes for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

選択的テストデータログシステムであって、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成するためのコードと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正するためのコードとを備える。 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

データ処理装置及びデータ処理装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND STORING METHOD FOR FAIL DATA例文帳に追加

半導体テストシステム及びフェイルデータの格納方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ACCUMULATING SUMMARY OF TEST DATA例文帳に追加

試験データのサマリーを蓄積するシステム及び方法 - 特許庁

VIDEO TEST SYSTEM, AND VIDEO SEQUENCE DATA GENERATION METHOD例文帳に追加

ビデオ・テスト・システム及びビデオ・シーケンス・データ発生方法 - 特許庁

Test for the end of data transmission. 例文帳に追加

データの転送が終了したかどうかを調べます。 - PEAR

A test case creating part 17 creates a new test case on the basis of the created test data and a test case generating transition to a present state, and the test case is registered in a test case storage 18.例文帳に追加

テストケース生成部１７は、生成されたテストデータと現在の状態までの遷移を発生させるテストケースを元に新たなテストケースを生成し、テストケース記憶装置１８に登録する。 - 特許庁

To shorten test time in a data holding time test of a dynamic ROM using no test circuit or a simple test circuit.例文帳に追加

ダイナミックＲＯＭのデータ保持時間検査の検査時間をテスト回路を用いずに、もしくは簡素なテスト回路を用いて短縮する。 - 特許庁

One device prepares patten data for an error test and error test identification information showing that a packet is for an error test, generates a packet for an error test having the pattern data for an error test and the error test identification information and transmits the packet for an error test to other devices.例文帳に追加

一の装置が、エラーテスト用パターンデータと、パケットがエラーテスト用であることを示すエラーテスト識別情報とを作成し、エラーテスト用パターンデータと、エラーテスト識別情報とを有するエラーテスト用パケットを生成し、他の装置に送信する。 - 特許庁

First, data being different from test data are written as background data (step 21).例文帳に追加

検査の初めにバックグラウンドデータとして検査データと相違するデータを書き込む（ステップ２１）。 - 特許庁

A data transmitting apparatus 11 transmits test data to a data receiving apparatus 12 when starting communication.例文帳に追加

データ送信装置１１は、通信開始時にテストデータをデータ受信装置１２に送信する。 - 特許庁

A data production section 33 designates the data restriction to an SMT solver and produces test data.例文帳に追加

データ生成部３３は，ＳＭＴソルバにデータ制約を指定してテストデータを生成する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR DATA STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加

データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DERIVATION OF MISSING DATA OBJECTS FROM TEST DATA例文帳に追加

テストデータから欠落データオブジェクトを導出するための方法およびシステム - 特許庁

A test chart selection section 220 selects test chart data adapted to a multifunction machine 100 among a plurality of test chart data managed by a test chart management section 230.例文帳に追加

テストチャート選択部２２０は、テストチャート管理部２３０によって管理される複数のテストチャートデータの中から複合機１００に適したテストチャートデータを選択する。 - 特許庁

To perform a sorting test not in a test environment but in an actual environment when a sorting test of form data is performed, and to prevent test form data from being stored in an unexpected folder.例文帳に追加

帳票データの仕分けテストを行う際に、テスト環境ではなく本番環境で行うとともに、予期せぬフォルダにテスト帳票データが保存されることを防止する。 - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, AND WRITE-IN METHOD FOR RAM TEST DATA BY THE CIRCUIT例文帳に追加

ＲＡＭのテスト回路およびその回路によるＲＡＭテストデータの書き込み方法 - 特許庁

The image processing part 60 of the image forming apparatus 1 stores monochrome test image data showing a monochrome test image and a multicolor test image data showing a multicolor test image.例文帳に追加

画像形成装置１の画像処理部６０は、単色テスト画像を表す単色テスト画像データと、多次色テスト画像を表す多次色テスト画像データとを記憶する。 - 特許庁

The register 241 stores test data outputted from an encoder circuit 21 in a test.例文帳に追加

レジスタ２４１は、テスト時にエンコーダ回路２１から出力されるテストデータを記憶する。 - 特許庁

To optimally determine the elastic modulus and the fracture points of a test specimen based on test result data.例文帳に追加

試験結果データに基づき、供試体の弾性率や破断点を最適に求める。 - 特許庁

In addition, a test schedule and a data sheet of a report on a test result from a test department terminal 9 are similarly registered in the test database 12 and data sheet storage server 2.例文帳に追加

その他、試験部門端末９からの試験スケジュールや試験結果の報告のデータシートについても同様に、試験データベース１２とデータシート格納サーバー２に登録する。 - 特許庁

Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output).例文帳に追加

テストパターン（Ａ）を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する（第１のテストパターン出力）。 - 特許庁

A test result characteristic f0 is displayed on the test result screen 100 of a display monitor 12 according to test result data.例文帳に追加

試験結果データに基づき、表示モニタ１２の試験結果画面１００に試験結果特性ｆ０を表示する。 - 特許庁

The control part inputs the test data to the scan input terminals when the burn-in test is started through the test substrate.例文帳に追加

制御部は、バーンインテストを開始するときに試験基板を介してテストデータをスキャン入力端子に供給する。 - 特許庁

To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit.例文帳に追加

デコード回路を利用した組込みテストにおいて，テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。 - 特許庁

The input data comparison circuit compares the corresponding data items of the plurality of input test writing data and the plurality of test output data, and identifies the matching test output data.例文帳に追加

前記入力データ比較回路は、入力された前記複数のテスト書き込みデータと前記複数のテスト出力データとの対応するもの同士を比較して、一致した前記テスト出力データを特定する。 - 特許庁

Test data are recorded at the top position of a recording unit.例文帳に追加

記録単位の先頭位置にテストデータを記録する。 - 特許庁

The host 2 requests ordinary read of the test data.例文帳に追加

ホスト２は，試験データの通常のリードを要求する。 - 特許庁