| 意味 | 例文 |
Test Dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3606件
The automatic test device 3 operates with reference to the stored data and displays test results and past test data.例文帳に追加
自動試験装置3はその保存されたデータを参照して動作し、試験結果と過去の試験データとを表示する。 - 特許庁
To provide test data backup technology capable of utilizing the data of a test such as a coal combustion test and the like for a long period.例文帳に追加
石炭燃焼試験等の試験データを長期間利用することが可能な試験データバックアップ技術を提供する。 - 特許庁
In an integral reception system 1, test data S8 are outputted from a test data transmitter 25 in a test mode (fault diagnosis mode) for transmitting the test data S8 from a transmission antenna 15.例文帳に追加
統合受信システム1は、テストモード(故障診断モード)のときテストデータ送信部25からテストデータS8が出力され、送信アンテナ15からこのテストデータS8が送信される。 - 特許庁
To provide a PT test supporting method which can perform unitary management of test data, can make data electronic without having errors and systematically, efficiently and easily prepares test data when preparing test data necessary to a PT test.例文帳に追加
PT試験で必要なテストデータの作成を行うに当り、テストデータの一元管理をし、データの電子化をしてミス無く、体系的・効率的にテストデータを簡易に作成することができるPT試験支援方法の提供。 - 特許庁
A test data label determination part 54 determines labels to each piece of individual data by collating the test data with the classifier.例文帳に追加
テストデータラベル判定部54は、テストデータと分類器とを照合して、各個別データに対するラベルを判定する。 - 特許庁
Also, the test data stored in the data storage circuit (22) are written into the memory chip (3) in response to the test data write command.例文帳に追加
また、テストデータライトコマンドに応答して、データ記憶回路(22)に格納されたテストデータをメモリチップ(3)に書き込む。 - 特許庁
A data comparison section 5 compares test data set by the test control section 2 with data actually read out.例文帳に追加
データ比較部5は検査制御部2によって設定された検査データと実際に読み出したデータを比較する。 - 特許庁
To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data.例文帳に追加
時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。 - 特許庁
In the test layout data generating step, test layout data 70 including layout data for which the first plane data and the second plane data are overlapped are generated.例文帳に追加
テストレイアウトデータ生成工程は、第1平面データと第2平面データとが重なり合ったレイアウトデータを含むテストレイアウトデータ70を生成する。 - 特許庁
A test result analysis section 6 creates test result data D10, indicating a test result of the performance test executed by the test execution section 8 and notifies the scenario editor section 2 of the test result data D10.例文帳に追加
試験結果解析部6は、試験実行部8によって実行された動作試験の試験結果を示す試験結果データD10を作成し、この試験結果データD10をシナリオエディタ部2に通知する。 - 特許庁
TEST DATA GENERATION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
テストデータ生成システム及びテストデータ生成方法 - 特許庁
To produce a large amount of fixed test data without increasing capacity of a test data storage region.例文帳に追加
試験データ格納領域の容量を増やすことなく大量の固定試験データを発生する。 - 特許庁
To provide an automatic forming method for test data capable of automatically forming test data.例文帳に追加
テストデータを自動的に作成することができるテストデータ自動作成方法を提供すること。 - 特許庁
MISSION DATA TEST PATTERN PRODUCTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
ミッションデータ試験パターン生成方法及び装置 - 特許庁
DIGITAL VIDEO DATA TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
デジタルビデオデータ検査システム及び半導体装置 - 特許庁
TEST EQUIPMENT FOR MEMORY DEVICE AND DATA SELECTING CIRCUIT例文帳に追加
メモリデバイス試験装置およびデ—タ選択回路 - 特許庁
DEVICE METHOD FOR EVALUATING LSI TEST DATA例文帳に追加
LSIテストデータ評価装置及び評価方法 - 特許庁
Then, the circuit 154 inputs the test data restored from ends of the plurality of test data latch circuit 114.例文帳に追加
そして、複数のテストデータラッチ回路114の末尾から引き戻されたテストデータを入力させる。 - 特許庁
When the test mode setting is valid, the set test data are outputted as individual user data.例文帳に追加
テストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータを個別ユーザーデータとして出力する。 - 特許庁
The memory access test control circuit reads out test data from the memory and compares read test data and write data to execute memory access timing adjustment.例文帳に追加
メモリアクセステスト制御回路は、メモリからテストデータを読み出し、読み出したテストデータと書き込みデータを比較し、メモリアクセスタイミング調整を実行する。 - 特許庁
TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
テストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法 - 特許庁
TEST DISPLAY METHOD FOR SCREEN DATA FOR CONTROLLER例文帳に追加
制御装置用画面データのテスト表示方法 - 特許庁
METHOD FOR OPTIMIZING TEST BASED ON EXPERIENTIAL DATA例文帳に追加
経験的データに基づく試験最適化方法 - 特許庁
An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.例文帳に追加
個別ユーザーデータ挿入回路1は、テストモード設定/テストデータ生成回路19からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁
To provide such test data that data sent on a data bus are switched at one time.例文帳に追加
データバス上に流れるデータが一斉に切り替わるテストデータを提供する。 - 特許庁
This mobile test apparatus for medical application predicts the amount of test data on the basis of test order information and determines whether or not the storage capacity for storing the test data remains.例文帳に追加
検査オーダー情報をもとに検査データ量を予測して、検査データを保存する容量が残っているか、判断する医療用の移動型検査装置。 - 特許庁
A comparison part 514 compares the preceding test result data after the preceding test program execution and the this-time test result data after the this-time test program execution.例文帳に追加
比較部514は、前回のテスト・プログラム実行後の前回テスト結果データと、今回のテスト・プログラム実行後の今回テスト結果データとを比較する。 - 特許庁
An achievement test is created using the system diagram and a test problem data base.例文帳に追加
系統図およびテスト問題データベースを用いて学力テストを作成する。 - 特許庁
To reduce the test pattern length to allow the test pattern data quantity to be saved.例文帳に追加
テストパターン長を短縮して、テストパターンデータ量の削減を可能にする。 - 特許庁
The other system test comparator 13B compares the input two test data, and when the two test data are not matched as the result of comparison, the other system test comparator 13B notifies a self-system CPU3A of an error.例文帳に追加
他系のテストコンパレータ13Bは、入力される2つのテストデータを比較し、比較の結果、一致しない場合、自系のCPU3Aにエラーを通知する。 - 特許庁
SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE例文帳に追加
テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁
The logic chip (2) is provided with a data storage circuit (22) for holding test data at a test mode, and the test data supplied through a data input/output terminal (6) in response to a test data set command are stored in the data storage circuit (22).例文帳に追加
ここにおいて、ロジックチップ(2)は、テストモード時にテストデータを保持するデータ記憶回路(22)を備え、テストデータセットコマンドに応答してデータ入出力端子(6)を介して供給されるテストデータを、データ記憶回路(22)に格納する。 - 特許庁
Test circuits of semiconductor integrated circuits exchange test data via a path including the data bus 12, and the test circuit of the semiconductor integrated circuit that has received the test data determines a data transfer failure according to the comparison of the received test data with reference data.例文帳に追加
データバス12を含む経路を介して半導体集積回路のテスト回路間でテストデータを送受信し、テストデータを受信した半導体集積回路のテスト回路が、受信したテストデータと参照データとの比較結果に基づいてデータ転送障害を判定する。 - 特許庁
To provide a device for generating masking data for test which eliminates information leakage of production data in creating test data, and high consistency and validity with original data as a test data.例文帳に追加
テストデータを作成することにおいて、本番データの情報漏洩を無くし、なおかつテストデータとして元のデータとの整合性・有効性が高いテスト用マスキングデータ生成装置を提供する。 - 特許庁
The image data generation section 71 prepares test image data to be outputted to the image data generation section 71 on the basis of test data stored in a test data storage section 78 (EEPROM 65).例文帳に追加
画像データ生成部71は、テストデータ記憶部78(EEPROM65)に格納されるテストデータに基づいて、画像データ生成部71に対して出力するテスト画像データを作成する。 - 特許庁
To provide a test system, a test method and a test program for reducing the amount of data necessary in a test.例文帳に追加
テストにおいて必要となるデータ量を削減することができるテストシステム、テスト方法およびテストプログラムを提供すること - 特許庁
A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.例文帳に追加
テストパターン生成部210は、Webシステム100のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン301を生成する。 - 特許庁
INTERNATIONALIZATION SOFTWARE TEST METHOD USING RESOURCE FILE FOR TEST AND FONT FOR TEST, DEVICE, PROGRAM AND DATA STRUCTURE FOR FONT FOR TEST例文帳に追加
テスト用リソース・ファイル及びテスト用フォントを用いた国際化ソフトウェアのテスト方法、装置、プログラム及びテスト用フォントのデータ構造 - 特許庁
A comparator 243 compares the received test data stored in the register 242 in the test with the test data stored in the register 241.例文帳に追加
比較器243は、テスト時にレジスタ242に記憶される受信テストデータをレジスタ241に記憶されるテストデータと比較する。 - 特許庁
A test request control part 14 transmits the test request to a test authorized person in accordance with the test process data determined by the test process determining part 12.例文帳に追加
テスト依頼制御部14は、テスト工程設定部12によって設定されたテスト工程データに従ってテスト依頼をテスト関係者に送信する。 - 特許庁
A test light intensity setting means 12 sets test light intensity data D15 on the basis of the reflectivity data D13, the test region data D14 and correction data D18.例文帳に追加
検査光強度設定手段12は、反射率データD13、検査領域データD14及び補正データD18に基づき検査光強度データD15を設定する。 - 特許庁
A test data acquisition unit 132 acquires test data which has a size that can be finished by the time when next data is input, and outputs the test data to the decoding processing unit 11.例文帳に追加
テストデータ取得部132は、次の通信データが入力されるまでにテストが終了するサイズのテストデータを取得し、復号処理部11に出力する。 - 特許庁
The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加
現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される(S1)。 - 特許庁
To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.例文帳に追加
スキャンベースの集積回路中のATEでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁
To create more appropriate test specifications and test data for designing a test of a computer program.例文帳に追加
コンピュータプログラムのテストを設計するためのテスト仕様書とテストデータとをより適切に作成すること。 - 特許庁
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