「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE, METHOD, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM FOR FORMING TEST DATA FILE例文帳に追加

テスト用データファイル作成装置、方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

A process execution part 14 fetches data about the batch AP as the test object from a program data storage part 21 and executes a program test.例文帳に追加

処理実行部１４は、プログラムデータ記憶部２１から、テスト対象のバッチＡＰのデータを取り出して、プログラムテストを実行する。 - 特許庁

These test nodes are actually XML files that contain SOAP message data. 例文帳に追加

これらのテストノードは、実際に SOAP メッセージデータが入った XML ファイルです。 - NetBeans

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING TEST DATA IN TELEGRAM PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

電文処理システムのテストデータの生成装置、方法、及びプログラム - 特許庁

Then, a data for an authentication test is acquired from the authenticated person 100 by the authentication data input part 103 to conduct the authentication test.例文帳に追加

その後、認証テストを行なうために、認証データ入力部103により被認証者100から認証テスト用データを取得する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING TEST DATA OF FORM PROGRAM, FORM PROGRAM PREPARING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TEST DATA例文帳に追加

帳票プログラムのテストデータ作成方法、帳票プログラム作成装置及びテストデータを作成するプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The test generation part 104 generates test data corresponding to transitional screen design data that a screen design transition means 101 generates.例文帳に追加

テスト生成部１０４は、画面設計遷移手段１０１が生成した遷移画面設計データに対応したテストデータを生成する。 - 特許庁

TEST CHART, IMAGE DATA, AND IMAGE FORMING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テストチャート、画像データ、画像形成装置、及び画像形成方法 - 特許庁

A test data generating part 14 generates test data based on the pattern identification code and condition identification code stored in the telephone number management data.例文帳に追加

試験データ生成部１４は、電話番号管理データに格納されているパターン識別コードおよび条件識別コードに基づいて試験データを生成する。 - 特許庁

The BIST unit writes test data in the memory, and by comparing the test data output from the memory with expected data, determines a failure cell address in the memory.例文帳に追加

ＢＩＳＴ部はメモリにテストデータを書き込み、メモリから出力されるテストデータと予想データとを比較してメモリ内部の欠陥セルアドレスを判断する。 - 特許庁

To provide an electrode tension test method, which can lead accurater data to an electrode tension test, a device for the electrode tension test method and a substrate/probe support device for an electrode tension test.例文帳に追加

より正確なデータを導くことのできる電極引張試験方法及びその装置並びに電極引張試験用の基板／プローブ支持装置を提供すること。 - 特許庁

A burn-in test device includes a test substrate for mounting a semiconductor device and a control part for supplying a control signal and test data for controlling the motion of the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト装置は、半導体装置を搭載する試験基板と、バーンインテストの動作を制御する制御信号及びテストデータを供給する制御部とを具備する。 - 特許庁

The test system includes a test code generator, a test engine for executing a plurality of copies of a test code, and a data analyzer for analyzing a result and presenting the result to a human user.例文帳に追加

テストシステムは、テストコードジェネレータ、テストコードの複数のコピーを実行するためのテストエンジン、結果を分析し、ヒューマンユーザに提示するためのデータアナライザーを含んでいる。 - 特許庁

When a test instruction signal 37 is output from a command data 22, a test mode decoder 26 inputs the test instruction signal 37 and outputs a test signal 38.例文帳に追加

コマンドデコーダ２２からテスト命令信号３７が出力されると、テストモードデコーダ２６において、そのテスト命令信号３７を入力し、テスト信号３８を出力する。 - 特許庁

To reduce test time while securing reliability of the test, in a data retention test for a semiconductor memory in which data retention is changed with time.例文帳に追加

データ保持特性が経時的に変化する半導体メモリをも考慮したデータ保持特性試験において、試験の信頼度を確保したまま時間の短縮を図る。 - 特許庁

Consequently, in the case that a test vector including 0 as input data exists in the pre-addition test case (S50), a test vector including -0 as input data is added (S60).例文帳に追加

したがって、付加前テストケース中に０を入力データとしたテストベクタが存在する場合には（Ｓ５０）、−０を入力データとしたテストベクタが付加される（Ｓ６０）。 - 特許庁

The test part 301 outputs test data during the invalid period of a bus transfer permission signal 23 and the inspection part 10 inspects the test data by comparing it with an existing value.例文帳に追加

試験部３０１はバス転送許可信号２３が有効でない間は試験データを出力し、検査部１０において既値と比較することにより検査される。 - 特許庁

The BIST logic circuit is operated in a normal mode or a test mode in response to control data received through a system bus to output test result data in the test mode.例文帳に追加

ＢＩＳＴロジック回路は、システムバスを介して受信される制御データに応答してノーマルモードまたはテストモードで動作し、テストモードでテスト結果データを出力する。 - 特許庁

In an erase process to erase the test write data recorded in the test area, CW erase is performed (a step S104) and reproduction of the test write data is attempted (a step S106).例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

Test pattern data with a single gray pixel value is formed in an image recording medium as a test pattern image, and the test pattern image is obtained as image data to be evaluated.例文帳に追加

単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成し、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A transmission unit of the data transfer device transmits test data by being synchronized with a reference signal.例文帳に追加

データ転送装置の送信部は、テストデータを基準信号に同期させて送信する。 - 特許庁

When a test signal falls, data writing is performed after inputting writing data.例文帳に追加

テスト信号が立ち下がると、書き込みデータを入力した後にデータ書き込み動作を行う。 - 特許庁

An address data generating section 5 writes test data in each object address of RAM 1 to 4.例文帳に追加

アドレス・データ生成部５はＲＡＭ１〜４の夫々の対象アドレスにテストデータを書き込む。 - 特許庁

To generate data for a program test with a small data quantity while securing necessary versatility.例文帳に追加

プログラムテスト用のデータを、必要な多様性を確保しつつ少ないデータ量で生成する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁

To easily create test data maintaining integrity of reference relation between pieces of data.例文帳に追加

データ間の参照関係の整合性が維持されたテストデータを容易に作成すること。 - 特許庁

To provide a data generation method that dynamically generates test data to be used in a model inspection.例文帳に追加

モデル検査で用いるテストデータを動的に生成するデータ生成方法を提供する。 - 特許庁

Once your data rules are set your test data creation becomes a predictable and repeatable process. 例文帳に追加

データ規則が設定できれば、テストデータ作成は予測可能で繰り返し可能なプロセスとなる。 - コンピューター用語辞典

• Prohibition of the utilization of personal data as test data when confirming the operation of information system 例文帳に追加

・情報システムの動作確認時のテストデータとして個人データを利用することの禁止 - 経済産業省

A test output obtained by printing a predetermined test pattern is read by a scanner on the network and correction data is formed on the basis of the test output and stored.例文帳に追加

所定のテストパターンを印字したテスト出力をネットワーク上のスキャナで読み込み、それをもとに補正データを作成し、記憶する。 - 特許庁

To prevent data processing from performing overhead operation in a test of a semiconductor device without providing a test result memory in a semiconductor test device.例文帳に追加

半導体試験装置に試験結果メモリを設けることなく、半導体装置の試験にデータ処理がオーバーヘッドしないようにする。 - 特許庁

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a data replication system by roll back utilizable in various applications, such as data mining, data sharing, data backup, a software test, batch processing, etc.例文帳に追加

データの多重アクセスに於ける現行システムでのデータの再ロード、その他の不便を回避するシステムと方法が必要である。 - 特許庁

To provide an error correction test method capable of executing a test based on an accurate data error.例文帳に追加

正確なデータエラーに基づいてテストを実行することができるエラー訂正試験方法を提供する。 - 特許庁

The near end monitor has tasks of starting a program to be tested, monitoring a test status, and recording test data.例文帳に追加

ニヤエンドモニタはテストすべきプログラムを開始し、テストステータスを監視し、テストデータを記録する役目がある。 - 特許庁

When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map.例文帳に追加

キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０６）、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。 - 特許庁

The image forming means forms a test image in a recording medium on the basis of test image data.例文帳に追加

前記画像形成手段は、テスト画像データに基づき、記録媒体に対してテスト画像を形成する。 - 特許庁

To provide a sterilization/disinfection test system and a control method suitable for collecting test data.例文帳に追加

検査データを収集するのに適した殺菌・消毒検査システムおよび制御方法を提供する。 - 特許庁

In image data on the test chart, the space between neighboring black bars on the test chart is used as a white bar.例文帳に追加

テストチャートの画像データは、テストチャートの隣接する黒バー間の間隙を白バーとして使用する。 - 特許庁

A test specification generation processing part 9 extracts a data item concerned with test specification generation from the request specification file 2 (7), extracts a data item of the test scenario pass from the test scenario pass file 5 (8), automatically generates the test specification in an item other than a "judgement" item, and stores the generated data in a test specification file 3 (9).例文帳に追加

テスト仕様生成処理部９は、要求仕様ファイル２からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出する(７)とともに、テストシナリオパスファイル５からテストシナリオパスのデータ項目を抽出して(８)、「判定」項目以外の項目にテスト仕様を自動生成し、テスト仕様ファイル３に生成したデータを格納する(９)。 - 特許庁

To provide an apparatus for making a test recipe, which can precisely make test recipe data without depending on an operator.例文帳に追加

オペレータに依存することなく検査レシピデータを精度良く作成可能な検査レシピ作成装置を得る。 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of surely erasing test write data recorded in a test area.例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

TEST SIGNAL FAN-OUT DEVICE, AND METHOD OF SUPPLYING SIMULTANEOUSLY TEST DATA BLOCK TO AT LEAST ONE DEVICE例文帳に追加

テスト信号ファンアウト装置および少なくとも一つのデバイスにテストデータブロックを同時に供給する方法 - 特許庁

For example, a test of the flash memory chip 3 is performed during a data holding period of a hold-test of the SRAM chip 2.例文帳に追加

たとえばＳＲＡＭチップ２のホールドテストのデータ保持期間内にフラッシュメモリチップ３のテストを行なう。 - 特許庁