「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

A test for confirming data arrival in synchronizing is performed.例文帳に追加

また、データが同期的に到着することを確かめるテストが行われる。 - 特許庁

SELF-TEST ARCHITECTURE TO IMPLEMENT DATA COLUMN REDUNDANCY IN RAM例文帳に追加

ＲＡＭにおいてデータ列冗長を実施するための自己試験アーキテクチャ - 特許庁

BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法 - 特許庁

A W-amplifier/D-amplifier 72 reads out test data from a memory bank 80, a W-amplifier/D-amplifier 73 reads out test data from a memory bank 90.例文帳に追加

Ｗアンプ／Ｄアンプ７２はメモリバンク８０からテストデータを読み出し、Ｗアンプ／Ｄアンプ７３はメモリバンク９０からテストデータを読み出す。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR WRITING DATA IN MEMORY OF INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS例文帳に追加

集積回路試験装置のメモリにおけるデータ書込方法及び装置 - 特許庁

A controller 30 records test data in a PCA (prescribed area) of an optical disk 10 to calculate leading jitter and trailing jitter of a reproduction signal of the test data.例文帳に追加

コントローラ３０は光ディスク１０のＰＣＡにテストデータを記録し、テストデータの再生信号の立上ジッタと立下ジッタを算出する。 - 特許庁

The control part 11 generates the test data using the calculated character code.例文帳に追加

制御部１１は、算出した文字コードを用いてテストデータを生成する。 - 特許庁

PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE例文帳に追加

検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁

In the digital still camera 12, a test image file including image data and a plurality of sets of image processing control data for outputting test images is generated.例文帳に追加

ディジタルスチルカメラ１２において、画像データとテスト画像出力用の複数組の画像処理制御データを含むテスト画像ファイルを生成する。 - 特許庁

A test signal generator 6 generates known digital data signals D.例文帳に追加

試験信号発生器６は、既知のデジタル・データ信号Ｄを発生する。 - 特許庁

The output data generation circuit generates a plurality of test output data each of which is synchronous with the corresponding writing test clock signal.例文帳に追加

前記出力データ生成回路は、対応する前記書き込みテストクロック信号にそれぞれ同期した複数のテスト出力データを生成する。 - 特許庁

The memory device includes a memory cell array, a test data storage section and a decision section.例文帳に追加

メモリ装置はメモリセルアレイ、テストデータ貯蔵部、及び判断部を含む。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY ELEMENT HAVING TEST MODE FOR MEASURING DATA-ACCESS TIME例文帳に追加

データアクセスタイムを測定するためのテストモードを有する半導体メモリ素子 - 特許庁

Then, it calculates required glossiness from test image data and fixing temperature.例文帳に追加

また、テスト画像データと定着温度から要求光沢度を算出する。 - 特許庁

The first correction test data are compared with the second correction test data to verify the photomask with respect to the correction rule (step S26).例文帳に追加

第１補正テストデータ及び第２補正テストデータを比較することにより、補正用ルールに対するフォトマスク検証を行う（ステップＳ２６）ものとする。 - 特許庁

Very few data on test results concerning flow charts are available.例文帳に追加

フローチャートに関わる測定実験のデータは殆ど公表されていない。 - 経済産業省

It's so exciting that we can already test the data from the fourth ranked the other day.例文帳に追加

先日手に入れた第四位のデータをもう試せるとは ワクワクするね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To test your application you will need some data in the database. 例文帳に追加

アプリケーションをテストするには、データベース内にいくつかのデータが必要です。 - NetBeans

Test writing data are recorded in an optical disk, the test writing data is reproduced from the optical disk, and magnitude of asymmetry is measured from the reproduced signal.例文帳に追加

そして、光ディスクに試し書きデータを記録し、光ディスクから試し書きデータを再生して、再生信号からアシンメトリの大きさを測定する。 - 特許庁

BUILT-IN DATA TRANSMITTING DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法 - 特許庁

By this invention, when the same data pattern for test is latched to a different data latch circuit 4, since a latch is performed by only transfer to the data latch circuit 4 from the test latch circuit 12 without inputting data from the outside whenever, a time required for latching the data pattern for test to the data latch circuit 4 can be shortened largely, and a test time also can be shortened.例文帳に追加

本発明によれば、異なるデータラッチ回路４にテスト用の同じデータパターンをラッチする際に、その都度、外部からデータパターンを入力せずに、テストラッチ回路１２からデータラッチ回路４に転送するだけで済むため、テスト用のデータパターンをデータラッチ回路４にラッチするまでの時間を大幅に短縮でき、テスト時間も短縮できる。 - 特許庁

A generation processing part 11 generates, based on the input data item definition 3 and the function definition 4, the test item list 5 including test items and typical data for an item type contained in the input data item definition 3, and substitutes the input data 2 by the typical data, thereby generating output data 6 for performing a test based on the test item list 5.例文帳に追加

生成処理部１は、入力データ項目定義３と機能定義４とに基づいて、入力データ項目定義３に含まれる項目タイプについてのテスト項目及び典型データを含むテスト項目リスト５を生成し、入力データ２を典型データで置換することにより、テスト項目リスト５に基づくテストを行うための出力データ６を生成する。 - 特許庁

A data management server 2 for successively taking the collected test data and storing the same in a storage part 2b, and a test data backup server 4 for backing up the test data stored in the storage part 2b are connected, and the test data backup server 4 is provided with a storage part 4b for storing the data and an auxiliary storage part 4c having a removable storage medium.例文帳に追加

収集された試験データを順次取り込んで記憶部２ｂに保存するデータ管理サーバ２と、記憶部２ｂに保存された試験データをバックアップする試験データバックアップサーバ４とを接続すると共に、試験データバックアップサーバ４にデータを保存する記憶部４ｂとリムーバブルな記憶メディアを有する補助記憶装置４ｃとを設ける。 - 特許庁

At the time of conducting a network test on a test server 6, client cards 401-40n inserted into a client control machine 1 load a test application, test data and OS for card, which are stored in a main control part 2, and conduct the communication test on the test server 6 by using the loaded test application and test data executing and loading OS for card.例文帳に追加

試験用サーバ６に対するネットワーク試験を行う際、クライアント制御マシン１内に挿入されているクライアントカード４０_1〜４０_nは、それぞれ主制御部２内に格納されている試験用アプリケーション、試験用データおよびカード用ＯＳをロードして、ロードした該試験アプリケーションおよびそのカード用ＯＳを実行しロードした該試験用データを用いて試験用サーバ６の通信試験を行う。 - 特許庁

A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.例文帳に追加

上記課題を解決するために、テストデータ生成装置１００に、テストケースを記憶するテストケース記憶部１０１と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部１０２と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム（以下、「アプリケーション１１０」という）を実行させるプログラム実行部１０３と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部１０４と、を備える。 - 特許庁

After finishing the transmission of the loopback test data, the main apparatus 200 adds test result information to the communication protocol 302 of a loopback test termination request for transmission to the LAN device 100.例文帳に追加

折返しデータの送信完了後、折返し試験終了要求の通信プロトコル３０２に試験結果情報を付加し、LAN装置１００へ送信する。 - 特許庁

Operations for reading out the selected test pattern data from the test pattern memory, and writing it into the test pattern signal generator are controlled by a control unit.例文帳に追加

選択されたテストパターンデータをテストパターンメモリから読み出す動作と、それをテストパターン信号発生器に書き込む動作は、制御部によって制御される。 - 特許庁

A test controller 300 collects test data outputted from a test object, i.e. a power converter 20, during the operation of a control power supply 400.例文帳に追加

テスト制御装置３００は、制御電源４００の動作中に、試験対象である電力変換器２０から出力された試験データを収集する。 - 特許庁

Coding for a test is applied only to a position requiring a test so that a test position and bit data can exist mixedly in the same word.例文帳に追加

また、検定のためのコード化は、検定を必要とするポジションのみに適用し、同一ワード内に検定ポジションとビットデータとの混在を可能とした。 - 特許庁

To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.例文帳に追加

回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To preclude a data of an indefinite value from being taken from an indefinite value generation circuit into a test result compression part therefor, in a scan test using the test result compression part.例文帳に追加

テスト結果圧縮部を使用するスキャンテスト時に不定値発生回路からの不定値のデータがそのテスト結果圧縮部に取り込まれないようにする。 - 特許庁

A test image generating section 26 generates test image data including identification information of an image processor selected at the selecting section 25 and a test pattern.例文帳に追加

テスト画像生成部２６は、選択処理部２５が選択した画像処理装置の識別情報とテストパターンとを含むテスト画像データを生成する。 - 特許庁

To provide test data for allowing anyone to adequately judge good or bad of a processed result in an RIP (Raster Image Processor), a test print material, and a method of forming the test print material.例文帳に追加

誰でもがＲＩＰにおける処理結果の良否を正しく判断できるようにするためのテストデータ、テスト印刷物と、その作成方法を提供する。 - 特許庁

The test device 1 receives the test frame 24 from the port 22b of the repeater 22 and captures test data 24a as well as the FCS 26, 28, and 30 added to it.例文帳に追加

検査機器１は、中継器２２のポート２２ｂから試験フレーム２４を受信し、試験データ２４ａ及びこれに付加されたＦＣＳ２６，２８，３０をキャプチャする。 - 特許庁

A running frequency calculation means 12 calculates average running frequency per test data until completing the test for every single body program based on the test execution information.例文帳に追加

ラン回数算出手段１２は、テスト実行情報をもとに、単体プログラムごとのテスト完了までのテストデータ１件あたりの平均ラン回数を算出する。 - 特許庁

At a second test step, second test data is acquired from the plurality of semiconductor devices under environmental conditions different from those of the first test step.例文帳に追加

第２試験ステップにより上記複数の半導体装置から上記第１試験ステップとは異なる環境条件による第２試験データを取得する。 - 特許庁

A test result prediction apparatus 1 calculates the value of a test parameter group to be used for the test based on inputted observation data (a step S1).例文帳に追加

検定結果予測装置１では、入力された観測データに基づいて、検定に用いられる検定パラメータ群の値が算出される（ステップＳ１）。 - 特許庁

An instruction reply section 27 sends a test output execution instruction including test image data generated from the test image generating section 26 back to the image processor.例文帳に追加

命令返信処理部２７は、テスト画像生成部２６が生成したテスト画像データを含むテスト出力実行命令を画像処理装置へ返信する。 - 特許庁

The testing apparatus extracts the code number from the generated test data, performs the test item, acquires a time when the test item ends, calculates a test time required to perform the test from the time and the time when the data are received, and reads the data transmitted to the delay buffer A after the elapse of the calculated test time.例文帳に追加

そして、この試験装置は、生成された試験データからコード番号を抽出して試験項目を実施し、当該試験項目が終了した時刻を取得して、この時刻とデータを受信した時刻とから試験を実施するのに要する試験時間を算出し、算出された試験時間経過後に、Ｄｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信されたデータを読み出す。 - 特許庁

A read-out data comparing circuit 75 compares test data read out from the W-amplifier/D-amplifier 72 or the W-amplifier/D-amplifier 73 with an expected value of the test data, and outputs a signal indicating whether the test data are completely matched with the expected value or not.例文帳に追加

読出しデータ比較回路７５は、Ｗアンプ／Ｄアンプ７２又はＷアンプ／Ｄアンプ７３から読み出されたテストデータと、そのテストデータの期待値とを比較して、テストデータと期待値とがすべて一致しているか否かを示す信号を出力する。 - 特許庁

One of a pair of wireless base station devices generates a test packet including test data, stores replicated data having the same content as that of the test data, and transmits the test packet to the other wireless base station device together with originator information via a wireless communication network.例文帳に追加

一方の無線基地局装置は、試験データを含む試験パケットを生成して、当該試験データと同一内容の複製データを記憶するとともに、当該試験パケットを発信元情報と共に無線通信網を介して他方の無線基地局装置へ送信する。 - 特許庁

The positional information, which is identified by the GPS receiver 2, is filed as a test data file along with the test data acquired by the penetration test, and processed by a data processing means such as a notebook-size personal computer 30, so that the address of the test location and the like can be automatically obtained.例文帳に追加

そして、このＧＰＳ受信機２の割り出した位置情報を貫入試験によって得られた試験データとともに試験データファイルにファイル化してノート型パソコン３０等のデータ処理手段で処理し、試験地の住所等を自動的に求める。 - 特許庁

To determine the offset data, the test data can be written to the test track with a write clock calibration delay set to zero, the test data can then be read from the test track and the first difference can be subtracted from the second difference to determine the offset value for the write clock calibration delay.例文帳に追加

オフセット値を決定するには、書込みクロック較正遅延を０に設定してテスト・データをテスト・トラックに書き込み、次いで、テスト・データをテスト・トラックから読み取り、第２の差から第１の差を引いて、書込みクロック較正遅延のオフセット値を決定すればよい。 - 特許庁

It can be verified whether user data in positions in the vicinity of an outer peripheral part can be properly reproduced by using this test disk, since the test data are recorded so that all of the data region is filled up with the data.例文帳に追加

このテストディスクを用いると、データ領域の全てが埋まるようにテストデータが記録されているため、外周部近傍位置におけるユーザデータを適正に再生できるかを検証することができる。 - 特許庁

To provide test equipment and test method for obtaining measured data that allow a sensor unit (1) to recognize error for calibration of analysis unit connected with the sensor unit by using sensor-related data allocation, for example, cable, stored data, that is, data allocation.例文帳に追加

例えば、ケーブルで、保存されたデータで、つまり、データ割当で、センサユニットと接続されている分析ユニットの較正のためにセンサユニット（１）にセンサ関連データ割当で、エラー認識を可能とすることである。 - 特許庁