「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

The ground evaluation system is formed of a test value data file in which test numerical values corresponding to a plurality of depths collected by the SWS test, are stored, and an evaluation value data file in which evaluation values determined in proportion to stress functions corresponding to the respective depths of the test values are stored.例文帳に追加

ＳＷＳ試験で収集した複数深度ごとの試験数値を格納する、試験値データファイルと、試験値の各深さに応じる応力関数に比例して決定した評価値を格納する、評価値データファイルとによって構成する。 - 特許庁

In this frame relay line test method, a test packet generated by an identification code, a sequence number, and test data by a different pattern is outputted to one end line 2a test data of this output packet and the sequence number are stored.例文帳に追加

試験用パケットであることを示す識別コード、シーケンス番号、異なるパターンの試験用データによって生成した試験用パケットを一方の末端回線２ａに出力するとともに、この出力パケットの試験用データとシーケンス番号とを記憶する。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

Test data 53 from a test data generating circuit 4 are written to an address 52 of a memory 3 that an address control circuit 2 sets, the data 53 are read out by a data write/read control circuit 6, and a comparing decision circuit 8 decides the written data and read data.例文帳に追加

アドレス制御回路２が設定したメモリ３のアドレス５２にテストデータ発生回路４からのテストデータ５３が書込まれ、そのデータ５３をデータ書込み／読出し制御回路６が読出し、書込みデータと読出しデータとを比較判定回路８が判定する。 - 特許庁

Divided image data for test are written to an area for image data output of the same recording medium, and are subsequently read out together with image data for test prestored in an area for image data storage of the same recording medium.例文帳に追加

分割したテスト用画像データを同じ記録媒体の画像データ出力用領域に書き込んだ後に、同じ記録媒体の画像データ保存用領域に元々保存してあるテスト用画像データとともに読み出す。 - 特許庁

The tester simultaneously generates a plurality of pieces of test data in accordance with all of a plurality of pieces of telemeter data from the each control station to be supervised to thereby simultaneously display test data at the entire telemeter data display positions of the display part.例文帳に追加

試験器は、各被監視制御所からの複数のテレメータデータの全てに対応して複数の試験データを同時に発生させることにより、表示部の全テレメータデータ表示位置に同時に試験データを表示させる。 - 特許庁

In the normal mode, a test data compression circuit 100 outputs compression data TD0123 compressed to one bit every four bits (TD0 to TD3) of test output data of a plurality of bits as data DQ0.例文帳に追加

テストデータ圧縮回路１００は、通常モードでは、複数ビットのテスト出力データの４ビット毎（ＴＤ０〜ＴＤ３）に１ビットに圧縮した圧縮データＴＤ０１２３をデータＤＱ０として出力する。 - 特許庁

To test the master logic unit in the data processor more effectively.例文帳に追加

データ処理装置内のマスター論理ユニットのさらに効果的な試験を可能にする。 - 特許庁

To efficiently test durability of a magnetic memory cell with respect to wrong writing of data.例文帳に追加

磁性体メモリセルのデータ誤書込に対する耐性を効率的にテストする。 - 特許庁

The storage section 20 stores image data 20D of a first test chart 42T.例文帳に追加

記憶部２０は、第１テストチャート４２Ｔの画像データ２０Ｄが記憶されている。 - 特許庁

A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加

パターンジェネレータ２０は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁

Result of the test is transmitted from a data transmitting/receiving section 32 to the management server 10.例文帳に追加

テスト結果は、データ送受信部３２から管理サーバ１０に送信される。 - 特許庁

A test before shipment is reconstituted using data in a product management file 16.例文帳に追加

製品管理ファイル１６のデータを用いて、出荷前のテストを再構成する。 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁

To relieve a load on a person generating test data in the case of testing a communication terminal.例文帳に追加

通信端末を試験する際にテストデータの作成者の負担を軽減する。 - 特許庁

Another quick way to test the card is sending data to /dev/dsp, like this: 例文帳に追加

手っ取り早くカードをテストするには、 /dev/dspデバイスにデータを送ってみてください。 - FreeBSD

To generate test signals having poisson's distribution errors from known digital data signals.例文帳に追加

既知のデジタル・データ信号からエラーがポアソン分布である試験信号を発生する。 - 特許庁

To test jitter resistance of a data extraction circuit inside a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の内部でデータ抽出回路のジッタ耐性をテストする。 - 特許庁

I am so excited that we were already able to test the data we gathered from the fourth ranked a few days ago.例文帳に追加

先日手に入れた第四位のデータをもう試せるとは ワクワクするね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A test system may be configured to provide the data in an output report.例文帳に追加

テストシステムは、出力レポートにおけるデータを提供するように構成され得る。 - 特許庁

4) (Not classified): In the case where in vivo mutagenicity test data is available, and the substance is negative例文帳に追加

４）区分外（Not classified）：in vivo 変異原性試験に関するデータがあり、陰性の場合 - 経済産業省

Whether an extraction scheduled day determined through an input means comes or not is determined by the test data backup server 4, the transmission of the test data of the extraction scheduled day is requested to the data management server 2 when the extraction scheduled day of the test data comes, and the test data transmitted from the data management data 2 is stored at least in the removable storage medium of the auxiliary storage device 4c.例文帳に追加

試験データバックアップサーバ４によって入力手段を介して設定された試験データの抽出予定日が到来したか否かを判定し、試験データの抽出予定日が到来した場合にその抽出予定日の試験データの送出をデータ管理サーバ２に対して要求し、データ管理サーバ２から送出された試験データを少なくとも補助記憶装置４ｃのリムーバブルな記憶メディアに保存する。 - 特許庁

A test device regarding station service equipment has a transmitting/receiving means which interprets test command data regarding a test command, transmits the test command to the station service equipment side, and receives a response corresponding to the transmitted test command from the station service equipment side when the test command data is generated based on test specifications stored in a storage means.例文帳に追加

駅務機器に関する試験装置であって、記憶手段に記憶された試験仕様書に基づいて試験コマンドに関する試験コマンドデータが生成されると、試験コマンドデータを解釈して、試験コマンドを駅務機器側に送信し、送信した試験コマンドに対応するレスポンスを駅務機器側より受信する送受信手段を有することによって課題を解決する。 - 特許庁

To provide a piping pressure test data collection system which can easily and reliably perform a pressure test at a low cost, and which is excellent in the applicability of the test result.例文帳に追加

容易かつ安価に信頼性の高い耐圧試験を行うことができ、試験結果の活用性にも優れた配管耐圧試験データ収集システムを提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING METHOD, DATA STRUCTURE OF TEST PATTERN, TEST PATTERN GENERATING DEVICE, DISPLAY PANEL INSPECTION SYSTEM, CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターンのデータ構造、テストパターン発生装置、表示パネル検査システム、制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

Erasing power of the laser beam for erasing data already recorded in a test region (test recording region) of PCA of the optical disk is decided before test recording.例文帳に追加

テスト記録前に、光ディスクのＰＣＡのテスト領域（テスト記録領域）に既に記録されているデータを消去するためのレーザ光の消去パワーが決定される。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage which can perform a test while keeping quality even when test pins of a test device are tewer than address pins or data pins of the semiconductor storage.例文帳に追加

テスト装置のテストピンが半導体記憶装置のアドレスピンまたはデータピンよりも少ない場合にも品質を保持したテストが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A connect test, a login test and a write in test are performed to a storage destination of image data, and if any error occurs in these tests, measures to cope with the error are presented.例文帳に追加

画像データの保存先に対してコネクトテスト、ログインテスト、書込みテストを行い、これらのテストでエラーが発生している場合にはそのエラーに対応する対応策を提示する。 - 特許庁

A setting screen for the user to designate desired test data, character data, scenario data and corpus data is displayed, and image data is generated by use of each data the user designated using the setting screen.例文帳に追加

ユーザーが所望のテキストデータ、キャラクタデータ、シナリオデータ及びコーパスデータを指定するための設定画面を表示手段に表示し、設定画面を用いてユーザが指定した各データを用いて映像データを生成する。 - 特許庁

Density data of a test pattern formed by a test pattern formation part 100 are outputted from a print head and recorded on the recording paper.例文帳に追加

テストパターン発生部１００により発生された、テストパターンの濃度データは、印字ヘッドに出力されて記録紙に印字される。 - 特許庁

To provide a test frame composition device and a test frame composition method which can transmit arbitrary large capacity data.例文帳に追加

本発明は、任意の大容量データを送信可能なテストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法の提供を目的とする。 - 特許庁

Then, the test signal T is reproduced from the test area at predetermined timing to calculate the quality deterioration of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加

所定のタイミングで、テスト領域のテスト信号Ｔを再生し、その評価結果からユーザデータＵの品質劣化を推定する。 - 特許庁

Each test obtains a series of relaxation test data by maintaining a predefined fixed strain of each sample (604).例文帳に追加

それぞれの試験では、各試料の予め定義した一定の歪みを維持することによって、一連のリラクセーション試験データを得る（604）。 - 特許庁

The abnormalities in the test images are detected based on comparison of the pixel value data of the test images and those of the reference images.例文帳に追加

この試験画像の画素値データと、参照画像の画素データとの比較に基づいて、試験画像内の異常が検出される。 - 特許庁

A transfer circuit 20 is provided on the controller 14 to transfer test data supplied to the test pad TP1 to the second memory 13.例文帳に追加

転送回路２０は、コントローラ１４に設けられ、テストパッドＴＰ１に供給されたテストデータを第２のメモリ１３に転送する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The communication section 10 receives image data of the first test chart 42T and a second test chart 41T photographed by the digital camera 40.例文帳に追加

通信部１０は、デジタルカメラ４０が撮影した第１テストチャート４２Ｔ及び第２テストチャート４１Ｔの画像データを受信する。 - 特許庁

A test discriminating circuit compares data read out from the real cell array and the parity cell array with an expected value, and discriminates a test result.例文帳に追加

試験判定回路は、リアルセルアレイおよびパリティセルアレイから読み出されるデータを期待値と比較し、試験結果を判定する。 - 特許庁

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.例文帳に追加

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE例文帳に追加

多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のｅＦｕｓｅバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁

To shorten a test time by performing incorporated self-test in a semiconductor memory having a memory cell array storing parity data.例文帳に追加

パリティデータを記憶するメモリセルアレイを有する半導体メモリにおいて、組み込み自己検査を実施し、試験時間を短縮する。 - 特許庁

A plurality of different test condition data A-N are successively outputted from a test controller 1, the output number of the test condition data is counted by a counter circuit 3, and the data writing clock outputted from the test controller 1 according to the counted value is distributed by a clock distributing circuit 4 to write corresponding test condition data in analog and digital characteristic measuring circuits 61-6n, respectively.例文帳に追加

テストコントローラ１から順次複数の異なる試験条件データ「Ａ」〜「Ｎ」を出力し、カウンタ回路３にて試験条件データの出力数を計数し、その計数値に応じてテストコントローラ１から出力されるデータ書込クロックをクロック分配回路４によって分配して、各アナログ・ディジタル特性測定回路６１〜６ｎに夫々対応する試験条件データを書き込ませる。 - 特許庁

To easily create test data having attributes which are equivalent to those of production data while preventing the leakage of personal information included in the production data.例文帳に追加

本番データに含まれる個人情報の漏洩を防止しつつ、本番データと同等の属性をもつテストデータを容易に作成する。 - 特許庁

In checking the data, the whole test data are added in the data memory media 124-1 to 124-3 mounted on the circuit board respectively.例文帳に追加

データチェックを行う際には、基板上に搭載されたデータ記憶媒体１２４−１〜３のそれぞれについて、テストデータを全て加算する。 - 特許庁