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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test Dataの意味・解説 > Test Dataに関連した英語例文

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Test Dataの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3606



例文

Test input data are inputted from an input terminal 11 and stored in a FIFO memory 2.例文帳に追加

入力端子11からテスト入力データを入力し、FIFOメモリ2に格納する。 - 特許庁

An operation of RF-ID medium is inspected based on an output from the test data reader.例文帳に追加

テストデータ用リーダーの出力に基づいてRF−IDメディアの動作を検査する。 - 特許庁

Consequently, the single eFuse bank preserves data of a plurality of sets from a plurality of test stages.例文帳に追加

その結果、単一のeFuse バンクが複数のテスト・ステージからの複数セットのデータを保存する。 - 特許庁

An address having the lowest priority is specified (step 26), and test data are written (step 27).例文帳に追加

最も優先度の低いアドレスを指定し(ステップ26)、検査データを書き込む(ステップ27)。 - 特許庁

例文

PRINTER, IMAGE PROCESSOR, PRINTING CONTROL METHOD, PROGRAM, TEST PATTERN DATA, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

印刷装置、情報処理装置、印刷制御方法、プログラム、テストパターンデータ及び記録媒体 - 特許庁


例文

The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.例文帳に追加

トラフィック生成装置32から試験サーバ装置41へ試験トラフィックデータ55を送信する。 - 特許庁

GENERATING DEVICE FOR TEST PATTERN AND STROBE SIGNAL AND INSERTING METHOD FOR DELAY TIME INTO TIMING DATA例文帳に追加

テストパターンやストローブ信号の発生装置及びタイミングデータへの遅延時間の挿入方法 - 特許庁

TEST DATA COMPRESSION METHOD FOR SYSTEM-ON-CHIP USING RE-SEED FOR LINEAR FEEDBACK SHIFT REGISTER例文帳に追加

線形フィードバックシフトレジスタの再シードを使用するシステムオンチップの試験データ圧縮方法 - 特許庁

The test data is fed and run in order to check if the program can be handled correctly 例文帳に追加

プログラムが,正しく作動するかどうかを検査するために,テストデータを与えて実行させる - コンピューター用語辞典

例文

Thereafter, the monitoring test specimens 7 are used to acquire data related to predetermined items.例文帳に追加

その後、モニタリング供試体7を用いて、所定の項目についてのデータを取得する。 - 特許庁

例文

To provide a method and a device for facilitating the test and maintenance of a data communication line.例文帳に追加

データ通信回線のテスト及び保守を容易にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

5-3) When the substance is negative in the in vivo genotoxicity test, but negative data of in vivo mutagenicity is not available.例文帳に追加

5-3)In vivo 遺伝毒性試験で陰性だが、in vivo 変異原性の陰性データがない場合。 - 経済産業省

The method for obtaining the optimal power (electric power) (10) for writing in an optical disk (40) includes a method for executing a power calibration test in which writing test data (30) in a user data area (25) on the optical disc (40) and reading the test data (30) are included.例文帳に追加

光ディスク(40)に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法(10)であって、前記光ディスク(40)上のユーザデータエリア(25)にテストデータ(30)を書き込むこと、および前記テストデータ(30)を読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 incorporates a scan input data used as a test data in a scan path test, and a scan output expected value data of an expected value for a test result, to be stored in two RAMs respectively independently each other.例文帳に追加

スキャンパステスト時にテストデータとして使用されるスキャン入力データと、テスト結果に対する期待値データであるスキャン出力期待値データとを、半導体集積回路1が内蔵する、互いに独立して設けられた2つのRAMにそれぞれ記憶させる。 - 特許庁

The evaluation method includes the steps of receiving the test data of a base band, subjected to coding processing in a radio base station 1 as a downlink frame R1 for applying inverse coding processing to the test data, without carrying out error corrections; and an evaluation apparatus 2 for evaluating the test data subjected to the reverse coding processing.例文帳に追加

無線基地局1において符号化処理されたベースバンドの試験データを下りリンクフレームR1として受信した試験データを、誤り訂正を行わずに逆符号化処理を行い、逆符号化処理された試験データを評価装置2で評価する。 - 特許庁

The centralized supervisory and control equipment is provided with a tester for generating test data in place of telemeter data from each control station to be supervised, and the test data generated from the tester are received and displayed on a display part to test the centralized supervisory and control equipment.例文帳に追加

各被監視制御所からのテレメータデータに代わって試験データを発生させる試験器を集中監視制御装置に備え、この試験器から発生した試験データを受信し表示部に表示させて前記集中監視制御装置の試験を行う。 - 特許庁

To provide a test data processing apparatus and a test data processing method for simply determining defects of foreign matter deposited on a surface using a conventional test method and to process data so as not to treat the foreign matter deposited on the surface as defects.例文帳に追加

本発明の目的は、従来の検査方法を用いて、簡単に表面付着異物の欠点を判定し、表面付着異物は欠点として扱わないようにデータ処理する検査データ処理装置及び検査データ処理方法を提供することにある。 - 特許庁

A test result predictor 11 predicts the test result of a second semiconductor wafer, by inputting the electric characteristic data of a second finished wafer to the organized test result prediction model.例文帳に追加

テスト結果予測部11は、構築されたテスト結果予測モデルに、第2の完成ウエハの電気的特性データを入力することによって、第2の半導体ウエハのテスト結果を予測する。 - 特許庁

A test generating section, based on the level of an educational course for which the learner registers and a by-level question setting information table, extracts questions out of the test data storage section 24 to generate a test.例文帳に追加

テスト作成部は、受講者が受講登録した教育講座のレベルと、レベル別出題情報テーブルとに基づいてテストデータ収納部24から問題を抽出してテストを作成する。 - 特許庁

After initializing the programmable logic 6 to be upgraded by new configuration data and a simulation model, a test sequence is carried out in accordance with a test program and both test results are compared with each other.例文帳に追加

新しいコンフィギュレーションデータでアップグレードするプログラマブルロジック6とシュミレーションモデルを初期化した後、テストプログラムに従いテストシーケンスを実行し、両者のテスト結果を比較する。 - 特許庁

When performing calibration, test image data are displayed on a display D as a test pattern, and an optical environment measurement member and the test pattern are imaged as a calibration image by a camera C.例文帳に追加

キャリブレーション時には、テスト画像データがディスプレイDにテストパターンとして表示され、カメラCにより光環境測定部材とテストパターンとがキャリブレーション画像として撮影される。 - 特許庁

The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.例文帳に追加

テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準(V_ref_test)を有する。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

The test circuit 50 stores a programmable test pattern 55 for inspecting the cache memory 40, and instructs reading/writing of data to the cache memory 40 according to the test pattern 55.例文帳に追加

このテスト回路50は、キャッシュメモリ40を検査するためのプログラマブルなテストパターン55を格納し、そのテストパターン55に従って、キャッシュメモリ40に対するデータの読み書きを指示する。 - 特許庁

The obtained magnetic data are analyzed in comparison with the result of the material test, thus the detailed internal changes of the test piece TP when the external force for the material test is applied can be grasped.例文帳に追加

得られた磁気データを材料試験の結果とも対比して分析することにより、材料試験のための外力印加に伴う試験片TPの細部の内的変化が把握できる。 - 特許庁

The test module has a register for holding a register value supplied from the control device by performing the test program by the control device, and the gate array for changing the hardware logic by the register value held by the register, and supplying the test data corresponding to the test sequence realized by the test program to the device under test.例文帳に追加

テストモジュールは、制御装置が試験プログラムを実行することによって制御装置から供給されたレジスタ値を保持するレジスタと、レジスタが保持するレジスタ値によりハードウェア論理を変更し、試験プログラムにより実現される試験シーケンスに応じた試験データを被試験デバイスに供給するゲートアレイとを有する。 - 特許庁

A gradation correction data creator 93 creates gradation correction data for copy imaging based on the image data of a test image read out by a scanner 77, creates gradation correction data for print imaging based on the image data obtained by correcting the test image data by the scanner correction data, and stores them in a gradation correction data storage section 94.例文帳に追加

階調補正データ作成部93は、スキャナ部77により読み取られたテスト画像の画像データに基づいてコピー画像用の階調補正データを作成し、テスト画像データをスキャナ補正データにより補正した後の画像データに基づいてプリント画像用の階調補正データを作成して階調補正データ格納部94に格納する。 - 特許庁

The comparison circuit 24 discriminates whether an accessed memory cell is normal or abnormal by comparing the expected value data with the data Dt for test.例文帳に追加

比較回路24は、アクセスを行ったメモリセルが正常か異常かをデータDs,Dtの比較により判定する。 - 特許庁

To easily collect test data or survey data determined as an object of collection from each medical institute.例文帳に追加

収集対象として決定した試験データや調査データを、各医療機関から容易に収集できるようにする。 - 特許庁

To provide a method of managing data for a plurality of analyte test instruments connected to a data communication network.例文帳に追加

データ通信ネットワークに接続される複数の被分析物検査器具のためのデータを管理する方法を提供する。 - 特許庁

A correction part in the electronic camera is equipped with an AF test part, a calibration data generating part and an inspection data processing part.例文帳に追加

本発明の電子カメラでは、AFテスト部と、校正データ作成部と、検査データ処理部とを補正部が備えている。 - 特許庁

To accurately test the independence of an item in sample data even in the case of the small number of samples of sample data.例文帳に追加

標本データの標本数が少ない場合でも、標本データの中の項目の独立性を精度よく検定する。 - 特許庁

A third testing circuit 26B compares received data of the receiver 7 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加

また、第3テスト回路26Bは、そのレシーバ7の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁

DATA PROCESSING METHOD FOR PSYCHOLOGICAL TEST RESULT, AND DISPLAY METHOD, DATA PROCESSING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM THEREFOR例文帳に追加

心理検査結果のデータ処理方法、その表示方法及びデータ処理プログラム並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A test output control unit outputs the input data signal received by the data input unit in synchronization with the timing signal.例文帳に追加

テスト出力制御部は、データ入力部で受けた入力データ信号をタイミング信号に同期して出力する。 - 特許庁

The test writing data consists of a plurality of logical blocks of a file system and is in a data size for one GOP of an MPEG2.例文帳に追加

試し書きデータは、ファイルシステムの複数論理ブロックからなり、且つ、MPEG2の1GOP分のデータサイズとされる。 - 特許庁

A color separation processing part 61 color-separates the image data of the second multicolor test image to the primary color image data.例文帳に追加

色分解処理部61は、多次色の第2のテスト画像の画像データを一次色の画像データに色分解する。 - 特許庁

socket option is enabled, urgent data is put into the normal data stream (a program can test for its location using the SIOCATMARK 例文帳に追加

ソケットオプションが有効になっていると、緊急データは通常のデータストリームの中に混ぜて送られる (プログラムは下記のSIOCATMARK - JM

The image forming devices obtain image information data on test toner images by basic image data (process 1).例文帳に追加

(工程1)画像形成装置において、基礎画像データによるテストトナー像についての画像情報データが取得される工程。 - 特許庁

Substrate test data are created from connection information, part information, resist information, and the like extracted from the design data of a substrate.例文帳に追加

基板の設計データから抽出した、結線情報、部品情報、レジスト情報などから、基板テストデータを作成する。 - 特許庁

The system controller 20 determines the optimum recording light power from the recorded state of the test data when recording data.例文帳に追加

システムコントローラ20は、試し書きの書込み状況から、記録データを記録する際の最適記録光パワーを決める。 - 特許庁

A logic simulator part 4 performs logic simulation of an object LSI through the use of circuit data, test vectors, and special cell data.例文帳に追加

論理シミュレータ部4は、回路データ、テストベクタおよび特殊セルデータを用いて、対象LSIの論理シミュレーションを行う。 - 特許庁

To view the test data, click the right mouse button on the relevant table and from the context menu choose View Data. 例文帳に追加

テストデータを表示するには、関連する表でマウスの右ボタンをクリックし、コンテキストメニューから「データを表示」を選択します。 - NetBeans

The material test data and magnetic data are correspondingly and superimposingly displayed by a display controller 21.例文帳に追加

さらに材料試験データと磁気データを表示制御部21により対応付けして重畳表示する構成を備えている。 - 特許庁

The test is started by a test start time counter 4 measuring the text start time, and a host I/O check part 5 confirms that a disk array control part 9 is not executing an I/O instruction from a host computer I, and thereafter, a data test part 6 executes the data read test.例文帳に追加

テスト開始時間を計測するテスト開始時間カウンタ4によりテスト開始が起動され、ホストI/Oチェック部5がディスクアレイ制御部9がホストコンピュータ1からのI/O命令を実行中でないことを確認した後に、データテスト部6がデータの読み出しテストを実行する。 - 特許庁

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源10からの第1試験信号を周波数分析装置20に供給して第1測定データを測定すると共に、第1試験信号を既知の周波数だけシフトした第2試験信号を周波数分析装置20に供給して第2測定データを測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド(または、ピン)の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the learning system, the learner downloads at least learning data wherein correct answer data of a test are encrypted, from a management server 10 to a learning terminal 30, performs learning with a learning execution section 33, and takes a test with a test execution section 34.例文帳に追加

学習者は、少なくともテストの正答データを暗号化した学習用データを、管理サーバ10から学習端末30にダウンロードし、学習実行部33により学習を行い、テスト実行部34によりテストを実施する。 - 特許庁

例文

A CPU 21 of the CPU board 2, on the basis of a test list showing a list of two or more pieces of test data to be input from a controller 3, reads the pieces of test data respectively from a storage device 4, and transfers them to the target board 1.例文帳に追加

CPUボード2のCPU21は、制御装置3から入力される複数の試験データの一覧を表す試験リストに基づいて、試験データをそれぞれ記憶装置4から読み出してターゲットボード1に転送する。 - 特許庁




  
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