| 意味 | 例文 |
Test Dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3606件
Test data definition data 21 input in a unit test program creation system 1 is recorded by XML (extensible markup language), and the hierarchical structure of the structure group supplied to a test target program is represented by a previously defined tag.例文帳に追加
単体テストプログラム作成システム1が入力するテストデータ定義データ21は、XML(extensible markup language)によって記載され、予め定義したタグによって、テスト対象プログラムに供給する構造体群の階層構造が表されている。 - 特許庁
To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.例文帳に追加
同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁
A digital multifunction machine 1 when performing calibration acquires target data by reading a test chart recording surface of a test chart document, acquires sampling data by reading a test chart copy surface of a copy of the test chart document, and saves the acquired sampling data when a read portion obtained by reading the test chart copy surface matches a read portion that the specifying means specifies.例文帳に追加
デジタル複合機1は、キャリブレーションを行う際に、テストチャート原稿のテストチャート記録面を読み取って目標データを取得するとともに、テストチャート原稿の複写物のテストチャート複写面を読み取ってサンプリングデータを取得し、テストチャート複写面を読み取った読み取り部と前記特定手段が特定した読み取り部とが一致する場合に取得したサンプリングデータを保存する。 - 特許庁
For instance, the apparatus is a test system provided with: a tester configured to test a set of components and generate test data for the set of components, wherein the components are manufactured based on a manufacturing process; and a diagnostic system configured to receive the test data from the tester, and identify the characteristic of the manufacturing process of the components by automatically analyzing the test data.例文帳に追加
例えば、一組のコンポーネントを試験し、該一組のコンポーネントに対する試験データを生成するように構成されたテスターであって、該コンポーネントは製造プロセスに基づいて製造される、テスターと;該テスターから該試験データを受け取り、該試験データを自動的に分析することによって、該コンポーネントの該製造プロセスの特徴を識別するように構成された診断システムと、を備える、試験システム。 - 特許庁
The same code pattern data generating means 10 generates code pattern data in the inside and generates the same code pattern data Do with the same codes based on the test pattern insertion data TD and the code pattern data.例文帳に追加
同符号パターンデータ生成手段10は、符号パターンデータを内部で発生させ、試験パターン挿入データTDと符号パターンデータから、同符号を持つ同符号パターンデータDoを生成する。 - 特許庁
The transmission part 101 defines random data as an initial value for every test cell to be transmitted and outputs data containing that initial value and the result of operation predetermined on the basis of that initial value as the payload data of the test cell.例文帳に追加
送信部101は、送信する試験セルごとに、ランダムデータを初期値とし、当該初期値と、当該初期値に基づいて予め定めた演算の結果とを含むデータを、試験セルのペイロードデータとして出力する。 - 特許庁
The service center 3 works the test data so as to be easily utilized by a user, also sends the test data to the medical facilities 5 to receive the diagnosed result and transmits the worked data and the diagnosed result to the external communication terminal 25 of the user.例文帳に追加
サービスセンタ3は、検査データをユーザが利用し易いように加工し、また、検査データを医療機関5へ送って診断結果を受け、その加工データや診断結果をユーザの外部通信端末25へ送信する。 - 特許庁
To provide an issuing data generating system capable of simply generating test data at the time of test issuing a card, etc., and capable of easily generating data allocated with continuous numbers at the time of issuing primarily.例文帳に追加
カード等をテスト発行するときには、テストデータを簡単に生成することができ、また、一次発行するときには、連番割り付けしたデータを容易に生成することができる発行データ生成システムを提供する。 - 特許庁
Reference image data expressed in a reference color space and object image data generated by imaging a test chart by the image generating apparatus are stored as image data representing a prescribed test chart.例文帳に追加
所定のテストチャートを表す画像データとして、基準色空間で表現された基準画像データと画像生成装置によってテストチャートを撮像することにより生成された対象画像データとを格納する。 - 特許庁
The input/output test circuit 150 transmits the data of the write data lines WDA to WDd directly to the read data line RDA to RDd without through memory cell arrays in response to an input/output circuit test signal TST.例文帳に追加
入出力テスト回路150は、入出力回路テスト信号TSTに応答して、ライトデータ線WDa〜WDdのデータを、メモリセルアレイを介さずにリードデータ線RDa〜RDdに直接転送する。 - 特許庁
Then, the driver 3 for test preserves data outputted from an A module 4 (module to be tested) as test result data 5 for A module and displays these data on a spreadsheet 6 for output when confirming the tested result.例文帳に追加
そして、試験用ドライバ3は、Aモジュール4(被試験モジュール)から出力されるデータをAモジュール用試験結果データ5として保存し、これを試験結果確認時に出力用スプレッドシート6上に表示する。 - 特許庁
A test data generation device performs processing for generating a large amount of test data corresponding to many document files including plural words, that is, data including word frequency and document frequency, on the basis of the so-called Monte Carlo method.例文帳に追加
テストデータ作成装置は、所謂モンテカルロ法を基づいて、複数の単語を含む多数の文書ファイルに相当するテストデータ、つまり単語頻度及び文書頻度を含むデータを大量に作成する処理を行う。 - 特許庁
Similarity is computed between a multilayer network model created from learning time series data and a multilayer network model created from test time series data to determine whether the test time series data belong to one or more categories.例文帳に追加
学習用時系列データから作成した多層ネットワークモデルと、テスト時系列データから作成した多層ネットワークモデルとの類似度を計算して、テスト時系列データが1以上のカテゴリに属するか否かを判定する。 - 特許庁
The organization-side distribution device 100 encrypts voice data to be used for a hearing test, and distributes the voice data as encrypted voice data to controlling computers 201, 202, and N installed in each test site through a network 12.例文帳に追加
機関側配信装置100は、ヒアリングテストに使用される音声データを暗号化し、暗号化音声データとしてネットワーク12を介して各試験会場ごと設置された制御用コンピュータ201,202、Nに配信する。 - 特許庁
Based on given output instruction data, a test information generating unit 11 generates first test information and second test information in the case of carrying out drawing expansion of the first test information in an actual-image output device 3, and a target image output device 2 outputs the first and second test information.例文帳に追加
与えられた出力指示データに基づいて、第1の試験情報と、第1の試験情報を実画像出力装置3で描画展開した場合の第2の試験情報を試験情報生成部11で生成して目標画像出力装置2に出力させる。 - 特許庁
Test questions are managed in a storage means in a hierarchical structure according to the contents of the test questions, and the level of difficulty of the test questions is calculated from the answer data of examinees in the test, and the test questions whose level of difficulty does not match the vertical relation of the hierarchical structure are detected.例文帳に追加
本発明は、試験問題を、該試験問題の内容に応じて階層構造で記憶手段内に管理し、試験における受験者の解答データから試験問題の難易度を求め、階層構造の上下関係と難易度が矛盾する試験問題を検出する。 - 特許庁
An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加
テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストID毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁
The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加
製品のIDをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部10cにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部10dにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁
Scan data are stored in a data storage circuit in a RAM or a hard macro core, and the scan data are shifted in a scan chain, in the shift of the scan test.例文帳に追加
これを防ぐため、制御用スキャンFFや観測用スキャンFFを追加するとチップ面積の増加やハードマクロ接続部分の速度性能低下を招く。 - 特許庁
The computer 10 develops the test print data with the converted code format into the bitmapped image by using second font data, and generates second bitmapped image data.例文帳に追加
コンピュータ10は、コード形式が変換されたテスト印刷データを第2のフォントデータを用いてビットマップ画像に展開し、第2のビットマップ画像データを生成する。 - 特許庁
The likelihood of accuracy of a model is on the basis of observed normal operation data, test data, guidance operation data showing operation performance based on a stimulus signal and the like.例文帳に追加
モデルの正確さの尤度は、観測通常動作データや、試験データや、刺激信号に基づいて動作性能を示す誘導動作データなどに基づく。 - 特許庁
A telephone number management data generating part 12 prepares telephone number management data by assigning telephone numbers to pattern identification codes for identifying the test pattern data.例文帳に追加
電話番号管理データ生成部12は、試験パターンデータを識別するパターン識別コードに対して電話番号を割り当てて電話番号管理データを生成する。 - 特許庁
To provide a device for supporting display data item test, capable of automatically collating and list-displaying an allocation relation between form data and data storage areas of a database device.例文帳に追加
帳票データとデータベース装置のデータ格納領域との割付関係を自動的に照合し、一覧表示する表示データ項目試験支援装置を得る。 - 特許庁
A test data generating part 30 in the control part 25 of the analyzing server generates learning data and evaluation data to be applied to a plurality of analysis models.例文帳に追加
分析サーバの制御部25におけるテストデータ作成部30は、複数の分析モデルに適用するための学習用データと評価用データを作成する。 - 特許庁
To provide a data analysis system capable of quickly and easily transferring data even when a testing device is away from a test data analyzer in distance.例文帳に追加
試験装置から試験データ解析装置までが距離的に離れていても、迅速かつ容易にデータ転送の可能なデータ解析システムを提供する。 - 特許庁
Then, an educational material image data generation section 77 generates image data wherein the acquired solution information is added to the image data relevant to test materials.例文帳に追加
次いで、教材画像データ生成部77は、前記試験教材に係る画像データに対し、前記取得した解法情報を付加した画像データを生成する。 - 特許庁
The RTL simulation method calculates register 0/1 probability data of each register and the operation rate data of each register in the logic circuit changing according to test data.例文帳に追加
RTLシミュレーション手段は、テストデータに従って変化する各レジスタの論理回路中のレジスタ0/1確率データとレジスタ毎の動作率データを算出する。 - 特許庁
A data bus mask signal DQM and a data bus mask signal TDQM at the time of a test mode can be selected by a data bus mask signal switching circuit 31.例文帳に追加
通常動作時のデータバスマスク信号DQMとテストモード時データバスマスク信号TDQMとをデータバスマスク信号切り換え回路31で選択可能とする。 - 特許庁
Test data including a data row having at least one of consecutive multi-valued data forming a recording mark on a recording surface among M kinds of multi-valued data, are written on trial (steps 621-633) on a test writing area while changing stepwise a recording pulse width.例文帳に追加
M種類の多値化データのうち、記録面に記録マークが形成される少なくとも1つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、試し書き領域に記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする(ステップ621〜633)。 - 特許庁
The vector output part 14 outputs the generated test vector data when the random number data is smaller than the fault occurrence rate of the input signal, and outputs the original test vector data when the random number data is larger than the fault occurrence rate of the input signal.例文帳に追加
そして、ベクタ出力部14は、入力信号の誤り発生率より乱数データが小さい場合、生成テストベクタデータを出力し、入力信号の誤り発生率より乱数データが大きい場合、オリジナルテストベクタデータを出力する。 - 特許庁
Test image data T having color resolution of total 24 bits, i.e., 8 bits for each color of RGB, and representing a test image including a specified pattern is prepared.例文帳に追加
RGB各色8ビット、合計24ビットの色分解能を有し、所定パターンを含むテスト画像を表すテスト画像データTを用意する。 - 特許庁
ID information such as the sample donor name of the chip 7, the test data and the test result can be read by the dot marks M.例文帳に追加
これらのドットマークMにより、同チップ(7) の試料提供者名、試験日時、試験結果などのID情報などを読み取れるようにする。 - 特許庁
The main apparatus 200 reads loopback test startup response information from the received communication protocol 301, and transmits loopback test data 303.例文帳に追加
主装置200は、受信した通信プロコトル301から折返し試験開始応答情報を読み出し、折返し試験データ303を送信する。 - 特許庁
In addition, a test pattern is formed on the intermediate transfer belt 8 based on the test pattern data corrected by the correcting section 3 and is detected by a detecting section 11.例文帳に追加
また、補正部3で補正されたテストパターンデータに基づいて、中間転写ベルト8上にテストパターンを形成し、検知部11で検知する。 - 特許庁
The interface 110 is to form test data and sequences, instruct to execute tests, and indicate test conditions under execution.例文帳に追加
ユーザーインタフェース部110は、テストデータ及びシーケンスの作成、テストの実行指示並びに実行中の試験状況表示を行うためのものである。 - 特許庁
More specifically, the processor can convert the at least one test request into JTAG data for the JTAG test controller.例文帳に追加
より詳細には、該プロセッサは、該少なくとも1個のテスト要求を該JTAGテスト制御器用のJTAGデータへ変換することが可能である。 - 特許庁
Then, the test signal T is reproduced from the test area when a predetermined time has passed, to calculate the quality degradation of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加
所定の時間経過した時点で、テスト領域のテスト信号Tを再生し、その評価結果からユーザデータUの品質劣化を推定する。 - 特許庁
To provide a data processing apparatus which is capable of surely reporting occurrence of an error without increasing the number of output terminals and test patterns and a test time.例文帳に追加
出力端子やテストパターン数、テスト時間を増やさずに、エラーの発生を確実に通知することができるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁
Thus, reduction of quality of the test region due to overwriting can be prevented by erasing data of the test region before recording.例文帳に追加
このように、テスト記録前にテスト領域のデータを消去することによって、上書きによるテスト領域の品質の低下を防ぐことができる。 - 特許庁
To provide a test device capable of testing a digital filter easily and sufficiently by simple constitution, without increasing the number of test data.例文帳に追加
より簡単な構成で、テストデータ数を増加させることなく、デジタルフィルタのテストを簡単且つ十分に行うことができるテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide a NAND type flash memory in which a test time can be shortened by reducing largely a time for inputting data for test.例文帳に追加
テスト用のデータを入力する時間を大幅に削減して、テスト時間の短縮を図ることが可能なNAND型フラッシュメモリを提供する。 - 特許庁
A test determination unit 131 determines whether a fault diagnostic test can be performed based on a time period until next communication data is input.例文帳に追加
テスト可否判定部131は、次の通信データが入力されるまでの時間を基に、故障診断テストを行えるか否かを判定する。 - 特許庁
To also perform an AC characteristic test on data transfer between semiconductor devices when performing a connection test between the semiconductor devices.例文帳に追加
半導体装置間の接続試験を行うにあたり、半導体装置間でのデータ転送に関する交流特性試験も行えるようにする。 - 特許庁
The wireless mobile stations 2-1 to 2-M transmit first test data for the loopback test by the wireless resource assigned by the assigning information.例文帳に追加
無線移動局2−1〜2−Mが、割当情報で指定された無線リソースにおいて、ループバック試験用の第1のテストデータを送信する。 - 特許庁
Pieces of image data of the test image (0) storage part 13a and the test image (1) storage part 13b are taken out and compared with each other by taking exclusive OR.例文帳に追加
テストイメージ(0)記憶部13aとテストイメージ(1)記憶部13bのイメージデータを取り出して、排他的論理和を取ることにより、比較する。 - 特許庁
A waveform generation block generates a test signal output having the amplitude noises in the selected segment of the test signal in response to the digital data.例文帳に追加
波形生成ブロックは、このデジタル・データを受けて、試験信号の選択されたセグメントに振幅ノイズのある試験信号出力を生成する。 - 特許庁
The on-chip test circuit also can comprise a synchronizing circuit for minimizing the skew between an external clock and data outputted from the test chip.例文帳に追加
オンチップテスト回路はまた、外部クロックとテストチップから出力されるデータとの間のスキューを最小化するための、同期回路をも含み得る。 - 特許庁
Test results based on OECD Test Guidelines 210, though designed for sub-chronic toxicity, may serve as data on chronic aquatic toxicity as they effectively represent chronic toxicity.例文帳に追加
OECDテストガイドライン210は亜慢性試験であるが、試験結果は慢性毒性のよい指標となるので慢性水生毒性値として利用してよい。 - 経済産業省
In a test mode, an internal address ADi generated in an address supply section 22 is given to a RAM 12, and data Dt for test is given to the RAM 12 from a data supply section 23.例文帳に追加
テストモードのとき、アドレス供給部22で生成した内部アドレスADiがRAM12に与えられ、テスト用データDtがデータ供給部23からRAM12に与えられる。 - 特許庁
Thus, the operational system and the test system can be easily and smoothly switched by adopting the data configurations of the operational system and the data configurations of the test system.例文帳に追加
このような運用系システムのデータ構成とテスト系システムのデータ構成を採用することによって、運用系システムとテスト系システムの切替が容易且つスムーズに行われるようになる。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|