「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

The test pattern is stored in the compile data storage part 13 after it is compiled by a compile part 12.例文帳に追加

該テストパタンは、コンパイル部１２によってコンパイルされた後、コンパイルデータ記憶部１３に記憶される。 - 特許庁

A second distribution is obtained by processing the second test data statistically at a second statistic processing step.例文帳に追加

第２統計処理ステップにより上記第２試験データを統計処理して第２分布を求める。 - 特許庁

Most drive vendors provide testing software for their drives, so test your drive, and, if necessary, back up your data and replace it. 例文帳に追加

私たちは商用ソフトウェアベンダに、ここで製品を宣伝してもらうことを望んでいます。 - FreeBSD

Test result data is stored in a database 2 and is referred to for ADSL line service maintenance.例文帳に追加

テスト結果データはデータベース２に格納され、ＡＤＳＬ回線サービスの保守のために参照される。 - 特許庁

Then the image processor 50 measures the elongation of the test piece 2 according to the position data.例文帳に追加

そして、画像処理装置５０は、その位置データに基づいて、試験片２の伸びを計測する。 - 特許庁

To provide a test apparatus which accurately tests a device to be tested outputting data with clock.例文帳に追加

データをクロックと共に出力する被試験デバイスを正確に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can improve efficiency in online data analysis processing.例文帳に追加

オンラインデータ解析処理の効率を向上することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In a test mode, the flip-flops constitute a scan chain, and scan data is input to the scan chain.例文帳に追加

テストモード時、フリップフロップはスキャンチェーンを構成し、そのスキャンチェーンにはスキャンデータが入力される。 - 特許庁

A space portion of reproduction test data is counted and the counted value is supplied to the control part 24.例文帳に追加

また、再生テストデータのスペース部分をカウントし、そのカウント値を制御部２４に供給する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR STORING TEST NUMBER USING MAP OF LINKED DATA NODE, AND DATABASE例文帳に追加

リンクされたデータノードのマップを使用してテスト番号を記憶するための方法、装置およびデータベース - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device capable of performing a scan test of confidential data reliably.例文帳に追加

機密データのスキャンテストを安全に行うことが可能な半導体集積装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a serial access memory and a data write/read method in which a test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト／リード方法を提供する。 - 特許庁

A tune system acquires response data such as a gain and a phase in response to the test signal.例文帳に追加

テスト信号に応答して、同調システムは利得および位相のような応答データを取得する。 - 特許庁

Shapes of the test surfaces are analyzed based upon image data on the interference fringes by the rotational positions.例文帳に追加

この各回転位置別干渉縞の画像データに基づき被検面の形状が解析される。 - 特許庁

The test data is directly written via an SRM bit line 103 in the buffer 110.例文帳に追加

トラーイステートバッファ部１１０により、ＳＲＡＭビット線１０３にテストデータが直接書込まれる。 - 特許庁

Accordingly, when only in vitro mutagenicity test data is available, the substance is determined as “Classification not possible” in principle.例文帳に追加

したがって、原則として in vitro 変異原性試験データしかない場合には「分類できない」とする． - 経済産業省

A data inserting part 4 outputs the arbitrary test data from the base frame part in an arbitrary data output mode, exchanges predetermined bits in the base frame data from the base frame part with the ID counter value in a fixed pattern output mode, exchanges bits in the base frame data designated by the data inserting position information from the commutation register with the inserting data and outputs the result as fixed test data.例文帳に追加

データ挿入部４は、任意データ出力モードではベースフレーム部からの任意試験データを出力し、固定パターン出力モードではベースフレーム部からのベースフレームデータの内の所定のビットをＩＤカウンタ値と入れ替え、コミュテーションレジスタからのデータ挿入位置情報で指定されるベースフレームデータの内のビットを挿入データと入れ替え固定試験データとして出力する。 - 特許庁

When measurement in each write current value set beforehand is completed, the test execution control section 231 transmits the measurement data to the test computer 51.例文帳に追加

予め設定されている各ライト電流値における測定が終了すると、テスト実行制御部２３１は、測定データをテスト・コンピュータ５１に転送する。 - 特許庁

In this case, the logic block 21 outputs data in a built-in register to a test control part 31 based on a control signal of the test control part 31.例文帳に追加

このとき、論理ブロック２１は、テスト制御部３１のコントロール信号に基づいて、内蔵するレジスタのデータをテスト制御部３１に出力する。 - 特許庁

In addition, the subscriber data management interface part 115 receives a test result according to the test scenario from the applicable mobile station in response to an instruction of outgoing.例文帳に追加

また、該加入者データ管理インタフェース部１１５は、発信の指示に応答して試験シナリオに応じた試験結果を該当する移動局から受信する。 - 特許庁

A characteristic line extraction unit 105 extracts a characteristic line of a test object from data of a test object image taken by an imaging device being in a predetermined attitude.例文帳に追加

特徴線抽出部１０５は、撮像装置が所定の姿勢で検査対象を撮像した画像データから検査対象の特徴線を抽出する。 - 特許庁

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory test method and a memory test device capable of giving stress to a reading circuit as well as to a data holding part.例文帳に追加

データ保持部だけでなく、読出し回路にも同じようにストレスを与えることができる不揮発性メモリの試験方法及びメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.例文帳に追加

試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁

After a function test process, dummy test data is supplied to the semiconductor integrated circuit device to perform a post-processing process, at which a clock speed is gradually reduced.例文帳に追加

機能試験手順の後、半導体集積回路装置にダミーテストデータを供給して後処理手順を行い、その際クロック速度を徐々に低下させる。 - 特許庁

To provide a scenario creation program, a scenario creation device and a scenario creation method which create test data for correctly determining the success/failure of a test.例文帳に追加

テストの合否判定を正しく行うことができるテストデータを作成するシナリオ作成プログラム、シナリオ作成装置およびシナリオ作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory device in which test data written are into all memory cells at high speed with write conditions being uniform for all of the memory cells to perform a test.例文帳に追加

全メモリセルに均等な書き込み条件でテストデータを高速に書き込んで試験を行うことを可能とした強誘電体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

A test pattern output processing section 109 uses the image data of the density patch in an HDD 105 and outputs a test pattern with the determined density patch arrangement.例文帳に追加

テストパターン出力処理部１０９は、ＨＤＤ１０５にある濃度パッチの画像データを用いて、決定した濃度パッチ配置でテストパターンを出力する。 - 特許庁

If a test related to a medical report is identified, information designated from a DICOM object belonging to the test is acquired by a data acquisition unit 23.例文帳に追加

医用レポートに関連する検査を特定すると、データ取得部２３によって前記検査に属するＤＩＣＯＭオブジェクトから指定された情報を取得する。 - 特許庁

The individual application module 22 executes individual application processing by using test data and a DB set value in a test environment same as the application execution environment.例文帳に追加

個別業務モジュール２２は、アプリケーション実行環境と同一のテスト環境において、テストデータ及びＤＢ設定値を用いて個別業務処理を実行する。 - 特許庁

The surface of the test wafer 30 is then imaged by an imaging means 50, the cut of the test wafer 30 is recognized, and information data of the cut are obtained.例文帳に追加

次いで，撮像手段５０によりテストウェハ３０の表面を撮像して，テストウェハ３０の切削部を認識して切削部の情報データを得る。 - 特許庁

To make it possible to perform a functional test and a performance test reflecting a user's data and a setup of the user's device before a firmware of an image formation device is distributed.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェア配信前に、ユーザーのデータや機器の設定を反映した形で機能テスト及びパフォーマンステストをできるようにする。 - 特許庁

Statistical IDDQ for each test vector is calculated, and first array data including as elements an identifier of the test vector and the statistical IDDQ is created (S104).例文帳に追加

テストベクタごとの統計的なＩＤＤＱを算出し、テストベクタの識別子と統計的なＩＤＤＱを要素とする第１配列データを生成する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

The test circuit 8 tests the functions of a main circuit part 2, on the basis of test data given to it, from the input terminal 3 via the output selection circuits 4, 5.例文帳に追加

そして、テスト回路８は、入力端子３より出力選択回路４，５を経由して与えられるテストデータに基づいて主回路部２の機能をテストする。 - 特許庁

Test data are recorded by variously changing the recording power in a test area, and the modulation factor m is detected from the sequentially reproduced RF signals.例文帳に追加

また、テストエリア内において記録パワーを種々変化させてテストデータを記録し、順次再生したときの再生ＲＦ信号から変調度ｍを検出する。 - 特許庁

Different pieces of test pattern data are sequentially written to the print heads 2 and 3, and a plurality of different test pattern images 11 are sequentially formed on a photoreceptor drum 9.例文帳に追加

プリントヘッド２、３に複数の異なるテストパターンデータを順次書き込み、感光体ドラム９上に複数の異なるテストパターン画像１１を順次形成する。 - 特許庁

When the imaging mode is the 'test printing mode' and an 'image extraction format' is selected, test printing only for the image data is performed.例文帳に追加

画像形成モードが「試し印刷モード」であって「イメージ画像抽出形式」が選択された場合にはイメージデータのみによる試し印刷動作を実行する。 - 特許庁

To obtain a parallel test circuit which can perform a precise parallel test even if an erroneous data caused by malfunction is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、誤作動により誤ったデータが格納されても正確な並列テストを行うことができる並列テスト回路を提供することである。 - 特許庁

To execute a test of an input/output buffer circuit of a semiconductor integrated circuit without preparing exclusive test data nor inserting a special circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入・出力バッファ回路のテストを、専用のテストデータを用意したり特殊な回路を挿入したりすることなく、行い得るようにする。 - 特許庁

The test generator then propagates a TRI stored in a TRI data structure through the diagram, and determines a test generation plate (430).例文帳に追加

次いで、検査生成装置は、ＴＲＩデータ構造に格納されているＴＲＩを、線図を通して伝搬させ、検査生成テンプレートを決定する（４３０）。 - 特許庁

To easily generate test data, to reduce repairing operation due to misinput in signal information generation, and to shorten a test time.例文帳に追加

試験データを容易に作成し、また、信号情報作成時の誤入力による修復作業を軽減するとともに、試験時間の短縮化を図る。 - 特許庁

The test result verification part 106 verifies the result of the determination whether the screen transition is successful, and generates test result data indicating the incompleteness of the application.例文帳に追加

テスト結果検証部１０６は、画面遷移の成否の判定結果を検証して、アプリケーションの未完成度を示すテスト結果データを生成する。 - 特許庁

A data holding circuit 605 sets a determination output of the determination circuit 604 and holds a test mode display signal 403 for displaying that the state is in the test mode.例文帳に追加

データ保持回路６０５は、判定回路６０４の判定出力をセットし、テストモードになったことを示すテストモード表示信号４０３を保持する。 - 特許庁

Thus, it is possible to automatically acquire test data by using a program for test execution by removing any arithmetic expression when the macro function is developed.例文帳に追加

マクロ関数が展開された場合の演算式などがなくなるので、テスト実行用プログラムを用いてテストデータを自動的に取得することが可能となる。 - 特許庁

The classified data file forming part 13 analyzes the test result on plural test items by a prescribed logic operation, to classify the semiconductor device.例文帳に追加

分類データファイル作成部１３は、複数の試験項目に対する試験結果を所定の論理演算によって解析し、半導体デバイスを分類する。 - 特許庁