「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

In a scan test mode, a second data fetching/holding means fetches and holds a scan test signal according to a control signal from the control signal generation means, and the first data fetching/holding means fetches and holds output from the second data fetching/holding means.例文帳に追加

スキャンテストモード時には、制御信号発生手段からの制御信号により、第２のデータ取込保持手段はスキャンテスト信号を取り込み保持し、第１のデータ取込保持手段は、第２のデータ取込保持手段からの出力を取り込んで保持する。 - 特許庁

To output an optional data pattern to a plurality of drive units in a test mode in a semiconductor device which accepts parallel data inputted to a plurality of terminals in a normal operation mode and accepts serial data by a particular terminal in the test mode.例文帳に追加

通常動作モード時には、複数の端子に入力されたパラレルデータを受け付け、テストモード時には、特定端子でシリアルデータを受け付ける半導体装置において、テストモード時に、任意のデータパターンを複数の駆動部に出力することを可能にする。 - 特許庁

When a difference between stored data and the test data exists, a preserved data generating section 8 preserves the preserved data, which include the data indicating the content of difference, the data indicating which RAMs correspond to the RAM containing the occurred difference, and the data indicating object addresses, to a housing domain of the preserved data prepared in the RAM1.例文帳に追加

記憶データの何れかとテストデータに相違があった場合、保存データ生成部８は、その相違内容を示すデータと相違の生じているＲＡＭが何れのＲＡＭであるかを表すデータと対象アドレスを表すデータとを含む保存データをＲＡＭ１に設けられた保存データ格納領域に保存する。 - 特許庁

A system controller 20 reads the corrected power instruction data to give to the DAC circuit 26 and records the test data on the optical disk 1.例文帳に追加

システムコントローラ２０は、補正されたパワー指示データを読み出してＤＡＣ回路２６に与え、テスト用のデータを光ディスク１に試し書きを行う。 - 特許庁

To provide a double data rate(DDR) memory in which a normal memory tester can be used at the time of a test and circuit constitution of a data input circuit is easy.例文帳に追加

テスト時に通常のメモリテスタを使用できるデータ入力回路の回路構成が容易なダブルデータレート（ＤＤＲ）メモリを提供する。 - 特許庁

To provide a test-data generation apparatus, by which the operation of a semiconductor device with reference to the input of data is evaluated at low costs and easily.例文帳に追加

データの入力に対する半導体装置の動作評価を低コストで容易に実現するための試験用データ生成装置を提供する。 - 特許庁

When projection data are acquired by the CT scanning, an image formation section 20 forms test images from the projection data by two-dimensional image reconstruction.例文帳に追加

ＣＴ撮影により投影データが得られると、画像形成部２０は、２次元画像再構成により投影データからテスト画像を形成する。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing device which can synchronize a high speed determination result data and Device Under Test(DUT) determination result data and display it.例文帳に追加

高速側判定結果データおよびＤＵＴ判定結果データを同期して表示することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

The stored main signal data is converted into a text file, which is usable in the test pattern formation for the simulator 4 by a data processing part 33.例文帳に追加

データ処理部３３は格納された主信号データをシミュレータ４用のテストパターン作成に使用可能なテキストファイルに変換して出力する。 - 特許庁

The color printer 20 performs image processing according to image processing control data to image data based on the test image file before outputting.例文帳に追加

カラープリンタ２０は、テスト画像ファイルに基づいて、画像データに対して画像処理制御データに応じた画像処理を施し、それぞれを出力する。 - 特許庁

In a step S103, correspondence between the cells of the test recording data sheet and an arrangement of data for database is generated as input/output conversion information.例文帳に追加

ステップＳ１０３では、試験記録データシートのセルとデータベース用データの並びとの対応関係を入出力変換情報として作成する。 - 特許庁

Thereby, noise of spatial data Da1 can be removed without degrading an image of a test subject M held by the spatial data Da1.例文帳に追加

これにより、空間データＤａ１が保持する被検体Ｍの像を劣化させることなく、空間データＤａ１のノイズを除去することができる。 - 特許庁

To test read-only memory(ROM) data or analyze its defects and to prevent ROM data from being illegally read out by a third person.例文帳に追加

ＲＯＭデータのテストや不良解析を行うことができ、かつ第三者が不正にＲＯＭデータを読み出すことができないようにすること。 - 特許庁

A circuit of a data route shown by a dashed line is constituted in a usual operation, and a circuit of a data route shown by a solid line is constituted in a scan-path test.例文帳に追加

通常動作時には破線で示すデータ経路の回路に対して、スキャンパステスト時に実線で示すデータ経路の回路を構成する。 - 特許庁

A test chart 30 is read, output characteristic data for each photo-detector are generated, and gamma correction data for each photo-detector are generated.例文帳に追加

テストチャート３０を読み取り、各受光素子に対する出力特性データを生成し、各受光素子に対するガンマ補正データを生成する。 - 特許庁

Then, the controller reproduces the test signal, detects 27 jitters by an evaluation data detecting section 151, and stores them in an evaluation data memory 153.例文帳に追加

その後、そのテスト信号を再生して２７通りのジッタを評価データ検出部１５１で検出して、評価データメモリ部１５３に記憶する。 - 特許庁

Also, a predetermined test voltage (VDATA) is supplied to all the data lines through a pre-charge transistor (M10) in the data line pre-charge circuit 359.例文帳に追加

また、データ線プリチャージ回路３５０内のプリチャージトランジスタ（Ｍ１０）を経由して全データ線に所定の検査電圧（ＶＤＡＴＡ）を供給する。 - 特許庁

A data input/output signal DQ and the reference clock (a data strobe signal DQS) are output from the device under test 200.例文帳に追加

被試験デバイス２００からは、読み出されるデータ入出力信号ＤＱと共に基準クロック（データストローブ信号ＤＱＳ）が出力される。 - 特許庁

Electric characteristic data of a first finished wafer and test result data of the first finished wafer are inputted to a prediction model organizer 10.例文帳に追加

第１の完成ウエハの電気的特性データ、および、当該第１の完成ウエハのテスト結果データが、予測モデル構築部１０に入力される。 - 特許庁

Facility symbol information extracted from a display device document or the like is extracted, and a test specification of a full-point test and simulation data to be inputted to a display device are automatically generated.例文帳に追加

表示装置ドキュメントなどから抽出した設備シンボル情報を抽出し、全点試験の試験仕様書と表示装置への入力する模擬データを自動生成する。 - 特許庁

To produce a mission data test pattern according to a satellite operation schedule of an actual satellite in order to perform a system test for simulating comprehensive real time treatment of a ground system.例文帳に追加

地上システムの総合的なリアルタイム処理を模擬したシステム試験を実施するため、実衛星の衛星運用計画に則したミッションデータ試験パターンを生成する。 - 特許庁

To periodically test performance of cores in a many-core processor during the lifetime of the many-core processor, and use the obtained test data to improve performance for applications.例文帳に追加

多コア・プロセッサの寿命の間に、多コア・プロセッサ中のコアのパフォーマンスを定期的に試験し、得られた試験データを、アプリケーションのパフォーマンスを改善するするために使う。 - 特許庁

While the data links by loopback transmission of the inter-station test unperformance stations 1c, 1f, are being maintained, the transmission station 1a and the transmission station 1b perform the inter-station test between each other.例文帳に追加

局間テスト未実施局１ｃ〜１ｆのループバック伝送によるデータリンクを維持しつつ伝送局１ｂと伝送局１ｂとの間で局間テストを実行する。 - 特許庁

The computer 10 numerically reproduces the test optical system transmitted light by operation based on the hologram image data, and determines the light quantity distribution of the test optical system transmitted light.例文帳に追加

コンピュータ１０は、ホログラム画像データに基づく演算により被検光学系通過光を数値的に再生し、被検光学系通過光の光量分布を求める。 - 特許庁

To provide a test system precisely estimating a quality of audio and/or video indicated by test data received by a terminal unit from other terminal units.例文帳に追加

端末装置が他の端末装置から受信した試験データが表す音声及び／又は映像の品質を高い精度にて推定することが可能な試験システムを提供すること。 - 特許庁

The module is provided also with a microprocessor which reads data with respect to the test signal as it is transmitted and reads the same test signal as it is received.例文帳に追加

モジュールにはマイクロプロセッサも設けられており、マイクロプロセッサは、テスト信号に関するデータを送信された通りに読み取り、同じテスト信号を受信した通りに読み取る。 - 特許庁

The test plan of each circuit element for composing a data path is subjected to scheduling in parallel in a form to be compressed, and a compression operation is made to generate a compression test plan (step 1006).例文帳に追加

データパスを構成する各回路要素のテストプランを圧縮可能な形で並列にスケジューリングし、圧縮演算を施して圧縮テストプランを生成する（ステップ１００６）。 - 特許庁

When the test result stability index and the module stability index of a certain group exceed thresholds, a list preparation part 18 prepares a list in which the test data of the group is aggregated.例文帳に追加

リスト作成部１８は、あるグループのテスト結果安定性指数及びモジュール安定性指数が閾値を超えていれば、そのグループのテストデータを集約したリストを作成する。 - 特許庁

Each time any of a plurality of tests is performed, an additional storage processing part 41 additionally stores data about a test being an performance target in a test information table 16a.例文帳に追加

追加格納処理部４１は、複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となったテストに関するデータをテスト情報テーブル１６ａに追加格納する。 - 特許庁

In an invalid data generating circuit (6), a test signal (SGT) is modified by a non-synchronous control signal (PTX), a test signal (TEOUT) is generated and given to the memory.例文帳に追加

無効データ発生回路（６）において、テスト信号（ＳＧＴ）を非同期制御信号（ＰＴＸ）で修飾してテスト信号（ＴＥＯＵＴ）を生成してメモリへ与える。 - 特許庁

From the A register 32, the test result information is read to generate replacement address data for testing, and from the B register 33, the test result information is read and output to the outside.例文帳に追加

Ａレジスタ３２よりテスト結果情報を読み出してテスト用の置換アドレスデータを生成し、Ｂレジスタ３３よりテスト結果情報を読み出して外部に出力する。 - 特許庁

To provide a printer which enables a manufacturer of the printer or the like to easily collect a large amount of data on environments and densities of test images when the test images are formed.例文帳に追加

試験画像を形成する際の環境と試験画像の濃度とを、印刷装置の開発メーカ等が容易に多数収集することができる印刷装置を提供する。 - 特許庁

Second/third test flip-flops capture and output the output data of the first test flip-flop while being synchronized with the first/second transition edges of the third clock.例文帳に追加

第２および第３試験フリップフロップは、第３クロックの第１および第２遷移エッジに同期して第１試験フリップフロップの出力データを取り込んで出力する。 - 特許庁

A ROM-chip socket accepts a plurality of ROM chips, and each ROM chip stores test data sets for one test type or more to be performed.例文帳に追加

ＲＯＭチップソケットが複数のＲＯＭチップを受け入れ、各ＲＯＭチップは実施されるべき一つまたは一つ以上の試験タイプのために試験データセットを格納している。 - 特許庁

A logic operation part 4 generates data for test on the basis of an operation control signal generated by the execution of the above-mentioned program for test by the control part 3.例文帳に追加

ロジック演算部４は制御部３が上記テスト用プログラムを実行することによって生成した演算制御信号に基づいてテスト用データを生成する。 - 特許庁

An input/output means 6 for redundant memory cell being exclusive for input/output of data of a redundant memory cell space at the time of a test mode is provided in an input/output circuit 5 for test.例文帳に追加

テスト用入出力回路５に、テストモード時に冗長メモリセル空間のデータ入出力専用の冗長メモリセル用入出力手段６を設ける。 - 特許庁

When the repeater A receives the packet for test, which is turned back and transmitted from the repeater B, the repeater A detects presence/absence of a data error of the packet for test.例文帳に追加

中継装置Ａが、中継装置Ｂから折り返されて送信されたテスト用のパケットを受信すると、当該テスト用のパケットのデータエラーの有無を検出する。 - 特許庁

Further, the 2nd circuit 22 detects the test data inserted into the preamble and sends them back in the idle time of the general interface MII to conduct the loopback test.例文帳に追加

また、第２の回路２２がプリアンブルに挿入された試験データを検出し、汎用インタフェースＭＩＩのアイドル時間に折り返すことにより、ループバック試験が実行される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can quickly discriminate defect of read-out data of a test in a wafer test.例文帳に追加

本発明の目的は、ウェハテストにおいて、テストの読出データの不良判定の結果を早期に判定することが可能である半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a simply executable wall magnification simplified test method capable of calculating accurately, based on high correlation data with wall magnification by an in-plane shear test method.例文帳に追加

簡易に実施でき、面内せん断試験方法による壁倍率との相関性の高いデータに基づいて、精度良く算定できる壁倍率簡易試験方法を提供する。 - 特許庁

Prior to the shipment of the product, the high voltage is applied to the test point TP, and after data are written into the EEPROM 30, voltage application to the test point TP is suspended.例文帳に追加

そして、製品出荷に先立ち、テストポイントＴＰに高電圧を印加しつつ、ＥＥＰＲＯＭ３０にデータを書き込んだ後、テストポイントＴＰへの電圧印加を停止する。 - 特許庁

Before recording information on the nonvolatile magnetic thin film memory device, test information is written on the memory cell, and after checking the test information recorded, regular data is recorded.例文帳に追加

不揮発磁気薄膜メモリ装置への情報の記録を行なう前に、メモリセルに情報の試し書きを行ない、試し書きの記録を確認した後、正規のデータを記録する。 - 特許庁

The test device 1 is a device to evaluate input/output processing of the data exchanged between the test object application 4 and a hardware layer 7 via the driver layer 3.例文帳に追加

試験装置１は、試験対象アプリケーション４とハードウェア層７との間でドライバ層３を介して授受されるデータの入出力処理を評価する装置である。 - 特許庁

The printing data generating part has a test pattern output mode for outputting a plurality of test patterns for each of the plurality of control contents by using the same input image.例文帳に追加

印刷データ生成部は、同一の入力画像を用いて複数の制御内容毎に複数のテストパターンを出力させるテストパターン出力モードを有する。 - 特許庁

In this device, when a test image for fixing is formed on a recording body (S1), a required toner fixing quantity is calculated by a central control part from test image data acquired at S3 (S4).例文帳に追加

記録体Ｓ上に定着テスト画像Ｔが作成されると（Ｓ１）、統括制御部５４は、Ｓ３で得たテスト画像データからトナー要求付着量を算出する（Ｓ４）。 - 特許庁