「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image reading apparatus capable of easily creating calibration data of a correction circuit only by setting a test chart to a device even in any sized test chart.例文帳に追加

どのようなサイズのテストチャートであっても、単にテストチャートを機器にセットするのみで容易に補正回路の較正データを作成することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

When an inserted optical disk is an unrecorded disk, data for test is written in a test-writable region, and the maximum amplitude value of the RF signal at an inner radius is calculated.例文帳に追加

挿入された光ディスクが未記録ディスクであるとき、テスト用データをテスト書き可能な領域に書き込ませ、内周でのＲＦ信号の最大振幅値を算出する。 - 特許庁

The sense amplifiers SA1-SAn, switch part YSW4, and input/output control circuit IOC are activated again for the test cell to read the data out of the test cell (process 3).例文帳に追加

（処理３）次に、再度、テストセルに対してセンスアンプＳＡ１〜ＳＡｎとスイッチ部ＹＳＷ４と入出力制御回路ＩＯＣとを活性化させて、テストセルからデータを読み出す。 - 特許庁

The ordering PC4 and the picture test PC5 receive print ordering and conduct a picture test by using reduced picture data without waiting for a picture conversion processing.例文帳に追加

注文用ＰＣ４及び画像検定用ＰＣ５は、画像変換処理を待つことなく、縮小画像データを使用してプリント注文の受け付けと画像検定とを行なう。 - 特許庁

Based on a reading image of a test chart obtained by printing image data of the test chart by a specified printing apparatus, the widths of the bar and the space for the bar code are measured.例文帳に追加

テストチャートの画像データを特定の印刷装置で印刷して得られたテストチャートの読取イメージに基づいて、バーコード用のバーおよびスペースの幅を測定する。 - 特許庁

To provide a magnetic storage apparatus which reduces influence of side erase in writing a read data pattern in measurement of side erase, to provide a head test method, and a head test apparatus.例文帳に追加

サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。 - 特許庁

In accordance with the types read, a personal computer 40 selects from a hard disk 20 the test data that shows the kind of a test signal suited for output to the devices to be tested.例文帳に追加

パソコン４０は、読み取られた型式に基づき、被試験器へ出力するのに適した試験信号の種類を表す試験用データをハードディスク２０から選択する。 - 特許庁

To make establishabel a test of a small number of pins which can effectively input the instructions by means of an external test LSI and an internal data receiving circuit of a one-chip microcomputer.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ外部のテスト用ＬＳＩと内部のデータ受信回路により効率的な命令入力が可能な少ピンテストの確立を目的とする。 - 特許庁

The width of the black bar and white bar for a bar code is measured, based on the image of a test chart printed by a specific printer based on the image data of a test chart.例文帳に追加

テストチャートの画像データに基づいて特定の印刷装置で印刷されたテストチャートのイメージに基づいて、前記バーコード用の黒バーおよび白バーの幅を測定する。 - 特許庁

A deviation value of the position of test image in the image data of test original supplied from the read unit 31 from a predicted position in the sub-scanning direction is detected.例文帳に追加

読取ユニット３１から与えられたテスト原稿の画像データ中におけるテスト画像の位置の想定された位置からの副走査方向に対するずれ量を検出する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a carbon dioxide recovery system, by which more useful data are acquired for the practical application of a carbon dioxide recovery system.例文帳に追加

二酸化炭素回収システムの実用化に向けてより有用なデータを取得することができる二酸化炭素回収システムの試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

In a test for an HDD 1, the HDD 1 transfers data to the host 5 according to a command from a test execution control part 521.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、ＨＤＤ１のテストにおいて、テスト実行制御部５２１からのコマンドに従って、ＨＤＤ１がホスト５にデータを転送する。 - 特許庁

A memory circuit is operated synchronizing with one of the first and the second test clock signals and signal/data are given to the memory circuit according to the other test clock signal.例文帳に追加

第１および第２のテストクロック信号の一方に同期してメモリ回路を動作させかつ他方のテストクロック信号に従ってメモリ回路に信号／データを与える。 - 特許庁

The integrated test pattern and a logic circuit are read from the compile data storage part 13 and operation of the logic circuit is simulated by using the test pattern by a simulation part 18.例文帳に追加

シミュレーション部１８は、コンパイルデータ記憶部１３から、一体化されたテストパタン及び論理回路を読み込み、該テストパタンを用いて論理回路の動作をシミュレーションする。 - 特許庁

To confirm normality, shorten test time and facilitate test equipment of broadcast communication for simultaneously transmitting the same data from one master node to plural slave nodes.例文帳に追加

１つのマスタノードから複数のスレーブノードに対して同一データを同時に送信するブロードキャスト通信の正常性の確認、試験時間の短縮、試験設備の容易化を図る。 - 特許庁

The shift register unit, in response to a clock signal, transmits first through m-th test data to the priority encoder, to test the priority encoder.例文帳に追加

シフトレジスター部は、クロック信号に応答して前記優先順位エンコーダの欠陥有無をテストする第１ないし第ｍテストデータを前記優先順位エンコーダに印加する。 - 特許庁

The selection circuit 9, at the time of the burn-in test, selects the burn-in test data written to the storage circuit 7 and distributes it into the sequential circuits 1 to 3.例文帳に追加

選択回路９は、バーンインテスト時に、記憶回路７に書き込まれているバーンインテスト用データを選択して順序回路１〜３に分配するようになっている。 - 特許庁

An authentication part 102 conducts the authentication test whether the authenticated person 100 is the person itself or not, using the acquired data for the authentication test and the dictionary stored in the dictionary storage part 101.例文帳に追加

認証部102は、この取得した認証テスト用データおよび辞書記憶部101に記憶された辞書を用いて被認証者100が本人であるか否かの認証テストを行なう。 - 特許庁

The generation instruction receiving means receives an instruction of data generation, the first data processor 2 converts personal data of the personal data storing means on the basis of the registered conversion rule and transfers generated test data to the second data processor 3.例文帳に追加

生成指令受付手段がデータ生成の指令を受付け、第１データ処理装置２が、データ変換手段にて個人データ格納手段の個人データを登録された変換ルールに基いて変換し、生成したテストデータを第２データ処理装置３に転送する。 - 特許庁

The data receiving apparatus 12 samples the test data using an internal clock with a system clock multiplied by two or more times and fetches the data into a capture circuit 23 system, and in a data fetch timing control section 24, optimal data fetch timing is selected from the fetched data and set.例文帳に追加

データ受信装置１２は、システムクロックを数倍に逓倍した内部クロックによりテストデータをサンプリングしてキャプチャ回路２３に取り込み、データ取り込みタイミング制御部２４において上記取り込みデータから最適のデータ取り込みタイミングを選択して設定する。 - 特許庁

This memory test circuit is provided with: signal generating circuits for respectively generating a CS signal, an address signal, a data signal and an R/W signal of a memory to be tested; and a test setting control circuit for generating the control data of these signal generating circuits.例文帳に追加

被テストメモリのＣＳ信号、アドレス信号、データ信号、Ｒ／Ｗ信号を生成する各信号生成回路と、これらの信号生成回路の制御データを発生するテスト設定制御回路を備える。 - 特許庁

The built-in self-test circuit generates a pattern for memory test in a programmable manner conforming to indication input through the TAP controller and output it, also, compares data read from the external memory with an expected value and judges the data.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路は、ＴＡＰコントローラを介して入力される指示に従ってプログラマブルにメモリテスト用パターンを生成して出力し、且つ、外部メモリから読み込んだデータを期待値と比較判定する。 - 特許庁

A reflectivity determining means 11 determines reflectivity data D13 of a test region in an object to be tested on the basis of film thickness information D11, in-chip layout information D12 and test region data D14.例文帳に追加

反射率決定手段１１は、膜厚情報Ｄ１１、チップ内レイアウト情報Ｄ１２及び検査領域データＤ１４に基づき、被検査物の検査領域における反射率データＤ１３を決定する。 - 特許庁

One exclusive OR circuit is added to a circuit generating each bit of ECC bit data of 6 bits in an ECC bit generating section so that ECC bit data also is made a specific test pattern for a specific test pattern.例文帳に追加

ＥＣＣビット生成部における６ビットのＥＣＣビットデータの各ビットを生成する回路に、特定の検査パターンに対してＥＣＣビットデータも特定の検査パターンとなるように、排他的論理和回路を１つ追加した。 - 特許庁

When the display position of specific data related to the next test operation is selected from among the memory dumps by using an input device 111, test result information corresponding to the specific memory data are shown on the monitor 115.例文帳に追加

このメモリダンプの中から、次のテスト操作に関係する特定のデータの表示位置を、入力装置１１１を使って選択すると、特定のメモリデータに対応するテスト結果情報をモニタ１１５に表示する。 - 特許庁

In a Pachinko game machine 1, in a non-rewritable performance image storage device 340, performance image data to be used in a performance display operation and the test display data to be used in the test of the display operation are stored.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

To obtain a continuity test system which can conduct a continuity test while minimizing hit of user data even in service wherein the user data flow on a transmission line including an ATM section and an STM section.例文帳に追加

ＡＴＭ区間とＳＴＭ区間が含まれる伝送路において、ユーザデータが流れているインサービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小限にして導通試験を行うことができる導通試験システムを提供する。 - 特許庁

In the step S230, the control unit outputs from a speaker the audio data for the test mode read from the flash memory and displays on a display unit the display data for the test mode read from the flash memory.例文帳に追加

Ｓ２３０ステップにおいて、制御部は、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の音声データをスピーカから出力させると共に、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の表示データを表示部に表示させる。 - 特許庁

It also comprises a transmission characteristic gaining means (for example, CPU8 and the like) for gaining the transmission characteristic data of the vibration part when a vibration test is conducted by driving the vibration part with the drive control means based on the test pattern data.例文帳に追加

試験パターンデータに基づいて駆動制御手段に加振部を駆動させて振動試験を行った際の加振部の伝達特性データを取得する伝達特性取得手段（例えば、ＣＰＵ８等）を備える。 - 特許庁

The HSI sample data generator 210 serially combines received low-speed parallel test data, and generates first and second test input signals TXP, TXN having reverse phases.例文帳に追加

ＨＳＩサンプルデータ生成器２１０は、受信した低速の並列テストデータを直列に結合して、位相が互いに逆になる高速の第１テスト入力信号ＴＸＰ及び第２テスト入力信号ＴＸＮを生成する。 - 特許庁

The CPU 16 compares the fetched test data with the test data stored in the ROM 18 and when they are not mutually coincident, sets response time with a larger value than the presently set response time in a control register.例文帳に追加

ＣＰＵ１６は、取り込んだテストデータとＲＯＭ１８に記憶されたテストデータと比較し、一致しない場合には、現在設定されている応答時間よりも大きい値の応答時間を制御レジスタ２８に設定する。 - 特許庁

A first connection is formed between the test data input terminal TDI and the boundary scanning route input, and a second connection is formed between the test data output terminal TDO and the boundary scanning route output.例文帳に追加

第１の接続がテストデータ入力端子（ＴＤＩ）と境界走査径路入力との間に形成され、また第２の接続がテストデータ出力端子（ＴＤＯ）と境界走査径路出力との間に形成される。 - 特許庁

Prior to the process of drilling the existing structure, drill test data including the condition are obtained by injecting a jet of the abrasive slurry, and the condition is determined based on the drill test data.例文帳に追加

さらに、既設建造物を削孔する工程に先立ち、上記研磨材スラリージェット噴射を用いて上記条件を含む削孔試験データを取得し、この削孔試験データに基づいて上記条件を決定する。 - 特許庁

The test data compression method comprises a step for acquiring equivalent core of plural cores in the System-on Chip circuit, and a step for applying reseeding of linear feedback shift register (LFSR) for test data compression of the equivalent core.例文帳に追加

データ圧縮方法は、システムオンチップ回路内の複数のコアの等価コアを取得するステップと、線形フィードバックシフトレジスタ（ＬＦＳＲ）の再シード（reseeding）を等価コアの試験データの圧縮に適用するステップと、を有する。 - 特許庁

Test data is set at the register 12 from a common bus 3, and by comparing the value of the test data with an output value acquired from the monitoring output signal line 28, tests on whether the connection is correct or not are performed.例文帳に追加

共通バス３からレジスタ１２にテストデータをセットし、そのテストデータ値と、モニタリング出力信号線２８から取得する出力値を比較することにより、正しく接続されているかどうかのテストを行う。 - 特許庁

To enable function test or the AC test for every series data signal for facilitating inspection of a semiconductor integrated circuit for transferring or latching a plurality of series data signals synchronously with the same clock signal.例文帳に追加

同一のクロック信号に同期して複数系統のデータ信号の転送又はラッチを行う半導体集積回路において、データ信号の系統毎にファンクションテスト又はＡＣテストを可能として検査を容易にする。 - 特許庁

Another embodiment is possible in which a test pattern is formed on a recording paper 16 instead of forming a test pattern on the belt 33; the test pattern is read by a test pattern-reading section provided separately from an adsorption belt conveyance section; and the speed variation data of the recording paper 16 is determined from the reading result for storing.例文帳に追加

ベルト３３にテストパターンを形成する代わりに記録紙１６上にテストパターンを形成し、該テストパターンを吸着ベルト搬送部とは別に設けられたテストパターン読取部によって読み取り、その読取結果から記録紙１６の速度変動データを求めて記憶しておく態様も可能である。 - 特許庁

In this method, a test tube group with bar codes stored in the test tube rack is photographed as it is from the oblique upside by a plurality of cameras, relative to each test tube without being interfered by adjacent test tubes, and a plurality of data are synthesized and corrected, to thereby read the bar codes.例文帳に追加

本発明は試験管ラックに収められたバーコード付の試験管群をそのままの状態で、隣接する試験管に妨害されず、斜め上方から試験管一本毎複数のカメラで撮影し、その複数のデータを合成ないし補正して正確に読取る方法である。 - 特許庁

When reproducing the test, a test ID is inputted, information held in the bug management database is used, an input signal time serially reproduced by the test data, and a control signal of the operation history are inputted to the test equipment, and the generated bug is reproduced.例文帳に追加

また、テストの再現時には、テストＩＤを入力して、そのバグ管理データベースに保持されている情報を利用し、時系列的にテストデータによって再現される入力信号と、操作履歴の制御信号をテスト機器に入力することにより、発生したバグを再現させる。 - 特許庁

The printing processing means conserves a test chart in the storage section 36 when the test chart as image data for image quality adjustment of the printing means is inputted from an external device by an input and output section 22 and registers the identifier of the test chart in a test chart list holding section 38.例文帳に追加

印刷処理手段は、外部装置から前記印刷手段の画質調整用の画像データであるテストチャートが入出力部２２により入力された際にその記憶部３６に保存を行うとともに、テストチャートの識別子をテストチャートリスト保持部３８に登録する。 - 特許庁

The test time can be shortened without using the expensive tester because the DUT of a test target is recognized on the basis of a holder 511, a test number recognition signal S511 recorded in ID data and the count number of a timing clock S540b of a tester 540 to perform a test.例文帳に追加

治具５１１やＩＤデータに記録された検査番号認識信号Ｓ５１１とテスター５４０のタイミングクロックＳ５４０ｂカウント数から検査対象のＤＵＴを認識して検査を行うため、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

When the evaluation test is executed (S204), the operation PC processes the resultant data of the evaluation test by the evaluation function (S206), extracts two test conditions obtained by changing the condition value (S208), and a three-dimensional graph is created by two extracted test conditions and the control performance (S210).例文帳に追加

評価試験を実行すると（Ｓ２０４）、オペレーションＰＣは、評価試験の結果データを評価関数により処理し（Ｓ２０６）、条件値を変化させた試験条件を２個抽出し（Ｓ２０８）、抽出した２個の試験条件と制御性能とで３次元グラフを作成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

In one embodiment of this invention, the nonvolatile semiconductor storage device includes a plurality of memory blocks connecting a plurality of memory cells thereto, and is equipped with the memory cell array for storing the test data in a predetermined memory block and an operation testing section for executing the operation test of the memory cell array by using the test data.例文帳に追加

本発明の一実施の形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、複数のメモリセルを接続したメモリブロックを複数含み、所定のメモリブロック内にテストデータを記憶するメモリセルアレイと、前記テストデータを用いて前記メモリセルアレイの動作テストを実行する動作テスト部と、を備える。 - 特許庁

To provide a remote test method capable of performing a test between terminal adapters through a communication line even without connecting data terminal equipment or loop connector to the terminal adapter concerning the remote test method for terminal adapter for connecting the data terminal equipment to the communication line.例文帳に追加

データ端末装置を通信回線に接続するターミナルアダプタの遠隔テスト方法に関し、ターミナルアダプタにデータ端末装置やループコネクタが接続されていなくても、通信回線を介してターミナルアダプタ間のテストを行うことができる遠隔テスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Judgment processing operation reads test data from a data file (S1), calculates the basic index of the test result (S2), calculates (S3) and evaluates (S4) the partial index of the test result, judges three characteristics (S5), judges characteristic tendency (atypical feature) (S6) and performs total evaluation (S7) in this order.例文帳に追加

判定処理動作は、データファイルから検査データの読出し（Ｓ１）、検査結果の基本指標の算出（Ｓ２）、検査結果の部分指標の算出（Ｓ３）及び評価（Ｓ４）、３特性の判定（Ｓ５）、特異傾向（非定型特徴）の判定（Ｓ６）及び総合評価（Ｓ７）の順に行う。 - 特許庁