「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, the management server 50 specifies the implementation date and time information of a self diagnostic test and a device ID for the detected determined result data and transmits the retransmission request of corresponding test result data to the pertinent communication facilities.例文帳に追加

そして、管理サーバ５０は、検出した判定結果データについて自己診断試験の実施日時情報および装置ＩＤを特定し、該当する通信設備に対して対応する試験結果データの再送要求を送信する。 - 特許庁

When a user touches an instruction part of the test pattern 5 with a finger in accordance with an instruction of the test pattern 5 displayed on the touch panel 3a, the onboard terminal 3 generates screen format data from an input based on a touch position and transmits the data to the server 2.例文帳に追加

タッチパネル３ａに表示されたテストパターン５の指示に応じて、利用者がテストパターン５の指示部分に指を触れると、車載端末３は、接触位置に基づいた入力から画面形式データを生成しサーバ２に送信する。 - 特許庁

Then, for example, a value obtained by converting the counts of correction during vibterbi decoding obtained in reading test data of 100 sectors into the amount equivalent to ten sectors, as a signal quality value, is calculated for each test data reading (e.g., ten times).例文帳に追加

次に、例えば、１００セクタ分のテストデータの読み出しにより取得したビタビ復号処理時の訂正回数を１０セクタ分に換算した値を信号品質値として、テストデータの読み出し回数（例えば、１０回）分それぞれ算出する。 - 特許庁

To provide a system and method for determining data error of an optical network facility where the existence/non-existence of data error is automatically determined, by combining the result of light-receiving level confirmation test and the result of an optical network unit (ONU) state confirmation test, with respect to an ONU.例文帳に追加

受光レベル確認試験の結果とＯＮＵに対するＯＮＵ状態確認試験の結果とを組み合わせてデータ誤りの有無を自動判定する光ネットワーク設備データ誤り判定システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

In Fig. 1(b), a compressed data effective signal outputted from a second shared output terminal 1122 is inputted to the 1st test input terminal 2131, and then an inverted compressed data effective signal is obtained from the test output terminal 2141.例文帳に追加

図１（ｂ）では、第２兼用出力端子１１２２から出力された圧縮データ有効信号を第１テスト入力端子２１３１に入力することで、テスト出力端子２１４１から反転した圧縮データ有効信号を得る。 - 特許庁

A similarity testing method is provided which compares sequence data transmitted from a malware performing wrong processing on other computers on the network and sequence data transmitted from software being a test object, with each other to test the similarity between them.例文帳に追加

ネットワーク上で他のコンピュータに対して不正処理を行うマルウェアが送信する系列データと、検査対象のソフトウェアが送信する系列データとを比較してその類似性を検査する類似性検査方法を提供する。 - 特許庁

To realize a practical IC test system and a data transfer method in the IC test system in which a suitable system corresponding to pattern data is selected in the conventional transfer system and the transfer speed is improved.例文帳に追加

本発明の課題は、従来の転送方式をパタンデータに応じた適切な方式を選択し、かつ転送速度の向上を図った実用的なＩＣテストシステム及びＩＣテストシステムにおけるデータ転送方法を提供することである。 - 特許庁

Alternatively, the color distribution of the test pattern is automatically discriminated on the basis of image data (step S7), and calculation methods and parameters are changed in accordance with the discriminated color distribution of the test pattern (step S8).例文帳に追加

或いは、画像データに基づいてテストパターンの色分布を自動的に判別し（ステップＳ７）、判別されたテストパターンの色分布に応じて計算方法及びパラメータを変更する（ステップＳ８）。 - 特許庁

An update processing function section 29 executes updating the in-operation station data stored in a storage medium when the test result from the test processing function section 35 indicates a successful result.例文帳に追加

更新処理機能部２９は試験処理機能部３５からの試験結果が良好の場合には記憶媒体３３に格納されている稼働中局データに対する更新を実施する。 - 特許庁

An image read section 20 reads the test image outputted from the image forming unit 14 or the like and outputs RGB image data resulting from separating the test image to a storage section 128.例文帳に追加

画像読取部２０は、画像形成ユニット１４などにより出力されたテスト画像を読取り、テスト画像を分解したＲＧＢの画像データを記憶部１２８に対して出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which cause of 'error' of rewritten data is easy to specify, a test of page-latch and a test of a read-out circuit can be completed in a short time.例文帳に追加

書き換えたデータの“誤り”の原因を特定し易く、かつページラッチの試験や、読み出し回路の試験を、短時間で完了させることが可能な半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To efficiently verify a peripheral device by varying the number of test processes on the basis of the capacity of an external storage device, and a given test time or a maximum data transfer amount.例文帳に追加

外部記憶装置の容量と与えられた試験時間または最大データ転送量とにより試験を実施するプロセスの数を変動させ、周辺装置の検証を効率的に行う。 - 特許庁

When modulation degree change obtained by test-writing of test data in actual drive is included in the allowable range, optimum recording power is calculated from the modulation degree change as it is.例文帳に追加

実際のドライブでテストデータを試し書きして得られる変調度変化が許容範囲に含まれる場合にはそのまま変調度変化特性から最適記録パワーを算出する。 - 特許庁

The test apparatus main unit 10 makes a pass-fail determination while gradually changing a timing and a voltage of a test signal to be applied to the DUT 30, and can acquire its determination result (shmoo data).例文帳に追加

試験装置本体１０は、ＤＵＴ３０に印加する試験信号の電圧とタイミングとを段階的に変化させつつパス・フェイルを判定し、その判定結果（シュムデータ）を取得可能である。 - 特許庁

An inspection processing control part 9 outputs test voice data previously prepared in a test voice output part 11 to a car side when the emergency call signal is inputted.例文帳に追加

点検処理制御部９は、この非常呼び信号を入力すると、テスト用音声出力部１１に予め作成してあるテスト用音声データをかご側に対して出力させる。 - 特許庁

A density difference between the measured density value of each patch of a test chart image recorded on photosensitive material by an automatic calibrator and the target density of each patch based on test chart image data is calculated.例文帳に追加

オートキャリブレータによる感光材料に記録されたテストチャート画像の各パッチの測定濃度値と、テストチャート画像データに基づく各パッチの目標濃度との濃度差を算出する。 - 特許庁

To provide a reaction plate with identifiers, capable of being used for identifying a particle aggregation determining vessel (reaction plate) which has been used for its test, even after completing the test as more reliable data.例文帳に追加

より信頼性の高い分析データとして後からでも検査に使用した粒子凝集判定用容器（プレート）を特定できるような識別子付きプレートを提供する事。 - 特許庁

A master station 1 transmits a test address to a slave station during an interim of transmission of control information and discriminates a fault of the slave station 2 on the basis of test acknowledgement data from the slave station 2.例文帳に追加

マスタ局１は制御情報の送信の合間にスレーブ局に対してテスト用アドレスを送信し、スレーブ局２からのテスト応答データに基づいてスレーブ局２の異常判定を行う。 - 特許庁

Each of the plurality of data holding circuits holds, as a test result, a signal output from the other end of corresponding one of the respective peeling reinforcement blocks in response to the test signal.例文帳に追加

前記複数のデータ保持回路の各々は、対応する前記各剥離補強ブロックの他端から前記テスト信号に応じて出力される信号をテスト結果データとして保持する。 - 特許庁

In addition, an RAM test pattern diagnostic process 12 performs RAM diagnosis using a plurality of test patterns for the storing region, etc. of each safety related data routinely.例文帳に追加

これに加えて、ＲＡＭテストパターン診断処理１２によって、定期的に、各安全関連データの格納領域等に対して、複数のテストパターンを用いたＲＡＭ診断を行う。 - 特許庁

In test item extraction processing S4, a test item associated with the confirmation item extracted in the confirmation item extraction processing S3 is extracted from the quality function development data.例文帳に追加

試験項目抽出処理Ｓ４では、確認項目抽出処理Ｓ３にて抽出された確認項目に関連付けられた試験項目を品質機能展開データから抽出する。 - 特許庁

The information processor grasps the number of vehicles entering a test course based on vehicle position data transmitted from on-vehicle terminal equipment mounted on each of test vehicles.例文帳に追加

情報処理装置は、各試験車両に搭載された車載端末機から送信された車両位置データに基づいてテストコース内に入場している入場台数を把握する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor device for executing an operation test of a memory cell array by using test data which has been stored in a ROM-FUSE area in the memory cell array.例文帳に追加

メモリセルアレイ内のＲＯＭ−ＦＵＳＥ領域にテストデータを記憶しておき、このテストデータを用いてメモリセルアレイの動作テストを実行する不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an event type test system reducing size of memory by compressing and storing event data for generating an event to be used for a test of a tested semiconductor device (DUT).例文帳に追加

被試験半導体デバイス（ＤＵＴ）の試験に使用するイベントを生成するためのイベントデータを圧縮して格納することによりメモリのサイズを減少させるイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

Then, an arbitrary test parameter is selected from the calculated test parameter group, and the parameter value is developed within a predetermined range including a value calculated from observation data (a step S2).例文帳に追加

次に、算出された検定パラメータ群から、任意の検定パラメータが選択され、そのパラメータ値が、観測データより算出された値を含む所定の範囲内に展開される（ステップＳ２）。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

A pattern recognition device, upon receiving a test object signal and data for selecting various types of prescribed events, generates an output signal 402 indicating the generation of all the selected events in the test object signal.例文帳に追加

パターン認識器は、被試験信号と種々の所定イベントを選択するデータとを受け、被試験信号内の選択イベントの全ての発生を示す出力信号402を発生する。 - 特許庁

The above data and monitor display contents include present date and hour, the date and hour of validity of a monitored biosensor test piece, the number of test pieces, the date and hour of unsealing, or the display of a combination of the above.例文帳に追加

上記のデータ及びモニタ表示内容として、現在の日時、モニタしたバイオセンサ試験片の有効日時、試験片数量、開封日時或いは前記の組合せの表示を含む。 - 特許庁

To provide an optical disk recording apparatus without securing a period of time required for test writing specially by repeating alternately recording of data and processing operation of test writing.例文帳に追加

データの記録と試し書きの処理動作を交互に繰り返すことによって、試し書きに要する時間を改めて確保する必要がない光ディスク記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The memory 20 is stored with data, regarding the inlet gas amount corresponding to the charge state on the surface of the test piece which changes, according to the kinds and observation conditions of the test piece made of insulating material.例文帳に追加

メモリ２０は、絶縁材料製試料の種類及び観察条件によって変わる試料表面の帯電状況に応じた導入ガス量に関するデータが格納されている - 特許庁

To provide methods of processing and displaying data of a semiconductor test device with which a region with good wafer evaluation and a region with poor evaluation can be known, and to provide the semiconductor test device.例文帳に追加

ウェハの評価の良い部分の領域や悪い部分の領域が分かる半導体検査装置のデータ処理方法とデータ表示方法と半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, this test manhour estimation device 1 can accurately estimate the manhour of the test repeatedly performed by the evaluator on the basis of data stored in the tables 16a and 16b.例文帳に追加

これにより、テスト工数見積装置１は、評価者が繰り返し実行するテストの工数を、テーブル１６ａ、１６ｂに蓄積されたデータに基づき、正確に見積もることができる。 - 特許庁

An imagery processing section 2 processes imagery data generated by imaging of the test object to determine whether a domain on the test object exists corresponding to the domain on the map.例文帳に追加

画像処理部２は、検査対象物の撮像により生成された画像データを処理し、マップ上の領域と対応する検査対象物上の領域が存在するか否かを判断する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory in which noise interference between signal lines transmitting data to a memory cell can be examined by an I/O degeneration test mode and a test method for a semiconductor memory.例文帳に追加

メモリセルにデータを伝送する信号線間のノイズ干渉をＩ／Ｏ縮退テストモードで調べることができる半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法を得る。 - 特許庁

An exclusive OR-gate 10 combines digital data signals D from the test signal generator and error signals from the error signal generator to generate test signals T having poisson's distribution errors.例文帳に追加

排他的オア・ゲート１０は、試験信号発生器からのデジタル・データ信号Ｄと、エラー信号発生器からのエラー信号Ｅとを組み合わせて、エラーがポアソン分布の試験信号Ｔを発生する。 - 特許庁

To provide a pseudo call for a load test and a result-verifying information generation method, capable of easily generating data for verification and the pseudo call for the load test corresponding to a load after operation.例文帳に追加

稼動後の負荷に相当する負荷テスト用擬似呼及び検証のためのデータを容易に生成可能な負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test of stored data of a plurality of memory arrays can be simultaneously performed and a test time can be shortened even if storage capacity is increased more.例文帳に追加

半導体記憶装置の記憶容量の膨大化に伴い、全ての記憶領域のデータをアドレスに従って順次読み出しを行い判定すると検査時間が増加する。 - 特許庁

To provide a test body reaction force estimating device capable of estimating reaction force of a testing body, based on known data such as vibration table oscillation force, without measuring directly a reaction force value of the test body.例文帳に追加

試験体の反力値を直接計測しなくても、振動台加振力等の既知データから試験体の反力を推定することが可能な試験体反力推定装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, upon the inputting of a designation data for indicating that any of the test data corresponding to the types presented is input into the prescribed input terminals CN1-CN12, the input terminals CN1-CN12 are so set as to allow the inputting of the test data of the type involved into them.例文帳に追加

その後、提示された試験データの種類のいずれかを所定の入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２に入力することを指示する指示データが入力されると、当該入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を当該種類の試験データが入力可能なように設定する。 - 特許庁

When the person itself is authenticated correctly by the authentication test, the dictionary registration and updating part 104 prepares a new dictionary again based on the data for the dictionary acquired by the authentication data input part 103 and the data for the authentication test, and stores it in the dictionary storage part 101 as a regular dictionary.例文帳に追加

この認証テストにより正しく本人と認証された場合、辞書登録・更新部104は、認証データ入力部103により取得した辞書用データと認証テスト用データを基に新たな辞書を再度作成し、これを正式な辞書として辞書記憶部101に記憶せしめる。 - 特許庁

When testing software, at first in a correct answer registration process, output data of a target program 18 are obtained on the basis of a test scenario held in a test scenario holding device 11, and output data matched with predetermined specifications are registered in a correct answer holding device 13 as correct answer data.例文帳に追加

ソフトウェアの試験を行うとき、初めに、正解登録工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて、対象プログラム１８の出力データを取得し、予め定める仕様に合致する出力データを正解データとして正解保持装置１３に登録しておく。 - 特許庁

Then, the CPU 10 finds the reference value of the optimum recording power, based on the states of reproduced respective test signals, and moves the PU unit 15 to the data write-in position of the data area of the disk 2 and performs recordings of test signals of plural steps around the reference value to the data area.例文帳に追加

その再生された各テスト信号の状態に基づいて最適記録パワーの基準値を求め、ＰＵユニット１５をデータ領域のデータ書き込み位置へ移動させ、そのデータ領域へ上記基準値を中心にした複数段階のテスト信号の記録を行なう。 - 特許庁

When the semiconductor integrated circuit is operated for test, input data TI for test are given to the scan registers 21 and 24 at the front ends of the divided chains synchronously to a multiplied clock signal CKD which is obtained by doubling a clock signal CK after the data are converted into parallel data S41 and S42 by means of a serial/parallel conversion circuit 40.例文帳に追加

試験動作時には、試験入力データＴＩがクロック信号ＣＫの２倍の逓倍クロック信号ＣＫＤに同期して与えられ、直列並列変換回路４０で並列データＳ４１，Ｓ４２に変換されて、各分割チェーンの先端のスキャンレジスタ２１，２５に与えられる。 - 特許庁

If the discriminator 120 determines the pixel under test to be in white dot failure, a complement processor 130 executes a complement operation to generate complement data using held pixel data of the pixel under test and its neighboring pixels in the data holder 110.例文帳に追加

補完演算部１３０では、比較判定部１２０により対象画素が白点故障であると判定された場合、周辺画素データ保持部１１０に保持されている対象画素の画素データとその周辺の周辺画素の画素データを使用して補完演算を行ない、補完データを生成する。 - 特許庁