| 意味 | 例文 |
Test Dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3606件
To execute processing to detect any part unfitted to print included in plotting data, and to execute charging processing to the test processing.例文帳に追加
描画データに含まれる印刷に適さない部分を検出する処理を行い、この処理についての課金を行う。 - 特許庁
To reduce a circuit size and a manufacturing cost, while enabling an integrated circuit to be tested by using a large volume of test pattern data.例文帳に追加
大きな容量のテストパターンデータによる集積回路を検査可能にしつつ、回路規模や製造コストを低減する。 - 特許庁
Identification information 21 indicating the adjusting disk and test data are recorded in the adjusting disk 20.例文帳に追加
調整用ディスク20には、調整用ディスクであることを示す識別情報21と、テスト用データとが記録されている。 - 特許庁
TEMPERATURE COMPENSATION METHOD FOR INSPECTION DATA ERROR CAUSED BY OUTSIDE AIR TEMPERATURE GENERATED AT PRESSURE EXPANSION TEST TIME FOR COMPRESSED-GAS CYLINDER REINSPECTION例文帳に追加
高圧ガス容器再検査の耐圧膨張試験時に生ずる、外気温に起因する検査データ誤差の温度補償方法 - 特許庁
At the reproduction, the impulse response h(t) of the recording/reproducing system (including disk) is derived by reproducing the test data at first.例文帳に追加
再生時、まずテストデータを再生して当該記録再生系(ディスクを含む)のインパルス応答h(t)を導出する。 - 特許庁
The test runs are conducted in order to collect data to help improve train technology and safety.例文帳に追加
走行試験は,列車の技術と安全性の向上の手助けになるようデータを収集するために行われている。 - 浜島書店 Catch a Wave
When performing the logic scan test of the logic sections 80, 81, a test mode signal TEST is set to "1", and a normal scan test is performed by a simple scan path having the same number of bits as that of written data using a scan flip flop in which the selectors 10-12 and the flip flops 30-32 are paired.例文帳に追加
ロジック部80,81のロジックスキャンテストを行う際にはテストモード信号TESTを“1”とし、セレクタ10〜12とフリップフロップ30〜32とがそれぞれ対をなして構成するスキャンフリップフロップを用いた、書き込みデータ数と同じビット数の単純なスキャンパスによって、通常のスキャンテストを行うことができる。 - 特許庁
The test system includes an IC tester for performing a test on a device under test, inputting a trigger signal, and recording the position data of the test program in execution when the trigger signal is input and the oscilloscope for performing waveform observations on the IC tester and outputting the trigger signal to the IC tester.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するICテスタと、このICテスタを波形観測し、トリガ信号をICテスタに出力するオシロスコープとを備えたことを特徴とするものである。 - 特許庁
In this screen printing method, the actual results of printing to a production substrate are accumulated as templates and the templates are used or the results of test printing are analyzed using a test substrate, a test screen mask and a test paste, and the analytical results are registered as the templates; and the printing conditions are set up based on the template data, when the actual production is started.例文帳に追加
実際の生産基板の印刷結果をテンプレートとして蓄積し、これを利用するかまたはテスト用基板とテストスクリーンマスクおよびテストペーストを使用しテスト印刷の結果を解析し、その結果をテンプレートとして登録し、実生産を始める際にはそのテンプレートデータをもとにして印刷条件を設定する。 - 特許庁
Thus, the liquid crystal module tester dispenses with the process of connecting an exclusive substrate 110 and an image data generating unit 120 needed only for the test/regulation and a process for switching the test pattern, by operating prescribed equipment by a worker, whenever the test content changes each time test/regulation are performed in each base of the liquid crystal module 10.例文帳に追加
従って、液晶モジュール10の各台について検査・調整を行う度に、同検査・調整のためだけに要していた専用基板110や画像データ発生器120を接続する工程や、検査内容が変わる度に作業員が所定の機器を操作して検査用パターンを切替える工程が不要となる。 - 特許庁
An image processing unit 60 of an image forming apparatus 1 stores test image data 610 representing a test image including a monochromatic test pattern formed including regions N1 to N5 whose densities belong to a range of low density and a multicolor test pattern having regions N6 to N10 whose densities belong to a range of high density.例文帳に追加
画像形成装置1の画像処理部60は、濃度が低濃度域の範囲に属する領域N1〜N5を含んで形成される単色のテストパターンと、濃度が高濃度域の範囲に属する領域N6〜N10を有する多次色テストパターンとを含むテスト画像を表すテスト画像データ610を記憶する。 - 特許庁
The data generation program 30 reads a column definition file 60 (S1) to obtain a test data generation condition and generates real tables 110 and 120 (S3) by using outside data 50 and the like (S2) to store them in a database 40.例文帳に追加
データ生成プログラム30は、カラム定義ファイル60を読み込んで(S1)、テストデータ生成条件を把握し、外部データ50等を利用して(S2)、実テーブル110,120を生成し(S3)、データベース40に記憶させる。 - 特許庁
The system receives a data slice (18) from a transmission source (12) and subjects the data slice to random delay and known delay (14) and transmits the delayed data slice to a test object chip (16) and thus emulates the propagation delay.例文帳に追加
システムは、送信元(12)からデータスライス(18)を受信して、データスライスにランダム遅延又は既知の遅延を施し(14)、遅延したデータスライスを被試験チップ(16)に送信することにより、伝搬遅延をエミュレートする。 - 特許庁
When determining the next data classification, a main control section extracts a test value corresponding to the data classification, generates authentication information having data based on classification information, and transmits the authentication information to a peripheral section.例文帳に追加
主制御部は次回のデータ種別を決定すると、該データ種別に対応した検査値を抽出し、種別情報に基づいたデータを有する認証情報を生成して周辺部に送信する。 - 特許庁
The data file 101 is built in by a test format, document image data 105 are built in by encoding image compression data and text information 107 is built in by the text format as it is.例文帳に追加
データファイル101はTEXT形式で組み込まれ、文書画像データ105は画像圧縮データを符号化して組み込まれ、テキスト情報107はTEXT形式のまま組み込まれる。 - 特許庁
The data input circuit 4 generates test bit data 16, 17 by the bit number per one word of the memory 2A from respresentative one bit data 13 from the BIST sub-circuit 1 to be written in the memory 2A.例文帳に追加
データ入力回路4は、BISTサブ回路1からの代表1ビットデータ13からメモり2A等の1語当りのビット数だけのテストビットデータ16,17を生成しメモり2A等に書き込む。 - 特許庁
The memory test device tests the memory which stores confidential information data which cannot be read from the outside unless it is encrypted, by using data for check created based on the confidential information data.例文帳に追加
暗号化されない限り外部より読み出し不可能な機密情報データを記憶するメモリを、機密情報データに基づいて生成されたチェック用データを用いて検査するメモリ検査装置である。 - 特許庁
To provide a new system for obtaining picture data by synthesizing noise data being an object to be tested which is obtained by noise visualization measurement simulating immunity test and design data being an object to be tested.例文帳に追加
イミュニティ試験を模擬したノイズ可視化測定によって得られた試験対象物のノイズデータと試験対象物の設計データとを合成して画像データを得るための新たなシステムを提供するものである。 - 特許庁
In a post decoding mechanism, results of plural types can be generated by examining data once independently of that data us supplied by on-the-fly or that data is supplied from structure of an internal test memory.例文帳に追加
後デコード機構は、データがオンザフライで供給されるか、内部テストメモリ内の構造から供給されるかに関係なく、データを一回調べることにより複数のタイプの結果を生成することができる。 - 特許庁
At the time of a multi-bit test, An I/O combiner 50 degenerates data of a plurality of bits read out to pairs of data buses TDB0-TDB3 from a memory cell array MA in parallel and outputs them to a pair of data bus RTDB.例文帳に追加
マルチビットテスト時、I/Oコンバイナ50は、メモリセルアレイMAから並列にデータバス対TDB0〜TDB3に読出された複数ビットのデータを縮退してデータバス対RTDBへ出力する。 - 特許庁
Communication equipment receives a data signal that results from superimposing a test control signal frame whose communication rate is lower than that of a main data signal on the main data signal with a prescribed communication rate from opposite communication equipment.例文帳に追加
対向する通信装置から、所定の通信速度の主データ信号に主データ信号の通信速度より遅い通信速度である試験制御信号フレームを重畳したデータ信号が送信される。 - 特許庁
A file preservation means 33 preserves a user description script file group for specifying selection of the data to be output in the data acquired from the IC test system 1, and the output form of the selected data.例文帳に追加
ファイル保存手段33は、ICテストシステム1から得られるデータのうち出力すべきデータの選択、および選択されたデータの出力形式を規定するユーザ記述スクリプトファイル群を保存する。 - 特許庁
The response traffic data 57 which is the response data of this test traffic data 55 is processed in a pseudo-communication environment constructed in a communication network emulator apparatus 37 to reproduce problems of the TCP/IP protocol.例文帳に追加
この試験トラフィックデータ55の応答データである応答トラフィックデータ57を、通信網エミュレータ装置37に構築した擬似通信環境で処理してTCP/IPプロトコルの不具合を再現する。 - 特許庁
The memory 401 stores the same data as the train radio transmission data to be transmitted from a train radio command station provided outside a railroad vehicle as the test train radio transmission data in advance.例文帳に追加
メモリ401は、鉄道車両の外部に設けられる列車無線指令局から送信される列車無線伝送データと同一のデータを試験用列車無線伝送データとして予め格納する。 - 特許庁
To provide ultrasonic test equipment and a method capable of improving greatly the efficiency of an inspection work, and improving inspection accuracy and reliability, by enabling reduction of hard system noise filters and shortening of a data analysis processing time without requiring noise reduction processing from the vast amount of ultrasonic data at the data analysis processing time.例文帳に追加
ハード方式ノイズフィルタの軽減、データ解析処理時に膨大な超音波データからノイズ低減処理を行う必要がなくデータ解析処理時間の短縮化が図れる。 - 特許庁
This generation circuit has a VCID(VCD ID) storing part (11), a VCDU(Virtual Channel Data Unit) counter part (12) an APID(Applied Process ID) storing part (13), a sequence counter part (14) and a data buffer where test data are written independently and guarantees the continuity of counters.例文帳に追加
VCID格納部(11)、VCDUカウンタ部(12)、APID格納部(13)、及びシーケンスカウンタ部(14)と、試験データを書き込むデータバッファとを独立に持ち、カウンタの連続性を保証する。 - 特許庁
In the shading data inspection method, shading correction is applied to the image data obtained by reading a test chart, and then, data is encoded by discrete cosine transform for each prescribed pixel block.例文帳に追加
このシェーディングデータ検査方法では、テストチャートを読み取って得られた画像データに対し、シェーディング補正を施した後、所定の画素ブロックごとに離散コサイン変換によるデータの符号化を行う。 - 特許庁
A selector circuit 72 outputs selectively eight data corresponding to the number of output data per read-out operation of one time at the time of test operation out of plural data read out from a regular memory cell array.例文帳に追加
セレクタ回路72は、正規メモリセルアレイから読出された複数のデータのうち、テスト動作時における1回の読出動作当たりの出力データ個数に相当する8個のデータを選択的に出力する。 - 特許庁
When the code error rate measuring apparatus 10 conducts a code error rate measurement test of an object 13 to be measured, the error detector 12 outputs the control signal on the basis of a result of bit error detection and automatically adjusts the amplitude of the test data signal, an offset voltage, and a phase relation between the test data signal and the clock signal.例文帳に追加
符号誤り率測定装置10は、被測定物13の符号誤り率測定試験に際して、エラー検出器12は、ビットエラーの検出結果に基づいた制御信号を出力し、テストデータ信号の振幅及びオフセット電圧、並びに、テストデータ信号とクロック信号との位相関係を自動調整する。 - 特許庁
A test circuit 1 includes a plurality of data holding circuits provided corresponding to the plurality of peeling reinforcement blocks, a test signal supply terminal for supplying a test signal to one end of each of the plurality of peeling reinforcement blocks, and a nonvolatile storage circuit connected to the plurality of data holding circuits.例文帳に追加
前記テスト回路1は、前記複数の剥離補強ブロックに対応して設けられた、複数のデータ保持回路と、前記複数の剥離補強ブロックの各々の一端に、テスト信号を供給する、テスト信号供給端と、前記複数のデータ保持回路に接続された、不揮発性の記憶回路とを備える。 - 特許庁
Operation is performed by an operation means 47 of the central processor 40 to transmit a communication test start signal to the terminal device from a data communication means 43, and the terminal device returns a response signal to the communication test start signal, so that the communication test in the data communication means of the terminal device and the central processor 40 can be performed.例文帳に追加
中央処理装置40の操作手段47で操作し、データ通信手段43から通信テスト開始信号を端末器に送信し、端末器は通信テスト開始信号に対する応答信号をすることで、中央処理装置40と端末器のデータ通信手段の通信テストを行うことができる。 - 特許庁
A closed loop is formed to supply an output data of the digital filter 1 to an input side by multiplexers 2, 3 of the test device, a controller 8 sets the test data in the input side of the digital filter 1 under the condition where the closed loop is formed, and arithmetic processing is executed to carry out a functional test automatically.例文帳に追加
テスト装置19のマルチプレクサ2及び3によって、デジタルフィルタ1の出力データを入力側に与えるように閉ループを形成し、コントローラ8は、閉ループを形成した状態でデジタルフィルタ1の入力側にテストデータを設定し、演算処理を実行させて機能テストを自動的に行なう。 - 特許庁
When the value of the D flip flop 5 of the poststage is compared to be a high level or not by a test data output terminal 8, it can be discriminated whether the delay component 6 is larger than that of a test period, and the delay characteristic of a semiconductor integrated circuit can be guaranteed regardless of the outer load of the test data output terminal 8.例文帳に追加
よって、後段のDフリップフロップ5の値をテストデータ出力端子8でハイレベルか否かを比較すれば、遅延成分6がテスト周期よりも遅延成分が大きいか否かを判別でき、かつテストデータ出力端子8の外部負荷によらず半導体集積回路の遅延特性を保証することが可能である。 - 特許庁
When an address signal bit (A0-A19) and/or a data bit (DQ0-DQ15) are accessed in the prescribed pattern state by the prescribed number of times continuously, setting of a test mode can be performed, a test command indicating test operation contents are indicated by using an address signal bit and/or a data bit.例文帳に追加
アドレス信号ビット(A0−A19)および/またはデータビット(DQ0−DQ15)が所定のパターンの状態で所定回数連続的にアクセスされると、テストモードの設定が可能となり、テスト動作内容を指定するテストコマンドをアドレス信号ビットおよび/またはデータビットを用いてテスト内容を指定する。 - 特許庁
The drive ability of the tristate buffer 120 is set so as to provide a propagation delay time such that the scan test data outputted from the QT terminal is propagated to the scan test data input terminal DT of a scan test flip-flop circuit of the next stage and satisfactorily fetched and held therein as desired.例文帳に追加
このトライステートバッファ120の駆動能力は、QT端子から出力されるスキャンテスト用データが次段のスキャンテスト用フリップフロップ回路のスキャンテスト用データ入力端子DTに伝播されて所期通り良好に内部に取り込まれ、保持されるような伝播遅延時間となるような駆動能力に設定される。 - 特許庁
Then, a test mode B is designated by the switching signal TA/TB, to thereby switch the transfer switch 8 to the terminal B side, and the test input data are read out from the FIFO memory 2 and imparted to the logic block 1, and a processing result outputted from the logic block 1 is stored in the FIFO memory 2 as test output data.例文帳に追加
次に、切替信号TA/TBでテストモードBを指定して切替スイッチ8を端子B側に切り替え、FIFOメモリ2からテスト入力データを読み出して論理ブロック1に与え、この論理ブロック1から出力される処理結果をテスト出力データとしてFIFOメモリ2に格納する。 - 特許庁
The JTAG test system includes a test data collection section 3 for collecting test data in synchronization with a clock with a TAP controller, and a JTAG analysis software processing section, and has a TAP state analysis processing section for performing TAP state analysis between the TAP controller 1 and the collection section 3.例文帳に追加
TAPコントローラとクロックに同期してテストデータ収集を行うテストデータ収集部とJTAG解析ソフトウェア処理実行部とを含むJTAGテストシステムであって、TAPコントローラとテストデータ収集部の間に、TAPステート解析をリアルタイムで実行するTAPステート解析処理部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁
A simulator 20 inputs simulation data which shows an application 130 a predetermined testing condition in an ECU side communication IF120 in order to test whether the software of the ECU normally works or not, and obtains data of a result computed by the application 130 by using the simulation data, and a test result determining section inside a CPU board 210 determines a result of the test based on the computing result data.例文帳に追加
シミュレータ20は、ECUのソフトウェアが正常に作動するかを試験するために、アプリケーション130に所定の試験条件を示すシミュレーションデータをECU10側の通信IF120に入力し、そのシミュレーションデータを用いてアプリケーション130が演算した結果のデータを取得して、その演算結果データからCPUボード210内の試験結果判定部が試験結果を判定する。 - 特許庁
Test data for executing the state check of the ink cartridge is generated in accordance with the acquired kind of the ink cartridge (S105, S108, S111), and then the generated test data are transmitted to the printer 105 to print it out (S106, S109, S112).例文帳に追加
その取得したインクカートリッジの種別に応じて、そのインクカートリッジの状態確認を実行するためのテストデータを生成し(S105,S108,S111)、その生成したテストデータをプリンタ105に送信して印刷させる(S106,S109,S112)。 - 特許庁
To easily create data or evaluate a test operation for testing an automatic ticket gate under developing by performing an operation test of the automatic ticket gate under developing based upon processing data in an automatic ticket gate under operating.例文帳に追加
この発明は、稼動中の自動改札機での処理データに基づいて開発中の自動改札機の動作試験を行うことができ、開発中の自動改札機を試験するためのデータ作成や試験動作の評価を簡単に行うことが可能となる。 - 特許庁
A transmission quality measuring device 20 extracts voice data from the payload of a test packet when receives the test packet from a transmission quality measuring device 10, and queues the extracted voice data up to a predetermined limit volume.例文帳に追加
伝送品質測定装置20は、伝送品質測定装置10から試験パケットを受信すると、試験パケットのペイロードから音声データを抽出するとともに、抽出した音声データを予め設定された所定の制限量までキューイングする。 - 特許庁
This elevator controller is provided with a BKRAM 20 storing program of a site remodelling plan or specification data from the outside and a program part controlling an elevator and a test using test conditions related to the program or data in the BKRAM.例文帳に追加
エレベーターの制御装置において、外部から現地改造案のプログラム又は仕様データを記憶するBKRAMと、前記BKRAM内のプログラム又はデータと関連するテスト条件を使用して、エレベーターの制御とテストを制御するプログラム部を備える。 - 特許庁
Each bit error detecting means 21 receives demodulated data DA1 and a synchronizing signal SYN1 of a test signal TS from the digital broadcast receiver 30 and receives demodulated data DA2 and a synchronizing signal SYN2 of a test signal TS from a digital broadcast receiver 40.例文帳に追加
ビットエラー検出手段21は、デジタル放送受信器30からテスト信号TSの復調データDA1と同期信号SYN1とを受け、デジタル放送受信器40からテスト信号TSの復調データDA2と同期信号SYN2とを受ける。 - 特許庁
To provide a means capable of preventing disappearance of stored data of a memory cell during a discrimination period of output data even when a burn-in test is performed using a test device of low speed, for a DRAM operated by a packet system at high speed.例文帳に追加
パケット方式により高速で動作するDRAMに対して、低速のテスト装置を用いてバーンインテストを行う場合でも、出力データの判定期間中にメモリセルの記憶データが消失するのを防止することができる手段を提供する。 - 特許庁
During transmission of the image signal, the transmitting side transmits test data while changing the output level of the test data, and a transmitting condition detecting section 36 installed on the video processor 3 side measures error rates so as to detect a transmitting level at which the error rate changes as the transmitting condition of a signal.例文帳に追加
その際送信側はテストデータの出力レベルを変更して送信し、ビデオプロセッサ3側に設けられた伝送状態検出部36は、エラーレートを測定し、エラーレートが変化する伝送レベルを信号の伝送状態として検出する。 - 特許庁
A cyclic redundancy check (CRC) calculator 144 calculates a test CRC value that is a CRC value of a plurality of pictures constituting a moving image obtained by processing test stream data by a moving image processing device 110 for performing moving image processing including stream data decoding.例文帳に追加
CRC算出部144は、ストリームデータのデコードを含む動画像処理を行う動画像処理装置110がテスト用ストリームデータを処理して得た動画像を構成する複数のピクチャのCRC値であるテストCRC値を算出する。 - 特許庁
The calibration data generating part generates calibration data by verifying defocus amount outputted from a focus detection part at the focusing position of the photographic lens obtained in the focus control test with the focus control test as the reference of calibration.例文帳に追加
校正データ作成部は、焦点制御テストを校正の基準として、焦点制御テストの際に求めた撮影レンズの合焦位置において焦点検出部から出力されるデフォーカス量を検証することにより、校正データを作成する。 - 特許庁
To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.例文帳に追加
イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のATEに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁
The test device 1 generates N-sets of data packets given respective priorities 1,..., M, sequentially extracts K-sets of data packets at random and supplies them to K-sets of inputs of a relaying device 2 in parallel from K-sets of outputs of the test device 1.例文帳に追加
試験装置1において1...Mまでの各優先度を与えたデータバケットを、各優先度についてN個生成し、順次ランダムにK個のデータパケットをとりだして試験装置1のK個の出力より中継装置2のK個の入力に並列に供給する。 - 特許庁
The semiconductor device comprises an input terminal into which test pattern data is input in series at a first speed, and an output terminal that corresponds to the input terminal one to one and outputs test pattern data to the outside in series at a second speed different from the first speed.例文帳に追加
第1の速度でテストパターンデータが直列に入力される入力端子と、入力端子と一対一に対応し、第1の速度と異なる第2の速度でテストパターンデータを直列に外部に出力する出力端子と、を含む。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| Copyright © 1995-2026 Hamajima Shoten, Publishers. All rights reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
