「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

Expected values are stored in a data input latch 2 serving both as the data input latch of a memory used for usual operation and the data input latch of expected values of a test circuit, read data of the memory are stored in a data output latch 3 serving as both the output latch of the memory used for usual operation and the compared data latch.例文帳に追加

通常動作に使うメモリのデータ入力ラッチとテスト回路の期待値のデータ入力ラッチを兼用するデータ入力ラッチ２に期待値を記憶し、通常動作に使うメモリの出力ラッチとテスト回路の被比較データラッチを兼用するデータ出力ラッチ３にメモリのリードデータを記憶する。 - 特許庁

Further, the data bus line has a global data bus line and plural local data bus lines which can be connected to the above, in the case of such constitution that a pair of bit lines is connected selectively to the local data bus line, at the stress test mode, more data bus lines are connected to the global data bus lines than that of at the normal write-in mode.例文帳に追加

更に、データバス線が、グローバルデータバス線とそれに接続可能な複数のローカルデータバス線とを有し、ビット線対は、ローカルデータバス線に選択的に接続される構成の場合は、前記ストレス試験モード時に、通常の書き込みモード時より多くのローカルデータバス線がグローバルデータバス線に接続される。 - 特許庁

In a normal operation, the pre-fetch selector 26 sequentially outputs the first data and the second data at the data input/output terminal within one clock period, while in a test mode, the pre-fetch selector 26 determines whether the first data and the second data coincide with each other and outputs the determined result at the data input/output terminal within one clock period.例文帳に追加

プリフェッチセレクタ２６は、通常動作時においては第１のデータと第２のデータとをクロック周期の１周期内に順次データ入出力端子に出力し、テストモードでは第１のデータと第２のデータとが一致するか否かを判定し、判定結果をクロック周期の１周期内にデータ入出力端子に出力する。 - 特許庁

When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.例文帳に追加

任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁

The output circuit is configured to serially output the data bits to an external terminal at the first data transfer rate in a normal mode of operation, and to serially output the data bits to the external terminal at a second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate in a test mode of operation.例文帳に追加

出力回路は、正常モードでは、前記データビットを前記第１データ転送速度で外部ターミナルに直列に出力し、テストモードでは、前記第１データ転送速度より低い第２データ転送速度で前記データビットを前記外部ターミナルに直列に出力する。 - 特許庁

When the amount of data in a data queue for storing data ready for delivery is low, the thread scheduling of this system is modified to promote the thread of the device driver to give the test driver opportunity to place more data in the data queue for consumption by the application.例文帳に追加

配信の用意ができているデータを格納するためのデータキュー内のデータ量が少ない場合、システムのスレッドスケジューリングは、デバイスドライバのスレッドを促進するように変更され、アプリケーションによって消費するためのより多くのデータをデータキューに入れる機会をデバイスドライバに与える。 - 特許庁

The CPU 7, when executing the test program 81, compares the data prepared in the write source data area 82 in the main storage device 8 with the data in the readout data area 83 sent back by the FIFO 5 in the PCI data bus returning mechanism 2 connected to a PCI bus 101.例文帳に追加

ＣＰＵ７は試験プログラム８１の実行時に、主記憶装置８内の書込み元データエリア８２に用意されているデータと、ＰＣＩバス１０１ヘ接続されているＰＣＩバスデータ折返し機構２内のＦＩＦＯ５で折返された読出しデータエリア８３内のデータとを比較する。 - 特許庁

In the IC test data output system 1, a data processing means 10 receives IC inspection data in a batch from a memory IC, and the data is processed into data complying with respective output formats on the basis of respective programs matching the various output formats in an output device 30.例文帳に追加

ＩＣ試験データ出力システム１は、メモリＩＣのＩＣ試験データをデータ加工手段１０が一括して受け取り、出力装置３０における種々の出力形式に対応した各プログラムに基づいて、当該データを各出力形式に応じたデータに加工する。 - 特許庁

To provide a test method in which data is discriminated as defective data when phase difference between a reference clock and the data satisfies the prescribed conditions, in a semiconductor device in which a reference clock is outputted synchronizing with a read-out output of data, and this reference clock is used for delivery and reception of data.例文帳に追加

データの読み出し出力と同期して基準クロックを出力し、この基準クロックをデータの受渡しに供する半導体デバイスにおいて、基準クロックとデータとの間の位相差が所定の条件の満たすとき不良と判定する試験方法を提案する。 - 特許庁

A gradation correction data creator 303 compares the gray level between image data of a test image read out by means of a scanner 70 and the target gradation characteristic data acquired at the target gradation characteristic data acquisition section 302, and creates gradation correction data based on the comparison result.例文帳に追加

階調補正データ作成部３０３は、スキャナ装置７０により読み取られたテスト画像の画像データと目標階調特性データ取得部３０２により取得された目標階調特性データとの濃度の比較を行い、この比較結果に基づいて階調補正データを作成する。 - 特許庁

In a test-data output part 5, header data from a header-data generating part and data from any from among a counter 51, a fixed-data generating part 6 and an external input terminal 7 are input, and they are output as evaluation data DATA in accordance with the timing signal EN, so as to be supplied to the LSI 10 via a TS interface 9.例文帳に追加

試験用データ出力部５では、ヘッダデータ発生部８からのヘッダデータと、カウンタ５１、固定データ発生部６、外部入力端子７のいずれかからのデータが入力されて、タイミング信号ＥＮに従って評価用データＤＡＴＡとして出力され、ＴＳインタフェース９を介して１３９４ＬＳＩ１０に供給される。 - 特許庁

The test frame conversion part revises the transmission frame data received from the communication channel to convert the transmission frame data into frame data received by either of the first and second communication terminals in the case of carrying out the LAPD test and thereafter outputs the received frame data to either of the first and second communication terminals via the LAPD termination unit.例文帳に追加

試験フレーム変換部は、ＬＡＰＤ試験のとき、通信回線から入力される送信フレームデータを改編することによって、第１及び第２通信端末のいずれかの端末の受信フレームデータに変換し、しかる後ＬＡＰＤ終端部を介して、第１及び第２通信端末のいずれかに受信フレームデータを出力する。 - 特許庁

At the loop back test time, a clock signal selected by the clock selection circuit is used as a transmission clock, the transmission data is turned up by an input-output terminal and is input into a receiving circuit, data from the receiving circuit is input into the CDR circuit, and a comparing circuit compares reproduced data from the CDR circuit with expected value data, thereby performing the test.例文帳に追加

ループバックテスト時、クロック選択回路で選択されたクロック信号が送信クロックとして用いられ、送信データは入出力兼用端子にて折り返されて受信回路に入力され受信回路からのデータがＣＤＲ回路に入力され、比較回路はＣＤＲ回路からの再生データと期待値データの比較を行うことでテストが行われる。 - 特許庁

The learning device 1 learning the prediction model for predicting an output of test databased on an importance level that is a ratio of a generation probability between training data that are input data of training sample data and the test data includes a learning part 12 learning the prediction model by the use of an importance level weighted loss function that is a loss function wherein the importance level is considered.例文帳に追加

訓練サンプルデータの入力データである訓練データと、テストデータとの生成確率の比である重要度に基づき、テストデータの出力を予測するための予測モデルを学習する学習装置１であって、重要度を考慮した損失関数である重要度重み付き損失関数を用いて予測モデルの学習を行う学習部１２を有する。 - 特許庁

In the data collection system in which data detected at least by one slave station, are transmitted to the master station by radio, the system is provided with a radio communication environment diagnosis means in which the slave station transmits bit string data for predetermined test to the master station, and the master station returns the receiving result of the bit string data for the test to the slave station.例文帳に追加

少なくとも１台の子局で検出されるデータを無線により親局に送信するデータ収集システムにおいて、 前記子局より所定のテスト用ビット列データを前記親局の送信し、前記親局より前記テスト用ビット列データの受信結果を前記子局に返す、無線通信環境診断手段を備える。 - 特許庁

To provide a generating method for surname data and its generating device which put surname data of an individual name used for a system test close to a real distribution by using a surname of high appearance frequency, easily generate the data from a combination of character strings, and eliminates trouble even when a test result using the surname data is disclosed.例文帳に追加

システムテストで使用される個人名における姓データを、頻出度の高い姓を利用して現実の分布に近似させることと、文字列の組合せとから容易に生成し、この姓データを用いたテスト結果を開示してもトラブルが生じない姓データの発生方法及びその発生装置に関する技術を提供する点にある。 - 特許庁

A portable terminal device 1 collects test data of one subject by plural kinds of measuring instruments such as a blood sugar measuring instrument 2a, a sphygmomanometer 2b and transmits these plural kinds of test data to the data processing device 3a, etc., of a medical institution or the like in an order predetermined for each receiver, improving processing efficiency on the part of the data processing device.例文帳に追加

携帯端末装置１は、血糖計２ａ、血圧計２ｂ…の複数種類の測定装置による同一被測定者の測定データを収集し、これら複数種類の測定データを、送信先に応じて予め設定された順序で、医療機関等のデータ処理装置３ａ…へ送信することにより、データ処理装置側での処理効率を向上させる。 - 特許庁

This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.例文帳に追加

被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁

In this trace circuit 1 to output trace data of a CPU, a FIFO memory 20 as a memory for output adjustment to adjust timing of output of the trace data and a developing device 11 to convert access data of the CPU into bit width for one word of the FIFO memory and to generate the bit pattern data for test to be used for the test of the FIFO memory are provided.例文帳に追加

ＣＰＵのトレースデータを出力するトレース回路１において、トレースデータの出力のタイミングを調整する出力調整用メモリであるＦＩＦＯメモリ２０と、ＣＰＵのアクセスデータをＦＩＦＯメモリの１ワード分のビット幅に変換し、ＦＩＦＯメモリの試験に用いる試験用ビットパターンデータを生成する展開器１１とを有する。 - 特許庁

Further, another embodiment is possible in which a test pattern is formed on an intermediate transcript in a transfer system; the test pattern is read; and the speed variation data of the intermediate transcript is determined from the reading result for storing.例文帳に追加

また、転写方式において中間転写体にテストパターンを形成し、該テストパターンを読み取り、その読取結果から中間転写体の速度変動データを求め、記憶しておく態様も可能である。 - 特許庁

The burn-in test condition may be monitored to integrally manage data of nondefective-defective semiconductor integrated circuits on the wafer 24 in the burn-in test and those in the probe inspection.例文帳に追加

また、バーンイン試験の状態をモニタすることでバーンイン試験時のウェハ２４上にある各半導体集積回路の良否のデータとプローブ検査時の良否のデータとを統合管理することが可能となる。 - 特許庁

A file analyzing part 38 analyzes the original program and input/output data of the program, so as to specify a processing content and a processing characteristic, to generate a test case, and to determine the test result.例文帳に追加

ファイル解析部３８は、元のプログラムおよび当該プログラムの入出力データを解析することにより、処理内容および処理特性を特定し、テストケースの作成、テスト結果の判定を行う。 - 特許庁

To provide a test disk by which it can be verified whether an HDDVD drive can properly recognize the newest RMD (Recording Management Data), expansion of a drive test zone and a border.例文帳に追加

ＨＤＤＶＤドライブが、最新のＲＭＤを適正に認識できるか、ドライブテストゾーンが拡張されているか、および、ボーダの認識を適正に行えるかを円滑に検証できるテストディスクを提供する。 - 特許庁

A drawing control part 100 generates test image data and makes each printing element arranged on a printing head 122 of a printer 12 draw a test image for checking an operation state of the printing element.例文帳に追加

描画制御部１００が試験画像データを生成し、印刷装置１２の印字ヘッド１２２に配列された各印字素子に、印字素子の動作状態を確認するための試験画像を描画させる。 - 特許庁

To enable a user to easily register test data which is transmitted to a process control computer, and to enable a user to perform a test even if the operation condition is not the same as that of an existing computer or no existing computer is present.例文帳に追加

プロセス制御用計算機に送信するテストデータを簡単に登録でき、しかも既設計算機とは運転状況が異なる場合や既設計算機がない場合でもテストを行えるようにする。 - 特許庁

To reduce a storage capacity for information about a test of a reception state of a data frame and the test time and to obtain distribution frequencies of information such as a transmission interval between frames and a frame length.例文帳に追加

データフレームの受信状態の試験に関する情報の記憶容量削減と試験時間短縮を図るとともに、フレーム間の送信間隔やフレーム長などの情報の分布頻度を知得する。 - 特許庁

To shorten a test time of a boundary scan circuit, by shortening a time for setting test data before execution of an Extest instruction and setting an instruction code for the Extest instruction in the boundary scan circuit.例文帳に追加

バウンダリスキャン回路において、Ｅｘｔｅｓｔ命令実行前のテストデータの設定とＥｘｔｅｓｔ命令の命令コードの設定時間を短縮し、バウンダリスキャン回路のテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

In the semiconductor storage device, sense amplifiers SA1-SAn, a switch part YSW4, and an input/output control circuit IOC are activated for a test cell to read data out of the test cell first (process 1).例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置では、（処理１）まず、テストセルに対してセンスアンプＳＡ１〜ＳＡｎとスイッチ部ＹＳＷ４と入出力制御回路ＩＯＣとを活性化させて、テストセルからデータを読み出す。 - 特許庁

Test data recorded in a test area are reproduced by changing laser power, and the range of the laser power that an error rate of a reproduced signal is lowered than a prescribed value, is set as the effective range of the reproducing laser power (step S1).例文帳に追加

テスト領域に記録されたテストデータをレーザパワーを変えて再生し、再生信号のエラーレートが所定値より小さくなるレーザパワーの範囲を再生レーザパワーの有効範囲とする（ステップＳ１）。 - 特許庁

Classes includes a procedure class, a test class, a measurement class, a datapoint class, a parameter class, a DUT (data use technology) class, a test system class, a specification class, a run procedure class, a result class, a plug-in class, an exec class, as well as other classes.例文帳に追加

クラスは、プロシージャクラス、試験クラス、測定クラス、データポイントクラス、パラメータクラス、ＤＵＴクラス、テストシステムクラス、仕様クラス、起動プロシージャクラス、結果クラス、プラグインクラス、ｅｘｅｃクラス、およびその他のクラスを含む。 - 特許庁

A test pattern image to correct the ink density discharged by the discharge nozzles is read by an optical sensor in a lower reading resolution than a nozzle resolution, and an ink density distribution is prepared by acquiring test pattern image data.例文帳に追加

吐出ノズルが吐出するインクの濃度を補正するためのテストパターン画像を、光学センサがノズル解像度よりも低い読取解像度で読み取り、テストパターン画像データを得てインク濃度分布を作成する。 - 特許庁

Then the macro common test pattern is read out of the storage part 21 in sequence and converted with the above-mentioned data for conversion to generate a macro test pattern for product, which is written to a storage part 27.例文帳に追加

次に、マクロ共通テストパタンを記憶部２１から順次読み出し、読み出したパタンを、上述した変換用データによって変換して製品用マクロテストパタンを作成し、記憶部２７に書き込む。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 1 is provided with: a plurality of memory modules M1-M4; and a test control circuit L3 for controlling write or read of test data in the plurality of memory modules M1-M4.例文帳に追加

半導体集積回路１は、複数のメモリモジュールＭ１〜Ｍ４と、前記複数のメモリモジュールＭ１〜Ｍ４におけるテストデータの書き込み又は読み出しを制御するテスト制御回路Ｌ３とを備えている。 - 特許庁

To provide a test specification preparing system for automatically preparing a test specification from the data of a program specification or a control flow chart prepared based on a source program by a reverse engineering tool by a computer.例文帳に追加

たとえばリバースエンジニアリングツールによってソースプログラムをもとに作成されたプログラム仕様書や制御フロー図のデータからテスト仕様書をコンピュータで自動作成するテスト仕様書作成システムを提供する。 - 特許庁

An adaptation of a test data register (TDR) structure defined by the IEEE 1149.1 Joint Test Action Group (JTAG) interface standard is carried out to provide a debugging path.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１１４９．１ Ｊｏｉｎｔ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ（ＪＴＡＧ）インターフェース標準によって定義されるテスト・データ・レジスタ（ＴＤＲ）構造を適合させて、デバッグ・パスを提供する。 - 特許庁

After power supply voltage drop completion in a power supply domain D113, the test control section 103 transmits a test pattern through the address/data bus 101 to the functional circuit block D109 and compares a result with an expected value.例文帳に追加

電源ドメインＤ１１３の電源電圧降圧完了後、テスト制御部１０３は、アドレス／データバス１０１を介して機能回路ブロックＤ１０９にテストパターンを送信し、その結果を期待値と比較する。 - 特許庁

Hereby, selector circuits SEL1, 2 can pass a test enable signal TEB0 generated by a sequencer SQ and test output data TOUT0 instead of a signal from an internal circuit.例文帳に追加

これにより、セレクタ回路ＳＥＬ１、２は内部回路からの信号に代えシーケンサＳＱで生成されたテストイネーブル信号ＴＥＢ０とテスト出力データＴＯＵＴ０を通過させることができるようになる。 - 特許庁

A signal processing unit compiles the selected power level of the selected segment together with the test signal and generates digital data indicating the test signal having the amplitude noises to the selected segment.例文帳に追加

信号処理ユニットは、選択されたセグメントの選択されたパワー・レベルを試験信号とともにコンパイルして、選択されたセグメントに振幅ノイズを有する試験信号を表すデジタル・データを生成する。 - 特許庁

A multifunction printer 10 after repeatedly sending out a test command receives data transmitted through IrSimple unidirectional communication from a mobile phone 80 having received the test command.例文帳に追加

マルチファンクションプリンタ１０では、テストコマンドを外部に向かって繰り返し発信したあと、該テストコマンドを受信した携帯電話８０からＩｒＳｉｍｐｌｅ単方向通信により送信されてくるデータを受信する。 - 特許庁

To obtain a test circuit for a one-chip microcomputer which outputs state changes in microcomputer peripheral functions to be tested to the outside of the microcomputer through an output terminal for test without using an address bus and a data bus.例文帳に追加

テスト対象となるマイコン周辺機能の状態変化に対しては、アドレスバス、データバスを利用することなく、テスト用出力端子を通じてマイコンの外部に出力するワンチップマイコンのテスト回路を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which test can be performed easily keeping high confidence in test for the semiconductor integrated circuit having confidential data such as key for cipher and personal information inside.例文帳に追加

暗号用の鍵や個人情報などの秘匿データを内部に持つ半導体集積回路の検査において、高い秘匿性を維持しながらその検査を容易に行える半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In addition, the control unit executes the test and adjustment result analysis program to analyze the resultant data of the test and adjustment by the radio device measuring instrument, and performs self adjustment and self analysis to check whether there is a fault or not.例文帳に追加

また、制御部は、試験調整結果分析プログラムを実行して、前記無線機測定器による試験・調整の結果のデータを分析し、自己調整及び故障の有無の自己診断を行う。 - 特許庁

The allowable range is set in order to prevent erroneous diagnosis based on the difference in the volume of information between the test pattern printed by means of the printer and the test pattern data taken in by means of the image scanner.例文帳に追加

許容範囲は、プリンタにより印刷されたテストパターンとイメージスキャナにより取り込まれたテストパターンデータとの情報量の違いに基づく誤診断を防止するために設定される範囲である。 - 特許庁

The test execution part 105 executes a test to an application, which is generated by a developer based on the transitional screen design data and loaded in a device 110 to be tested, to determine whether the screen transition is successful.例文帳に追加

テスト実行部１０５は、遷移画面設計データに基づき開発者により作成され、テスト対象装置１１０に実装されたアプリケーションに対し、テストを実行し、画面遷移の成否を判定する。 - 特許庁

When receiving the retransmission request from the management server 50, the communication facilities read the test result data in response to the retransmission request from a test result storage DB and transmit them to the management server 50.例文帳に追加

通信設備は、管理サーバ５０からの再送要求を受信すると、当該再送要求に応じた試験結果データを試験結果格納ＤＢから読み出して管理サーバ５０へ送信する。 - 特許庁