「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

Also, the CPU 11 creates concrete quality test result table image data having a display column for displaying the extracted placement information, and an input column for inputting the quality test result by an inputting device 14 as a result table image data creation means.例文帳に追加

また、ＣＰＵ１１は、結果表画像データ作成手段として、抽出された打設情報を表示する表示欄と、品質試験結果を入力装置１４により入力可能な入力欄と、を備えるコンクリート品質試験結果表画像データを作成する。 - 特許庁

In each inspection, based on servo patterns recorded on each face, the inspection apparatus performs positioning of a magnetic head corresponding to the respective faces and recording of test data, and detects deficiency due to the defects of a magnetic layer from the results obtained by reproducing the test data.例文帳に追加

それぞれの検査では、それぞれの面に記録されたサーボ・パターンに基づいてそれぞれに対応する磁気ヘッドの位置決めおよびテスト・データの記録を行い、このテスト・データを再生して得た結果から磁性層の欠陥に起因する不具合を検出する。 - 特許庁

It is possible to unify address scanning directions of the respective memories with respect to the test address information in a particular direction according to the bit arrangement unique to each memory by supplying the test data information to a plurality of the memories with the different access data widths in parallel.例文帳に追加

アクセスデータ幅の異なる複数のメモリに対してテストデータ情報を並列に供給することができ、テストアドレス情報に対する夫々のメモリにおけるアドレススキャン方向を固有のビット配列にしたがって特定方向に統一することが可能になる。 - 特許庁

A write-driver circuit 1090 gives write-in data of which level is reversed every write-in cycle to a selected memory cell based on write-in data held in a latch circuit 1073a at the point of time at which write-in operation in a test operation mode is specified, in a test operation mode.例文帳に追加

ドライバ回路１０９０は、テスト動作モードにおいては、テスト動作モードにおける書込動作が指定された時点で、ラッチ回路１０７３ａに保持された書込データに基づいて、書込サイクルごとにレベルが反転する書込データを選択されたメモリセルに与える。 - 特許庁

To realize a memory module in which electrical an assembly check of a memory device and a test for write-in and read-out operations of simple data can be performed with an inexpensive tester, the number of input/output pins for test is small and data input/output characteristics of a memory device is not deteriorated.例文帳に追加

安価なテスタでメモリデバイスの電気的なアセンブリチェックと簡単なデータの書き込みおよび読み出し動作の検査とが行え、検査用の入出力ピン数が少なく、メモリデバイスのデータの入出力特性を悪化させないメモリモジュールを実現する。 - 特許庁

To simplify a structure of each terminal in a network and to realize a high-speed post process, in a medical image data acquisition system scanning a test subject, obtaining data on a structure inside the test subject to obtain the tomographic image, connected to the network.例文帳に追加

被検体をスキャンして被検体内の構造に関するデータを得てその断層像を得る医療用画像データ取得システムがネットワークに接続されているシステムにおいて、当該ネットワーク上の端末の構成を簡単なものとしつつ、高速な後処理を実現する。 - 特許庁

This USB optical time-domain reflection test equipment comprises an optical time-domain reflection test module for testing an optical fiber, and a USB module which is connected to the optical time-domain reflection test module, provides power to the optical time-domain reflection test module from outside, performs control so that the optical time-domain reflection test module tests the optical fiber, and collects data.例文帳に追加

本発明のＵＳＢ光時間領域反射テスト装置は、光ファイバーをテストする光時間領域反射テストモジュールと、前記光時間領域反射テストモジュールと接続され、外部から前記光時間領域反射テストモジュールに電源を提供し、前記光時間領域反射テストモジュールが前記光ファイバーのテストを行うように制御し、また、データの収集を行うＵＳＢモジュールとを含む。 - 特許庁

In an optical recording device having two or more pickups, with each pickup makes test writing deciding the optimum power for each by test writing, the test data thus written are read over the whole test writing area by using only one pickup assigned, in advance, from among the pickups to calculate the β value.例文帳に追加

複数のピックアップを有する光ディスク記録装置において、試し書きにより各ピックアップの最適レーザーパワー値を決定する時、試し書き各ピックアップが行い、ベータ値を計算するために試し書きされたデータの読み取りは複数のピックアップの内予め決めておいた一つのピックアップを使って、すべての試し書き領域のデータを読み取る。 - 特許庁

In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).例文帳に追加

複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁

In this event, the controller 24 previously estimates, via a useful life estimation part 35, the useful life of the inspecting object component based on the material characteristics and fatigue characteristics of the inspecting object component that is the test specimen 15, and determines test conditions for performing fatigue test on the test specimen 15 based on useful life estimation data obtained as the result of the estimation.例文帳に追加

その際、制御装置２４では、寿命予測部３５を通じて予め供試体１５の検査対象となる部品の材料特性および疲労特性に基づいて当該検査対象部品の寿命を予測し、その予測結果として得られた寿命予測データに基づいて供試体１５を疲労試験する際の試験条件を決定する。 - 特許庁

This tester 50 comprises a test signal generator 51 generating a test signal of a sine sweep waveform imitating an output signal of the torque sensor 5, a master controller 10M generating a drive signal corresponding to the test signal generated by the signal generator 51 to supply it to the electric motor M, and a data logger 52 for monitoring the test signal and a torque signal.例文帳に追加

試験装置５０は、トルクセンサ５の出力信号を模擬したサインスィープ波形の試験信号を発生する試験信号発生器５１と、この試験信号発生器５１が発生する試験信号に応じた駆動信号を発生して電動モータＭに供給するマスタコントローラ１０Ｍと、試験信号およびトルク信号をモニタするデータロガ５２とを含む。 - 特許庁

Also, when the control section generates the screen data, it enlarges or reduces the test pattern to change the size so that the size of the test pattern to be displayed on each the changeover screen has a ratio of 10% to the size of the display screen and sets the driving level of a background region to make the background region of the test pattern have the intensity level corresponding to the test pattern.例文帳に追加

また、画面データを生成する際には、各切替画面において表示するテストパターンのサイズが表示画面のサイズに対して１０％の比率となるように、テストパターンを拡大又は縮小してサイズ変更するとともに、テストパターンの背景領域がそのテストパターンに対応する輝度レベルとなるように背景領域の駆動レベルを設定する。 - 特許庁

Plural test patterns are recorded (step S2) on the basis of image data corrected by a partially different correction value α, a test pattern that looks smoothest from among the test patterns is selected visually, a number corresponding to it is inputted (step S3), and a γ-table corresponding to the number is updated as the γ-table for image data correction (step S4).例文帳に追加

部分的に異なる補正値αによって補正された画像データに基づいて、複数のテストパターンを記録し（ステップＳ２）、それらのテストパターンの中から、最も平滑に見えるテストパターンを目視により選択して、それに対応する番号を入力し（ステップＳ３）、その番号に対応するγテーブルを画像データ補正用γテーブルとして更新する（ステップＳ４）。 - 特許庁

The memory module includes a plurality of memory chips and a plurality of comparison units which are arranged within a plurality of memory chips respectively, test a plurality of test data bits outputted from a plurality of memory blocks in each inside of the plurality of memory chips and output the test data outputted from any one among the plurality of memory blocks.例文帳に追加

複数個のメモリチップ、前記複数個のメモリチップの各々の内部にそれぞれ配置され、前記複数個のメモリチップの各々の内部の複数個のメモリブロックから出力される複数ビットのテストデータをテストし、前記複数個のメモリブロックのうち何れか一つから出力されるテストデータを出力する複数個の比較部を備えるメモリモジュール。 - 特許庁

The test print colorimeter comprises a mount 20 on which the test print T can be mounted, a drive mechanism 24 for rotating the mount 20, a colorimetric sensor 26 for measuring the density of each patch 22a formed on the test print T, and a colorimetric data acquisition part 8a for acquiring colorimetric data via the colorimetric sensor 26 as the mount 20 is rotated.例文帳に追加

テストプリントＴを載置する載置台２０と、この載置台２０を回転駆動させる駆動機構２４と、テストプリントＴに形成されている各パッチ２２ａの濃度を測色する測色センサー２６と、載置台２０を回転駆動させながら、測色センサー２６により測色データを取得する測色データ取得部８ａと、を備えている。 - 特許庁

The electronic apparatus 100 brings a configuration device 2 to write configuration data (logic circuit information) which are stored in a memory device 1, into the programmable device, and a programmable region of the programmable device is equipped with a first test circuit 5 for carrying out a test in order to determine the termination of the configuration, and circuit information of the first test circuit 5 is contained in the configuration data.例文帳に追加

電子機器１００は、記憶デバイス１に記憶されたコンフィギュレーションデータ（論理回路情報）をコンフィギュレーションデバイス２によりプログラマブルデバイスに書き込み、プログラマブルデバイスのプログラマブル領域に、コンフィギュレーションの終了を判断するためのテストを行う第１のテスト回路５を備え、コンフィギュレーションデータには、第１のテスト回路５の回路情報が含まれている。 - 特許庁

Since the GPS satellite radio waves for test are generated on the basis of the GPS information, and the travel data is related to the GPS satellite radio waves for test and reproduced, it is possible to heighten accuracy in test results when overall communication performance and a navigation system are tested.例文帳に追加

ＧＰＳ情報に基づいて試験用のＧＰＳ衛星電波が発生させられ、該試験用のＧＰＳ衛星電波に対応させて走行データが再生されるので、通信性能及びナビゲーションシステムの全体の試験を行ったときの試験結果の精度を高くすることができる。 - 特許庁

Moreover, though the measuring apparatus 30 calculates the electric field strength under the test condition to be a test result from the output level of an amplifier 20, conversion data for it can be generated automatically, by using an electric field strength measuring appliance 8 installed at an installation place for the instrument 4, before a test.例文帳に追加

また、測定装置３０は、試験結果となる各試験条件下での電界強度を、増幅器２０の出力レベルから算出するが、その換算データは、試験前に、供試機器４の設置場所に設置した電界強度測定器８を利用して、自動生成できる。 - 特許庁

To make it possible to evaluate wear and tear, and performance degradation of a test disk by judging whether the performance of the test disk for testing a disk device for recording and reproducing information data on/from an optical disk is good, and also to evaluate performance degradation of a test disk evaluation device itself.例文帳に追加

光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるようにする。 - 特許庁

In addition, from read image data, a primary differentiated value of gradation value at the corresponding position of the test pattern and at an adjoining read pixel position is calculated (S84), and a test pattern arrangement possibility (adaptability) of the test pattern to a candidate position of the less than 1-pixel unit of the read pixel pitch is derived from the primary differentiated value (S86).例文帳に追加

また読取画像データから、テストパターンの対応位置及び隣接読取画素位置における階調値の一次微分値を算出し（Ｓ８４）、読取画素ピッチの１画素未満単位の候補位置に対するテストパターンのテストパターンの配置可能性（適合度）を一次微分値から導出する（Ｓ８６）。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

A PDF (Portable Document Format) file for an online test is downloaded in a participant's terminal 31 through the WWW (World Wide Web) server 11 of a server computer 10, a test shown by the file is started, and at the end of the test, answer data on every question are returned to the server computer 10 (S4-S5).例文帳に追加

サーバ計算機１０のＷＷＷサーバ１１により受講者の端末３１にオンラインテスト用のＰＤＦファイルがダウンロードされて、当該ファイルの示すテストが開始され、テスト終了時には、設問毎の解答データがサーバ計算機１０に返される（Ｓ４〜Ｓ６）。 - 特許庁

The management computer 21 specifies the worker executing a peer review or a test on the basis of a peer review skill or a test execution skill of a skill data storage part 32 and the difficulty of the changed program, and transmits an electronic mail instructing the execution of the test or the peer review to an electronic mail address of the worker.例文帳に追加

そして、変更されたプログラムの難易度とスキルデータ記憶部３２のピアレビュースキル又はテスト実施スキルとに基づいて、ピアレビュー又はテストを実施する作業者を特定し、この作業者の電子メールアドレスに、ピアレビュー又はテストの実施を指示する電子メールを送信する。 - 特許庁

A controller of a unit for writing and reading data to and from the optical disk, sets up all the 27 write strategies stored in a write strategy memory 152, and test writes each test signal by changing in order in a predefined period in the test area of the optical disk with an optimum power.例文帳に追加

光ディスクに対してデータを記録再生する装置の制御部は、ライトストラテジメモリ部１５２に記憶されている全２７通りのライトストラテジを設定し、光ディスクのテスト領域に最適記録パワーで各テスト信号を所定期間ずつ切り替えながら順次試し書きする。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

制御部１１は、Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

The memory test circuit is arranged in an on-chip-memory and performs a high speed test of the on-chip-memory, and is provided with two dummy memory cells in which a high level and a low level are stored previously, and a control circuit controlling an operation of reading of respective data from two dummy memory cells at the high speed test.例文帳に追加

メモリテスト回路は、オンチップメモリ内に配置され、オンチップメモリの高速テストを行うもので、各々ハイレベルおよびローレベルがあらかじめ記憶された２つのダミーメモリセルと、高速テスト時に、２つのダミーメモリセルから各々データのリードを行うことを制御する制御回路とを備えている。 - 特許庁

Test address information (TEST ADDR) is for designating an address (address on memory module 131) where an error is desired to be generated, and when the test address information coincides with the value of the address (MEM ADDRESS), the module 132 executes a data change processing operation.例文帳に追加

テストアドレス情報（ＴＥＳＴ＿ＡＤＤＲ）はエラーを発生させたいアドレス（メモリモジュール１３１上の番地）を指定するためのものであり、これが有効メモリアドレス（ＭＥＭ＿ＡＤＤＲＥＳＳ）の値と一致した時に、エラー制御モジュール１３２によってデータ変更処理動作が実行される。 - 特許庁

This optical disk has a data storage area and a test writing area to be used to adjust the power of the laser used for writing, and it is also provided with a test writing control area to write and control the information about the test writing area.例文帳に追加

データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクで、前記試し書き領域に関する情報を記録し、前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域を有する光ディスクとする。 - 特許庁

To realize a communication simulator capable of remarkably reducing man-hour to be required for the construction of communication simulation environment, enhancing the efficiency of a communication test, altering data even in execution environment of the communication test and easily performing the analysis of a test result.例文帳に追加

通信シミュレーション環境の構築に要する工数を大幅に削減でき、通信テストの効率を向上させることができ、通信テストの実行環境でもデータの変更が可能で、しかもテスト結果の解析を容易に行うことができる通信シミュレータを実現する。 - 特許庁

A fast clock generating circuit, which generates fast clock signal of half a cycle of clock signal during normal operation and a fast data generation circuit, which generates fast scan data of half a cycle of scan data used for a scan path test are provided, and a scan path test is carried out by fast clock signal generated by a fast clock generation circuit and fast scan data generated in the fast data generation circuit.例文帳に追加

通常動作時のクロック信号の半分の周期の高速クロック信号を生成する高速クロック生成回路と、スキャンパステストに使用するスキャンデータの半分の周期の高速スキャンデータを生成する高速データ生成回路とを設け、高速クロック生成回路で生成した高速クロック信号および高速データ生成回路で生成した高速スキャンデータによってスキャンパステストを行うように構成したものである。 - 特許庁

First, test data are transferred using an UDP, and if desired throughput cannot be obtained, it is determined the empty area is the bottleneck.例文帳に追加

始めにＵＤＰを用いて試験データを転送し、所望のスループットが得られないときは空き帯域がボトルネックであると判定する。 - 特許庁

Thus, the user data are sent/received between the service terminals 60-80 and a wireless base station 50 to conduct a counter test of the service.例文帳に追加

これにより、サービス端末６０〜８０と無線基地局５０との間でユーザデータを送受信して当該サービスの対向試験を行う。 - 特許庁

When the input image data indicate printing of a color test chart, a process corresponding to the amount of coloring materials in use is determined (S114-116).例文帳に追加

入力画像データがカラーテストチャートの印刷を示す場合、色材の使用量に応じた処理を決定する（Ｓ１１４−１１６）。 - 特許庁

To provide an image data rotation processing apparatus where the number of SRAMs in use is small, the circuit scale is small and the number of external test terminals is small.例文帳に追加

使用するＳＲＡＭの数が少なく、回路規模が小さく、テスト用の外部端子が少ない画像データ回転処理装置を得る。 - 特許庁

Based on the error data obtained by the test, the setting is revised to the write timing which generates no color shift to enable high quality print output.例文帳に追加

テストで得た誤差データをもとに、色ずれの生じない書き込みタイミングに設定を変更し、高品質の印刷出力を可能とする。 - 特許庁

Inspection is made more reliable by allowing information data on the test contents to be written and stored in portable information terminal device.例文帳に追加

検査において、携帯型情報端末装置に検査内容の情報データを書き込み保持させる事により、検査を確実にしている。 - 特許庁

When jitter, βvalue, modulation degree and asymmetry or the like are used as the parameters, the characteristics are obtained by reproducing recorded data after the test recording.例文帳に追加

パラメータとして、ジッタ、β値、変調度、アシンメトリーなどを使用する場合には、テスト記録後にテスト記録データを再生して特性を得る。 - 特許庁

The facsimile equipment that has received the test data transmits a non standard device signal NSF and a digital identification signal DIS to the transfer source.例文帳に追加

このテストデータを受信したファクシミリ装置は、非標準装置信号ＮＳＦとディジタル識別信号ＤＩＳを転送元に送信する。 - 特許庁

After write-in request command signal is inputted to a memory device 46 of a packet system, a test data signal is written in the memory device 46.例文帳に追加

書込み要求コマンド信号がパケット方式のメモリデバイス４６に入力された後、テストデータ信号がメモリデバイス４６に書き込まれる。 - 特許庁

To provide an abrasion test piece and an abrasion tester, capable of uniformly setting a surface pressure on an abrasion surface and reliably obtaining data.例文帳に追加

摩擦面の面圧を均一に設定して信頼性の高いデータを得ることができる摩耗試験片及び摩耗試験機の提供。 - 特許庁

To provide a data storage device, which has a cache function of continuing hit test of hardware using a controller.例文帳に追加

ハードウェアのコントローラによるヒット判定を継続的に実行できるキャッシュ機能を実現したデータ記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

To perform a quick and accurate degradation test using real data with respect to a service to be provided on a daily basis or the huge patch of an OS.例文帳に追加

日々提供されるサービスやＯＳの膨大なパッチに対して、リアルデータを使用した迅速かつ確実な退行テストを実施する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.例文帳に追加

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁

Test signals oscillated by a radio frequency or RF oscillator 221 are directly inputted into a data acquisition part 24 through a signal transmission part 222.例文帳に追加

ＲＦ発振器２２１により発振されたテスト信号を信号送信部２２２を介して直接データ収集部２４に入力される。 - 特許庁