「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an information management apparatus capable of efficiently specifying a test that needs to be retested while reducing a data amount to be stored.例文帳に追加

記憶すべきデータ量を低減させつつ、再試験が必要となるテストを効率よく特定することができる情報管理装置を提供する。 - 特許庁

In the BIST circuit 8, a control circuit 81 is provided which writes burn-in test data to a predetermined storage area of the storage circuit 7.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路８内には、バーンインテスト用データを記憶回路７の所定の記憶領域に書き込む制御回路８１が設けてある。 - 特許庁

Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加

テスト動作時にＴＩＮ端子から入力された回路モジュール２_4のテストデータがスキャンセル３_1,1 〜３_1,4 ，３_2,1 〜３_2,4 ，３_3,1 〜３_3,4 ，３_4,1 〜３_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁

The dropping condition data are read from the memory part 3f by the control part 3g and a series of corrosion test operations are perform by the control part 3g.例文帳に追加

記憶部３ｆから制御部３ｇが滴下条件情報を読み出して制御部３ｇが一連の腐食試験動作を実行する。 - 特許庁

After the power of laser light is adjusted by test write in a power calibration area (PCA) of the optical disk, data is erased from the power calibration area.例文帳に追加

光ディスクの試し書き領域（ＰＣＡ）で試し書きを行いレーザ光のパワーを調整した後、試し書き領域のデータを消去する。 - 特許庁

To provide a customer identification system utilized to identify a customer by storing the data of iris which can be acquired simultaneously with sight test.例文帳に追加

視力測定と同時に取得できる虹彩のデータを保存して、顧客を特定するために利用する顧客特定システムを提供する。 - 特許庁

Subsequently, a displacement characteristic on and after a simple elastic deformation area, i.e., a second displacement characteristic is calculated on the basis of tension test result data (S20).例文帳に追加

続いて、引張試験結果データに基づいて、単純弾性変形領域以降の変位特性、第二変位特性を算出する（Ｓ２０）。 - 特許庁

To suppress an increment of a circuit area by evading an increment of a scale of a circuit such as a data transfer control circuit even if a kind of a test increases.例文帳に追加

テストの種類が多くなってもデータ転送制御回路等の回路規模の増大を回避して、回路面積の増大を抑制する。 - 特許庁

An optical communication control apparatus 22 of the master causes the slave to transmit test data at predetermined times for each setting of the delay line to determine the presence or absence of an error.例文帳に追加

マスタの光通信制御部２２は、ディレイラインの設定値毎にスレーブからテストデータを所定回数送信させ、エラーの有無を判定する。 - 特許庁

The processor 330 is programmed to test for the presence/absence of a controller module 340 through each of the plurality of data ports.例文帳に追加

プロセッサ３３０は、交互に、これらの複数のデータ・ポートのそれぞれを通じてコントローラ・モジュール３４０の有無をテストするようにプログラムされている。 - 特許庁

An erasure pointer generating unit 132j in a read channel generates the erasure pointer pointing out a position of an error in the reproduced test data.例文帳に追加

リードチャネル１３２内のイレージャーポインター生成器１３２ｊは、再生されたテストデータ中の誤りの位置を示すイレージャーポインターを生成する。 - 特許庁

And when data of the noticing cell Sx is read out, a word line WLx and a pass word line WLy are simultaneously selected by a test mode.例文帳に追加

そして、注目セルＳｘのデータを読み出す際には、テストモードにより、ワード線ＷＬｘと通過ワード線ＷＬｙとを同時に選択する。 - 特許庁

A difference arithmetic section 92 obtains a difference of video data between the full black image and the test pattern image and output from the imaging element control section 91.例文帳に追加

撮像素子制御部９１から出力された全黒画像とテストパタン画像の映像データの差が差分演算部９２により求められる。 - 特許庁

The sense amplifier compares the test current flowing through the bit lines with a reference current, and outputs output data corresponding to the result of the comparison.例文帳に追加

センスアンプは、ビット線を流れるテスト電流とリファレンス電流との比較を行い、当該比較の結果に応じた出力データを出力する。 - 特許庁

Using an exposure mask form, based on a prescribed pattern data, a test pattern is formed on different bases on a semi conductor substrate (S10-S12).例文帳に追加

所定のパターンデータに基づいて形成した露光マスクを用いて半導体基板上の異なる下地にテストパターンを形成する（Ｓ１０〜Ｓ１２）。 - 特許庁

The test circuit (340) has a bidirectional switch arranged at each of multiple data lines and a control means for controlling switching of the switch.例文帳に追加

検査回路（３４０）は、複数のデータ線の各々毎に設けられた双方向性スイッチと、そのスイッチの開閉を制御する制御手段とをもつ。 - 特許庁

In S14, timing is started in accordance with the performance of the test writing data transfer in S32, and in S15, the timing is finished by completion processing in S33.例文帳に追加

Ｓ３２の試し書きデータの転送の実行に伴いＳ１４で計時を開始し、完了処理Ｓ３３によりＳ１５で計時を終了する。 - 特許庁

A plurality of circuit blocks without data path dependence with one another include: scan flip-flops for forming a scan chain in a scan test; and combination circuits.例文帳に追加

互いにデータパス依存性のない複数の回路ブロックは、スキャンテスト時にスキャンチェーンを形成するスキャンフリップフロップと組み合わせ回路とを含む。 - 特許庁

And it is outputted from Q terminals of the scan cells 34,1 to 34,4 to the digital circuit module 24 and the digital circuit module operates on the basis of the test data.例文帳に追加

そして、スキャンセル３_4,1 〜３_4,4 のＱ端子からデジタル回路モジュール２_4 に出力され、デジタル回路モジュール２_4 がテストデータに基づいて動作する。 - 特許庁

To provide an algorithm pattern generator for a memory element test and enabling to optimize the constitution of a memory tester that includes address scrambling and data scrambling.例文帳に追加

アドレススクランブリング及びデータスクランブリングを含んでメモリテスタの構成を最適化できるメモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器を提供する。 - 特許庁

In test printing processing, a CPU issues an identification number, associating it to file data of a printing object in ascending order (step S20).例文帳に追加

テスト印刷処理において、ＣＰＵは、印刷対象となるファイルデータに対応付けて識別番号を昇順的に発行する（ステップＳ２０）。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of efficiently performing a test print with the number of records being smaller than that of all records of variable data printing (VDP).例文帳に追加

本発明は、ＶＤＰの全レコード数に比べて少ないレコード数で効率的なお試し印刷が可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The specific contents data for test viewing are sent from the transmission device (center) 1970 to a terminal device 1971 and stored in a storage means.例文帳に追加

送信装置（センタ）１９７０から、所定の試し視聴用のコンテンツデータが端末装置１９７１に送られ、蓄積手段に蓄積される。 - 特許庁

The SAM control tool 222 transmits data, such as command to the IC chip 311 from the SAM 271 via a driver 251, or the like, in accordance with the test script 241.例文帳に追加

SAM制御ツール２２２は、テストスクリプト２４１に従って、SAM２７１から、ICチップ３１１へのコマンドなどのデータを、ドライバ２５１等を介して送信する。 - 特許庁

Then, the head position of the actually recorded area of the test data is detected based on a signal obtained from the recording area (step 411).例文帳に追加

次に記録領域から得られる信号に基づいてテストデータが実際に記録された領域の先頭位置が検出される（ステップ４１１）。 - 特許庁

To provide a test system enabling an operator to measure the concentration of a specimen in patient's body fluid sample and store measured data.例文帳に追加

操作者が患者の体液サンプル中の検体の濃度を測定し、測定データを蓄積することを可能にする試験システムを提供する。 - 特許庁

The automatic noninvasive blood test apparatus 1 includes a coin mechanism 2, a spectrometer built-in section 3 and an examination data analyzer built-in section 4.例文帳に追加

自動非侵襲血液検査装置１はコインメカニズム２、分光器内蔵部３および検査データ解析機内蔵部４より構成されている。 - 特許庁

Test data for electric system evaluation and storage part control are performed by setting enable signals, activation signals and mode signals from the outside.例文帳に追加

本発明では記憶制御部と記憶部間の評価を装置完成前におこない、かつ専用のテスタも必要としないことを目的とする。 - 特許庁

To reduce the load of an operator performing test print and main print operation on a print operation picture at the time of print-outputting image data.例文帳に追加

画像データのプリント出力を行うに際し、プリント操作画面においてテストプリントおよび本プリント操作を行うオペレータの負担を軽減する。 - 特許庁

A bootstrap circuit relating to a word line is made disable when data is written in a memory cell during a test operation period by this method.例文帳に追加

本発明によれば、テスト動作期間中にメモリセル内にデータを書込む場合にワード線に関連するブートストラップ回路をディスエーブルさせる。 - 特許庁

To provide a memory test circuit capable of testing ROMs having ID and checksum areas in addition to user data areas altogether.例文帳に追加

ユーザデータ領域に加えて、ＩＤ領域とチェックサム領域を有するＲＯＭを一括して試験することができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

An RF signal processing part 20 calculates a jitter value from test data recorded on the PCA area of the optical disk 10, and supplies it to a control part 24.例文帳に追加

ＲＦ信号処理部２０は、光ディスク１０のＰＣＡエリアに記録されたテストデータからジッタ値を演算して制御部２４に供給する。 - 特許庁

To shorten a test time when plural DRAM circuits incorporated in a LSI is tested and to transfer read-out data of plural DRAM circuit at high speed.例文帳に追加

LSI に搭載された複数のDRAM回路をテストする際のテスト時間を短縮したり、複数のDRAM回路の読み出しデータを高速に転送させる。 - 特許庁

The program discriminates, when the number of times of the selection in advance is made and enables data flow to the receiver under test.例文帳に追加

このプログラムは、事前選択された回数の転送がいつ行われたかを判定し、次いでテスト中の受信装置へのデータ・フローをイネーブルする。 - 特許庁

The image shift calculating section calculates positional shift of recording using the cross correlation function of the sum density data of the pair of test patterns, for example.例文帳に追加

画像ずれ算出部は例えば一対のテストパターンの加算濃度データの相互相関関数を用いて記録位置ずれ量を算出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for quickly executing the test of an incorporated memory circuit without reading data to the outside part.例文帳に追加

内蔵されたメモリ回路のテストを外部にデータを読出すことなく高速に実行することが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To detailedly check the display behavior of a display based on test display data prestored in a performance picture storage device.例文帳に追加

演出画像記憶装置に予め記憶させておいたテスト表示データに基づいて表示器の表示動作を詳細にチェックすることができる。 - 特許庁

To test each battery pack without needing to develop an exclusive circuit and exclusive software based on the data communication specifications of the battery pack.例文帳に追加

電池パックのデータ通信仕様に基づいた専用回路、専用ソフトの開発を必要とせず、それぞれの電池パックの試験を可能とする。 - 特許庁

To provide an EEPROM in which a data rewriting test can be performed in the worst condition of voltage stress when the device has a verify- function.例文帳に追加

ベリファイ機能を有する場合に電圧ストレスワースト条件でデータ書き換えテストを行うことを可能としたＥＥＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

A central database transmits operating information such as a program and data in response to the serial information to the test set that is inserted to the printed circuit board.例文帳に追加

中央データベースは、シリアル情報に応じてプログラム、データ等の動作情報を、プリント回路基板に挿入されるテストセットに送信する。 - 特許庁

The test method for a network includes a step of analyzing a cell 200 from the network and a step of acquiring network performance data, based on cell.例文帳に追加

ネットワークのテスト方法は、ネットワークからのセル２００を解析するステップと、そのセルに基づいてネットワーク性能データを取得するステップとを含む。 - 特許庁

The printing part 10 which has received the setup mode instruction data switches to the setup mode to exert the toner image density control, and then forms a test image.例文帳に追加

セットアップモード指示データを受信したプリント部１０はセットアップモードに切り替わり、トナー像濃度制御を行い、その後にテスト画像を形成する。 - 特許庁

For example, the system 10 includes a response analyzer 530 for receiving data corresponding to a response to the light signal of the device under test.例文帳に追加

例えば、発明システム１０は、被測定物の光信号に対する応答に対応するデータを受信する応答解析器５３０を含む。 - 特許庁

The upper limit value and the lower limit value of dispersion of the Weibull slope, corresponding to a Weibull slope of the test result, are read from the comparison data group 72 (means 75).例文帳に追加

比較データ群７２から、試験結果のワイブルスロープに対応するワイブルスロープのばらつきの上限値および下限値を読み取る（手段７５）。 - 特許庁

Black-box testing is the application of test data derived from the specified functional requirements without regard to the final program structure. 例文帳に追加

ブラック・ボックス法(black box testing)は,最終的なプログラム構造に関わりなく,特定の機能的要件から導き出されたテストデータを適用することである． - コンピューター用語辞典