「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

The switching circuit 9 gives read data D1 to Di of the memory circuit 8 to a data output circuit 10 in normal operation, and gives count signals C1 to Cj of an up/down counter 4 being included in a DLL circuit 2 to the data output circuit 10 on test.例文帳に追加

切換回路９は、通常動作時はメモリ回路８の読出データＤ１〜Ｄｉをデータ出力回路１０に与え、テスト時はＤＬＬ回路２に含まれるアップ／ダウンカウンタ４のカウント信号Ｃ１〜Ｃｊをデータ出力回路１０に与える。 - 特許庁

The steps of acquiring the plurality of dark images may include acquiring data from a plurality of data channels (68) of the digital detector during an analog test mode of the digital detector in which calibration voltages (154) are applied to the data channels (178, 182).例文帳に追加

複数の暗画像を取得するステップは、データ・チャネルに較正電圧（１５４）が印加されている（１７８、１８２）ディジタル検出器のアナログ試験モード時にディジタル検出器の複数のデータ・チャネル（６８）からデータを取得することを含み得る。 - 特許庁

This DDR (double data rate) SDRAM (synchronous DRAM) performs write-in operation having write-latency at the normal operation, and at a test, receives a data strobe signal DQS and a data signal before one clock cycle of a write-command WRT and performs write-in operation having no write-latency.例文帳に追加

このＤＤＲ ＳＤＲＡＭは、通常動作時はライトレイテンシを持った書込動作を行ない、テスト時はライトコマンドＷＲＴの１クロックサイクル前にデータストローブ信号ＤＱＳおよびデータ信号を受けてライトレイテンシを持たない書込動作を行なう。 - 特許庁

A processor included in the display processing part corrects the data of the output voltage Vo at the time of actual use based on the data of the output voltage Vo at the time of a non-load obtained in a test mode and the data of the output voltage Vo at the time of a specified load.例文帳に追加

表示処理部に含まれる処理装置は、テストモードで取得した無負荷時の出力電圧Ｖｏのデータと、定格負荷時の出力電圧Ｖｏのデータとに基づいて、実使用時の出力電圧Ｖｏのデータをソフトウェアで補正する。 - 特許庁

A test probe is contacted with only a portion of representative input/output pads among a plurality of input/output pads, data inputted from the representative input output pad are expanded to data equivalent to all input output pads by a compressed data expanding circuit 631.例文帳に追加

複数の入出力パッドのうち、一部の代表入出力パッドにのみ試験用の針を当て、代表入出力パッドから入力されたデータを、圧縮データ展開回路６３１により、すべての入出力バッド分のデータに展開する。 - 特許庁

When data for test print are transmitted from the terminal T1-T2, a control unit 19 of the image forming apparatus 10 stores in a storage unit 14 terminal data (IP address, terminal name and the like being set to the terminal) to be transmitted together with the data.例文帳に追加

画像形成装置１０の制御部１９は、端末Ｔ１〜Ｔ２からテスト印刷用のデータが送信されてきたときに、そのデータとともに送信される端末データ（端末に設定されるＩＰアドレス、端末名等）を記憶部１４に記憶する。 - 特許庁

After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加

各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたＦＩＲフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁

This multivariable decision tree construction system 1 is configured to construct a multivariable decision tree where multivariable test functions for dividing data are installed in every non-terminal end node by using a plurality of data for training equipped with element data.例文帳に追加

本発明に係る多変数決定木構築システム１は、要素データを備えた複数の訓練用データを用いて、データの分割を行うための多変数テスト関数が非終端節点毎に設けられた多変数決定木を構築するシステムである。 - 特許庁

The user terminal 1 receives a voice data group inputted from plural user terminals and a text group corresponding to this voice data group from the management server 2 and outputs the voice data group as voice and displays the test group as pictures.例文帳に追加

また、複数の利用者端末の各々から入力された音声データ群と該音声データ群に対応するテキスト群とを管理サーバー２から受信して上記音声データ群を音声出力すると共に上記テキスト群を画面表示する。 - 特許庁

All the path-fail data of a plurality of memory circuits built in a system LSI are stored in the failure analysis memory for collecting the path-fail data in a semiconductor memory test device, and the path-fail data are read from the failure analysis memory in batch (step S22).例文帳に追加

半導体メモリのテスト装置内のパスフェイルデータ収集用不良解析メモリへ、システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリ回路のパスフェイルデータをすべて格納し、その不良解析メモリから一括してパスフェイルデータを読み出す（ステップＳ２２）。 - 特許庁

When respective demodulated reception data (a) to (c) are input from a device 6 under test, comparators 8a to 8c compare the respective reception data (a) to (c) with the transmission data (a) to (c) according to a synchronizing signal which is input from a pseudo-random number bit sequence synchronization part 7.例文帳に追加

また、比較器８ａ〜ｃは、被測定デバイス６から復調された各受信データａ〜ｃが入力されると、擬似乱数ビット列同期部７から入力される同期信号に従って、各受信データａ〜ｃを送信データａ〜ｃと比較する。 - 特許庁

To provide a material tester having a function of superimposing and displaying plural test data on the same screen by a graph, which is capable of surely reading desired data among plural superposed and displayed data without an error.例文帳に追加

同一画面上に複数の試験データを重ねてグラフ表示する機能を備えた材料試験機において、重ね表示された複数の試験データの中から、所望のものを間違いなく確実に読み取ることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

A reference data group containing all of the plural sets of data gained during the operation test of a plurality of the image forming apparatuses is used as an initial reference data group for determining an index value calculating expression that calculates an index value for the state discrimination.例文帳に追加

この複数の画像形成装置の稼働テスト中に取得した複数組のデータのすべてを含む基準データ群を、状態判定用の指標値を算出する指標値算出式を決定するための初期の基準データ群として用いる。 - 特許庁

The recording medium functions as a writing means for writing a data, if it exists, on the basis of the start signal and the code of the test battery taken as a sample.例文帳に追加

データがあれば、それらと共にサンプリングされた開始信号及び試験電池の符号に基づいて該当するファイルに書き込む書込手段として機能する。 - 特許庁

In a management system 11 for the image forming apparatus, a management device 200 transmits data for providing instruction on the performance test, to the image forming apparatus 100.例文帳に追加

画像形成装置の管理システム１１において、管理装置２００は、画像形成装置１００に対し、動作試験を指示するデータを送信する。 - 特許庁

To obtain a small-sized and inexpensive circuit that generates a frame pattern for a test device for high-speed data communication.例文帳に追加

本発明の課題は、上記問題点に鑑み、高速データ通信の試験装置における安価かつ小型なフレームパターンを発生する回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for a quick loading test of a pile that can obtain reliable data required for quickly and economically determining the support force of the pile.例文帳に追加

杭の支持力判定に必要な信頼性の高いデータを短い時間でかつ経済的に得ることのできる杭の急速載荷試験法を提供する。 - 特許庁

To execute a test of a ROM while keeping the secrecy of the data in the ROM, as to a semiconductor integrated circuit incorporating the ROM therewith.例文帳に追加

ＲＯＭを内蔵した半導体集積回路について、ＲＯＭに実装したデータの機密性を保ちつつ、ＲＯＭのテストを実行可能にする。 - 特許庁

To provide a means that transports medical test samples and data on the samples always integrally from a client to a testing institution.例文帳に追加

医療用等の検査試料とその試料に関するデータを常に一体に検査依頼元から検査機開に移送することができる手段を提供する。 - 特許庁

The observation terminal 11 receives the rainfall amount data by the test instruction signal, and it judges an abnormality of the rainfall amount observation system 10A so as to be displayed on a display part 18.例文帳に追加

観測端末１１は、試験指示信号による雨量データを受信して雨量観測システム１０Ａの異常を判定し、表示部１８に表示する。 - 特許庁

An amplitude measuring part 15 measures the amplitude (m) of the reproduced signal of recorded data recorded in the test writing area of an optical disk while changing recording power P.例文帳に追加

振幅測定部１５は、光ディスク２の試し書き領域にパワーＰを変化させながら記録した記録データの再生信号の振幅ｍを測定する。 - 特許庁

A slave station 9 performs an operation test (self-diagnosis) of an interconnection protective relay 54 according to data received from a key station 3 through a relay station 4.例文帳に追加

子局９は、親局３から中継局４を経由して受信したデータに従って、連系保護リレー５４の動作試験（自己診断）を行う。 - 特許庁

The built-in circuit generation processing part 24 generates the net list wherein the test circuit is built in the customer circuit, and outputs it as built-in circuit-included design data 25.例文帳に追加

埋め込み回路発生処理部２４は、顧客回路にテスト回路を繰り込んだネットリストを生成し、埋め込み回路込み設計データ２５として出力する。 - 特許庁

The test data so set as to have the values which reach X, Y and Z respectively in total is stored at the head addresses plus a, b, c or d.例文帳に追加

先頭番地にａ、ｂ、ｃ、ｄをプラスした番地には、それぞれ合計した値がＸ、Ｙ、Ｚとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁

Processing circuits 561-564 test the stored digital samples, detect predetermined events, and designate a range of the memory storing position including the data regarding the predetermined event.例文帳に追加

処理回路561-564は、蓄積されたデジタル・サンプルを試験し、所定イベントを検出し、この所定イベントに関するデータを含んだメモリ記憶位置の範囲を指示する。 - 特許庁

To implement a function verification by inputting arbitrary image data within small circuit scale, without the need to prepare a test pattern or an expected value.例文帳に追加

テストパターンや期待値を予め用意する必要がなく、少ない回路規模で、任意の画像データを入力して機能検証の実施を可能にする。 - 特許庁

Based upon the output of the test on the entry of the comparison matrix, it is identified whether the received electronic image data are inclusive of a fog scene or not.例文帳に追加

次に、比較マトリクスのエントリについてのテスト出力に基づいて、受け取られた電子画像データにかぶりシーンが含まれているか否かが判定される。 - 特許庁

To provide a method for detecting a failure in a path between a data input/output pad and a test pad and a failure in a circuit in the middle of the path.例文帳に追加

データ入出力パッドとテストパッド間の経路や当該経路途中の回路の不良を検出することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

With respect to each input screen, a CPU 10 generates combination test data for each command on the basis of level values of respective factors on the input screen.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、各入力画面毎に、各コマンドにつき、同入力画面上の各因子の水準値に基づいて、組合せテストデータを生成する。 - 特許庁

Data are recorded for test (S102) by making a focus balance to change for changing a focal position of a laser beam while irradiating the optical disk by the laser beam.例文帳に追加

光ディスクにレーザ光を照射しつつ、レーザ光の焦点位置を変化させるためにフォーカスバランスを変化させ、データをテスト記録する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

A decision is made whether the image data falls within an allowable range from a true test pattern or not (S108) and the decision results are outputted (S110, 112).例文帳に追加

そして、画像データが真のテストパターンからの許容範囲内にあるか否かを判定し（Ｓ１０８）、その判定結果を出力する（Ｓ１１０，１１２）。 - 特許庁

To provide a data transmission device wherein the assembling and test time of an apparatus panel for electronic apparatus system configuration is shortened, and electromagnetic interference is prevented.例文帳に追加

電子機器システム構成のための機器パネルの組み立てや試験時間の短縮化、および電磁障害防止を図ったデータ伝送装置を提供する。 - 特許庁

Also, test recording and data recording are performed for a recording layer being remote from the incident plane always through the already recorded region of the recording layer of this side.例文帳に追加

また、入射面から遠い記録層に対しては、常に手前の記録層の記録済み領域を介して、テスト記録やデータ記録を行うようにする。 - 特許庁

The printed image evaluation part digitizes the image noises which are included in a plurality of image data for evaluation, generated from the plurality of test patterns.例文帳に追加

印刷画像評価部は、複数のテストパターンから生成された複数の評価用画像データに含まれた画像ノイズを数値化することを特徴とする。 - 特許庁

To perform a function test of a radio data service device without being connected to a radio network and a cable network.例文帳に追加

無線ネットワークや有線ネットワークへ接続しなくとも無線データサービス装置の機能試験を行えるような回線呼発生器及び機能試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable performing a test for a ROM while holding secret of data incorporated in a ROM with respect to a ROM built-in semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ＲＯＭを内蔵した半導体集積回路について、ＲＯＭに実装したデータの機密性を保ちつつ、ＲＯＭのテストを実行可能にする。 - 特許庁

To generate test data enabling a program for performing a DB search to hit only an intended DB record, and handling a complex dependence relation among variables.例文帳に追加

DB検索を行うプログラムに対して意図したDBレコードのみがヒットすることを可能とし、変数の複雑な依存関係を扱うテストデータを生成する。 - 特許庁

Print data for printing the test pattern is generated by performing halftoning using a diffusion matrix where the weight value of error diffusion is adjusted.例文帳に追加

このテストパターンを印刷するための印刷データは、誤差拡散の重み値を調整した拡散マトリクスを用いてハーフトーン処理することによって生成する。 - 特許庁

By this tester, a plurality of semiconductor integrated circuits can be tested in parallel using a test data stored in a set of memories.例文帳に追加

本発明よるテスト装置は、１つのメモリセットに蓄積されたテストデータを使用して複数の半導体集積回路を並列にテストすることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming system and fault discrimination method in which a fault can easily be segmented by using particular test data.例文帳に追加

特別なテストデータを用いることで簡単に障害の切り分けを行えるようにした画像形成システムおよび障害判別方法を提供する。 - 特許庁

In the function test item development support system, a product name of a product to be referred to in quality function development operation is retrieved from quality function development data in product name retrieval processing S1.例文帳に追加

製品名検索処理Ｓ１では、品質機能展開作業時において参考にする製品の製品名を品質機能展開データから検索する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which tests the on/off state of a ODT circuit during a data read mode, and also to provide a test method of the state of the ODT circuit.例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method by which a defective product, in which there is possibility of unexpected rewriting of data, can be eliminated surely as to a nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置について、不測のデータの書換を生じ得る不良品を確実に排除し得るテスト方法を提供する。 - 特許庁

To obfuscate at least a part of a database for creating a test database having a data distribution mirroring a distribution present in an actual database.例文帳に追加

実際のデータベースに見られる分布を映し出すデータ分布を有するテストデータベースを作成するために、データベースの少なくとも一部分を難読化すること。 - 特許庁