「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

Each of three I/O devices 31 for transmitting/receiving data/bus signals to/from a processor 1 is provided with a test part 301 and the processor 1 is provided with an inspection part 10.例文帳に追加

プロセッサ１とデータ・バス信号を授受する３つの入出力装置３１，３２，３３のそれぞれに試験部３０１、プロセッサ１に検査部１０を設ける。 - 特許庁

To provide a test apparatus testing appropriately a memory to be tested which performs simultaneously write-in and read-out of data for a plurality of blocks by multi-bank operation.例文帳に追加

マルチバンク動作により複数のブロックに対して同時にデータの書き込み又は読み出しを行う被試験メモリを適切に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a knowledge dictionary refining device capable of effectively supporting the work of editing a knowledge dictionary using test data, thus reducing the work burden of editors of the dictionary.例文帳に追加

テストデータを用いた知識辞書の編集作業を効果的に支援し、辞書編集者の作業負担を軽減できる知識辞書洗練装置を提供する。 - 特許庁

At a reception processing part 21 of the communication test processing part 20, a verifying means 24 is immediately actuated when reception data are inputted from an input/output means 30.例文帳に追加

通信試験処理部２０の受信処理部２１では、入出力手段３０から受信データが入力すると、検証手段２４が直ちに起動する。 - 特許庁

To automatically generate a test data of high all-inclusion degree, as to a device added newly to a system operated cooperatively with devices such as a plurality of servers.例文帳に追加

複数のサーバなどの装置が協調して動作するシステムに新たに追加された装置について、網羅性の高いテストデータを自動的に生成する。 - 特許庁

One application includes creation and use of the simulation data store generated by using the test grating that models the geometries of the IC interconnects.例文帳に追加

ひとつの適用としては、ＩＣ相互接続の幾何学的形状をモデル化するテスト格子を使用して生成されたシミュレーションデータストアの作成と使用法を含む。 - 特許庁

At Kamonomiya, located near Sagami bay and being relatively warm even in winter, adequate test data assuming high-speed operations in snow fall conditions could not be obtained. 例文帳に追加

相模湾に近く、冬でも比較的温暖な鴨宮では、降雪時の高速運転を想定した試験データは十分に得られなかったのである。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To continuously control the intensity of the laser in pulse emission state during data recording with no test emission nor using a fast sample hold circuit.例文帳に追加

データ記録中にパルス発光状態にあるレーザを、テスト発光、または、高速サンプルホールド回路を用いることなく、常時連続的に強度を制御する。 - 特許庁

A recording signal (test data, including all patterns) is generated (S2), and mark lengths or space lengths before and after the signal to be recorded are detected (S3).例文帳に追加

記録信号（テストデータ、すべてのパターンが含まれている）を発生させ（Ｓ２）、記録する信号の前後のマーク長あるいはスペース長を検出する（Ｓ３）。 - 特許庁

Thus, the test data of 72-bit input into the selector circuits S1 to S12 is output in order from the selector circuit ST every 12 bits in taking 6 cycles.例文帳に追加

よって、セレクタ回路Ｓ１〜Ｓ１２に入力された７２ビットのテスト用のデータは、１２ビット毎に６サイクルかけて順次セレクタ回路ＳＴから出力される。 - 特許庁

A graphical user interface is provided to make the data related to the standard test method or equipment and the evaluation method or equipment identifiable.例文帳に追加

グラフィカルユーザインターフェースは、基準方法または機器および評価方法または機器に関連付けられたデータを識別可能にするために提供される。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

The present invention includes creating image data D1 of a wedge pattern through a high number of sampling, and thereater, reducing the number of sampling to output a test video signal S1.例文帳に追加

本発明は、くさびパターンの画像データＤ１を高いサンプリング数により作成した後、サンプリング数を低減してテスト用ビデオ信号Ｓ１を出力する。 - 特許庁

By the method, times of the data rewriting actually performed in the test process before delivery are correctly managed concerning each IC chip.例文帳に追加

このような方法によれば、個々のＩＣチップについて、その出荷前の試験工程で実際に行われたデータの書き換え回数を正確に管理することができる。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication controller 10 functioning as a layer-2 switch device relaying communication data based on information of the layer 2.例文帳に追加

試験装置９００は、レイヤ２の情報に基づいて通信データを中継するレイヤ２スイッチ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

In the semiconductor test device 1, a sequence control section 10 converts an input signal from a tester control CPU into address scramble data and an address clock signal.例文帳に追加

半導体試験装置１は、テスタ制御ＣＰＵからの入力信号をシーケンス制御部１０が、アドレススクランブルデータ、アドレスクロック信号に変換する。 - 特許庁

To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁

The digital still camera 12 registers a setting value corresponding to a test image being selected according to a user's taste newly as the image- processing control data of user setting.例文帳に追加

ディジタルスチルカメラ１２は、ユーザの好みに応じて選択されたテスト画像に対応した設定値を、新たにユーザ設定の画像処理制御データとして登録する。 - 特許庁

In a pin electronics 102a within the semiconductor device test apparatus 100, the reading of the data input/output signal DQ is performed by a comparator 171.例文帳に追加

半導体デバイス試験装置１００内のピンエレクトロニクス１０２ａにおいては、データ入出力信号ＤＱの読み取りをコンパレータ１７１で行う。 - 特許庁

To put it concretely, an actual load of the rope is calculated based on operation control data of the elevator and lifetime is judged by using rope damage database determined by an element test.例文帳に追加

具体的には、エレベータの運転制御データからロープの実負荷を演算し、要素試験から求めたロープ損傷データベースを用いて、寿命を判定する。 - 特許庁

A distribution analysis subsystem (54) performs statistical analysis on the test data to identify underlying distribution (66) and to compare individual attribute types (44) with the distribution (66).例文帳に追加

分布解析サブシステム（54）はテストデータに対して統計解析を行って基礎をなす分布（66）を割り出し、個々の属性タイプ（44）をこの分布（66）と比較させる。 - 特許庁

To provide a stirling refrigerating machine which appropriately controls a driving frequency of a piston according to conditions based on detailed data obtained by an operation test.例文帳に追加

動作試験により得られた詳細なデータに基づいて、ピストンの駆動周波数を状況に応じて適切に制御できるスターリング冷凍機を提供する。 - 特許庁

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。 - 特許庁

The test decode signals TMadd1-n are converted into serial data TMcodeSD by a serial-parallel converter circuit 25 in synchronization with a reference clock TMCLK.例文帳に追加

テストデコード信号ＴＭａｄｄ１〜ｎは、基準クロックＴＭＣＬＫに同期して、パラレル・シリアル変換回路２５によりシリアルデータＴＭｃｏｄｅＳＤに変換される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a constitution for performing an actual operation test of a data storage device inexpensively at a high speed.例文帳に追加

データ記憶装置の実働試験を安価にかつ高速に行うことができる構成を持った半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A clock control part 31 stops the writing of the address bus information and the data bus information to the dedicated test RAM when it receives the underflow state signal.例文帳に追加

クロック制御部３１は、アンダーフロー状態信号を受けると、テスト専用ＲＡＭへのアドレスバス情報及びデータバス情報の書き込みを停止させる。 - 特許庁

An analytical part 6 analyzes digital data from the ADC4 and conducts an inclined waveform test for evaluating an inclined condition of the waveform in the analogue signal ANS.例文帳に追加

解析部６は、ＡＤＣ４からのデジタルデータを解析し、アナログ信号ＡＮＳの波形の傾斜状態を評価する傾斜波形テストを行なう。 - 特許庁

・The definitions of the categories are based on irritation test results, but there are few data books that contain specific Draize scores to which GHS criteria can be applied.例文帳に追加

・分類区分は刺激性試験データに基づいて定義されているが、GHS評価基準を適用できる詳細なDraizeスコアを記載したデータ集は少ない。 - 経済産業省

・The definitions of the categories are based on eye irritation test results, but there are few data sources that contain specific Draize scores to which GHS criteria can be applied.例文帳に追加

・分類区分は眼刺激性試験データに基づいて定義されているが、GHS 分類基準を適用できる詳細なDraize スコアを記載したデータ集は少ない。 - 経済産業省

The response pulse width is gradually reduced until the result of the comparison is no longer in agreement, and the new test data stream is repeatedly received from the host 11.例文帳に追加

プリンタ１２は比較結果が不一致となるまで、応答パルス幅を逐次縮小していき、ホスト１１から新たなテストデータ列の受信を繰り返す。 - 特許庁

To reduce a measuring time for characteristic test or inspection when manufacturing a data driver used for a dot inversion driving type liquid crystal display device.例文帳に追加

ドット反転駆動方式の液晶表示装置に用いられるデータドライバにおいて、製造時の特性試験または特性検査での測定時間を短縮させる。 - 特許庁

A sampling interval for an ADC 11 is changed in response to the moving speed, by calculating the data sampling interval based on the moving speed of the test piece 3.例文帳に追加

試験片３の移動速度からデータサンプリング間隔を計算することにより、ＡＤＣ１１のサンプリング間隔を移動速度に応じて変更することができる。 - 特許庁

To shorten the printing time per page by printing the text image part of image data mixing a test and a natural picture at a high speed.例文帳に追加

テキストと自然画が混在する画像データに対して、テキスト画像部分については高速に印字を行うことにより、ページあたりの印字時間を短縮する。 - 特許庁

After the test printing, when regular printing is instructed to be done, only the developed data, which are stored in the storage device 13, are output to be printed on the format paper.例文帳に追加

試し印刷を行った後、本印刷が指示されると記憶装置１３に格納された展開データのみを出力してフォーマット用紙に印刷する。 - 特許庁

To provide a fare verification device capable of checking the operation of a fare calculation means even if test data limited to a necessity minimum is used.例文帳に追加

必要最小限に絞り込んだテストデータを用いても、運賃算出手段の動作を十分に確認できる運賃検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test navigator system capable of making a computerized electronic document into a data base and timely providing a work instruction and related information to a worker.例文帳に追加

電子化された電子文書をデータベース化し作業指示や関連情報をタイムリーに作業者に提供できる試験ナビゲータシステムを提供することである。 - 特許庁

In the present GHS classification project, if only in vitro mutagenicity test data is available, the substance shall be determined as “Classification not possible” in principle (refer to 2. Item 5)).例文帳に追加

なお、今回のＧＨＳ分類事業においては、in vitro 変異原性試験データしかない場合には、原則「分類できない」とする（２．5）項参照）とした。 - 経済産業省

A SDRAM comprises a data inverting decoder 44 which generates data selection signals DQS0 to DQS3 respectively corresponding to data signals DQ0 to DQ3 conforming to external control signals /OE, /LB, /UB in a test; and a data inverting circuit 30 which inverts each data signal DQ according to the data selection signals DQS0 to DQS3 and outputs them or outputs them without inverting them.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭにおいて、テスト時に外部制御信号／ＯＥ，／ＬＢ，／ＵＢに従って、それぞれデータ信号ＤＱ０〜ＤＱ３に対応するデータ選択信号ＤＱＳ０〜ＤＱＳ３を生成するデータ反転デコーダ４４と、データ選択信号ＤＱＳ０〜ＤＱＳ３に従って各データ信号ＤＱを反転させ、または反転させずに出力するデータ反転回路３０とを設ける。 - 特許庁

A test burn-in device 100 is constituted by newly comprising a skew correction data storage circuit 21 and a skew correction data transferring circuit 31 to read skew correction data from the skew correction data storage circuit 21 and to write it in a skew correction data register 13 in the DRV/CMP board 1 of each slot to which the skew correction data register 13 is mounted.例文帳に追加

テストバーンイン装置１００は、スキュー補正データレジスタ１３が実装されている各スロットのＤＲＶ／ＣＭＰボード１において、スキュー補正データ記憶回路２１及び、スキュー補正データ記憶回路２１からスキュー補正データを読み出し、スキュー補正データレジスタ１３に書き込みを行うスキュー補正データ転送回路３１を新規に有することにより構成されている。 - 特許庁

When demodulation data of the received wireless carrier are dissident with demodulation data of a call signal stored in advance from the wireless master unit, the wireless slave unit discriminates the received wireless carrier to be a noise B, requests the wireless master unit to transmit a test wireless signal, and receives the test wireless signal A_2 from the wireless master unit.例文帳に追加

無線子機は、受信した無線キャリアの復調データが、予め記憶した無線親機からの呼出信号の復調データと一致しなかった場合は、受信した無線キャリアがノイズＢであると判断して、無線親機に試験無線信号の送信を要求し、無線親機から試験無線信号Ａ_2を受信する。 - 特許庁

The scanning electron microscope scans electron beams on a test piece two-dimensionally and produces two dimensional image data 40 based on secondary electrons emitted from the test piece and composes scales 41a, 41b for expressing a prescribed length (1 μm) on the image data along two vertical and horizontal directions mutually perpendicular.例文帳に追加

本発明の走査型電子顕微鏡は、電子ビームを試料上に２次元状に走査し、試料から発せられる２次電子に基づいて２次元的な画像データ４０を生成するとともに、画像データ４０に、互いに垂直な縦横の２方向に沿って、所定の長さ（１μｍ）を表すスケール４１ａ，４１ｂを合成する。 - 特許庁

A reflection member 10 is placed on the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor, display is performed in the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor based on prescribed test pattern data, and a displayed image is read by the photosensor of the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor and compared with the test pattern data to inspect defects.例文帳に追加

反射部材１０をフォトセンサ内蔵液晶パネル４の上に置いて、所定のテストパタンデータに基づいてフォトセンサ内蔵液晶パネル４に表示し、当該表示された画像をフォトセンサ内蔵液晶パネル４のフォトセンサにより読み取って前記テストパタンデータと比較して不良を検査するようにした。 - 特許庁

A selector 5 selects the TDO(test data output) signal of the integrated circuit device to be inspected from among the test data (TDO signals), outputted from the TDO terminals of the integrated circuit devices 1, 2, 3 corresponding to the selection signal Ss supplied from the external inspection apparatus, to send the same to the external inspection apparatus.例文帳に追加

セレクタ５は、外部の検査装置から供給される選択信号Ｓｓに応じて、集積回路デバイス１，２，３の各ＴＤＯ端子からそれぞれ出力されるテストデータ（ＴＤＯ信号）の内、検査対象の集積回路デバイスのＴＤＯ信号を一つ選択して外部の検査装置へ送出する。 - 特許庁

To make exactly performable recording/reproducing with a little data amount and late sampling time while temporally synchronizing a control unit and an automatic test device without deviation in the case of a long-time test and further to record/reproduce high frequency and low frequency signals with a little data amount.例文帳に追加

長時間テスト時の制御装置と自動テスト装置の間の時間の同期をずれなくとり、かつ少ないデータ量、遅いサンプリング時間で記録・再生を正確に行うことができ、さらに高周波信号、低周波信号を少ないデータ量で記録・再生することの可能な自動テスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

While performing defect inspection of a disk based on whether a read error occurs or not after data are recorded into the disk, the HDC 10 checks quality of the DRAM by detecting presence of an error while sequentially overwriting test data from the DRAM 124 into SRAM 18 by setting the system ECC host 12 to the test mode.例文帳に追加

ＨＤＣ１０は、ディスクにデータを記録して読出しエラーが発生するか否かによりディスクの欠陥検査を実行する間、システムＥＣＣホスト１２をテストモードとしてＤＲＡＭ１２４からのテストデータをＳＲＡＭ１８に順次上書きしながらエラーの有無を検出することでＤＲＡＭの良否を判定する。 - 特許庁