「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

A test piece 9 is arranged between an input rod 2 and an output rod 3 via a replaceable collision plate 8, the test piece 9 is compressed in a state of not exerting influence of bending force, and a dynamic compression breaking test is performed by replacing the collision plate 8 without replacing the input rod 2 and the output rod 3 to obtain test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

交換可能な衝突板８を介して入力ロッド２と出力ロッド３の間に試験片９を配置し、曲げ力の影響を与えない状態で試験片９を圧縮し、入力ロッド２と出力ロッド３を取り替えることなく衝突板８を交換することで、動的圧縮破壊試験を実施してセラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得る。 - 特許庁

A radiography reading order generator transmits an acquisition request for acquiring patient information and test information matched to predetermined retrieval conditions to an image server which stores DICOM image data including medical image data and collateral information (such as the patient information, the test information, and series information) (a step S2), and acquires the patient information and the test information provided from the image server (a step S5).例文帳に追加

読影オーダ生成装置は、医用画像データと付帯情報（患者情報、検査情報、シリーズ情報等）を含むＤＩＣＯＭ画像データを保存する画像サーバに対して、予め定められた検索条件に合致する患者情報及び検査情報を取得するための取得要求を送信し（ステップＳ２）、画像サーバから提供される患者情報及び検査情報を取得する（ステップＳ５）。 - 特許庁

When an opening/closing lid 58 is in a closed state wherein the opening/closing lid 58 faces to an inspection face 561 and when the individual authentication is not performed, a test pattern 581 formed on the opening/closing lid 58 is read by a fingerprint sensor 56, and the test pattern 581 is compared to reference data.例文帳に追加

開閉蓋５８が検査面５６１に対向した閉状態で、個人認証が行われていないときに、開閉蓋５８に形成されているテストパターン５８１を指紋センサ５６で読み取り、そのテストパターン５８１を基準データと比較する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a data inversion signal is generated appropriately based on an address signal supplied to a DUT and which can perform a test even for a DUT in which the number of arrays are different between a row side and a column side of a memory cell.例文帳に追加

メモリセルのロウ側と、カラム側との配列数が異なるＤＵＴに対しても、ＤＵＴへ供給するアドレス信号に基づいて適正にデータ反転信号を発生して試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

If photosensitive paper to be used is other than the prescribed one (step S102; NO), test printing is performed in compliance with each profile stored in a profile storage section (step S105), Read image data is formed by reading the test printed photosensitive paper (step S106).例文帳に追加

使用される感光紙が所定以外の場合（ステップＳ１０２；ＮＯ）、プロファイル記憶部に記憶された各プロファイルに従ってテストプリントを行い（ステップＳ１０５）、テストプリントされた感光紙を読み取って読取画像データを形成する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

To generate a memory test pattern by VHDL description with respect to its method, device and program simply if a data sheet and a memory test sequence are prepared, without any knowledge of a very high speed integrated hardware description language (VHDL) and skill of circuit designing.例文帳に追加

本発明はメモリテストパターン合成方法，装置及びプログラムに関し，ＶＨＤＬの知識や回路設計スキルがなくても，メモリのデータシートやメモリテストシーケンスを用意すれば簡単にＶＨＤＬ記述のメモリテストパターンを作成できることを目的とする。 - 特許庁

In the operation test of the plurality of circuit blocks CB (1) to CB (m) having the same circuit structure, a common test pattern data TPD is transmitted to each of the circuit blocks CB (1) to CB (m) via selector circuits SLT (1) to SLT (m).例文帳に追加

同一の回路構成を有する複数の回路ブロックＣＢ（１）〜ＣＢ（ｍ）の動作テスト時において、共通のテストパターンデータＴＰＤをセレクタ回路ＳＬＴ（１）〜ＳＬＴ（ｍ）を介して、回路ブロックＣＢ（１）〜ＣＢ（ｍ）の各々へ伝達する。 - 特許庁

According to this invention, the data communication test that is adjustable to various combinations of a plurality of business protocols, and in particular, combination of hierarchized business protocols is made possible, and as a result, the communication test is made possible more accurately and more efficiently.例文帳に追加

本発明によって、複数の業務プロトコルの多様な組み合わせ、特に、階層化された業務プロトコルの組み合わせに対応したデータ通信試験を実現可能となり、その結果、より確度が高く、かつ効率的な通信試験が可能となる。 - 特許庁

The calculating means calculates the amount of relative recorded position shift of the pair of test patterns 312, 314 based on the mutual relationship of the density data of the pair of test patterns 312, 314, and then calculates the amount of shifted angle of the recording head based on the amount of relative recorded position shift.例文帳に追加

前記算出手段は、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出し、前記記録位置ずれ量に基づいて記録ヘッドの角度ずれ量を算出する。 - 特許庁

When the test selection signal S2 for selecting a selection signal S1 for ordinary operation is inputted into the test selection circuit part 7, an ordinary signal at the ordinary operation time inputted from the combinational circuit part 2 is supplied to the data selection circuit part 3.例文帳に追加

また、通常動作用選択信号Ｓ１を選択するテスト用選択信号Ｓ２をテスト用選択回路部７へ入力すれば、組合せ回路部２から入力される通常動作時の通常信号がデータ選択回路部３へ供給される。 - 特許庁

An optical disk and a BCA information recording method are provided which enable correction of laser power for recording the BCA information by test writing to be performed by arranging a test area via a mirror area on the inner circumferential side of the BCA outside a user data recording area.例文帳に追加

ユーザーデータ記録領域外のＢＣＡの内周側にミラー領域を介してテスト領域を設け、試し書きによるＢＣＡ情報の記録レーザーパワー補正を実行できる光ディスク及びＢＣＡ情報記録方法を提供する。 - 特許庁

An access point 1 performs radio communication with a radio terminal 2 by OFDM, and performs a return test of test pattern data for measuring an error rate for a guard interval time of the OFDM by providing a plurality of candidate values in the guard interval time.例文帳に追加

アクセスポイント１は、無線端末２との間でＯＦＤＭにより無線通信を行い、ＯＦＤＭのガードインターバル時間に対する誤り率を測定するためのテストパタンデータの折り返し試験をガードインターバル時間に複数の候補値を設けて行う。 - 特許庁

To provide an automatic titrator capable of determining an equivalence point by using the optimum sensor to a test liquid, and grasping easily a correspondence relation of titration data based on a different physical quantity or chemical quantity relative to the same test liquid.例文帳に追加

被検液に最適なセンサを用いて当量点を求めることができるとともに、同一の被検液に対して、異なる物理量又は化学量に基づく滴定データの対応関係を容易に把握することができる自動滴定装置を提供する。 - 特許庁

This semiconductor memory is provided with a high voltage detecting circuit 4 detecting high voltage for an address input pin X0, a latch circuit 5, and a test mode control circuit 6 controlling a test mode based on latch data held by the latch circuit 5.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、アドレス入力ピンＸ０に対して、高電圧を検出する高電圧検出回路４、ラッチ回路５、ラッチ回路５で保持するラッチデータに基づきテストモードを制御するテストモード制御回路６が設けられている。 - 特許庁

To provide an integrated circuit, and a design system for its circuit and test data (clock timing), for reducing an effect of LSI operation on delay time or instantaneous power consumption owing to a shift operation in performing LSI test without causing a load on a chip area.例文帳に追加

ＬＳＩの動作時の遅延時間への影響や、チップ面積への負担を伴うことなくＬＳＩテスト時のシフト動作の瞬時的な消費電力を低減する、集積回路とその回路やテストデータ（クロックタイミング）設計システムを提供する。 - 特許庁

Also, the self-test circuit instructs operation start to the discharge circuit in response to the instruction of operation start to the cutoff circuit in a test for holding data of the memory block, and instructs operation stop to the discharge circuit in response to the instruction of operation stop to the cutoff circuit.例文帳に追加

更に、自己試験回路は、メモリブロックのデータ保持に関する試験の際に、遮断回路への動作開始の指示に合わせて放電回路に動作開始を指示し、遮断回路への動作停止の指示に合わせて放電回路に動作停止を指示する。 - 特許庁

The stab execution part 8 calls the screen object of the test object screen 100-2, and returns the test data in the storage part 13 to the screen object 100-2 instead of information to be given to the screen object 100-2 in the production run.例文帳に追加

スタブ実行部８は、テスト対象画面１００−２の画面オブジェクトを呼び出し、本番実行時に画面オブジェクト１００−２に渡される情報の代わりに、記憶装置１３内のテストデータを画面オブジェクト１００−２に返却する。 - 特許庁

In a first IC 510 in an LED writing control circuit 502 of a writing section 500, a test pattern is formed, image data from an image memory section 301 and the test pattern formed in the first IC 510 are composed, and the composite pattern is lighted on an LED head 503.例文帳に追加

書込部５００のＬＥＤ書込制御回路５０２内の第１ＩＣ５１０にて、テストパターンを形成し、画像メモリ部３０１からの画像データと第１ＩＣ５１０で生成したテストパターンとを合成しＬＥＤヘッド５０３にて点灯させる。 - 特許庁

Before data recording on the optical disk, test recording is carried out in the test area of the optical disk at one recording speed to obtain optimal recording power, and the recording power function of each zone is corrected by using the recording speed and the optimal recording power.例文帳に追加

また、光ディスクへのデータ記録に先立ち、１つの記録速度で、光ディスクのテスト領域にテスト記録を行って最適記録パワーを求めて、該記録速度及び該最適記録パワーを用いて上記各ゾーンの記録パワー関数を補正する。 - 特許庁

A color signal correction amount calculation section 84 calculates a correction amount for correcting density unevenness for each nozzle for each of signals of RGBCMY based on read data obtained by reading a test pattern of cyan, for each density value of the test pattern.例文帳に追加

色信号補正量算出部８４によって、シアンのテストパターンを読み取った読取データに基づいて、ＲＧＢＣＭＹの各信号について、各ノズルに対する濃度むらを補正するための補正量を、テストパターンの濃度値毎に算出する。 - 特許庁

To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.例文帳に追加

試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a Solfege learning system, a Solfege learning providing server and a program which make a user terminal connected to a network execute a test based on learning data having generated Solfege subjects to be learned and automatically evaluate the test result.例文帳に追加

ネットワーク接続された利用者端末に学習されるソルフェージュの科目の生成した学習データに基づくテストを実施させ、当該テストの結果を自動評価するソルフェージュ学習システム、ソルフェージュ学習提供サーバ、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To facilitate the construction of I/F(interface) between a burn-in test device and an insertion and extraction machine and facilitate a burn-in test without causing a mistake in exchanging data in each information file such as installation position information on burn-in board and measurement result and the like.例文帳に追加

バーンイン試験装置と挿抜機との間のＩ／Ｆ（インターフェイス）の構築を容易にし、また、バーンインボードの実装位置情報および測定結果等の各情報ファイルのデータの受け渡しの際にミスを発生することがなく、バーンイン試験を容易にする。 - 特許庁

However, when no other in vivo mutagenicity/genotoxicity test data is available, and a positive result is obtained especially in the X-linked recessive fatality test using drosophila, experts shall judge the pros and cons of its use and the GHS classification category.例文帳に追加

ただし、他に適切なほ乳類 in vivo 変異原性/遺伝毒性試験データがない場合で、特にショウジョウバエを用いた伴性劣性致死試験で陽性結果のある場合には、その利用の可否ならびに GHS 分類区分について、専門家の判断を仰ぐ。 - 経済産業省

Provided is the charged particle beam lithographic system where stage acceleration conditions are decided to draw a mark for a test substrate on a scan or the test substrate, and decision as to whether the substrate displacement has occurred is carried out, if the cumulative frequency data of the difference between the scanned result and reference coordinate or the drawing reproducibility is worse than the prestored cumulative frequency data or the reproducibility index data.例文帳に追加

ステージの加速条件を設定し、テスト用基板のマークをスキャンまたはテスト用基板に描画し、スキャン結果と基準となる座標の差分の累積度数データまたは描画の再現性が、予め記憶されている累積度数データまたは再現性の指標データよりも悪ければ、基板ずれが生じている判断することが可能な荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.例文帳に追加

半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁

The part 23 compares the reception data file 13 of an expected value, prepared by a transferring data generation part 21 with data to be received by new performance, with respect to the result of performance to individual CMIS services to automate verify the result of the test.例文帳に追加

テスト実行比較部２３は個々のＣＭＩＳサービスに対する実行結果に対して転送データ生成部２１で作成した期待値の受信データファイル１３と新たに実行して受信されるデータとを比較することによって、テスト結果の検証を自動化する。 - 特許庁

A server system 1 obtains measurement data about water supply terminal water quality from water supply terminal water quality monitors 3, 4, and 5 for small water supply in areas A, B, and C via a network 2 to form water quality report data about a water quality test using the measurement data.例文帳に追加

サーバシステム１は、Ａ，Ｂ，Ｃ地区の簡易専用水道の給水端末水質モニタ３，４，５から給水端末水質に関する計測データをネットワーク２を介して取得し、計測データを用いる水質検査に関する水質報告データを作成する。 - 特許庁

A Pos type F/F 100 has: a master latch (Low level latch) 110 which is synchronized with a rising edge of a clock and in which data or scan test data is selectively input; and a slave latch (Hi level latch) 111 in which the data from the master latch 110 is input.例文帳に追加

ＰｏｓタイプＦ／Ｆ１００は、クロックの立ち上りエッジ同期し、データ又はスキャンテストデータが選択的に入力されるマスタラッチ（Ｌｏｗレベルラッチ）１１０と、マスタラッチ１１０からのデータが入力されるスレーブラッチ（Ｈｉレベルラッチ）１１１とを有する。 - 特許庁

The memory cell 1-2 and the word line WL0 are activated and data 1 is read out, after that, the data 0 of the memory cell 1-2 is read out, thus output data is varied from 1 to 0, a read-out test after burn-in including an access time of all bits can be performed as a result.例文帳に追加

メモリセル１−２も、ワード線ＷＬ０を立ち上げてデータ１を読み出してから、メモリセル１−２のデータ０を読み出すことにより、出力データが１から０に変化するため、全ビットのアクセスタイムを含むバーイン後の読み出しの検査をすることができる。 - 特許庁

When the test data is judged to be normal by a comparator circuit 33, a signal 35 is outputted to output the data (effective data 36) in the memory 32 to the circuit 13 and to determine the coefficient of a filter for waveform equalization by an automatic equalization algorithm.例文帳に追加

比較回路３３によりテストデータが正常であると判断した場合は、信号３５を出力してメモリ３２内のデータ（有効データ３６）を波形等化回路１３へ出力し、自動等化アルゴリズムにより波形等化用のフィルタの係数を決定する。 - 特許庁

In this test method for a semiconductor memory, read-data RDT read out from a ROM synchronizing with a clock CLK of the prescribed period is sampled once during double the prescribed period, sampled data is outputted to the outside as sampling data SDT.例文帳に追加

開示される半導体記憶装置のテスト方法は、所定周期のクロックＣＬＫに同期してＲＯＭから読み出されたリードデータＲＤＴを所定周期の２倍の時間の間に１回サンプリングし、サンプリングしたデータをサンプリングデータＳＤＴとして外部に出力する。 - 特許庁

Before information is recorded in a data region Data Block, an output LD Out of the laser diode is adjusted to a target value test-writing information in a plurality of ALPC regions, and information is recorded in a data region of the optical disk with the adjusted output of the laser diode.例文帳に追加

データ領域ＤａｔａＢｌｏｃｋに情報を記録する前に複数のＡＬＰＣ領域に情報を試し書きしながらレーザーダイオードの出力ＬＤ Ｏｕｔを目標値に調整し、調整されたレーザーダイオードの出力で光ディスクのデータ領域に情報を記録する。 - 特許庁

In the device evaluation device 1, a correction data acquiring circuit 6 and a correction data creating/storing circuit 7 acquire correction data of timing calibration of a signal for testing per test condition in states of mounting one or both devices 2 in the testing device 3.例文帳に追加

デバイス評価装置１において、試験装置３にデバイス２を片実装及び両実装した状態で、試験条件毎に、補正データ取得回路６及び補正データ作成・保存回路７がテスト用信号のタイミングキャリブレーションの補正データを取得する。 - 特許庁

As the image data of iris can be acquired simultaneously with the sight test by an optometer 6, a shop-side terminal 2 takes the iris data from the optometer 6, and transmits the iris data to a management computer 12 connected by a communication means 3.例文帳に追加

視力測定器６によって、視力測定と同時に虹彩の画像データを取得することができるので、店側端末２は、虹彩データを視力測定器６から取り込み、通信手段３で接続した管理コンピュータ１に対し、この虹彩データを送信する。 - 特許庁

The image printer includes a cutting part which cuts out at least part of image data scheduled to be printed on the first face and the second face of a recording material respectively as first image data and second image data when it is judged that test outputting is selected.例文帳に追加

また、本画像印刷装置は、試し出力が選択されたと判定された場合に、記録材の１面目および２面目に印刷される予定の画像データの少なくとも一部をそれぞれ第１および第２の画像データとして切り出す切り出し部を含む。 - 特許庁

At the time of test mode, a defective cause point can be found from comparison of an expected value data and actual data by selecting the expansion word lines WLHLD<0>, <1> and performing data read-out in which a cell node, therefore, the bit lines BLt, BLc are fixed to VSS.例文帳に追加

テストモード時、拡張ワード線ＷＬＨＬＤ＜０＞，＜１＞を選択してセルノード、従ってビット線ＢＬｔ，ＢＬｃをＶＳＳに固定したデータ読み出しを行うことにより、期待値データと実際のデータとの比較から、不良原因箇所を絞ることができる。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

In the calculation system, a random pattern generator 12 generates test patterns 11a, 11b by extracting respective parameters such as data transfer destination, data transfer direction and the number of bursts at random and bus operation models 10a, 10b respectively transfer data on the basis of the patterns 11a, 11b through a system bus 1.例文帳に追加

ランダムパターンジェネレータ１２でデータの転送先・転送方向・バースト数等の各パラメータをランダムに抽出してテストパターン１１ａ，１１ｂを生成し、このパターン１１ａ，１１ｂに基づいてバス動作モデル１０ａ，１０ｂはシステムバス１を介してデータを転送する。 - 特許庁

To provide an information recording and reproducing apparatus which can exactly carry out multi-value data detection even when there are defects, such as flaws and stains, in a portion with test data recorded thereon on an information recording medium and the information recording medium.例文帳に追加

情報記録媒体上のテストデータを記録した部分に、傷や汚れ等の欠陥がある場合でも、多値データ検出が正確に実施できる情報記録再生装置及び情報記録媒体を提供する。 - 特許庁

The repetitive screen generation device 100 replaces the extracted display tag information in the display code 107 with the source tag information so as to set the source tag information as a source code 101 and the divided input data as test data 102.例文帳に追加

反復型画面生成装置１００は、表示コード１０７のうち抽出した表示タグ情報を、ソースタグ情報に置き換えてソースコード１０１とし、分離した入力データをテストデータ１０２とする。 - 特許庁

A test data generation part 3 generates pieces of parallel data TP1, TP2, TP3 for operating the flip-flops 11-13 and the flip-flops 21-23 as shift registers to be output to the serializers 101, 102, 103.例文帳に追加

テストデータ生成部３は、フリップフロップ１１〜１３およびフリップフロップ２１〜２３をシフトレジスタとして動作させるためのパラレルデータＴＰ１、ＴＰ２、ＴＰ３を生成してシリアライザ１０１、１０２、１０３へ出力する。 - 特許庁

In the defect detecting test of this form, the magnetic disk is divided into two, and a different adjacent data track is selected as the adjacent data track performing write-in in a region of the inner peripheral side and a region of the outer peripheral side.例文帳に追加

本形態の欠陥検出テストは、磁気ディスクの記録面を二分し、内周側の領域と外周側の領域において、書き込みを行う隣接データ・トラックとして異なる隣接データ・トラックを選択する。 - 特許庁

As data holding performance of opposite data can be tested in a state in which the influence of imprint is reflected by performing a series of test described the above, the improvement of quality of the semiconductor memory is realized.例文帳に追加

以上の一連の検査を行うことによってインプリントの影響が反映された状態で反対データのデータ保持性能を試験できることから、半導体記憶装置の品質の向上が実現される。 - 特許庁

To provide a channel data transmission method by which quick data transmission is possible, to provide a controller using the method, to provide a control object device, to provide a control system with the same, and to provide a charge/discharge test system.例文帳に追加

迅速なデータ伝送が可能なチャンネルデータ伝送方法とその方法を用いた制御装置、及び制御対象装置とそれらを備える制御システム、及び充放電試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁