| 意味 | 例文 |
Test Dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3606件
To provide a water quality tester for a sewage water storage which enables a test of the water quality in the sewage water storage, simplifies a maintenance, and stably acquires data for a long time.例文帳に追加
汚水枡での水質検査を可能とし、メインテナンスも簡単で長期的に安定したデータをとることができる汚水枡用水質検査装置を提供する。 - 特許庁
Test data of 8 bits given from an input pin 20 are extended into 32 bits in an extension part 21, and passed to an input terminal CI of a core part 10 via a selector 22.例文帳に追加
入力ピン20から与えられた8ビットの試験データは、拡張部21で32ビットに拡張され、セレクタ22を介してコア部10の入力端子CIに与えられる。 - 特許庁
Read image data of a test pattern in which pattern elements (for example, lines) are sparsely recorded on a recording medium by a recording head having a plurality of recording elements are acquired.例文帳に追加
複数の記録素子を有する記録ヘッドによって記録媒体上にパターン要素(例えば、ライン)がまばらに記録されたテストパターンの読取画像データを取得する。 - 特許庁
The strain gauges 61 stuck on the adjustment test specimen 10a are connected to a data logger 62 as a measuring means, and the detected values by the strain gauges 61 are recorded and stored.例文帳に追加
テスト用試験片10aに貼設された歪みゲージ61は、計測手段であるデータロガー62に接続され、歪みゲージ61の検出値が記録および保存される。 - 特許庁
The controller 30 records test data, extracts the last off-pulse Toff to optimize jitters, and shortens the Toff by a prescribed amount to obtain the optimal recording strategy.例文帳に追加
コントローラ30は、テストデータを記録し、ジッタが最良となるラストオフパルスToffを抽出し、当該Toffを所定量だけ短縮して最適記録ストラテジとする。 - 特許庁
To provide a test method to reduce a data obtaining period for deriving frequency characteristics regarding normal/defective condition of a semiconductor memory device and to provide a semiconductor memory device.例文帳に追加
半導体記憶装置の動作の良否に関する周波数特性を導出するためのデータ取得時間を短縮する試験方法及び半導体記憶装置。 - 特許庁
A secondary electron emitted from a wafer is detected by a detector 41-9, and converted into image data by an image processing part 42-9, and a prescribed pattern test is carried out.例文帳に追加
ウエハから放出された二次電子は、検出器41−9で検出され、画像処理部42−9で画像データに変換され、所定のパターン検査が実施される。 - 特許庁
Attribute information 64 on a print job is printed and simultaneously a test pattern image 61 is formed on the first printing paper P, when print job data is received.例文帳に追加
印刷ジョブデータを受信すると、まず、1枚目の印刷用紙Pに、印刷ジョブに関する属性情報64を印字すると共に、テストパターン画像61を形成する。 - 特許庁
The optimum pressure on the high pressure side for each heat sink inlet temperature is based on data obtained by a prior test and is set in a controller 42 in advance.例文帳に追加
各々のヒートシンク入口温度に対する最適な高圧側圧力は、事前の試験で得られたデータに基づいており、かつ制御装置(42)に予設定されている。 - 特許庁
While test data for turning this heating body ON by one pixel are inputted to the thermal head 4, the voltage measuring circuit 15 measures opposite-end voltages V1n of the resistor R for each heating body.例文帳に追加
発熱体21を1画素ずつオンさせるテストデータをヘッド4に入力ながら、電圧測定回路15が各発熱体21毎に抵抗Rの両端電圧V1_n を測定する。 - 特許庁
To provide a data carrier semiconductor device capable of expecting highly reliable operation even when the device is loaded with a test command for optionally rewriting contents.例文帳に追加
任意に内容を書き換えるテストコマンドを搭載した場合であっても、信頼性の高い動作を期待できるデータキャリア半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus and program for simulating propagation environment capable of using data unique to an area wherein a terminal field test is actually conducted for a propagation parameter.例文帳に追加
実際に端末フィールド試験を行うエリア固有のデータを伝搬パラメータとして用いることのできる伝搬環境模擬装置およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁
As data read out from the real cell array and the parity cell array are compared simultaneously with the expected value, a test time can be shortened and a manufacturing cost of a semiconductor memory can be reduced.例文帳に追加
リアルセルアレイおよびパリティセルアレイから読み出されるデータが同時に期待値と比較されるため、試験時間を短縮でき、半導体メモリの製造コストを削減できる。 - 特許庁
Then, reference image data outputted by reading the color of the test chart formed actually by a printer 6 is converted based on the obtained color conversion characteristics.例文帳に追加
そして、プリンタ6で実際に形成されたテストチャートの色をイメージスキャナ8が読み取って出力する参照画像データを、上記求めた色変換特性に基づいて変換する。 - 特許庁
At testing, the tristate buffers 7A and 7B are in an off-state, the input and output terminals 1A and 1B are connected to the scan passes 3_1-3_m and 3_m+1-3_n respectively to input test data.例文帳に追加
テスト時、3ステートバッファ7A,7Bをオフ状態にし、入出力端子1A,1Bをそれぞれスキャンパス3_1 〜3_m ,3_m+1 〜3_n に接続してテストデータを入力する。 - 特許庁
To provide a radio base station apparatus that receives a message in the form of text format an external device, and converts it to data, so as to automatically perform an operation test of the radio base station apparatus.例文帳に追加
外部装置からテキスト形式のメッセージを受けて、これをデータ変換して自動的に無線基地局装置の動作試験を行う無線基地局装置を提供する。 - 特許庁
The simulation results are compared with a limitation and the data from the comparison are provided for showing whether or not any limitation is violated during simulation by a test rod pattern design.例文帳に追加
シミュレーション結果は限界と比較され、比較からのデータは、シミュレーション中にいずれかの限界が試験ロッドパターンデザインにより違反されたか否かを示すために提供される。 - 特許庁
(ii) When employing market risk measurement technique, does the institution make the selection after weighing its calculation results against the outcomes obtained through the use of other techniques by using test data? 例文帳に追加
(ⅱ)市場リスク計測手法を採用するに当たっては、テスト・データにより他の計測手法で算出した結果と比較・検討した上で、採用を決定しているか。 - 金融庁
To test a business program using actual operation data or an actual transaction load, and to enhance the quality of maintenance and development of the business program.例文帳に追加
実際の運用データを用いた業務プログラムや、実際のトランザクション負荷を試験することができ、業務プログラムの保守、開発の質を向上させることができるようにする。 - 特許庁
Another embodiment includes a method and a system for generating a simulation data store which uses a signal apart from a test grid to model an influence of an IC design and/or production process.例文帳に追加
別の実施例は、ICデザイン及び/または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁
Each of the universal interface channel circuits 210 is independently commanded by the data collecting circuit 120 to supply one of a variety of test signals to a DUT.例文帳に追加
各ユニバーサルインタフェースチャネル回路210は、様々な試験信号のうちの1つをDUTに供給することを、データ収集回路120から個別に命令する。 - 特許庁
To generate test data meeting restrictions on testing of software, with practical temporal and spatial computational complexity even when the restrictions includes many character string variables.例文帳に追加
ソフトウェアのテストの制約が多数の文字列変数を含む場合でも,実用的な時間空間計算量で制約を充足するテストデータを生成できるようにする。 - 特許庁
To obtain a density correction value by printing a test pattern capable of obtaining a correct density correction value without changing data to a medium different in size.例文帳に追加
大きさが異なる媒体に対しても、データの変更をすることなく正確な濃度補正値を取得することができるテストパターンを印刷して、濃度補正値を得る。 - 特許庁
One application includes the preparation of a simulation data store which is generated by using a test grid to model a geometric shape of an IC mutual connection and its method of use.例文帳に追加
ひとつの適用としては、IC相互接続の幾何学的形状をモデル化するテスト格子を使用して生成されたシミュレーションデータストアの作成と使用法を含む。 - 特許庁
The logic circuit test apparatus 10 includes a failure estimation section 110 estimating a failure estimation degree of a signal line by a wiring condition obtained from design data of the logic circuit.例文帳に追加
論理回路試験装置10は、論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定する故障推定部110を備える。 - 特許庁
Further, the driver's aid auxiliary device 5b causes the auxiliary display device 4b to display the travel route for travel test which is superposed with a map data corresponding to the travel route.例文帳に追加
さらに、ドライバーズエイド補助装置5bは、補助表示装置4bに走行試験を行う走行経路と、この走行経路に対応する地図データを重ねて表示させる。 - 特許庁
To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加
パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
The encrypted test data are transmitted from the ATM to a host computer (S5, S6) and decrypted using a decryption key for a password number corresponding to the master key at a host side (S7).例文帳に追加
暗号化したテストデータをATMからホストコンピュータへ送信し(S5,S6)、ホスト側でマスタキーに対応した暗証番号用復号化鍵を用いて復号する(S7)。 - 特許庁
To satisfy both of execution of a media quality evaluation test by hiding attribute information without monitoring personnel and a testee's request of simultaneous browse of the attribute information/media data after the execution.例文帳に追加
監視要員なしの属性情報を隠したメディア品質評価試験の実施と、実施後の属性情報・メディアデータの同時閲覧の被験者要求を共に満足させる。 - 特許庁
To efficiently execute the operation test of an input/output circuit of a semiconductor memory device operating at a data input/output frequency higher than an internal operation frequency.例文帳に追加
内部動作周波数よりも高いデータ入出力周波数で動作する半導体記憶装置において、データ入出力回路の動作テストを効率的に実行する。 - 特許庁
A serializer 105 is synchronized with the multiplied clock signal generated by the PLL circuit 107, and outputs a serial data of a serial-converted test pattern from a pattern generation part 102.例文帳に追加
シリアライザ105は、PLL回路107が生成する逓倍クロック信号に同期しパターン発生部102からのテストパターンをシリアル変換したシリアルデータを出力する。 - 特許庁
Since the ink density distribution is prepared based on the test pattern image data read in a low reading resolution, it is coarse, not the ink density distribution for every discharge nozzle.例文帳に追加
当該インク濃度分布は、低い読取解像度で読み取ったテストパターン画像データに基づいて作成されているため、吐出ノズル毎のインク濃度分布ではなく、疎らである。 - 特許庁
To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加
RAMに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、RAM及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁
Further, the personal computer 1 makes communication with the camera to transmit control data to the camera on the basis of imaging information obtained by imaging the various displayed test patterns by the camera.例文帳に追加
また、表示された各種テストパターンをカメラで撮像して得た撮像情報に基づきカメラの調整検査を行なうためにカメラと通信してカメラに制御データを送る。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor storage device which can perform the defective bit sensing of a memory cell which can store multi-value data in a chip, and its automatic test method.例文帳に追加
多値データを記憶可能なメモリセルの不良ビット検出をチップ内部で行うことが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその自動テスト方法を提供する。 - 特許庁
After the similarity degree is calculated concerning a plurality of features recorded in the map data MD, a threshold calculating part 104 obtains a threshold from the statistic distribution of the similarity degrees by a Welch test.例文帳に追加
地図データMDに記録された複数の地物について類似度を算出した後、閾値算出部104は、類似度の統計分布からウェルチ検定により閾値を求める。 - 特許庁
The system continues to properly function without needing to change the route of the data item even in a failure, facilitates design, analysis and a test, and thereby enhances reliability.例文帳に追加
このシステムは、故障の場合にもデータ・アイテムのルートを変更する必要なく適切に機能し続け、設計、分析及びテストを容易にし、それにより信頼性を増す。 - 特許庁
The disk array control part 9 receives an instruction of the data test part 6 and executes a read instruction for its address of a magnetic disc device 11 through a magnetic disc control part 10.例文帳に追加
ディスクアレイ制御部9は、データテスト部6の命令を受け、そのアドレスに対して磁気ディスク制御部10を介し、磁気ディスク装置11に読み出し命令を実行する。 - 特許庁
Test data input(TDI signal), supplied from an external inspection apparatus (not shown), is respectively inputted to the TDI terminals of integrated circuit devices 1, 2, 3 in parallel.例文帳に追加
外部の検査装置(図示せず)から供給される入力テストデータ(TDI信号)を、集積回路デバイス1,2,3の各TDI端子に並列にそれぞれ入力する。 - 特許庁
When the output of an AND circuit 6 becomes a high level by a bus cycle end signal BE, a flip flop 8 outputs a high-level test signal Te from a data terminal.例文帳に追加
バスサイクルエンド信号BEにより、論理積回路6の出力がハイレベルとなるとフリップフロップ8はデータ端子からハイレベルのテスト信号Teを出力する。 - 特許庁
The circuit 490 collects the transfer source node number of fault data and notifies a test execution circuit 480 of fault occurrence and the transfer source node number.例文帳に追加
障害情報収集回路490は障害データの転送元ノード番号を収集し、テスト実行回路480へ障害発生および転送元ノード番号を通知する。 - 特許庁
A read-out driver circuit 1092 gives a compared result of data successively read out to the latch circuit 1073b in accordance with a read-clock signal RCLK, in a test operation mode.例文帳に追加
読出ドライバ回路1092では、テスト動作モードにおいては、順次読出されるデータの比較結果をリードクロック信号RCLKに応じて、ラッチ回路1073bに与える。 - 特許庁
To provide an automatic testing system, capable of transmitting test result data by an automatic testing device from a transmitter and receiving the transmission at a receiver arranged at a required location.例文帳に追加
自動試験装置による試験結果データを送信機で送信させ、その送信を必要な場所に配置した受信機で受信できる自動試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a built-in self-test(BIST) system that tests normality of data transmission at a payload level in a satellite communication system and of a communication satellite in the system.例文帳に追加
衛星通信システムおよびシステム内の通信衛星のペイロード・レベルにおいて、データ伝送の正常性を検査する内部自己検査(BIST)システムを提供する。 - 特許庁
In bothe modes of the normal operation mode and the test mode, the output buffer 10 is operated and data from the output control circuit 1 is outputted from the output terminal 6.例文帳に追加
通常動作モードとテストモードの両方において、出力バッファ10を動作させて出力制御回路1からのデータを出力端子6から出力させる。 - 特許庁
A calculation part 45 of the regulator 4 checks the signal from the dew condensation detector 8 against corrosion state evaluation data and determines the dew condensation state of the test object W.例文帳に追加
また、調節器4の演算部45は、結露検出器8からの信号と腐食状態評価データとを照合し被試験物Wの結露状態を判断する。 - 特許庁
The calibration light source is then installed in a client test apparatus and operated at the fixed power level in order to collect the full spectrum power distribution and generate a second data set.例文帳に追加
次に、校正光源は顧客の試験装置に設置され、全スペクトルパワー分布を収集するために一定のパワーレベルで運転され、第2のデータセットを生成する。 - 特許庁
In other words, during the initial state, using normal knowledge produced from only the normal test objects data obtained are determined whether they match the normal state (S1 and S2).例文帳に追加
つまり、初期状態では正常状態のデータのみに基づいて生成された正常知識を用い、正常状態に合致するか否かの判定を行なう(S1,S2)。 - 特許庁
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