「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

When TDDB test is performed while monitoring the gate current Ig, the TDDC test is performed using a data base containing Ig(n)>Ilim (first criterion), |dIg(n)/Ig(n)|>δ1 (second criterion), and a third criterion including |dIg(n-1)/Ig(n-1)|>δ2.例文帳に追加

ゲート電流Ｉｇのモニターを行ないながらＴＤＤＢ試験を行なう際に、Ｉｇ（ｎ）＞Ｉlim （第１のクライテリア）、｜ dＩg（ｎ）／Ｉg（ｎ）｜＞δ１（第２のクライテリア）、｜ dＩg（n-1）／Ｉg（n-1）｜＞δ２などを含む第３のクライテリアとを格納したデータベースを用いてＴＤＤＢ試験を行なう。 - 特許庁

To provide a method and device for finding recording condition of optical disk being suitable for high speed recording even when trial writing of high speed recording cannot be performed in an inner peripheral test track, and even when relationship between a property of an outer peripheral test track and a property of a user data track is unknown.例文帳に追加

内周テストトラックで高速記録の試し書きが不可能な場合や、外周テストトラックの特性とユーザデータトラックの特性の関係が不明な場合でも、高速記録に適した光ディスクの記録条件を求める方法および装置を提供する。 - 特許庁

A scan chain circuit 1 temporarily holds data output and input to a combination logic circuit 2 during normal operation, and serially transfers a test pattern signal SCANIn by making a plurality of flip-flops F/F function as a shift register during execution of the scan test.例文帳に追加

スキャンチェーン回路１は、通常動作時には、組み合わせ論理回路２に入出力されるデータを一時保持する一方、スキャンテスト実行時には、複数個のフリップフロップＦ／Ｆをシフトレジスタとして機能させテストパターン信号ＳＣＡＮＩｎをシリアル転送する。 - 特許庁

The SoC is provided with a scan chain in which a plurality of latch circuits are connected like a chain and which executes a scan test and a debug circuit 100 for designating the specific latch circuit configuring the scan chain for reading data while executing the scan test to the scan chain.例文帳に追加

ＳｏＣに、複数のラッチ回路がチェーン状に接続されたスキャンテストを実行するためのスキャンチェーンと、このスキャンチェーンに対するスキャンテストを実行しながらスキャンチェーンを構成する特定のラッチ回路を指定してデータを読み取るデバッグ回路１００とを備える。 - 特許庁

A module-after- correction test part 3 conducts the confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested by using the input database generation information 31 and input data generation information 32 and outputs the results as a database dump list 37 and an output information dump list 38.例文帳に追加

修正後モジュール試験部３は、入力データベース作成情報３１、入力データ作成情報３２を用いて試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト３７、出力情報ダンプリスト３８として出力する。 - 特許庁

A module-before-correction test part 1 conducts a confirmation test of a program (before correction) to be tested by using input database generation information 11 and input data generation information 12 and outputs the results as a database dump list 17 and an output information dump list 18.例文帳に追加

修正前モジュール試験部１は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を用いて試験対象プログラム（修正前）１５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト１７、出力情報ダンプリスト１８として出力する。 - 特許庁

The pressure and vacuum transducers 34 and the thermocouples are used to collect pressure, vacuum and temperature data that is used to conduct a Pressure Decay Test and a Vacuum Decay Test to determine whether or not a leak in the liquid cooled stator bar system exists.例文帳に追加

圧力／真空トランスデューサ（３４）および熱電対を使用して、液冷固定子バーシステム（１５）内で漏れが存在するかどうかを判定する圧力降下試験および真空降下試験を実施するのに使用する圧力、真空、および温度のデータを収集する。 - 特許庁

To dispense with a self-test circuit, composed of a linear feedback shift register(an LFSR) which is required, in addition to an inspected circuit to reduce a circuit area by dispensing with a built-in data compression circuit for executing a self-test for the inspected circuit, in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路の自己テストを行うために、データ圧縮回路を内蔵する方法では、被検査回路の他に線形フィードバックレジスタ（ＬＦＳＲ）で構成される自己テスト回路が必要になるため回路面積が増大する。 - 特許庁

A test transfer pattern is formed on a wafer by using a test exposure mask having a mask pattern with varied pattern area rates in the peripheral region so as to obtain the proximity correction data for each pattern area rate based on the transfer patterns (ST5, ST6).例文帳に追加

周辺領域におけるパターン面積率を変化させたマスクパターンを有するテスト用の露光マスクを用いてウェハ上にテスト用の転写パターンを形成し、当該転写パターンに基づいて前記パターン面積率毎の近接効果補正用データを得る（ＳＴ５，ＳＴ６）。 - 特許庁

In this test method of the semiconductor device, a drain is connected to a storage node in SRAM, and a functional test is performed for applying a potential lower than a GND potential to a back gate of an n-type MOS transistor of which the GND potential is connected to the source, and for reading out data.例文帳に追加

本発明の半導体装置のテスト方法では、ＳＲＡＭにおいて、記憶ノードにドレインが接続され、ソースにＧＮＤ電位が接続されるｎ型ＭＯＳトランジスタのバックゲートにＧＮＤ電位より低い電位を印加しデータを読出す機能テストを行なう。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 is provided with a logic circuit 2 connected to external terminals 10-12, a built-in memory 3 connected to this logic circuit, and a burn-in test circuit 4 writing the prescribed data in the built-in memory when a burn-in test of this built-in memory is performed.例文帳に追加

半導体集積回路１に、外部端子１０〜１２と接続されたロジック回路２と、このロジック回路と接続された内蔵メモリ３と、この内蔵メモリのバーンイン・テストを行う際に、前記内蔵メモリに所定のデータを書き込むバーンイン・テスト回路４とを設けた。 - 特許庁

The encryption equipment 101 uses a secret key of its own equipment to prepare a test certificate by attaching an electronic signature prepared by an electronic signature preparing part 108 and transmits the test certificate to the encryption equipment 120 through a data transmitting/receiving part 104 or the like.例文帳に追加

暗号装置１０１は、証明書に対し、自己の装置の秘密鍵を使用して電子署名作成部１０８で作成した電子署名を付して試験用証明書を作成し、データ送受信部１０４等を介して、暗号装置１２０に送信する。 - 特許庁

The built-in self-test circuit is provided with a test control part 21 generating a memory selecting signal, an address generating part 23 generating a write-in address, a data generating part 22 generating an output expected value, and a control signal generating part 24 generating a control signal.例文帳に追加

組込自己テスト回路は、メモリ選択信号を生成するテスト制御部２１と、書込アドレスを生成するアドレス生成部２３と、出力期待値を生成するデータ生成部２２と、制御信号を生成する制御信号生成部２４と、を備えている。 - 特許庁

To provide a digital LSI test equipment and a method for evaluating shmoo in which test can be executed for all SKEW data files prepared previously and evaluation can be made while assuming equipments of different SKEW adjustment.例文帳に追加

本発明は、あらかじめ準備されたＳＫＥＷデータファイルのすべてについて試験を実行でき、ＳＫＥＷ調整具合の異なる装置を想定した評価が可能となるデジタルＬＳＩ試験装置およびシュム評価方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 is provided with a switch 15 for selectively setting either the device driver for the general operation or the device driver for the test and a function for writing the attribute information data of either the device driver for the general operation or the device driver for the test in the attribute memory 13a according to the switch setting.例文帳に追加

周辺機器１は、一般運用又はテスト用のいずれか一方を選択設定するスイッチ１５と、スイッチ設定に応じて一般運用又はテスト用のいずれか一方の属性情報データをアトリビュートメモリ１３ａに書き込む機能を有している。 - 特許庁

A clock CLK is applied to flip-flops 5a, 5b as resistor circuits into which output data from a test circuit 4 are input together with a circuit block 3, and an output signal changing synchronously with the clock CLK is inputted into a buffer circuit 6 as a test object circuit.例文帳に追加

回路ブロック３と共に、テスト回路４の出力データが入力されるレジスタ回路としてのフリップフロップ５ａ、５ｂには、クロックＣＬＫが印加され、クロックＣＬＫに同期して変化する出力信号は、テスト対象回路としてのバッファ回路６に入力される。 - 特許庁

In the analysis regarding the comparison of electroencephalogram frequency components in the group 2, by using the Z value which has been obtained by the analysis of the individual data as the sample to be used for the Mann-Whitney test (U test), the statistic index value (Z value) is introduced, and the quantitative evaluation is made possible.例文帳に追加

２群における脳波周波数成分の比較に関する解析では、個人データの解析で得られたＺ値をマンフォイトニー検定（Ｕ検定）に用いるためのサンプルとして用いることで、統計指標値（Ｚ値）を導入し、定量評価を可能とする。 - 特許庁

For classification based on recent test reports, the data must be examined to check whether any mortality was observed in the test animals or whether information indicating acute toxicity effects is available.例文帳に追加

最近の試験報告で分類するためには、区分４の数値に至るまでの試験において、試験動物に一匹でも死亡が認められたか、あるいは急性毒性作用があるとする情報が得られているかどうか、報告書のデータ内容についての検討を要する。 - 経済産業省

At the time of verifying a low speed operation logic circuit, a low speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register and a test pattern outputted from the speed converting section 1 of the low speed operation logic circuit is selected at a selector section 2 and delivered to the poststage circuit.例文帳に追加

低速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）として低速テストパターンを入力し低速動作論理回路の速度変換部（１）から出力されたテストパターンを、セレクタ部（２）にて選択し後段の回路へ出力する。 - 特許庁

A program test device 20a tests the content of the program provided to a mobil phone 50 via the network in advance and generates test result data 202 which records information indicating a function included in the program and resources to be accessed when the program is executed.例文帳に追加

プログラム検査装置２０ａは、ネットワークを介して携帯電話機５０に提供されるプログラムの内容を事前に検査し、プログラムに含まれている関数や、プログラムを実行した場合にアクセスされるリソースを示す情報を記録した検査結果データ２０２を生成する。 - 特許庁

The comprising part 42 of a comparison deciding part 40 reads the test concave and convex parts stored in the sample concave and convex storing part 30, reads a master contour corresponding to the test concave and convex parts from the master contour storing part 34 of a master data storing means 32 and compares both of them.例文帳に追加

比較判定部４０の比較部４２は、サンプル凹凸記憶部３０に記憶させた検査凹凸部を読み出し、この検査凹凸部に対応したマスタ輪郭線をマスタデータ記憶手段３２のマスタ輪郭線記憶部３４から読み出し、両者を比較する。 - 特許庁

Since digital units of the disk interface device can be operated at the actual operation speed though the test instruction word information and debugging data are inputted and outputted at a sufficiently lower speed, digital circuits operating at a high speed can be tested by using general low-cost test equipment.例文帳に追加

これにより、十分に遅い速度でテスト命令語情報とデバッギングデータとが入出力されるが、ディスクインターフェース装置のデジタルユニットを実際の動作速度で動作させうるので、一般的な低コストのテスト装備で高速動作デジタル回路をテストすることができる。 - 特許庁

To prevent the read or alteration of important data stored in a semiconductor nonvolatile memory in an IC card, by preventing the unauthorized working of a test mode control signal and making it impossible to control an internal circuit by a test external terminal group, after shipment to the market.例文帳に追加

ＩＣカードにおいて、テストモード制御信号の不正加工を防止し、市場出荷後は、テスト用外部端子群による内部回路の制御を一切不可能とし、半導体不揮発性メモリに格納された重要データの読み出しや改ざんを不可能とする。 - 特許庁

When shift resisters 200 that are not to be masked output indeterminate values according to the test pattern at this time, control signals which make the indeterminate mask device 220 mask the output of the shift resister are read from test data, to control the indeterminate mask device 220.例文帳に追加

このときのテストパターンに応じて、マスク対象とならなかったシフトレジスタ２００が不定値を出力する場合に、テストデータから不定マスク器２２０に対して当該シフトレジスタの出力をマスク対象とする制御信号を読み出して不定マスク器２２０を制御する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing an LCD driver comprises a memory map for previously designating an address for storing the data at each output pin and step voltage of the LCD driver to store the data in the address corresponding to the memory map irrespective of the capturing order of the pins and the steps of the test data.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを試験する半導体試験装置において、ＬＣＤドライバの出力ピンとステップ電圧毎にデータを格納するアドレスの番地をあらかじめ指定したメモリマップを設け、試験データのピンとステップの取り込み順に関係無く、該メモリマップの対応するアドレスの番地に格納する。 - 特許庁

Preset criterion data, the data of scores on comprehension tests as stated by the applicant himself, and the data of scores on the ability tests are linked together by a computer system to determine whether or not the applicant should be chosen, while checking a gap between the statement made by the applicant and the test results.例文帳に追加

あらかじめ設定した合格基準のデータと、本人が申告した理解度の得点結果データおよび実務能力判定試験の得点結果データをコンピュータシステムで結合し、本人の申告と試験結果のギャップをチェックしながら採用の合否を判定できる。 - 特許庁

When a remote control performance test is conducted, and when waveform deformation data are added to a remote control command by a waveform deformation data adding means 11 at a personal computer 1, a command transmission means 12 repeatedly transmits the remote control command, to which a waveform deformation data have been added to a remote control transmitter 2 in accordance with a macro.例文帳に追加

リモコン性能試験を行う際、パソコン１では、波形変形データ付加手段１１により、波形変形データがリモコンコマンドに付加された場合、コマンド送信手段１２は、波形変形データが付加されたリモコンコマンドをマクロに従って繰り返しリモコン送信機２へ送信する。 - 特許庁

Also, when a communication test is executed by an automatic command and fault portent data are detected, it is facilitating that the fault portent data are notified to the base in charge of the maintenance of the elevator as well as the operator in charge when the data are read by a management center 3.例文帳に追加

また、自動指令により通話テストを実施して故障予兆データが検出されたときには管理センター３により該データが読み出せるようにしてあれば、そのエレベータの保守担当拠点や担当作業員に故障予兆データを通知することができるので、より好ましい。 - 特許庁

The tested protocol 4a generates protocol data and transmits the protocol data to a logical connection identifier conversion means 6, in which only a connection identifier is converted into a different value, the means 6 loops back the resulting protocol data to a tested protocol 4b, so as to obtain the similar effect to that of an opposed test.例文帳に追加

それにより生成されたプロトコルデータを論理的コネクション識別子変換手段６に送信し、その内部でコネクション識別子のみを異なる値に変換し、そのプロトコルデータを折り返し被試験プロトコル４ｂに送信することにより、対向試験と同様の効果を得ることが出きる。 - 特許庁

The chip enable access time is obtained by changing a period between transition from a high level to a low level and transition from a low level to a high level of the test chip enable signal Stce/, and measuring the period immediately before the latch data signal is changed from an expected value data signal to a wrong data signal.例文帳に追加

テストチップイネーブル信号Ｓｔｃｅ／のハイレベルからローレベルへの遷移とローレベルからハイレベルへの遷移の間の期間を変化させ、ラッチデータ信号が期待値データ信号から誤ったデータ信号へ遷移する直前の期間を測定することにより、チップイネーブルアクセスタイムが求められる。 - 特許庁

When a fault is detected in the case of writing the image data to the hard disk 301 or of reading the data as a test after that, the use of an area of the hard disk in the unit of a prescribed size relating to fault detection is inhibited and the image data are written again to the hard disk 301.例文帳に追加

前述のハードディスク３０４への画像データの書き込みの際、またはその後の試験的読み出しの際に、異常を検知した場合は、ハードディスクにおける、異常検知にかかる所定サイズ単位の領域を使用禁止として、再度ハードディスクーの画像データの書き込みを行う。 - 特許庁

The print management device compares the received image data with original data of the test pattern image stored in a print execution database 34 to determine whether print is abnormal or not and outputs maintenance data corresponding to the determination result to competent management servers 40 for managing execution of maintenance of corresponding printers.例文帳に追加

そして、受信した画像データと印刷実行データベース３４に記憶しているテストパターン画像の元データとを比較して印刷異常の有無を判定し、その判定結果に対応するメンテナンスデータを、対応する印刷装置のメンテナンスの実行を管理する管轄管理サーバ４０に出力する。 - 特許庁

To create printing image data for a reproduction test that precisely reproduces printing data during a fault on an image processing apparatus even when no printing data can be provided by a client in connection to a fault whose cause is hard to determine only from recorded log information.例文帳に追加

画像処理装置において、記録されたログ情報のみからでは原因の特定が困難な障害について、顧客から印刷データの提供を受けられない場合においても、障害発生時の印刷データを的確に再現した再現テスト用の印刷画像データを作成することを課題とする。 - 特許庁

Original image data loaded by using a universal scanner 30 or a digital camera on a condition that a film-type culture medium 10 after incubating a test sample on a culture layer is placed on a tray 20, are received from a user, and corrected image data in which the tilt, position, and image quality of the original image data are corrected, are created.例文帳に追加

培養層で検体をインキュベ−トした後のフィルム型培地１０をトレイ２０に載置した状態で汎用スキャナ３０やデジタルカメラを用いて取り込んだ元画像データをユーザから受信し、該元画像データの傾きおよび位置、さらには画質を補正して補正画像データを作成する。 - 特許庁

In a step S105, the input/output conversion information and output attribute information related to the format ID are read out for the format ID, and the data of the test recording data sheet is converted into data for database which has a predetermined arrangement based on the correspondence.例文帳に追加

ステップＳ１０５では、フォーマットＩＤに対して、そのフォーマットＩＤに関連付けられた入出力変換情報および出力属性情報を読み出して、前記対応関係に基づいて試験記録データシートのデータを所定の並びを有するデータベース用データに変換する。 - 特許庁

With respect to the semiconductor integrated circuit incorporating a data cache and the at-speed test method thereof, decoding is executed without considering fixed bits to map a plurality of addresses of the data cache to one address of a on-chip memory per prescribed address unit when address decoding of the data cache is performed.例文帳に追加

ここに開示されたデータキャッシュが内蔵した半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法は、データキャッシュのアドレスデコーディング時、一定ビットを考慮しなくデコーディングを実行して、データキャッシュの複数個のアドレスを所定のアドレス単位ごとにオンチップメモリの一つのアドレスにマッピングさせる。 - 特許庁

A computer 4 divides test data of (N+M) bits into A bit data for a step and B bit data for an offset and sends them to an input buffer 5, receives an output from an output buffer 6 to search all change points of digital outputs with respect to analog inputs, thereby measuring the nonlinearity.例文帳に追加

計算機４は、N＋Mビットのテストデータをステップ用のＡビットとオフセット用のＢビットに分割して入力バッファ５に送るとともに、出力バッファ６の出力を取り込んで、アナログ入力に対するデジタル出力の変化点を全点サーチすることで非直線性を測定する。 - 特許庁

When the result of the addition of the test data read out from the positions where the data storage media 124-1 to 3 should be placed do not give the values obtained at the respective head addresses and yet give any of X, Y or Z, it is judged that the data storage media at the positions involved are wrong in placement.例文帳に追加

各データ記憶媒体１２４−１〜３を搭載すべき位置から読み出したテストデータの加算結果がその先頭番地の値とはならないが、Ｘ、Ｙ、Ｚのいずれかとなった場合には、当該位置に搭載されたデータ記憶媒体が間違っていると判断される。 - 特許庁

Further, since an optical disk control(ODC) chip 10 being an object for inspection is provided with the format information of the reproduced data, the evaluation board 20 capable of automatically producing the test data is supplied at a low cost with the a simple constitution by obtaining the timing for substituting for the error data from the ODC chip 10.例文帳に追加

さらに、検査対象であるＯＤＣチップ１０は、再生データのフォーマット情報を持っているので、そのＯＤＣチップ１０からエラーデータに置換するタイミングを取得することにより、テストデータを自動生成可能な評価ボード２０を簡略な構成で低コストで供給可能とする。 - 特許庁

A morphemic analyzing part 15a of a classification rule preparing part 15 executes the morphemic analysis of a test data group 21 stored in a data base 3, and a frequency pattern detecting part 15b detects the combination of words repeatedly appearing in a plurality of text data as a frequency pattern from the morphemic analysis results.例文帳に追加

分類ルール作成部１５内の形態素解析部１５ａは、データベース３に格納されたテキストデータ群２１を形態素解析し、頻出パターン検出部１５ｂは形態素解析結果から複数のテキストデータに繰り返し出現する単語の組み合わせを頻出パターンとして検出する。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to a subsequent stage section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して後段部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

By collecting a cartridge 100 with the radio IC tag 110 attached thereto and collecting various data stored in the recording data region 115a, the manufacturers of the MFP 10 or toner can easily collects a large amount of data on temperatures, humidities and densities in test patches.例文帳に追加

この無線ＩＣタグ１１０が装着されたカートリッジ１００を回収し、記録データ領域１１５ａに記憶された各種データを収集することで、ＭＦＰ１０の開発メーカやトナーの開発メーカは、温度、湿度および試験パッチの濃度を容易に多数収集できる。 - 特許庁

The internal combustion engine tester 1 is provided with sensors 20, 21 for obtaining data necessary for performance test of an engine 3, an indicator for displaying measured data of the respective sensors, a personal computer 70 for inputting the respective data, and an internal combustion engine control means for controlling driving of the engine 3.例文帳に追加

内燃機関試験装置１は、エンジン３の性能試験に必要なデータを取得するためのセンサ２０，２１と、各センサの測定データを表示する指示計と、各データが入力可能なパソコン７０と、エンジン３の駆動を制御する内燃機関制御手段とを備える。 - 特許庁

The personal computer 150 for parameter generation analyzes a test chart image read by a scanner 140, calculates the correction parameters, generates PDL data (print data described in a page description language) where the calculated correction parameters are embedded, and transmits the generated PDL data to an RIP device 120 via a network 160.例文帳に追加

パラメータ生成用PC150は、スキャナ140によって読み込まれたテストチャート画像を解析して、補正パラメータを算出し、算出した補正パラメータが埋め込まれたPDLデータ（ページ記述言語で記述された印刷データ）を生成し、生成したPDLデータを、ネットワーク160を介して、RIP装置120に送信する。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to an intermediate section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して中間部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁