「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

In a normal operating mode, the I/O circuit 54 externally outputs the read data at first timing, while in a test mode, the I/O circuit outputs the decision signal with delay at second timing.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ回路５４は、通常動作モード時においてはリードデータを第１のタイミングで外部に出力し、テストモード時においては、判定信号をより遅い第２のタイミングで外部に出力する。 - 特許庁

Therefore, when the test data are reproduced for inspecting a scratch, as the reproducing head is never positioned outside the outermost peripheral cylinder [Max], runaway is not caused in a head supporting mechanism.例文帳に追加

したがって、傷の検査のために試験データを再生するときに再生ヘッドが最外周シリンダ［Max］より外側に位置づけられることはないのでヘッド支持機構が暴走することはない。 - 特許庁

Namely, the positioning of the test subject M to the center position of the multilayer detector ring 11 can be easily performed by using the collected TOF data without depending on subjective views of an operator.例文帳に追加

すなわち、収集されたＴＯＦデータを用いて、多層検出器リング１１の中心位置への被検体Ｍのポジショニングを操作者の主観に頼らずに容易に行うことができる。 - 特許庁

Therefore, so to speak the disturb-test which is performed by using a magnetic field generated by the first and the second data write current can be executed in parallel to a memory cell column.例文帳に追加

したがって、第１および第２のデータ書込電流により生じる磁界を用いて行なういわゆるディスターブ試験をメモリセル列に対して並列に実行することができる。 - 特許庁

Then, retrieval test data being different mutually are stored in a word memory of the plurality of associative memory word circuits 6A by boosting the operation voltage VDD1, and the VDD2 at different times.例文帳に追加

そして、動作電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の立ち上げに時間差を設けることにより、前記複数の連想メモリワード回路６Ａのワードメモリに、互いに異なる検索テストデータを記憶する。 - 特許庁

Further, the position and/or range of the initializing part, the interrupt table, the address space table, and an address data region beginning position in the test program can be specified.例文帳に追加

さらに、操作手段６により、テストプログラムにおける初期処理部、割り込みテーブル、アドレス空間テーブル、アクセス・データ域先頭位置等の位置および／または範囲を指定することができる。 - 特許庁

In the scan moving phase 320, a scan moving operation including data scan into and out of a plurality of scan chains arranged between the functional logic sections of the device during the test is performed.例文帳に追加

走査移動フェーズ３２０では、テスト中のデバイスの機能ロジックの部分間に配設された複数の走査チェーン中へ及び外へデータを走査することを含む、走査移動動作が行われる。 - 特許庁

The network evaluation device 1 makes simulated failure be generated or be recovered in the test object apparatus 14 in the process of the data communication performed by the simulated server 2 and simulated client 4.例文帳に追加

ネットワーク評価装置１は、模擬サーバ２及び模擬クライアント４がデータ通信を行う過程で、試験対象機器１４に対して擬似障害を発生させたり、それを復旧させたりする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time for guaranteeing the minimum power source voltage previously determined, by which data are normally held can be shortened.例文帳に追加

データを正常に保持することが可能な予め定められた最小の電源電圧を保証するためのテストのテスト時間を短縮することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

When turned on etc., the optimum memory length is obtained, by performing test write to a predetermined area on a magneto optical disk 6, then reading data, and measuring an error rate.例文帳に追加

電源投入時等において、光磁気ディスク６上の所定の領域にテストライトを行い、次にデータを読出して、エラーレートを測定することによって、最適なメモリ長が分かる。 - 特許庁

A data mining server 5 selects one of a plurality of advertisement mails and transmits the one advertisement mail as a test to personal computers 7-1 to 7-3 selected at random among registered customers.例文帳に追加

データマイニングサーバ５は、登録した顧客のうちランダムに選択したパーソナルコンピュータ７−１乃至７−３に対して、複数ある広告メールのうちの１つを選択し、テスト送信する。 - 特許庁

To provide a function verification technique that is more effective in dispensing with test patterns and capable of more effectively reducing the time and cost required to verify functions regarding the design data of a semiconductor device.例文帳に追加

よりテストパターンの省略効果が高く、半導体装置の設計データに対する機能検証にかかる時間及びコストをより効果的に削減できる機能検証技術を提供する。 - 特許庁

Then, reproduction signals are generated by reproducing the test recording data, the waveform of the reproduction signals is evaluated and a cooling level at which a target asymmetry value is obtained is set as an optimum cooling level.例文帳に追加

そして、テスト記録データを再生して再生信号を生成し、再生信号の波形を評価し、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを最適クーリングレベルとして設定する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory which can perform efficiently the test of a data hold characteristic of a ferroelectric nonvolatile memory highly accurately and with less samples, and its testing method.例文帳に追加

強誘電体不揮発性メモリのデータ保持特性の試験を、高精度かつ少ないサンプル数で効率的に行える半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法とを提供する。 - 特許庁

When writing in data, a test device 600 outputs a chip enable- signal/CE of L level and selecting signals GE0, GE1 of L level and activates simultaneously semiconductor memories 1-8.例文帳に追加

データの書込時、テスト装置６００は、Ｌレベルのチップイネーブル信号／ＣＥおよびＬレベルの選択信号ＧＥ０，ＧＥ１を出力して半導体記憶装置１〜８を同時に活性化する。 - 特許庁

In an S1, test patterns (toner images) obtained by binarizing input data at 64, 96 and 128 levels are each outputted onto the entire surface of a blank sheet of paper with an A3 size being a transfer material P one by one (three sheets in all).例文帳に追加

Ｓ１で、６４、９６、１２８レベルの入力データが二値化されたテストパターン（トナー像）を転写材ＰとしてのＡ３白紙全面にそれぞれ１枚ずつ、計３枚出力する。 - 特許庁

The output result of the high-speed phase circuit 210 is introduced into the data holding unit 226 and monitored to detect failures occurring in the high-speed phase circuit 210, and a test coverage is improved.例文帳に追加

高速位相回路部２１０の出力結果をデータ保持部２２６で取り込んでモニタリングすることで高速位相回路の故障検出を実現し、テストカバー率を改善する。 - 特許庁

In this image processing method, the test of an object included in plotting data is executed, and a print unfitted object unfitted to print processing is detected.例文帳に追加

本発明に係る画像処理方法においては、描画データに含まれるオブジェクトに対する検査が実行され、印刷処理に適合しない印刷非適合オブジェクトが検出される。 - 特許庁

From a second measured density curve 204 based on the read data of a test pattern 200 which is based on the correction LUT 1, a pixel value D2 required for obtaining the target value X is calculated.例文帳に追加

補正ＬＵＴ１に基づくテストパターン２００の読み取りデータに基づいた２回目の測定濃度曲線２０４から目標値Ｘを得るために必要な画素値Ｄ２を算出する。 - 特許庁

At the time of applying a power source or the like, test-write is performed for the prescribed region on a magneto-optical disk 6, next, optimum memory length is detected by reading out data and measuring an error rate.例文帳に追加

電源投入時等において、光磁気ディスク６上の所定の領域にテストライトを行い、次にデータを読出して、エラーレートを測定することによって、最適なメモリ長が分かる。 - 特許庁

To generate a test pattern in a good efficiency for verifying a logic circuit having a specific state transition without taking a man-hour at a logically verifying time of a long time according to many types of data packets.例文帳に追加

多種データパケットによる長時間の論理検証時にも工数が掛からず、特定の状態遷移を持つ論理回路の検証にも効率の良いテストパターンを発生する。 - 特許庁

Further, it is made possible for a manager on an airtightness test management server 12 having received the compound data to manage the action of the inspector handling the digital manometer 11 thereby inhibiting an unjust act.例文帳に追加

また、複合データを受け取った気密検査管理サーバー１２の管理者がデジタルマノメータ１１を扱う気密検査員の行動を管理し、不正行為を抑止することが可能になる。 - 特許庁

The control station is provided with a mobile station fault information storage control section, which stores the test result data of the mobile station and controls the control station so as not to call the faulty mobile station.例文帳に追加

制御局は移動局故障情報記憶制御部を設け、移動局の試験結果データを記憶し、制御を行い、故障の移動局を呼び出さない様にしたものである。 - 特許庁

Thus, when the data logger or the control computer gets out of use, it can quickly be replaced with the general purpose one, thereby smoothly quickly performing the test for determining the quality of the auto-pickup control device 8-i.例文帳に追加

このとき、いずれかが故障したときに、迅速に調達することができ、オートピックアップ制御装置８−ｉの良否を判定する試験をスムーズに速く実施することができる。 - 特許庁

In a test mode, comparators 11a, 11b compare values of data read from respective memory cells connected to an activated word line, with expected values to be read from respective memories every column.例文帳に追加

テストモード時に、比較器１１ａ，ｂは、活性化されたワード線に接続されている各メモリセルから読み出されたデータの値と、各メモリから読出されるべき期待値とを、カラムごとに比較する。 - 特許庁

A test control section 103 detects a functional circuit block D109 in an idle state and thereafter outputs a voltage drop instruction through an address/data bus 101 to a power supply control section 104.例文帳に追加

テスト制御部１０３は、アイドル状態の機能回路ブロックＤ１０９を検出した後、アドレス／データバス１０１を介して電源制御部１０４に電圧降圧指示を出す。 - 特許庁

To provide a data sampling system for a testing device enabling an inspector to conduct an ultrasonic flaw detection test for a pipe welding joint simply without being exposed to radiation excessively.例文帳に追加

検査員が放射線に過度に被曝することなく簡便に配管溶接継手を超音波探傷試験することができる試験装置用のデータ採取システムを提供すること。 - 特許庁

To two-dimensional image data, a correction section 32 performs processing to correct resolution in predetermined direction within the image according to an angle which is made by a perpendicular line of a test object and an optical axis of the line sensor camera 25.例文帳に追加

補正部３２は、２次元画像データに対して、被検体の垂線とラインセンサカメラ２５の光軸がなす角度に応じて画像内の所定方向の解像度を補正する処理を行う。 - 特許庁

An evaluation test is conducted for each of the four different paths by turning on the switches (113-116) and an AC timing range wherein read and write of data are normally performed is defined.例文帳に追加

スイッチ（１１３〜１１６）を切り換えて異なる４つの経路についてそれぞれ評価試験を行い、データの読み出しや書き込みが正常に行われるＡＣタイミング範囲を明確にする。 - 特許庁

To provide a subscriber line automatic test system that needs no operator, then requires no labor such as hearing of fault contents and data entry and precludes the possibility of wrong hearing or the like.例文帳に追加

オペレータを必要とせず、したがって、故障内容の聞き取り、データ入力等の手間が要らず、また、聞き違い等の発生する恐れがない加入者回線自動試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a device to easily test a function for communicating with an RFID tag even when data stored in the RFID tag on a component to be attached to the device are varied according to the model of the device.例文帳に追加

装置に装着される部品のＲＦＩＤタグが持つデータが装置の機種ごとに異なる場合でも、装置がＲＦＩＤタグと通信する機能の検査を容易にする。 - 特許庁

To provide a test stand constituted so that the surface of a sample is not subjected to percussion when the sample is rotated and capable of acquiring accurate data.例文帳に追加

試料を回転させる際に試料表面が歳差運動を生じないようにし、試料の回転などにより測定する場合に正確なデータが取得できる試料台の提供。 - 特許庁

To provide a device test data display capable of selection-assigning visually computation desired to be executed, and capable of improving operability so as to execute it easily with reduced procedures.例文帳に追加

実行したい演算を視覚的に選択、指定できるようにし、少ない手順で容易に実行できるよう操作性の改善をはかったデバイステストデータ表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an address decoder check circuit and its check method capable of making a detailed check with less check steps without preparing expected values for the test memory data.例文帳に追加

検査ステップがより少なく、テスト用のメモリデータの期待値を設ける必要がなく、且つ検査を詳細に行うことができるアドレスデコーダの検査回路及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To automatically provide an accurate breaking point data corresponding to a true breaking point all the time, even when a load reducing rate is high at breaking of a test piece.例文帳に追加

試験片の破断時における荷重の減少速度が速くても、常に真の破断点に対応する正確な破断点データを自動的に得ることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

In this way, by carrying out expectation value collation for adjacent semiconductor chips and shifting data sequentially, wafer test can be realized in a time substantially the same as that for the measurement of one chip.例文帳に追加

このようにして、各隣接する半導体チップの期待値照合を行い、データをシフトしていけば、ウエハーの試験は１チップ測定とほぼ変わらない時間で行うことが出来る。 - 特許庁

A pattern generation part 5 generates information on the relation of input/output signals required for generating test data based on information on a function description stored in the component database 4.例文帳に追加

パターン生成部５はコンポーネントデータベース４に格納された機能記述に関する情報を元に、テストデータ生成に必要な入出力信号の関係等の情報を生成する。 - 特許庁

The GRR layer 13 confirms a voice communication state notified from the DL layer 17 if packet data communication are requested from the test object terminal 5 or the scenario executer 18.例文帳に追加

ＧＲＲ層１３は、試験対象端末５またはシナリオ実行部１８からパケットデータ通信の要求があったときに、ＤＬ層１７から通知された音声通信状態を確認する。 - 特許庁

A test and transfer environment part 3 stores files groups by users in hierarchical directory structure and transfers the web data to the specific web server W for public announcement through the Internet.例文帳に追加

テスト及び転送環境部３は、ユーザごとのファイル群を階層的ディレクトリ構造に基づいて格納し、及びウェブデータをインターネットを経て所定の公開用ウェブサーバＷへ転送する。 - 特許庁

Tests for faults such as leak between cells and low voltage between cells can be performed by a logical test of the memory by varying length of the data holding period signal S102 to various length.例文帳に追加

データ保持期間信号Ｓ１０２を様々な長さに変えることにより、メモリ１０７の論理的検査からセル間リーク故障やセル間の低電圧故障の検出まで行なうことができる。 - 特許庁

By collating the output of the comparator CMP with expected-value data 11, it is possible to test whether the operation of switching gain control signals to each amplifier is normal or anomalous.例文帳に追加

コンパレータＣＭＰの出力を期待値データ１１と照合することで、各アンプに対するゲイン制御信号の切り換え動作が正常であるか、異常であるかをテストすることが可能になる。 - 特許庁

Signals SO outputted from scan chains of logic circuits 12 of memory chips MC1 and MC2 during the test operation are simultaneously outputted from respective data output terminals 4a and 4b.例文帳に追加

テスト動作時にメモリチップＭＣ１，ＭＣ２の各論理回路１２のスキャンチェーンから出力される信号ＳＯは、それぞれのデータ出力端子４ａ，４ｂから同時に出力される。 - 特許庁

The test signal is converted into a digital signal by a comparator 224 at the distal signal route, and supplied to a data memory 228 and a digital trigger circuit 230 via a digital output driver 226.例文帳に追加

デジタル信号経路では、比較器２２４により試験信号をデジタル信号にして、デジタル出力ドライバ２２６を介してデータ・メモリ２２８及びデジタル・トリガ回路２３０に供給する。 - 特許庁

To perform a delay test while considering influences of crosstalk by using a scan path of a semiconductor integrated circuit in a circuit where data is exchanged between circuits belonging to different clock domains.例文帳に追加

異なるクロックドメインに属する回路間でデータの授受がある回路において、半導体集積回路のスキャンパスを用いてクロストークの影響を考慮した遅延試験を行うことができる。 - 特許庁

Calibration includes a calibration light source in a factory test apparatus operated at a fixed power level, and collecting the full spectrum power distribution of the calibration light source to generate a first data set.例文帳に追加

校正は、一定のパワーレベルで運転される工場の試験装置の校正光源と、第１のデータセットを生成するために校正光源の全スペクトルパワー分布を収集することとを含む。 - 特許庁