「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

A fault-generating vector specifying unit 8 inputs data D2, regarding a comparison result from the comparator 11, and specifies a fault generating vector from a plurality of test vectors TB1 to TBn.例文帳に追加

異常発生ベクタ特定部８は、比較結果に関するデータＤ２を比較器１１から入力し、そのデータＤ２に基づいて、複数のテストベクタＴＢ１〜ＴＢｎの中から、異常発生ベクタを特定する。 - 特許庁

To provide a storage device preventing the deterioration of processing capacity even if data stored in a memory is frequently updated and to provide a semiconductor test device equipped with the storage device.例文帳に追加

メモリに記憶されているデータの更新を頻繁に行う場合であっても処理能力の低下を防止するとができる記憶装置、及び当該記憶装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A VBL generating circuit 130 normally outputting an equalizing potential outputs potential corresponding to written data in a test mode, and this potential is supplied en bloc to a bit line by an equalizing circuit.例文帳に追加

通常はイコライズ電位を出力するＶＢＬ発生回路１３０は、テストモードでは書込データに対応する電位を出力し、イコライズ回路によってビット線に一括してこの電位が供給される。 - 特許庁

To provide an infrared camera device that enables a camera to acquire sensitivity correction data in a standalone mode according to an ambient environment without the need of a sensitivity property acquiring test in manufacturing cameras.例文帳に追加

カメラ製造時の感度特性取得試験を必要とせず、周辺環境に応じた感度補正データを、カメラがスタンドアロンにて取得可能とする赤外線カメラを提供することを目的とする。 - 特許庁

In a network processor 42, the test processing part 3 suppresses subtraction of a TTL (time to live) value to set a routing table 421 so that data is sequentially transmitted along the transfer route in the loop shape.例文帳に追加

ネットワークプロセッサ４２において、試験処理部３により、ＴＴＬ値の減算が抑止され、データがループ状の転送経路に沿って順に送信されるようにルーティングテーブル４２１が設定される。 - 特許庁

In turn, a receiving side determines whether the communication speed is appropriate for the line quality on the basis of the number of error bits in the received test data and informs the transmitting side of an affirmative or negative response. 例文帳に追加

一方、受信側は受信した前記テストデータ内のエラービット数からその通信速度が回線品質に適しているかどうか判定し、肯定又は否定応答を送信側に通知する。 - 特許庁

D2 saves the time of this negotiation by determining the optimum data rate based on a measurement of the signal to noise ratio on the line in a single test transmission. 例文帳に追加

引用文献２は、一度のテスト通信で回線のS/N比を測定することによって、最適な通信速度を決定することにより、従来の手法において設定に要する時間を削減している。 - 特許庁

The performance of reading out and comparing the data can be set in a test operation selecting part 2 after resuming the power supply to the memory 9, and this setting is effective even after resuming the power supply to the memory 9.例文帳に追加

メモリ９への給電再開後にデータの読出および比較を行うことを試験動作選択部２に設定することができ、この設定はメモリ９への給電再開後も有効である。 - 特許庁

To provide a remote inspection system and an inspection method for achieving the management and accurate decision of clinical test data in such simple configurations that can be executed outside a special institute such as a hospital.例文帳に追加

本発明は、病院などの専門機関の外で実施できる簡易な形態でありながら、臨床検査データの管理と的確な判定のできる、遠隔検査システムおよび検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit with built-in nonvolatile device, wherein a test is carried out while keeping a secrecy of data mounted in the nonvolatile device and a position of error can be specified when the error occurs.例文帳に追加

不揮発デバイスを内蔵した半導体集積回路について、不揮発デバイスに実装したデータの機密性を保ちつつテストを行い、エラーがあった場合にエラー位置を特定することを可能とする。 - 特許庁

The inelastic deformation after many hours' use is evaluated simply on the basis of the evaluation of a strength-of-materials-based elastic stress and evaluation and on the basis of creep speed constructive mood data at a test piece level.例文帳に追加

材料力学ベースの弾性応力・変形評価と、試験片レベルのクリープ速度構成式データを元に長時間使用後の非弾性変形を簡易的に評価することを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a mask circuit 11 which is connected to the data input terminals T0 to T3 and passes a test mode setting signal having a smaller pulse width than the prescribed pulse width PW.例文帳に追加

半導体装置１は、データ入力端子Ｔ０ないしＴ３に接続され、所定パルス幅ＰＷより小さいパルス幅を有するテストモード設定信号を通過させるマスク回路１１を備える。 - 特許庁

To provide a method of recording a multilayer optical disk for performing recording while securing sufficient test areas without reducing user data areas, and while suitably controlling the power of laser beam irradiated onto each of the layers.例文帳に追加

多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保しかつ、各層のレーザ照射パワーを適切に制御して記録するための記録方法を提供する。 - 特許庁

A writing-in circuit 15 outputs a control signal RGT allowing writing-in of the data to the test register 16, in response to the writing-in command WR output from the operation control part 12.例文帳に追加

書き込み回路１５は、前記動作制御部１２から出力される書き込みコマンドＷＲに応答して、テストレジスタ１６へのデータの書き込みを許可する制御信号ＲＧＴを出力する。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To enable a semiconductor memory constituted of plural memory banks to simultaneously write the same data in each memory cell, to reduce the number of times of write-in operation and to shorten a test time.例文帳に追加

複数のメモリバンクで構成される半導体記憶装置において、各メモリセルに対して同一データを同時に書き込むことを可能とし、書き込み動作回数を低減して、テスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To enable recording of a test pattern of only second liquid not overlapped with first liquid in a configuration in which discharge of first liquid and second liquid is controlled from common image data.例文帳に追加

共通の画像データから第１液体及び第２液体の吐出が制御される構成において、第１液体と重ならない第２液体のみの検査パターンを記録することができるようにする。 - 特許庁

When test data are recorded in another conditions then, recording is performed by changing the temporary optimum recording power so that irradiation energy values are equal to each other and the condition on which a jitter value is minimized is adopted as the optimum condition.例文帳に追加

その後、異なる条件でテストデータを記録する際に、照射エネルギが同一となるように仮最適記録パワーを変化させて記録し、ジッタ量が最小となる条件を最適条件とする。 - 特許庁

When the distribution of the contents with the high image quality is specified from an operation unit 27, transmission of test data for transfer speed confirmation is requested from a transfer rate confirmation part 22 to a video distribution device 10.例文帳に追加

操作部２７から高画質でのコンテンツの配信が指定されると、転送レート確認部２２から動画配信装置１０に対して転送速度確認用の試験データの送信を要求する。 - 特許庁

An input pattern and an output expected value for the simulation are expressed by a structural body constituted of a starting pointer, a data size, a next pointer and a parameter of control information on a memory 104 within a test bench 102.例文帳に追加

テストベンチ１０２内では、シミュレーションのための入力パターンおよび出力期待値はメモリ１０４上の開始ポインタ、サイズ、次ポインタ、制御情報のパラメータからなる構造体で表現する。 - 特許庁

To perform a highly precise AC test without a high-speed operative LSI tester, in a semiconductor integrated circuit containing a high-speed interface circuit for transferring serial data.例文帳に追加

シリアルデータを転送する高速インタフェース回路を内蔵した半導体集積回路において、高速動作が可能なＬＳＩテスタによらなくても高精度のＡＣテストを行うことができるようにする。 - 特許庁

Alternatively, the evaluation method for the radio base station includes the step of the evaluation apparatus 2 for evaluating feedback control information in the test data, subjected to the reverse coding processing in the second step, by using both the downlink frame and the uplink frame.例文帳に追加

さらには、上記の下りリンクフレームと上りリンクフレームの両方を用いて該第2ステップで逆符号化処理された試験データ中のフィードバック制御情報を、評価装置2で評価する。 - 特許庁

The learning teaching materials comprise a test sheet for evaluating a student's evaluation by an educator and a recording medium for recording sheet teaching materials as electronic data as supplementary teaching materials.例文帳に追加

教育者が学習者の学習評価を行うためのテストシートを具備すると共に、その補習教材としてのシート教材を電子データとして記録した記録媒体を有する学習教材である。 - 特許庁

In the case of generating picture correction data, a test picture is displayed on a screen with an input signal having a luminance level L5 and a video camera detects the luminance at each position in the picture.例文帳に追加

画面補正データを作成する際に、或る輝度レベルＬ５の入力信号によりテスト画面をスクリーン上に表示させ、ビデオカメラ装置により画面内の各位置における輝度の検出を行う。 - 特許庁

A program and test data are provided for displaying the retrieved program modules, having the user 3 select desired program modules, and allowing the user 3 to try out all combinations of the selected program module group.例文帳に追加

検索されたプログラムモジュールを表示し，所望するプログラムモジュールをユーザ３に選択させて，選択されたプログラムモジュール群のすべての組合せを試用できるプログラムおよびテストデータを提供する。 - 特許庁

A semiconductor device incorporating a flash memory 104 is provided with a test mode storage circuit 109 and outputs an input from a control signal input terminal 101 from a data input/output terminal 102.例文帳に追加

フラッシュメモリ１０４内蔵の半導体装置にテストモード記憶回路１０９を備え、テストモード時に制御信号入力端子１０１からの入力をデータ入出力端子１０２より出力する。 - 特許庁

To provide a data processing system on an integrated circuit with a micro processor 1 and peripheral devices as well as an emulation unit capable of debugging and emulating the integrated circuit when an external test system is connected.例文帳に追加

外部テストシステムへの接続時に集積回路のデバッグとエミュレーションが行えるエミュレーションユニットと共に、マイクロプロセッサ１および周辺装置を備えた集積回路上のデータ処理システムを提供する。 - 特許庁

A level measuring part 4 performs collecting and storing the measured data after a predetermined waiting time elapses after updating the radiation angle of the test audio beam, every time the radiation angle is updated.例文帳に追加

レベル測定部４は、試験音声ビームの放射角度が更新されてから所定の待ち時間が経過した後に測定データを収集して記憶することを、放射角度が更新される度に行う。 - 特許庁

The image of the coating material that has undergone the test coating is picked up by a CCD camera, and image processing is made to obtain coating area and plural coating diameters of the coating material, and based on these data, whether coating is good or bad is decided.例文帳に追加

テスト塗布された塗布剤はＣＣＤカメラ３１で撮像され、画像処理されて、塗布剤の塗布面積と複数の塗布径が求められ、これらのデータに基づき塗布の良否が判定される。 - 特許庁

The physical property ratio of a reinforced concrete member, wherein ASR has caused in a healthy reinforced concrete member, is determined from the existing compression test data related to the reinforced concrete member corresponding to a reinforcing rod ratio.例文帳に追加

鉄筋コンクリート部材に関する既存の圧縮試験データから、健全な鉄筋コンクリート部材に対するＡＳＲを発症した鉄筋コンクリート部材の物性比を、鉄筋比に応じて求める。 - 特許庁

When a barcode on the rack is read by a separate barcode reader 42, data inputted in the computer is read and a new label L corresponding to every test subject is issued and affixed on each specimen container.例文帳に追加

ラックのバーコード１２が別途のバーコードリーダ４２で読み取られたときに、コンピュータに入力されたデータから読み出して被験者毎に対応する新たなラベルＬを発行して検体容器に貼り付けられる。 - 特許庁

An operation level simulation control part 220 acquires an operation level simulation model, an operation level test pattern and an RTL description through a data input device 100, and makes an operation level simulation executing part 210 execute operation level simulation.例文帳に追加

動作レベルシミュレーション制御部220は、データ入力装置100を介して動作レベルシミュレーションモデル、動作レベルテストパタン及びRTL記述を取得し、動作レベルシミュレーション実行部210に動作レベルシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

The checking PC 600 receives data memory information about the PLC 300 after alarm monitoring system operation test from the PLC, and an intermediate file generation part 651 generates an intermediate file to store it in a memory 610.例文帳に追加

チェック用ＰＣ６００は、警報監視システム動作試験後のＰＬＣ３００のデータメモリ情報を、ＰＬＣから受信し、中間ファイル生成部６５１が、中間ファイルを生成してメモリ６１０に格納する。 - 特許庁

The test device 1 measures a delay time from the output of the received data packets to the input, calculates the statistic feature quantity of measured delay time for each priority as an evaluation value and outputs the result.例文帳に追加

試験装置1で、入力した各データパケットの出力から入力までの遅延時間を測定し、各優先度毎に、測定した遅延時間の統計的直腸を評価値として算出し、出力する。 - 特許庁

The failure relief data prepared by the relief arithmetic unit 20 are transmitted to a failure relief device 30 where the failure relief is performed on the memory device determined as failure by the memory test devices 10a to 10n.例文帳に追加

救済演算装置２０で作成された不良救済データは、不良救済装置３０に送信され、メモリ試験装置１０ａ〜１０ｎで不良と判定されたメモリデバイスの不良救済が行われる。 - 特許庁

Then a controller 30 drives a rotation control section 31 and erases the test data while varying the rotation speed as quad-speed, six-speed, eight-speed, ten-speed, and twelve-speed or the like to calculate the erasure performance.例文帳に追加

その後、コントローラ３０は回転制御部３１を駆動して４倍速、６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速等と回転速度を変化させてテストデータを消去し、その消去性能を算出する。 - 特許庁

In the test disk 30, data of capacity (about 3 MByte) of the degree of a small fraction of the recording capacity of layers 0 and 1 is recorded over the layers 0 and 1, and a middle area of the layers 0 and 1 is expanded.例文帳に追加

テストディスク３０には、レイヤー０、１の記録容量の数分の１程度の容量（3MByte程度）のデータがレイヤー０、１に亘って記録され、それに応じて、レイヤー０、１のミドルエリアが拡張されている。 - 特許庁

To provide a monitor corresponding to each one of block circuits, which only keeps a vicinity data when an error occurs in a test bench for verifying a semiconductor integrated circuit in which a plurality of block circuits are connected in series.例文帳に追加

複数のブロック回路がシリアル接続している半導体集積回路をテストするテストベンチにおいて、各ブロック回路に対応する各モニタがエラー発生時近辺のデータのみを保持すること。 - 特許庁

To provide a system which verifies fast whether an LSI designed by electronic design automating technology and a test pattern of the LSI generated on the basis of CAD data at the time of development designing are proper.例文帳に追加

電子設計自動化手法で設計したＬＳＩと、開発設計時におけるＣＡＤデータを基に作成されたそのＬＳＩのテストパターンの適否を高速に検証するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a design quality inspection support system that has the functions of verifying consistency and integrity of design descriptions and of generating test data in accordance with specifications for an information processing system.例文帳に追加

情報処理システムの仕様設計書より、設計仕様の一貫性と整合性を検証する機能、及び、テストデータを生成する機能を有する、設計品質検査支援システムを提供する。 - 特許庁

Then, after the retention test is completed, the control circuit 10 secures electrical connection between the RAM 2 and an output terminal OUT, and outputs data held by the RAM 2 to the output terminal OUT.例文帳に追加

そして、リテンションテストが終了した後、コントロール回路１０は、ＲＡＭ２と出力端子ＯＵＴとの間の電気的接続を確保し、ＲＡＭ２に保持されたデータを出力端子ＯＵＴに出力する。 - 特許庁

The first and second data sets are filtered and aligned to determine a system response factor of the client test apparatus, so that the irradiance level control may be calibrated.例文帳に追加

第１および第２のデータセットは、フィルタリングされ、顧客の試験装置のシステム応答因子を決定するために位置合わせされ、それによって、放射照度レベルコントロ−ルを校正することが可能となる。 - 特許庁

Moreover, a statistical processing part 243 provided in an information processing device 200 performs statistical processing using a measured data obtained by the multipoint measurement, thereby measuring hardness distribution in the test piece.例文帳に追加

また、情報処理装置２００が有する統計処理部２４３が、多点測定により得られた測定データを用いて統計処理を行うことで、試験片における硬さの分布を計測する。 - 特許庁

A photoelectric converter 20 converts a test signal light propagated by an optical fiber transmission path 12 into an electric signal, in which the output thereof is inputted to a data discrimination circuit 24 through a low-pass filter (LPF) 22.例文帳に追加

光電変換器２０は、光ファイバ伝送路１２を伝搬したテスト信号光を電気信号に変換し、その出力は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２２を介してデータ識別回路２４に入力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which sufficiently assures security even with bit change of data of test mode control flag contained in non-volatile memories due to failure and the like, and prevents yield of manufacturing from lowering.例文帳に追加

不揮発性メモリに格納されたテストモード制御フラグのデータが故障等によってビット変化しても、セキュリティを十分に確保し、かつ、製造の歩留まりを低下させない半導体装置を提供する。 - 特許庁