「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

Moreover, since data is recorded on the test writing area of the optical disk in order to acquire data with which the relational expression is calculated, the initial value of the laser driving voltage can be calculated in a short period of time without turning a focusing servo off like in the conventional optical disk recording device.例文帳に追加

また、関係式を求めるデータを取得するために、光ディスクの試し書き領域にデータを記録するので、従来の光ディスク記録装置のようにフォーカスサーボをオフにせずに、レーザ駆動電圧の初期値を短時間で算出することができる。 - 特許庁

A determination part 16 of the test body 10 whose coloring state is displayed is imaged by a camera part 32 provided on a cellular phone 30, to thereby generate image data of the determination part 16, and the image data are transmitted from the cellular phone 30 to a diagnosis server 40.例文帳に追加

発色状態が表示された試験体１０の判定部１６を携帯電話機３０に設けられたカメラ部３２によって撮像して判定部１６の画像データを生成し、画像データを携帯電話機３０から診断用サーバー４０に送信する。 - 特許庁

When a plurality of memory parts MEM1 are tested, test input data (DIN_T, ADR_T, CS_T, RW_T) generated in an inspection circuit BT1 are shifted in order in each register (SF5 to SF8) of a first data shift circuit formed by using a scan flip-flop, and are transferred to each memory part.例文帳に追加

複数のメモリ部ＭＥＭ１のテストを行う際、検査回路ＢＴ１において発生するテスト入力データ（ＤＩＮ＿Ｔ，ＡＤＲ＿Ｔ，ＣＳ＿Ｔ，ＲＷ＿Ｔ）は、スキャンフリップフロップを用いて形成される第１のデータシフト回路の各レジスタ（ＳＦ５〜ＳＦ８）を順にシフトされて、各メモリ部に転送される。 - 特許庁

Packet, data containing a mail address number of the terminal is transmitted from the maintenance terminal to the mail address number of the test terminal and a reply, is confirmed, so that it is confirmed whether a packet data call process is functioning of a base station wireless installation operates normally.例文帳に追加

保守端末装置から同端末のメールアドレス番号を含んだパケットデータを試験端末装置のメールアドレス番号に対して送信し返信を確認することで、基地局無線装置のパケットデータ呼処理機能が正常に動作しているかを確認する。 - 特許庁

In the accelerated weatherability test method for arranging a sample inside a case and performing accelerated weatherability test by irradiation from an artificial light source, illumination value is measured with time, integrated light quantity is continuously calculated with time based on the data of the temporal illumination value, and the artificial light source is turned off with reference to the completion of the test when the integrated light quantity reaches a certain value set previously.例文帳に追加

筐体の内部に試料を配置して人工光源からの照射によって促進耐候性試験を行う促進耐候性試験方法において、経時的に照度値を測定し、該経時的な照度値のデータより積算光量を経時的に算出し続け、試験の完了に係る該人工光源の消灯を、事前に設定した一定値に該積算光量が至った際に行うことを特徴とする。 - 特許庁

In this method, under use of at least one spatial arrangement of the radiation source 11, the detector 13, and a test object 58 substituted for a subject 18 to be scanned, a filter for providing optimum filter processing and back projection of the projection data of the test object for tomographic image display in a given arrangement and by means of repeated reconstruction technique and test projection is determined.例文帳に追加

本発明の方法においては、放射線源（１１）と検出器（１３）と走査すべき対象（１８）の代わりの試験対象（５８）との少なくとも１つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定される。 - 特許庁

A scan test signal DT in a preceding period inputted from an input terminal is inverted by a signal selection means 105 and held by an output signal holding means 103, and the held inverted value data are outputted at a timing of a rising edge of the next clock signal CK, to thereby input surely the inverted signal of the scan test signal DT into a circuit of a scan test object.例文帳に追加

入力端子より入力された１つ前の周期のスキャンテスト信号ＤＴを信号選択手段１０５により反転させて出力信号保持手段１０３に保持し、次のクロック信号ＣＫの立ち上がりエッジのタイミングにおいて、その保持された反転値データを出力することにより、スキャンテスト信号ＤＴの反転信号をスキャンテスト対象の回路に確実に入力する。 - 特許庁

A semiconductor memory provided with an access sequencer for simultaneously accessing a plurality of memory cells in the direction of data lines 111 to 114 and the direction of word lines 101 to 104 at the time of a write access to the memory array 100 of the above constitution and a test decoder 300 which is a control signal generation circuit improves write access processing efficiency and shortens test access time by using the test decoder 300.例文帳に追加

前記構成のメモリアレイ１００に対して、書込みアクセスにおいてデータ線１１１，１１２，１１３，１１４方向、及びワード線１０１，１０２，１０３，１０４方向に複数のメモリセルを同時にアクセスするアクセスシーケンサ、及び制御信号生成回路としてのテストデコーダ３００を設け、前記テストデコーダ３００を用いて、書込みアクセス処理効率の向上を図り、テストアクセス時間を削減する。 - 特許庁

A wireless communication device is provided with: a transmission means that wirelessly transmits a test signal a prescribed number of times, at an interval shorter than a data signal transmission interval; and a measurement means that measures the reception statuses of a plurality of acknowledgement signals returned in response to the respective test signals transmitted by the transmission means.例文帳に追加

無線通信装置が、テスト信号をデータ信号送信間隔よりも短い間隔で所定回数無線送信する送信手段と、この送信手段により送信された各テスト信号に対しそれぞれ返信される複数の確認応答信号の受信状況を計測する計測手段と、を備える。 - 特許庁

According to additional aspects, the selected set of test patterns is able to excite all the known physics and chemistry in the model formulation, making sure that the wafer data for the test patterns can drive the model calibration to the optimal parameter values that achieve the upper bound of prediction accuracy imposed by the model formulation.例文帳に追加

追加の諸態様によれば、本発明により選択された一組のテストパターンは、モデル公式においてすべての既知の物理及び化学を励起することができ、テストパターンに関するウェーハデータは、モデル公式によって課せられる予測精度の上限を実現する最適パラメータ値に応じたモデル較正を駆動できることを確認する。 - 特許庁

Furthermore, a data error determination function section 140 compares a determination table with a confirmation result of the light-receiving level confirmation test function section 120 and a confirmation result of the ONU state confirmation test function section 130, determines the existence/non-existence of errors in connection information accumulated in the facility DB 110, and outputs the result of the determination.例文帳に追加

さらに、データ誤り判定機能部140が、判定テーブルと受光レベル確認試験機能部120による確認結果及びＯＮＵ状態確認試験機能部130による確認結果とを比較して、設備ＤＢ110に蓄積されている接続情報の誤りの有無を判定し、この判定結果を出力する。 - 特許庁

A memory 6 of the IC tag 3 records individual identification information of each electric motor 1 to which the IC tag 3 is attached, test result information (scanning data of a test result list before shipping from a factory) of the electric motor 1, manufacture history information in a factory, and equipment information including operation history information.例文帳に追加

ＩＣタグ３のメモリ６には、ＩＣタグ３が取り付けられた各電動機１の個体識別情報、当該電動機１の試験成績情報（工場出荷前の試験成績書のスキャンニングデータ）、工場における製作履歴情報、及び運転履歴情報を含む機器情報が記録されている。 - 特許庁

The driver's aid system includes a driver's aid device 5a which causes a display device 4a to display a travel speed pattern which a driver of a test vehicle 6 follows for driving, and a driver's aid auxiliary device 5b which causes an auxiliary display device 4b to display a travel route for performing travel test based on the data for generating a travel speed pattern.例文帳に追加

被試験車両６の運転者が追従して運転するための走行速度パターンを表示装置４ａに表示させるドライバーズエイド装置５ａと、走行速度パターンを作成するデータに基づいて走行試験を行う走行経路を補助表示装置４ｂに表示させるドライバーズエイド補助装置５ｂとを備える。 - 特許庁

The semiconductor devices are loaded on test boards to the number of n (n=4), and tester terminals TDQ03-TDQ1215 to the number of n×m (16) of a semiconductor test device 301B are allocated to all data input/output terminals (DQ [0:3], DQ [4:7], DQ [8:11], DQ [12:15]) of the semiconductor devices 500A-500D.例文帳に追加

半導体装置をｎ個（ｎ＝４）試験用ボードに搭載し、半導体試験装置３０１Ｂのｎ×ｍ個（１６個）のテスタ端子ＴＤＱ０３〜ＴＤＱ１２１５を、半導体装置５００Ａ〜５００Ｄの全てのデータ入出力端子（ＤＱ［０：３］、ＤＱ［４：７］、ＤＱ［８：１１］及びＤＱ［１２：１５］）に割り当てる。 - 特許庁

When generating the test data including a pair of an input (a combination between a factor and a level) and an expectation value, a combination between the inputs not but combinations between all the levels possible to the factor is generated such that each of all the levels in each factor is used in a test at least once.例文帳に追加

本発明は、入力（因子と水準の組み合わせ）と期待値のペアからなるテストデータを生成する際に、因子に対して、有り得る全ての水準の組み合わせではなく、各因子における全ての水準が少なくとも１回はテストで使用されるように、入力の組み合わせを生成する。 - 特許庁

The corresponding instrument in lowering the call completion ratio monitors, for instance, the call completion ratio every one minute, when it is a preset value or smaller, a call processing test is carried out, and a suspected test corresponding to sequence generating abnormality is carried to collect necessary data so as to perform recovering processing on the basis thereof when the result is abnormal.例文帳に追加

呼完了率低下時対応装置は呼完了率をたとえば１分ごとに監視し、これが予め定めた値以下となると呼処理試験を実行して結果が異常のときには異常の生じたシーケンスに対応する被疑試験を行って必要なデータを収集し、これを基にして復旧処理を行う。 - 特許庁

A job operation management control system 1 recognizes in which of normal and test operation modes a job is operated by referring to operation mode flag data 6 and when it is operated in the test mode, acquires time not from a system clock function 3 as a clock function of a computer system but a job operation management clock function 7 to generate unique time.例文帳に追加

ジョブ運用管理制御システム１は、動作モードフラグデータ６を参照し、通常およびテストのいずれの運用モードで動作するのかを認識し、テストモードの場合に、コンピュータシステムの時計機能であるシステム時計機能３からではなく、独自の時刻を生成するジョブ運用管理時計機能７から時刻を取得する。 - 特許庁

The resource board also provides the logic and balanced signal paths needed to deliver clock signals to the respective PLDs and reduces the number of signals needed to communicate with external test equipment by implementing much of the pattern generation and data acquisition functionality needed to test an emulated circuit.例文帳に追加

リソースボードは、また、クロック信号を各ＰＬＤに配信するのに必要なバランスのとれた論理信号通路も提供し、更に、エミュレートされた回路を試験するのに必要な多くのパターン発生とデータ獲得機能を実行することによって外部の試験機器との通信を行うために必要な信号の数を減らす。 - 特許庁

To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加

はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A prescribed test pattern is inputted with reference to previously generated test data for an LSI 105 to the LSI 105, which is provided with both a plurality of shift registers 200 and an indeterminate mask device 220 for masking output of a shift register 200 to be masked, on the basis of randomly generated mask patterns and control signals.例文帳に追加

複数のシフトレジスタ２００と、ランダムに生成したマスクパターンと制御信号とに基づいて、マスク対象となったシフトレジスタ２００の出力をマスクする不定マスク器２２０と、を備えたＬＳＩ１０５に、あらかじめ作成したＬＳＩ１０５用のテストデータを参照して、所定のテストパターンを入力する。 - 特許庁

To provide a permeability test method and a device therefor capable of inputting an output signal of a pressure sensor into a conventional ordinary data processing device for grouting device without widening a pilot hole when necessary in the permeability test and without generating an error due to the elongation caused by the gravity of the pressure sensor and a signal cable.例文帳に追加

透水試験の必要が生じた時にパイロット孔を拡径することがなく、圧力センサーと信号線の重力による伸びで誤差の生ぜず、そして従来通常のグラウチング装置のデータ処理装置に圧力センサーの出力信号を入力できる透水試験方法及び装置の提供。 - 特許庁

The emulation circuit is provided with a data register circuit 22, a decoded address register circuit 23 and a status register circuit 24 to be accessed from the LSI test program(TP) and from an emulation program(EP) separately from the LSI test program and equivalent to a register of an LSI, an address decoding circuit 21, a timer circuit 26, and first and second interruption circuits 25, 27.例文帳に追加

ＬＳＩテストプログラム（ＴＰ）およびこれとは別にエミュレーションプログラム（ＥＰ）からそれぞれアクセスできる、ＬＳＩのレジスタに相当するデータレジスタ回路２２、デコードアドレスレジスタ回路２３およびステータスレジスタ回路２４と、アドレスデコード回路２１と、タイマー回路２６と、第１および第２割り込み回路２５、２７とを備えている。 - 特許庁

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

This manufacturing system includes a soldering robot 1 to solder electronic components to a printed circuit board, a circuit check unit to inspect the electrical characteristics of the printed circuit board, a ROM writer 3 to write the predetermined data on the flash ROM on the printed circuit board, and a function test unit 4 to perform a final function test.例文帳に追加

本生産システムは、はんだ付けロボット１によりプリント基板上に電子部品をはんだ付けし、サーキットチェック装置によりプリント基板の電気特性を検査した後、ＲＯＭライタ３によりプリント基板上のフラッシュＲＯＭに所定のデータを書き込み、ファンクションテスト装置４により最終的な機能検査を行う。 - 特許庁

A test signal is recorded on a recording medium by varying (1, 2, 3,...9) the time phase of a laser pulse and a modulated magnetic field; then, the test signal is reproduced, with the jitter measured of the reproduced signal, and the time phase in which the jitter is smallest is used as the optimum phase and set in the recording device for the purpose of data recording thereafter.例文帳に追加

レーザパルスと変調磁界との時間位相を変化させて（１、２、３、・・・９）記録媒体にテスト信号を記録し、このテスト信号を再生し再生信号のジッタを測定し、ジッタが最小であった時間位相を最適位相としてこの時間位相を以後のデータの記録を行うために記録装置に設定する。 - 特許庁

When a fixing test image T is formed on an OHP sheet S (S1), the standard intensity Ibr of the straight-advance transmitted light of the image T is calculated based on the surface temperature (fixing temperature) of a heating roller 2 detected by a temperature sensor at a step S2 and test image data obtained at a step S3 by a general control part (S4).例文帳に追加

ＯＨＰシートＳ上に定着テスト画像Ｔが作成されると（Ｓ１）、統括制御部５４は、Ｓ２で温度センサ２２２により検出した加熱ローラ２１２の表面温度（定着温度）とＳ３で得たテスト画像データとに基づき、定着テスト画像Ｔの直進透過光の標準強度Ｉｂｒを算出する（Ｓ４）。 - 特許庁

The other wireless base station device receives the test packet that has arrived via the wireless communication network, generates a response packet including reception data included in the received test packet, and transmits the generated response packet to said one wireless base station device via a wired communication network by setting the originator as a destination.例文帳に追加

当該他方の無線基地局装置は、当該無線通信網を介して到来した当該試験パケットを受信し、これに含まれる受信データを含む応答パケットを生成して、これを有線通信網を介して当該発信元を宛先として当該一方の無線基地局装置に送信する。 - 特許庁

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI over the whole printer gamuts and a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI on which a variation characteristic of the graininess index GI in accordance with variations in the ink amount is reflected can be obtained.例文帳に追加

これにより、プリンタガマットの全域にわたる各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係であり、かつ、インク量の変動に応じた粒状性指数ＧＩの変動特性が反映された各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができる。 - 特許庁

3-3) In the case where exceptionally, a strong positive result in the in vitro mutagenicity test with plural indicators is obtained even though no test data is available, and the substance shows (strong) similarity in chemical structure to the known germ cell mutagenicity substance (Category 1, namely, the heritable mutagenicity substance) (Refer to 2. Item 5), seek the decision of the expert.例文帳に追加

3-3）例外的に、in vivo 試験データがないものの複数の指標の in vitro 変異原性試験における強い陽性結果があり、かつ、既知の生殖細胞変異原性物質（区分１、すなわち経世代変異原性物質）と化学構造的に（強い）類似性を示す場合（２．５）項参照、専門家の判断を仰ぐ） - 経済産業省

This device is provided with a timing deciding circuit 2 which compares and decides coincidence/uncoincidence of input data synchronized with two different timing and holds and outputs a test result based on the decided result.例文帳に追加

本発明は、２つの異なるタイミングに同期した入力データの一致／不一致を比較判定し、判定結果に基づくテスト結果を保持出力するタイミング判定回路２を備えて構成される。 - 特許庁

If one person is not present, an extended questionnaire may be completed for him or her, answers to these questions are used to infer recommendation information which is used in lieu of test bed data.例文帳に追加

もしパートナーのうち１人がその場にいなくても、拡張されたアンケートがその者のために回答されれば、テストベッドデータの代わりに用いられるこれらの質問に対する回答が推奨情報を推測する。 - 特許庁

A test execution control section 231 sets a selected head element section 12 and a write current value in AE 13 and writes data to a magnetic disk 11 using each component in an HDD 1.例文帳に追加

テスト実行制御部２３１は、ＡＥ１３に選択したヘッド素子部１２とライト電流値とを設定し、ＨＤＤ１内の各構成要素を使用して、磁気ディスク１１へのデータ書き込みを行う。 - 特許庁

A reference area S including a part of the test pattern is set on the read image expressing the content of an image of the read image data, and a comparison area C1 to be compared with the reference area on the read image is set.例文帳に追加

読取画像データの画像内容を表す読取画像上でテストパターンの一部を含む基準領域Sを設定し、読取画像上で基準領域と比較する比較領域C1を設定する。 - 特許庁

A fuel consumption operation part 3 determines the fuel consumption of the test vehicle from the vehicle running energy quantity, and performs display or the like by a display data generation part 5 and an operation result display part 6.例文帳に追加

燃費消費量演算部３は、車両走行エネルギ量から試験車両の燃料消費量を求め、表示データ作成部５及び演算結果表示部６によって表示等を行う - 特許庁

The first and second data sets are filtered and aligned to determine a system response factor of the client test apparatus so that irradiance level control can be calibrated.例文帳に追加

第１および第２のデータセットは、フィルタリングされ、顧客の試験装置のシステム応答因子を決定するために位置合わせされ、それによって、放射照度レベルコントロ−ルを校正することが可能となる。 - 特許庁

To provide a signal reproduction device for reproducing data itself when any failure is generated, and for using it for a reproduction test, and for efficiently and quickly solving the factor of the failure.例文帳に追加

本発明は、障害発生時のデータそのものを再現して再現試験に用いることができ、障害の原因を効率的に短期間で解決できる信号再現装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In performing the operation test of a resolution converting part 21, the resolution of pseudo input picture data ina are converted by a resolution converting part 21, and a resolution converted result S21 is outputted from the resolution converting part 21.例文帳に追加

解像度変換部21の動作テストを行う場合、擬似入力画像データinaは、解像度変換部21で解像度が変換され、該解像度変換部21から解像度変換結果S21が出力される。 - 特許庁

To provide a display method of a soil constitution by a CPT capable of displaying data of a field test by the CPT and the soil constitution by soil determination on the basis thereof, intelligibly to a user.例文帳に追加

ＣＰＴによる現場試験のデータとこれに基づく土質判定による土質構成を利用者に分かり易く表示することができるＣＰＴによる土質構成の表示方法を提供する。 - 特許庁

If the content of test print requires correction (S1-7; NO), the operator delivers a print stop instruction to the print control section (S1-10) and corrects the document data (S1-11).例文帳に追加

しかし、試し印刷の内容に修正の必要がある場合には（Ｓ１−７のＮＯ）、操作者は印刷制御部に印刷中止命令を出力し（Ｓ１−１０）、文書データなどの修正を行う（Ｓ１−１１）。 - 特許庁

Further the test frame is sent to a down communication processing part 160 through a route switching part 140 and a route combination part 150, processed in a data non-rewriting mode to be output.例文帳に追加

さらに、試験フレームは、経路切替部１４０および経路合流部１５０を介して、下り通信処理部１６０に送られ、データ非書き換えモードでの処理を施された後で出力される。 - 特許庁

Further, the second D-FF 9 outputs digital data D1 representing "0" to the subtractor circuit 11 by inputting a TEST signal to an OR gate 10 to reset the second D-FF 9.例文帳に追加

また、ＯＲゲート１０にＴＥＳＴ信号を入力して第２Ｄ−ＦＦ９をリセットすることによって、第２Ｄ−ＦＦ９から０を示すデジタルデータＤ１を減算回路１１に出力させる。 - 特許庁

To provide an inspection circuit of an address decoder in which constitution for improving inspection efficiency by decreasing the input of a test pattern can be achieved more simply and without providing restriction for data setting.例文帳に追加

テストパターンの入力数をより少なくして検査効率を向上させる構成を、より簡単に且つテスト用のデータ設定に制約を設けることなく実現できるアドレスデコーダの検査回路を提供する。 - 特許庁

Even if a try state buffer 12 becomes disabled, instability of pass-though current and gate level inside a test interface circuit 20 is prevented, by shifting a signal line of the main data bus 13 to the prescribed level.例文帳に追加

トライステートバッファ１２がディスエーブルとなっても、主データバス１３の信号ラインを所定レベルにシフトすることにより、テストインターフェイス回路２０の内部での貫通電流やゲートレベルの不定を回避する。 - 特許庁

Using the test results on the device and the numerical value simulation result on the device, optimizing technique and data analysis method are used to determine a parameter for optimizing the device.例文帳に追加

装置についての実験結果と当該装置についての数値シミュレーション結果とを用い、最適化手法とデータ分析手法とを使用して、当該装置の最適化を図るためのパラメータの値を決定する。 - 特許庁

To provide a means capable of performing high-precision measurement and relatively large data processing (analysis) at a high-speed by making a measurement means and an analysis means as a BOST, and reducing the test time.例文帳に追加

測定手段及び解析手段をＢＯＳＴ化することで高精度な測定と比較的大きなデータ処理（解析）を高速で実行でき、テスト時間の短縮を図る手段を提供する。 - 特許庁