「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a DDR SDRAM in which such a test can easily be performed that whether tDQSQ standard prescribing correlation relation between a strobe signal DQS and a data signal DQ is satisfied or not.例文帳に追加

ストローブ信号ＤＱＳとデータ信号ＤＱとの間の相関関係を規定したｔＤＱＳＱ規格を満足するか否かの試験を容易に行なうことが可能なＤＤＲ ＳＤＲＡＭを提供する。 - 特許庁

An evaluation section 16 quantitatively evaluates the degree of the retention of the watermark information or the degree of deterioration of the quality of the electronic image and stores evaluation result data to a test result DB 17.例文帳に追加

評価部１６は、当該電子画像における透かし情報の残存度合い又は画質の劣化度合いを定量的に評価し、その評価結果データを試験結果ＤＢ１７に保存する。 - 特許庁

This automatic data logging kit includes a spool piece (12) having an end connector (18) which can be fitted between the liquid-cooled stator bar system and the hydraulic pressure maintainable test kit and a plurality of sensor receptacles (16).例文帳に追加

自動データロギングキットは、液体冷却固定子バーシステムと油圧保全性試験キットとの間に装着可能であるエンドコネクタ（１８）と、複数のセンサレセプタクル（１６）とを有するスプールピース（１２）を含む。 - 特許庁

Since the test system path can continuously transfer data by every clock by pipeline processing, the filter coefficients are rewritten at high speed without interposing an internal common bus with slow transfer rate.例文帳に追加

試験系経路はパイプライン処理によってクロック毎に連続してデータを転送することが可能であるため、転送速度の遅い内部共通バスを介すことなく、高速にフィルタ係数の書替えが可能になる。 - 特許庁

Tester channels 301 to 30n are given serial patterns output from scan data memories SDM in synchronous with a cycle clock and primary patterns output from pattern memories so as to generate test patterns.例文帳に追加

テスタチャネル３０１〜３０ｎは、サイクルクロックに同期してスキャンデータメモリＳＤＭから出力されるシリアルパターンと、パターンメモリから出力されるプライマリパターンとを与えられて、テストパターンを発生していく。 - 特許庁

The power level of the output in the multistage multiplexer 2 is measured at a frequency corresponding to the input data speed of the multistage multiplexer 2 while a test pattern is being sent through the multistage multiplexer 2.例文帳に追加

多段マルチプレクサ２の出力の電力レベルは、多段マルチプレクサ２を通してテストパターンが送られる時間の間に、多段マルチプレクサ２の入力データ速度に対応する周波数において測定される。 - 特許庁

・If an appropriate information source based on data cannot be easily obtained, classification can be performed based on comments related to skin corrosion/irritation, such as Severe, Moderate, and Mild, in test reports or existing MSDSs.例文帳に追加

・データに基づく適切な情報源が容易に入手できない場合は、試験報告書あるいは既存のMSDSの皮膚腐食性／刺激性に関するSevere, Moderate, Mildなどの所見を参考とすることができる。 - 経済産業省

・If appropriate information sources based on data cannot be obtained easily, classification can be performed on the basis of the comments related to eye damage/irritation, such as "Severe," "Moderate" and "Mild," in test reports or existing MSDSs.例文帳に追加

・データに基づく適切な情報源が容易に入手できない場合は、試験報告書あるいは既存のMSDS の眼損傷性／刺激性に関するSevere, Moderate, Mild などの所見を参考とすることができる。 - 経済産業省

Create one or more test users: As the sandbox does not share any data with the eBay sites, you will have to create new users that you can use to add items, make transactions and give feedback. 例文帳に追加

テストユーザの作成 サンドボックスと eBay のサイトは一切データを共有していません。 商品を追加したり取引を進めたりフィードバックを送ったりするため、新しいユーザを作成する必要があるでしょう。 - PEAR

Test data is written in tracks of a DTM by making the tracks pseud-eccentric by accessing a plurality of tracks by forcibly making a composite magnetic head eccentric under an ON track servo control.例文帳に追加

この発明は、オントラックサーボ制御の状態で複合磁気ヘッドを強制偏心させて複数トラックに亙ってトラックをアクセスすることで、ＤＴＭのトラックを擬似的に偏心させた状態でテストデータを書込む。 - 特許庁

A sensibility estimation system 1 processes a driving test result and a subjective evaluation result in a condition set by a condition setting part 2 by a data processing part 4, and inputs the processed result to a sensibility estimation part 5 in a learning mode.例文帳に追加

感性推定システム１は、学習モード時、条件設定部２で設定した条件での走行試験結果と主観評価結果とをデータ処理部４で処理し、感性推定部５に入力する。 - 特許庁

Applications are received by using an application system on the Internet for the interested diseases, and medical histories of individuals and the living area, sex and age of the individuals are stored in a clinical test participation desiring person data base.例文帳に追加

個々人の興味のある疾患、病歴、個々人の居住地区、性別、年齢についてインターネット上の申込みシステムを用いて申込みを受け付け、治験参加希望者データベースに蓄積する。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

In addition to a 1st loop back point that loops back the test data as they are at a remote end of a speech line, a 2nd loop back point and a 3rd loop back point are provided in a high efficiency code CODEC 4.例文帳に追加

通話路の遠端において試験データをそのまま折り返す第１折り返しポイントの他に、高能率符号ＣＯＤＥＣ４内に第２折り返しポイントと第３折り返しポイントを設ける。 - 特許庁

To properly process defective address data in the processes after wafer test has been completed during a nonvolatile memory production when a defective cell that is newly detected or discovered is to be replaced by a redundancy cell.例文帳に追加

不揮発性メモリの製造に際して、ウェハテスト終了後の後工程において、新たに検出あるいは判明した不良セルをリダンダンシセルに置き換える場合の不良アドレスデータの処理の適正化を図る。 - 特許庁

Based on the characteristic batch file, a script file 8a is referred to and commands are transmitted sequentially to the IC card 1 as data outputted from the IC card 1 are compared to thereby execute test processes.例文帳に追加

この固有のバッチファイルに基づいてスクリプトファイル８ａを参照し、ＩＣカード１へ順次命令コマンドを送信／ＩＣカード１から出力されたデータを比較して、試験処理を実行する。 - 特許庁

To provide an optical element evaluation method capable of simply measuring (evaluating) the degree of difference of measuring wave surface data of a test lens from a design value without manufacturing a reference lens.例文帳に追加

基準レンズを製作することなしに、被検レンズの測定波面データが設計値に対してどの程度異なるかをより簡単に測定（評価）することができる光学素子評価方法を提供する。 - 特許庁

In this semiconductor device incorporating a logic chip having the prescribed functions and a memory chip storing data in a common package, the logic chip and the memory chip are connected through terminals for memory access such as a control signal terminal, an address terminal, a data terminal, the logic chip has a logic circuit having the prescribed function and a memory chip test circuit performing an operation test of the memory chip.例文帳に追加

本発明は，所定の機能を有するロジックチップとデータを記憶するメモリチップとを共通のパッケージ内に搭載する半導体装置において，ロジックチップとメモリチップとは，制御信号端子，アドレス端子，データ端子などのメモリアクセス用の端子を介して接続され，ロジックチップは，前記所定の機能を有する論理回路と，前記メモリチップの動作試験を行うメモリチップ試験回路とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The information processor includes: a performance test means for carrying out a performance test concerning the respective storage devices so as to acquire data read and write speeds; and a file rearranging means for rearranging the files, based on access frequency information, including the number of reading and writing data to/from the respective files, and read speed and write speed information of the respective storage devices.例文帳に追加

複数の記憶装置のそれぞれについて、性能テストを行うことによりデータの読み出し速度および書き込み速度を取得する性能テスト手段と、各ファイルについて読み出された回数および書き込まれた回数の情報を含むアクセス頻度の情報と、複数の記憶装置のそれぞれの読み出し速度および書き込み速度の情報にもとづいて、ファイルの再配置を行うファイル再配置手段とを備えた。 - 特許庁

This circuit is composed of an inspection pulse generating circuit 10 for inputting a test signal and outputting an oscillation signal, and data selector circuits 31-35 for blocking inputs of a data input signal of an external input signal, a scanning mode control signal, a scan input signal and a scan clock signal by the test signal to output a CLK signal of the oscillation signal and an ROUT signal to a campus circuit 20.例文帳に追加

テスト信号を入力して発振信号を出力する検査用パルス発生回路１０と、テスト信号によって、外部入力信号であるデータ入力信号，スキャンモードコントロール信号，スキャン入力信号及びスキャンクロック信号の入力を遮断し、代わりに発振信号であるＣＬＫ信号およびＲＯＵＴ信号をスキャンパス回路２０に出力するデータセレクタ回路３１〜３５とで構成する。 - 特許庁

To provide a token game machine which helps a manager of a shop etc. to operate the token game by displaying pointing out, countermeasure, etc. of a problem in income data of a test mode when a payout rate calculated from the income data does not match or a trouble occurs when operating the token game.例文帳に追加

メダルゲームの運営時にインカムデータから算出されるペイアウト率などが合わない場合やトラブルがあった場合、テストモードのインカムデータ内で問題点の指摘や対応等をインカムデータと同時に表示し店舗等の管理者に運営の手助けを行うことができるメダルゲーム機を提供する。 - 特許庁

A reference output section 15 applies H. 261 coding/decoding to video test signals by the required number of kinds in advance, samples and stores the resulting signals when they are stable at a still picture level and outputs the sampled and stored data according to video switching information (c) as video reference data (e).例文帳に追加

リファレンス出力部１５は予め必要な種類分の映像テスト信号をＨ．２６１符号化／復号化し、静止画レベルで安定している時にサンプリングして記憶したデ−タを映像切替情報ｃにしたがって映像リファレンスデ−タｅとして出力する。 - 特許庁

When the user views the image density of the printed first test pattern and inputs a correction value from an operation part 104, the CPU 1011 calculates and updates potential data in the photoreceptor potential characteristic uneven data memory 105, based on the information of the input correction value (S4).例文帳に追加

使用者が、印字された第１のテストパターンの画像濃度を見て、操作部１０４から補正値を入力すると、ＣＰＵ１０１１は、この入力された補正値の情報に基づき、感光体電位特性ムラデータメモリ１０５の電位データを計算して更新する（Ｓ４）。 - 特許庁

To prevent the diversion of standard rule data and to allow a user to change a part of the content in the standard rule data, in a specification compliance verification apparatus to verify an apparatus under verifying test.例文帳に追加

被検証装置から送出された電文と、予め作成されたルールデータとを比較することにより、被検証装置の検証を行う仕様適合性検証装置において、標準ルールデータの流用を防止するとともに、ユーザが標準ルールデータの内容の一部を変更することを可能にする。 - 特許庁

This invention is related to a data transmission method and apparatus between a timing controller and a source driver, which additionally has a bit error rate test (BERT) function for sensing an error rate in real time when data is transmitted and received between the timing controller and the source driver.例文帳に追加

本発明は、タイミングコントローラとソースドライバの間のデータ送受信時のエラー率をリアルタイムに感知するためのビットエラー率テスト（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ Ｔｅｓｔ：ＢＥＲＴ）機能が追加されたタイミングコントローラとソースドライバの間のデータ伝送方法及び装置に関する。 - 特許庁

A voting operation analyzing device 2 receives the test voting operation time data of each terminal device from the ground stations, decides nontransmission time ts estimated to be needed until all of the terminal devices complete voting operation when real voting is performed on the basis of the data and sets the nontransmission time ts in the ground stations.例文帳に追加

そして投票動作解析装置２が地上局から各端末装置のテスト投票動作時間データを受け取り、これに基づいて、本番投票時に全端末装置が投票操作を完了するまでに要すると見込まれる無送信時間tsを決定し、地上局に設定する。 - 特許庁

A collection of data processing algorithm is suitably used instead of a high pass filter stage of the eddy current inspection system, and is simultaneously used for providing required data for an optimized system for inspecting test pieces on whether to be a slender defect of traveling in parallel to the scanning axis.例文帳に追加

渦電流検査システムの高域通過フィルタ段の代わりに用いるのに適し、また、走査軸に平行に走る細長い欠陥がないか試験片を検査するために最適化されたシステムに必要なものを提供する同時に用いられるデータ処理アルゴリズムの集合体。 - 特許庁

This facility uses a rotary encoder and a photoelectric sensor as digital sensors for measuring the data of the side slip tester 5 and the brake and speed tester 6 of a vehicle 4, and is equipped with a controller made of a computer for sending the digital data of the digital sensors to a control panel 1 for making judgement as to whether a test result is acceptable or not.例文帳に追加

車両４のサイドスリップテスタ５とブレーキ・スピードテスタ６のデータの測定にディジタルセンサであるロータリーエンコーダと光電センサを使用し、制御盤11内に前記ディジタルセンサのディジタルデータを入力し、前記テストの合否を判断するコンピュータからなるコントローラを備える。 - 特許庁

In particular, the robust method of creating the parametric process model first collects process outputs on the basis of known test input signals or sequences, adds random noise to the collected process data, and then uses a standard or known technique to determine the process model from the collected process data.例文帳に追加

特に、パラメトリック・プロセスモデルを生成するロバストな方法は、まず周知のテスト入力信号または系列に基づいてプロセス出力を収集し、収集されたプロセスデータにランダムノイズを添加し、該収集プロセスデータからプロセスモデルを決定するために標準または周知の技法を使用する。 - 特許庁

The mode control unit controls to supply the output of the display signal processing unit to the data voltage supply unit in a display mode; while in a light emission characteristics detection mode, the control unit controls to supply a test signal to the data voltage supply unit and supplies an output of the light emission characteristics detection unit to the memory.例文帳に追加

モード制御部は、表示モードでは、表示信号処理部の出力をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出モードでは、テスト信号をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出部の出力をメモリに供給するように制御する。 - 特許庁

The BIST unit generates (k) preliminary failure signals having failure information indicating whether the test data correspond with the expected data or not, and outputs the (k) preliminary failure signals for (m) cycles of a clock signal, by outputting k/m preliminary failure signals each cycle as first through k/m failure signals.例文帳に追加

ＢＩＳＴ部はテストデータと予想データとが一致するか否かを表示する欠陥情報を有するｋ個の予備欠陥信号を発生させ、ｋ個の予備欠陥信号をクロック信号のｍサイクルの間、ｋ／ｍ個ずつ第１ないし第ｋ／ｍ欠陥信号として出力する。 - 特許庁

When the slip of the data is generated due to the hold time fault caused by a clock skew and non-coincidence between the test result and the expected value is generated, the circuit 400 specifies the generated position of the data slip and controls the clock delay by a control signal for a delay control selector.例文帳に追加

そして、クロックのスキューによるホールド・タイム違反によるデータのすり抜けが発生しテスト結果と期待値に不一致が発生した場合、比較制御回路４００は、データのすり抜けが発生した箇所を特定し、遅延調整セレクタ用制御信号によりクロックの遅延を調整する。 - 特許庁

A database storage part 51 stores an input item for operation at a computing part 60, an operation item, and a data group including each datum related to simulation results based upon the arithmetic result (to be concrete, patient information, remaining renal function, peritoneal dialysis, hemodialysis, the computed indicator and clinical test data).例文帳に追加

データベース記憶部51に、演算部60で演算するための入力項目、演算項目、演算結果に基づくシミュレーション結果に係る各データを含むデータ群（具体的には患者情報、残腎機能、腹膜透析、血液透析、前記演算した指標、臨床検査データ）を格納する。 - 特許庁

A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.例文帳に追加

基地局試験装置３は電話交換網１と無線基地局４とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をＰＣＭデータに変換し、このＰＣＭデータをＰＣＭ通信回線６経由で、保守卓装置５に送信する。 - 特許庁

At conservation inspection, variation of the facility state after the adjustment work of the electric switching machine is evaluated by setting set of measurement data D_4-D_6 immediately after the adjustment work to the reference group G_r and setting set of measurement data D_N-2-D_N after completion of the adjustment work to the test group G_t.例文帳に追加

保全検査時には、調整作業直後の測定データＤ_4，…，Ｄ_6の集合を基準グループＧ_rに設定し、調整作業終了後の測定データＤ_N-2，…，Ｄ_Nの集合を試験グループＧ_tに設定して電気転てつ機の調整作業後の設備状態の変化が評価される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing destruction of an input/ output buffer caused by collision of data, even if any one of the control terminal of output control breaks down in a test performed by connecting plural semiconductor devices incorporating plural semiconductor elements where output data terminals are shaved.例文帳に追加

データの出力端子が共通な複数の半導体素子を内蔵する半導体装置を複数接続して行うテストで、いずれかの出力制御の制御端子が故障しても、データの衝突による入出力バッファの破壊を防止する半導体装置を提供する。 - 特許庁

By inputting information data such as the addresses of particular components 12 to 15 inside the satellite 1 via the stub cable 100 and the bus interface connector 10, the ground test unit 2 can control the satellite 1 to the same level as a data processing computer 11.例文帳に追加

地上試験装置２はスタブケーブル１００及びバスインタフェースコネクタ１０を経由して人工衛星１内部の特定のコンポーネント１２〜１５のアドレス等の情報データを入力することで、人工衛星１に対してデータ処理計算機１１と同等の制御が可能である。 - 特許庁

(3) A person who intends to obtain approval under paragraph (1) shall submit a written application attached with data concerning test results of food which he/she produced or processed through said comprehensive sanitation management and production process and other data, pursuant to an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare. 例文帳に追加

３　第一項の承認を受けようとする者は、厚生労働省令で定めるところにより、申請書に当該総合衛生管理製造過程を経て製造し、又は加工した食品の試験の成績に関する資料その他の資料を添付して申請しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Equalizing the clock timing for reading data having been written in the memory in the failure detection mode with the clock timing for reading data having been bypassed to the flip-flop in the pseudo memory access mode can realize output of the same signal with the same timing, and thereby achieve commonality of test patterns.例文帳に追加

故障検出モードでメモリに書き込んだデータを読み出すクロックのタイミングと、擬似メモリアクセスモードでフリップフロップに迂回させたデータを読み出すクロックのタイミングを等しくすることにより、同じタイミングの同一の信号を出力することが可能になり、テストパターンを共通化することが可能になる。 - 特許庁

A terminal at a test center, by reading an answer sheet with answers given on it with a scanner and converting it, creates an answer image data and an answer digital data which are mutually linked and sends them to a server at a marking center via a communication network.例文帳に追加

試験センター端末は、解答済みの解答用紙をスキャナで読み取りおよび変換することによって相互にリンク付された解答イメージデータおよび解答デジタルデータをそれぞれ作成し、当該解答イメージデータおよび解答デジタルデータを通信ネットワークを介して採点センターサーバに送る。 - 特許庁

An OSD display unit 5 prepares test pattern data TP in which image patterns F1, F2 stored in a storage 6 as digital font data for OSD display are spread corresponding to the number of pixels of a liquid crystal panel LCP, transmits them to a panel processor 3, and displays them on the liquid crystal panel LCP.例文帳に追加

ＯＳＤ表示部５は記憶部６にＯＳＤ表示用のデジタルフォントデータとして格納されている画像パターンＦ１、Ｆ２を液晶パネルＬＣＰの画素数にあわせて敷き詰めたテストパターンデータＴＰを作成し、パネルプロセッサ３に送り、液晶パネルＬＣＰに表示する。 - 特許庁

A multi-function printer 10 is configured to, when receiving a test command to be repeatedly transmitted several times prior to the transmission of data by uni-directional communication by a portable telephone 80, execute the preparation of reception so that image data to be transmitted by uni-directional communication can be received.例文帳に追加

マルチファンクションプリンタ１０では、携帯電話８０が単方向通信によりデータを送信するのに先立って複数回繰り返し送信するテストコマンドを受信したとき、その後に単方向通信により送信されてくる画像データを受信できるよう受信の準備を実行する。 - 特許庁

To provide: a generation method of pattern data for electron beam drawing, which can draw an excellent minute pattern without using a trial-and-error method by test drawing, in drawing a minute pattern using an electron beam drawing device; a proximity effect correction method used for it; and a pattern formation method using the data.例文帳に追加

電子線描画装置を用いて極小なパターンを描画する際、テスト描画による試行錯誤無しに、良好な極小パターンが描画できる電子線描画用パターンデータの作成方法及びそれに用いる近接効果補正方法、そのデータを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

A test terminal 50 judges whether element data for discriminating a regular main CPU 40 which is acquired from member lot information written in a management label 30 coincides with element data of the main CPU 40 mounted on a main control substrate 27 which is acquired through a connector 43, or not.例文帳に追加

検査端末５０は、管理ラベル３０に記された部材ロット情報から取得される正規のメインＣＰＵ４０を識別するための素子データと、コネクタ４３を介して取得される主制御基板２７に搭載されたメインＣＰＵ４０の素子データとが一致するか否か判定する。 - 特許庁

In the scanning flip-flop 1, inclusion of scan data is carried out synchronously with a change of a clock CLK from a low level to a high level (times t12 and t16), while a change of scan data output is carried out synchronously with a change of a test control signal SEN from a high level to a low level (times t13 and t17).例文帳に追加

スキャン用フリップフロップ１では、スキャンデータの取り込みがクロックＣＬＫのローレベルからハイレベルへの変化（時刻ｔ１２，ｔ１６）に同期して行われ、スキャンデータ出力の変化がテスト制御信号ＳＥＮのハイレベルからローレベルへの変化（時刻ｔ１３，ｔ１７）に同期して行われる。 - 特許庁