「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

At the time of creating shading correction data, the density in the width direction of the image formed on the film in a developing section 3 according to test data is measured by a density measuring instrument 7.例文帳に追加

シェーディング補正データの作成時には、テストデータに従って現像部３においてフィルム１上に形成された画像の巾方向における濃度が濃度測定器７により測定される。 - 特許庁

A test processor 14 converts the format of the video data from the circular buffer, a network interface 18 or a capturing memory 16 to a desired format and outputs the video data from a display processor 20.例文帳に追加

テスト・プロセッサ１４は、循環バッファ、ネットワーク・インタフェース１８又は捕獲メモリ１６からのビデオ・データのフォーマットを所望のフォーマットに変換して、表示プロセッサ２０から出力する。 - 特許庁

The held data is analyzed by use of analytic software 8, and the analyzed data is used in test tool software 9 capable of generating USB transfer by use of the logical device driver 2.例文帳に追加

保持されたデータを解析ソフトウェア８を用いて解析し、解析データを、ロジカルデバイスドライバ２を利用してＵＳＢ転送を発生させることの可能なテストツールソフトウェア９で用いる。 - 特許庁

In an execution mode, an actual vehicle driving test or simulation is performed by the driving condition set by the condition setting part 2 and an initial vehicle parameter, and data processing is performed by the data processing part 4.例文帳に追加

実行モードでは、条件設定部２で設定した走行条件や初期車両パラメータで実車走行試験又はシミュレーションを行い、データ処理部４でデータ処理する。 - 特許庁

The first test pattern is a pattern set to include maximum and minimum values of potential in photoreceptor potential irregularity data stored in a photoreceptor potential characteristics uneven data memory 105, in advance.例文帳に追加

第１のテストパターンは、あらかじめ感光体電位特性ムラデータメモリ１０５に記憶された感光体電位ムラデータの電位の最大と最小の値を含むように設定されたパターンである。 - 特許庁

To provide a system and a method for storing/displaying test data that easily confirm results of wafer tests/categories/wafer maps/measurement data of chips in a lot when a lot number is specified.例文帳に追加

ロットＮＯを指定すれば、ロット内のウエハテスト結果・カテゴリ・ウエハマップ、チップ測定データが、連続した形式で簡単に確認できる蓄積表示システム及び表示方法を提供する。 - 特許庁

When the accuracy matrix is acquired, a neighborhood probability distribution can be described preferably by a multivariate Gauss model, relative to each of the time-series data for the test and the normal time-series data for reference.例文帳に追加

精度行列が得られると、テスト用時系列データと参照用正常時系列データの各々について、好適には多変量ガウスモデルによって近傍性の確率分布が記述できる。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with a multiplexer part, receiving a multiplexer control signal and the scan test circuit which selectively outputs sub-data for each port or core output data for each port.例文帳に追加

マルチプレクサ部がマルチプレクサ制御信号の制御を受け、ポート別のサブデータまたはポート別のコア出力データを選択的に出力するスキャンテスト回路を備えた半導体装置である。 - 特許庁

The delay circuits DC0, DC1 generate delay data strobe signals IDQS0, IDQS1 each delayed by delay times DT0, DT1 from a data strobe signal TDQS for test.例文帳に追加

遅延回路ＤＣ０、ＤＣ１は、テスト用データストローブ信号ＴＤＱＳに対して遅延時間ＤＴ０、ＤＴ１遅れた遅延データストローブ信号ＩＤＱＳ０、ＩＤＱＳ１を生成する。 - 特許庁

When a profile and test data are inputted from the terminal 5 of a specific applicant 100 via the network 4, an application information management part 11 stores the input data into a database 14.例文帳に追加

特定の出願人１００の端末５から、ネットワーク４を介してプロフィールと試験データとが入力された場合、出願情報管理部１１は、これをデータベース１４に蓄積する。 - 特許庁

The profile is then extracted based on the comparison of the density characteristics correlatively indicating the read image data and the test image data and the prescribed concentration characteristics (step S108).例文帳に追加

そして読取画像データを上記テスト画像データと相関的に表した濃度特性と所定濃度特性とを比較することに基づいて、プロファイルを抽出する（ステップＳ１０８）。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

When the interface circuit functions as an input circuit, the interface test circuit 20 outputs data which is preliminarily written and buffered by the CPU 13 so that the interface circuit inputs the data.例文帳に追加

インタフェース回路が入力回路として機能する場合、ＣＰＵ１３によって予め書き込まれバッファリングしてあるデータを出力し、インタフェース回路が該データを入力する。 - 特許庁

A data conversion part 2 modifies the input database generation information 11 and input data generation information 12 so that a confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested can be conducted.例文帳に追加

データコンバート部２は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行うことができるように変更する。 - 特許庁

To provide a test circuit detecting whether a bit error takes place in retiming data outputted from a CDR circuit when an input timing of serial data is changed.例文帳に追加

シリアルデータの入力タイミングが変化した場合に、ＣＤＲ回路から出力されるリタイミングデータにビットエラーが発生するかどうかを検出することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

In principle, data conforming to GLP or, where no definite descriptions are available, data that are considered reliable by experts in view of the test conditions concerned shall be adopted.例文帳に追加

原則として、GLPに準拠したデータを用いるが、明確な記載がない場合には、試験条件などから判断して、専門家により一定の信頼性がおけると判断されたデータは採用する。 - 経済産業省

When four or more data sets are available for the same life stage, condition, and test period of the same species, however, their geometric average shall be adopted as data representing the species.例文帳に追加

ただし、その際、同一生物種の同一ライフステージ、条件、試験期間について4個以上のデータが入手されたときは、幾何平均値をその生物種を代表するデータとして用いる。 - 経済産業省

An accepting means 31 accepts a user's instruction on selection of data to be output in tester information acquired from an IC test system 1, and on the output form of the selected data.例文帳に追加

受付手段３１は、ＩＣテストシステム１から得られるテスタ情報のうち出力すべきデータの選択、および選択されたデータの出力形式についてのユーザの指示を受け付ける。 - 特許庁

Waveform data 13 are prepared from the logical data 10 of a semiconductor integrated circuit prepared by a hardware description language and test pattern data 11 by using logical simulation and check item information 18 is prepared from the waveform data 13 and information inputted from a user specification part 15.例文帳に追加

ハードウェア記述言語にて作成した半導体集積回路の論理データ１０とテストパターンデータ１１より論理シミュレーションにて波形データ１３を作成し、この波形データ１３とユーザ指定部１５にて与えた情報より、チェック項目情報１８を生成する。 - 特許庁

Sample data such as ticket data or operating environment information are extracted from log data of the automatic ticket gate under operating and supplied to the automatic ticket gate under developing and in the automatic ticket gate under developing, the test operation is carried out based upon the sample data.例文帳に追加

この発明は、稼動中の自動改札機のログデータから券データや動作環境情報などのサンプルデータを抽出して開発中の自動改札機へ供給し、開発中の自動改札機では上記サンプルデータに基づいて試験動作を実行する。 - 特許庁

Then, a specific label, related to the defect scan test pattern is identified by the ATE 114, and (i) the second scanning test pattern is provided to the BIST hardwares 102, 104, (ii) and captures the raw response data, in the diagnostic mode.例文帳に追加

次に、ＡＴＥ（１１４）により、欠陥スキャンテストパターンと関連した固有ラベルを識別し、診断テストモードで、ｉ）第２のスキャンテストパターンをＢＩＳＴハードウェア（１０２，１０４）に提供し、ｉｉ）生応答データを捕捉する。 - 特許庁

The machine language data is read through an external bus IF5 and carried out by the CPU 4 to generate a test pattern to the memory chip 2 through a memory IF 6, and the CPU 4 carries out the unit test of the memory chip 2.例文帳に追加

そして、この機械語データをＣＰＵ４が外部バスＩＦ５を介して読み込んで実行し、メモリＩＦ６を介してメモリチップ２へテストパターンを発生させ、ＣＰＵ４がメモリチップ２の単体検査を実施する。 - 特許庁

A test case of the model 20 is then generated with the calculated set points set as new target values at the boundary 70 and with output data at the boundary 70 set as new test items.例文帳に追加

さらに、算出した設定値を、当該境界７０における新たな目標値として設定し、さらに、境界７０における出力データを新たな検査項目として設定した上で、モデル２０のテストケースを生成する。 - 特許庁

In the recording/reproducing method of the magnetic thin film memory, test writing of information in the memory cell is performed before the information is recorded and normal data is recorded after recording the test writing is confirmed.例文帳に追加

磁気薄膜メモリ装置の記録再生方法において情報の記録を行なう前に、メモリセルに情報の試し書きを行ない、試し書きの記録確認を行った後、正規のデータを記録することによって達成される。 - 特許庁

Then the silent zone of data sent from the test server is compared with the by-return received silent time of the test pattern to identify the normality of the sound encoding/the reproducing operation of the TGW based on the comparison result.例文帳に追加

そして、試験サーバが送信したデータの無音区間と、折り返し受信した試験パターンの無音時間とを比較し、その結果をもとにＴＧＷの音声符号化／再生動作の正常性を確認する。 - 特許庁

Then, a test sequence is executed, meanwhile, a signal transferred between the device representation and one or more of the test components is monitored, and the data on the result indicating the compliance of the device with the bus protocol are produced.例文帳に追加

次に、テスト・シーケンスを実行させ、その間に前記デバイス表現と１個以上の前記試験部品との間で受け渡される信号をモニタして、前記バス・プロトコルへの準拠性を示す結果のデータを作成する。 - 特許庁

To provide an non-volatile semiconductor storage provided with a test circuit which can test a memory cell for discriminating current and which can perform leak current screening of a bit line in a state in which data is not written.例文帳に追加

電流判定用メモリセルの試験が可能であり，かつ，データの書き込みが行われていない状態からのビットラインのリーク電流スクリーニングが可能なテスト回路を備えた不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To verify the test facilitation in the function description of a register transfer level by checking the propagation of data from its input up to its output by an inputted test pattern without correcting a source code to be verified.例文帳に追加

検証対象のソースコードを修正することなく、入力するテストパタンにより入力から出力までのデータの伝搬を調べることによりレジスタトランスファレベルの機能記述においてテスト容易化を検証する。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

The test probe which is temporarily connected to a data line 22 in a image display test of a liquid crystal panel 20, is equipped with a substrate 210; and a wiring section 300 being disposed on the substrate 210 and having a prescribed number of conductors.例文帳に追加

液晶パネル２０の画像表示検査にあたってデータ線２２に一時的に接続される検査プローブであって、基板２１０と、基板２１０上に設けられた所定本数の配線部３００と、を備える。 - 特許庁

The main control unit also makes changes in order to change a change result of a test value changed by the expected value changing data on the basis of change method information associated with the extracted third test value.例文帳に追加

また、主制御部は、前記抽出した第３検査値に対応付けられた変更方法情報に基づいて、期待値変更用データで変更した検査値の変更結果を変化させるための変更を行う。 - 特許庁

The sample for acquiring relative correction data is measured by the test tool 26 and the reference tool 16, and the first equation for calculating the estimated value of the measurement value by the reference tool 16 from the measurement value of the test tool 26 is obtained.例文帳に追加

試験治具２６と基準治具１６とで、相対補正データ取得用試料を測定し、試験治具２６での測定値から基準治具１６での測定値の推定値を算出するための第１の数式を求める。 - 特許庁

A test pattern print signal TPS representative of a test pattern for determining the correction value of positional shift of recording at the time of bi-directional printing is stored as a part of data constituting a printer driver 96 in a hard disc 92.例文帳に追加

双方向印刷時の記録位置ズレの補正値を決定するためのテストパターンを表すテストパターン印刷信号ＴＰＳが、プリンタドライバ９６を構成するデータの一部としてハードディスク９２に格納されている。 - 特許庁

The device is provided with means (P3, P5, P7, P9 and NOR1) for invalidating the functions of the precharging circuits and the level holding circuits based on the test signal TEST outputted at the time of the address degradation and the abnormality signal read out to the read data buses.例文帳に追加

アドレス縮退時に出力されるテスト信号ＴＥＳＴと、リードデータバスに読み出された異常信号とに基づき、前記プリチャージ回路及びレベル保持回路の機能を無効にする手段（Ｐ３，Ｐ５，Ｐ７，Ｐ９，ＮＯＲ１）を備える。 - 特許庁

An IC chip 20 is made up of a PLL(phase-lock loop) circuit 3 for supplying a system clock, a logic circuit 4 to be tested at an actual operation speed, and a BIST circuit 5 for compression-storing a test result as test result data 17.例文帳に追加

ＩＣチップ２０は、システムクロックを供給するＰＬＬ回路３、実動作速度によるテストされる論理回路４、及び、テスト結果をテスト結果データ１７として圧縮格納するＢＩＳＴ回路５で構成される。 - 特許庁

This optical transmission system has a continuity confirming circuit 106 which confirms the conduction of an input data signal, a test signal generator 105 which generates a test signal, and a switch 107 on its transmission side.例文帳に追加

本発明の光伝送システムは、送信側に、入力データ信号の導通を確認する導通確認回路１０６と、テスト信号を発生させるテスト信号発生器１０５と、切替え器１０７とを有している。 - 特許庁

Coefficient C relating to a leaking clearance inherent to an object sample 13 is obtained from time transition data of a generated differential pressure considering a change in the test pressure, and the test of airtightness performance is conducted by using the coefficient C.例文帳に追加

テスト圧変化を考慮した発生差圧の時間変移データから、対象供試品１３固有のリークする隙間に関する係数Ｃを求め、この係数Ｃを用いて気密性能の試験を行うようにした。 - 特許庁

An external semiconductor memory test device 5 provided with data holding circuits F/F11-14 and switching circuits MUX21-24 is connected to a semiconductor memory test device 6, and devices MUT1-MUT4 to be tested are tested.例文帳に追加

半導体メモリ試験装置６にデータ保持回路（Ｆ／Ｆ１１〜１４）と切換回路（ＭＵＸ２１〜２４）とを備えた外付け半導体メモリ試験装置５を接続して、被試験デバイス（ＭＵＴ１〜４）の試験を行う。 - 特許庁

In the case, the finish flag of extra test objective path list 400 are turned to "1", the correction part 316 corrects the connection information 301 so as to insert the dummy buffer into the data pins of the extra test objective cells.例文帳に追加

すべてのテスト対象外パスリスト４００の終了フラグが「１」に変更された場合、修正部３１６は、テスト対象外セルのデータピンにダミーバッファを挿入するように、接続情報３０１を修正する。 - 特許庁

Further, the tester simultaneously generates test data about a plurality of control stations to be supervised entirely or partially to thereby be able to simultaneously test the plurality of control stations to be supervised entirely or partially.例文帳に追加

さらに、試験器は、複数の被監視制御所の全てまたは一部について試験データを同時に発生させことにより、複数の被監視制御所の全てまたは一部について同時に試験を行うことができる。 - 特許庁

When a test printing is made on a test sheet of paper L' having no RFID inlet instead of the label sheet L, by the printing section 2, to read and write the data is made to the RFID inlet 10a by the communication section 3.例文帳に追加

ラベル用紙Ｌに代え、ＲＦＩＤインレットを有しないテスト用紙Ｌ’に対し、印字部２による印字がテストされる際、通信部３により、ＲＦＩＤインレット１０ａに、データの読み書きが行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

As the result, a charged particle beam device using the X-ray reduction mirror 10 can perform highly accurately when it evaluates and analyzes a test-piece using a digital data obtained from the visible image of the test-piece.例文帳に追加

その結果、このＸ線低減ミラー１０を使用する荷電粒子線装置によれば、試料の可視化像に基づいて試料をデジタルデータで評価および分析を行う際に高精度で行うことができる。 - 特許庁

Multiple correction test patterns are recorded using ejecting ports in part of the recording head, and correction data for correcting an image corresponding to ejecting ports in the entire area of the recording head is generated on the basis of the colorimetric result of the test patterns.例文帳に追加

記録ヘッドの全域ではなく一部を用いて、複数回補正用テストパターンを記録し、その測色結果に基づいて、全域の吐出口に対応した画像を補正するための補正データを生成する。 - 特許庁

A drawing control section 100 updates the test image data based on the updated operation state of each printing element, and then, prints and outputs the test image wherein a confirmation line to confirm the malfunction printing element is added.例文帳に追加

描画制御部１００は、更新後の各印字素子の動作状態に基づき、試験画像データを更新し、動作不良の印字素子を確認するための確認用直線を付加した試験画像を印刷出力する。 - 特許庁