「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

In the guard area at the interrupted positions, test data is written by changing the power to calculate the relationship between the signal quality of the test data and the power.例文帳に追加

システムコントローラ３２は、データ記録中断部位におけるガード領域においてパワーを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータの信号品質とパワーとの関係を算出する。 - 特許庁

A decision unit acquires the test data for a plurality of times with the same condition of the delay amount to determine reliability of a signal value when the test data is fetched with a predetermined delay amount.例文帳に追加

判定部は、遅延量が同じ条件でテストデータを複数回取得し、所定の遅延量でテストデータを取り込んだときの信号値の信頼性を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a test pattern data generating method for the device.例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法を提供する。 - 特許庁

Then, conditions of a data holding property test carried out after packaging area set (step S10).例文帳に追加

つぎに、パッケージ後のデータ保持特性試験の条件を設定する（ステップＳ１０）。 - 特許庁

In one aspect, the diagnostic test system has a housing, a reader and a data analyzer.例文帳に追加

一態様では、診断テストシステムは、ハウジング、読み取り器及びデータ分析器を備える。 - 特許庁

In 16, a transfer rate of the test writing data is calculated on the basis of a timing result.例文帳に追加

計時結果に基づき、Ｓ１６で試し書きデータの転送レートを算出する。 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

The same data input into the normal path is also input to the test buffer.例文帳に追加

通常のバッファに入力される同一のデータはテスト・バッファにも入力される。 - 特許庁

To provide a RAM test circuit generating an address and data being check patterns.例文帳に追加

市松模様となるアドレス、データを生成するＲＡＭのテスト回路を提供する。 - 特許庁

Race results and data obtained in test runs are used to develop F1 tires. 例文帳に追加

レース結果やテスト走行で得られたデータはF1用タイヤを開発するのに使われます。 - 浜島書店 Catch a Wave

TRANSFER DEVICE FOR MULTICHANNEL TEST DATA AND TESTING DEVICE FOR RELAY DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

多チャネル試験データの転送装置およびそれを用いる継電装置の試験装置 - 特許庁

To provide a serial bus test device that can capture many data transferred on a serial bus at a high transfer rate.例文帳に追加

シリアルバス上を高速で転送されるデータを、大量に取込可能とする。 - 特許庁

In the test mode, address lines on the upper side are output to a data line, for example.例文帳に追加

テストモードにおいては、例えばアドレス線の上位側をデータ線に出力する。 - 特許庁

A selector 110 selectively outputs input data D1 and a test pattern SIN.例文帳に追加

セレクタ１１０は、入力データＤ１とテストパターンＳＩＮを選択的に出力する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, RECORDING MEDIUM, TEST DATA GENERATING APPARATUS, AND LSI TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体集積回路、記録媒体、テストデータ生成装置およびＬＳＩ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING DATA CACHE AND AT-SPEED TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

データキャッシュが内蔵された半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法 - 特許庁

To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface.例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。 - 特許庁

In addition, the tester sequentially and automatically generates a plurality of types test data.例文帳に追加

さらに、試験器は複数の種類の試験データを順次に自動的に発生させる。 - 特許庁

Data are adopted based on the following criteria, and converted to the 4-hour test and calculated.例文帳に追加

下記の基準に基づきデータを採用し、4 時間に換算して計算を行う。 - 経済産業省

To solve the problem that since trimming data are random data unique to each chip, when a plurality of chips are measured simultaneously by an external device, individual control of chips is required, a test time, a test cost such as man-hour for test program development, and human errors due to complication of a test program are increased.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

According to input operation for selection of an icon representing the test position data displayed in a display part 7, the photograph data matching the test position data are displayed in the display part 7.例文帳に追加

そして、表示部７に表示される検査位置データを示すアイコンが入力操作され選択されることに伴い、その検査位置データに対応する撮像データを表示部７に表示する構成にした。 - 特許庁

And test output data corresponding to this test input data are shifted in order in each register (SF9) of a second data shift circuit formed by using a scan flip-flop, and captured in the inspection circuit BT1.例文帳に追加

そして、このテスト入力データに応じたテスト出力データは、スキャンフリップフロップを用いて形成される第２のデータシフト回路の各レジスタ（ＳＦ９）を順にシフトされて、検査回路ＢＴ１に取り込まれる。 - 特許庁

Simulation is calculated on the basis of the measured data and the design data of the new test pattern and the simulation data of the new test pattern whose shape is deformed by an optical proximity effect are outputted.例文帳に追加

この実測データと新規テストパターンの設計データに基づいてシミュレーション計算がなされ、光近接効果によって形状が変形された新規テストパターンのシミュレーションデータが出力される。 - 特許庁

A CPU 10 generates test data for outputting an output image formed from only image data transmitted by one transmission line as to all transmission lines to obtain a set of test data.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、１つの伝送路で伝送される画像データのみから形成される出力画像を出力させるためのテストデータを、すべての伝送路について生成して１組のテストデータとする。 - 特許庁

Based on specification data D1 and definition file data D2, a scenario editor section 2 creates versatile shared scenario data D3 by using a uniformed scenario language; and based on test environment data D4 and the shared scenario data D3, a scenario translation section 4 creates test scenario data D5 for executing a performance test on a real machine 10.例文帳に追加

シナリオエディタ部２は、仕様書データＤ１及び定義ファイルデータＤ２に基づき、統一化されたシナリオ言語を用いて汎用の共有シナリオデータＤ３を作成し、シナリオ変換部４は、試験環境データＤ４と共有シナリオデータＤ３とに基づいて、実機１０に対し動作試験を行うための試験シナリオデータＤ５を作成する。 - 特許庁

In one embodiment, a data formatting method executed by a computer includes steps of: (1) automatically comparing data related to a test result with a known data type associated with the test result type, and determining the best matched test result type for the test result; and (2) automatically formatting data associated with the test result by one or more formatting rules associated with the best matched test result type.例文帳に追加

一実施形態において、コンピュータによって実行されるデータフォーマット方法は、１）試験結果タイプに関連する既知のデータタイプに、試験結果に関連するデータを自動的に比較して、前記試験結果に対して最も適合する試験結果タイプを決定するステップと、２）前記最も適合する試験結果タイプに関連する１つ以上のフォーマットルールによって、前記試験結果に関連するデータを自動的にフォーマットするステップと、を含む。 - 特許庁

The test circuit TC includes a transmission buffer TXB for test to accumulate transmission data signals from a test input terminal TPI at a frequency CF2 lower than at the frequency CF1, and a reception buffer RXB for test to output the reception data signals to a test output terminal TPO at the frequency CF3 lower than at the frequency CF1.例文帳に追加

テスト回路ＴＣは、テスト入力端子ＴＰＩからの送信データ信号をＣＦ１よりも遅い周波数ＣＦ２で蓄積するテスト用送信バッファＴＸＢと、受信データ信号をＣＦ１よりも遅い周波数ＣＦ３でテスト出力端子ＴＰＯに出力するテスト用受信バッファＲＸＢを含む。 - 特許庁

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.例文帳に追加

第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁

To provide a test data generation apparatus capable of generating test data approximated with the actual distribution of personal data while preventing an individual from being specified, by defining a part of data with which the individual can be specified, as a conversion target.例文帳に追加

個人を特定可能なデータの一部を変換対象とすることにより、個人の特定を防止しつつ、実際の個人データの分布と近似になるようなテストデータの生成を可能とするテストデータ生成装置を提供する。 - 特許庁

The message conversion part 6 outputs the data format in matching with the test object as the test scenario 8, using the objective data among the conversion data group, while converting the data format outputted from the scenario creating means 3.例文帳に追加

メッセージ変換部６は、変換データ群の中から対象となるデータを用いて、シナリオ生成手段３から出力されたシナリオのデータ形式を変換し、試験対象に合わせたデータ形式のテストシナリオ８として出力する。 - 特許庁

When a microcomputer 2 outputs measurement data stored in a data compression circuit 17 composed of a linear feedback register to this test device 3, by shifting out the measurement data in synchronism with monitor clock signals outputted from the test device, test data outputted from all the microcomputer 2 are synchronously read to the test device 3.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２が、リニアフィードバックレジスタからなるデータ圧縮回路１７に格納された測定データをテスト装置３に出力する際に、テスト装置から出力されるモニタクロック信号に同期して測定データをシフトアウトすることにより、全てのマイクロコンピュータ２から出力される試験データを同期させてテスタ装置３に読み込むことができる。 - 特許庁

A test script conversion device 101 which executed the test script processing program 100 reads, when program correction of the operation object application 115 is performed, data for one line of data of the test script by a test script analysis means 110, detects data of an operation object screen when this data is a switching instruction, and executes screen structure information comparison processing.例文帳に追加

テストスクリプト処理プログラム１００を実行したテストスクリプト変換装置１０１は、操作対象アプリケーション１１５のプログラム修正を行った場合に、テストスクリプト解析手段１１０によりテストスクリプトのデータを１行分のデータを読み込み、切替命令である場合には操作対象画面のデータを検出し画面構成情報比較処理を実行する。 - 特許庁

The testing apparatus associates a test item with a code number and stores them in a storing part, acquires a time when data is received from the OLT or the like, transmits the data to a delay buffer A in the case of performing no test, and generates test data obtained by adding a code number to the data in the case of carrying out a test.例文帳に追加

この試験装置は、試験項目とコード番号とを対応付けて記憶部に記憶し、ＯＬＴなどからデータを受信した時刻を取得するとともに、試験を実施しない場合に、当該データをＤｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信し、試験を実施する場合に、当該データにコード番号を付加した試験データを生成する。 - 特許庁

To provide an external semiconductor memory test device connected to a semiconductor memory test device which can increase the number of simultaneous test by double or more, and can test memories of the number of data bits or more, in a conventional semiconductor memory test device.例文帳に追加

従来の半導体メモリ試験装置において、同時試験個数を２倍以上にすることができ、また、試験可能なデータビット数以上のメモリの試験を可能にする半導体メモリ試験装置に接続する外付け半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5).例文帳に追加

テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。 - 特許庁

The test control circuit 12 transfers a self-test ROM address 22, self-test ROM control signal 23, and self-test ROM data output 10 or the like with a self-test ROM 6, and transmits a CPU reset signal 24 to the CPU 1 for reset control.例文帳に追加

テスト制御回路１２は、セルフテストＲＯＭ６との間でセルフテストＲＯＭアドレス２２、セルフテストＲＯＭ制御信号２３、セルフテストＲＯＭデータ出力１０などのやり取りを行い、ＣＰＵ１に対してＣＰＵリセット信号２４を送ってリセット制御する。 - 特許庁

When a test selection signal S2 is inputted into a selection signal terminal (trigger terminal) of each selector of a test selection circuit part 7, the test selection circuit part 7 supplies a test signal inputted from a test selection signal generation part 6 to a data selection circuit part 3.例文帳に追加

テスト用選択回路部７の各セレクタの選択信号端子（トリガ端子）へテスト用選択信号Ｓ２を入力すれば、テスト用選択回路部７はテスト用選択信号生成部６から入力されるテスト用信号をデータ選択回路部３へ供給する。 - 特許庁

The tearDown method is a test finalizer method and is run after each test case in the test class.A test finalizer method is not required for running tests, but you may need a finalizer to clean up any data that was required when running the test cases.例文帳に追加

tearDown メソッドはテスト終了メソッドであり、テストクラスの各テストケースのあとに実行されます。 テストの実行にテスト終了メソッドは必須ではありませんが、テストケースの実行時に求められたデータをクリーンアップするために終了メソッドが必要になる場合があります。 - NetBeans

The control section writes the test data output from the test-data output section into the memory, in the same writing sequence as a writing sequence of the pixel data outputted from the pixel array section into the memory, reads the test data written into the memory from the memory, in the same reading sequence as a reading sequence of the pixel data outputted from the pixel array section from the memory, and outputs the test data via the external interface.例文帳に追加

制御部は、テストデータ出力部から出力されたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリへの書き込み順序と同じ書き込み順序でメモリに書き込み、メモリに書き込まれたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリからの読み出し順序と同じ読み出し順序で前記メモリから読み出し、外部インタフェースを介して出力する。 - 特許庁

In the digital audio data inspection device 1, a test signal generating means 3 repeatedly generates a specific test signal pattern; the equipment 2 to be inspected records/reproduces the pattern as a digital audio signal; a sample data synchronizing means 7 makes the reproduced sample data a sample data pattern synchronized with the test signal pattern; and a sample data comparison means 8 compares the sample data with the test signal pattern.例文帳に追加

デジタルオーディオデータ検査装置１は、試験信号発生手段３によって、特定の試験信号パターンを繰り返し発生させ、デジタルオーディオ信号として、被検査機器２で収録・再生し、サンプルデータ同期手段７によって、その再生されたサンプルデータを、試験信号パターンに同期させたサンプルパターンとし、サンプルデータ比較手段８によって、サンプルパターンと試験信号パターンとの比較を行うことを特徴とする。 - 特許庁

On an evaluation board 20 for inspection, the data producing function 21 is furnished for producing test data by replacing a part of reproduced data supplied from an MO drive 33 with error data.例文帳に追加

ＭＯドライブ３３から供給された再生データの一部をエラーデータで置換してテストデータを生成するデータ生成機能２１を搭載した評価ボード２０を提供する。 - 特許庁

The data output circuit 5 generates test bit data 18, 19 read out of the memory 2A and degeneracy one bit data 15 showing a difference from representative one bit data 14.例文帳に追加

データ出力回路５は、メモリ２Ａ等から読み出したテストビットデータ１８，１９と、代表１ビットデータ１４との異同を示す縮退１ビットデータ１５を生成する。 - 特許庁

A data inversion circuit 15 stores an effect that bit inversion data which can specify inversion of write data bit by bit to a test object address and a data section 13 are set up by a CPU 18.例文帳に追加

データ反転回路15は、ＣＰＵ18により検査対象アドレスとデータ部13への書込みデータのビット毎に反転を指定できるビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁

To more precisely locate a failure point of causing a communication error and possibly avoid sending unwanted test data during a communication test.例文帳に追加

通信エラーの原因箇所をより詳しく特定できるとともに、通信テスト中において不要なテストデータの送出を極力防止する。 - 特許庁

The data scrambler 70 scrambles and outputs the scrambled test pattern from the scrambler 54 at the compliance test.例文帳に追加

データスクランブラ７０は、コンプライアンステスト時に、スクランブラ５４からのスクランブル処理後のテストパターンに対してスクランブル処理を行って出力する。 - 特許庁