「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

In the test recording area, test recording is performed to set an optimum recording condition in recording to the data region.例文帳に追加

テスト記録エリアは、データ領域への記録における最適記録条件を設定するために試し記録が行われる。 - 特許庁

TEST PATTERN HARDLY-PERCEPTIBLE TO HUMAN OBSERVATION, AND METHOD FOR ANALYZING IMAGE DATA CORRESPONDING TO TEST PATTERN OF INKJET PRINTER例文帳に追加

人間観察に知覚されにくいテストパターン、およびインクジェットプリンタのテストパターンに対応する画像データの分析方法 - 特許庁

A control means performs test recording of prescribed test recording data on the recording medium prior to actual recording.例文帳に追加

制御手段は、実際の記録に先だって、所定のテスト記録データを記録媒体上に記録するテスト記録を行う。 - 特許庁

To automatically generate a test vector to realize the shortening of a test time based on log data at the performance of a manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。 - 特許庁

To easily generate an optional piece of bit pattern data for test to be used for a memory test of a FIFO memory.例文帳に追加

ＦＩＦＯメモリのメモリ試験に使用する任意の試験用ビットパターンデータの生成を容易に行うことを可能にする。 - 特許庁

This semiconductor test system is provided with a simulator 1, a semiconductor test device 2, a data converting device 3, and a waveform displaying device 4.例文帳に追加

半導体試験システムは、シミュレータ１、半導体試験装置２、データ変換装置３、波形表示装置４を備える。 - 特許庁

This flip-flop circuit for scan test comprises a scan test data output terminal QT in addition to Q-terminal and/Q-terminal.例文帳に追加

スキャンテスト用フリップフロップ回路は、Ｑ端子と、／Ｑ端子の他に、スキャンテスト用データ出力端子ＱＴを有する。 - 特許庁

To generate diverse test data including an abnormal input not permitted to improve reliability of a test result.例文帳に追加

許容されないような異常入力を含めて多様なテストデータを生成し、テスト結果の信頼性を向上させる。 - 特許庁

A test data inspecting circuit 17 identifies the discrimination data in a frame by a data discriminating circuit 39 and outputs a signal 34 to stop the operation of a waveform equalizing circuit 13 and a multi-value judging circuit 14 when the input data is the test data.例文帳に追加

テストデータ検査回路１７は、データ判別回路３０でフレーム内の判別データを識別して、入力データがテストデータの場合は、波形等化回路１３及び多値判定回路１４の動作を停止させる信号３４を出力する。 - 特許庁

Respective current supply circuits supply data write current being less than the current during data writing at the test time.例文帳に追加

各電流供給回路は、テスト時にデータ書込時よりも少ないデータ書込電流を供給する。 - 特許庁

After the test data is trial-written to search for true optimal recording power, user data is actually written in the address N.例文帳に追加

テストデータを試し書きして真の最適記録パワーを探索した後、アドレスＮにユーザデータを実記録する。 - 特許庁

To feed back data and a data timing signal of a memory controller to perform a fast test of the memory controller.例文帳に追加

メモリコントローラのデータ及びデータタイミング信号をフィードバックして短時間内にメモリコントローラをテストする。 - 特許庁

The self-machine speed data calculated by a control part 2 is outputted to a test radar 7 as oscillation data.例文帳に追加

また、制御部２により算出した自機速度データを動揺データとして供試レーダ７に出力する。 - 特許庁

To provide a test method of an IC capable of processing data at two or more different data rates.例文帳に追加

２つまたはそれ以上の異なるデータ・レートでデータを処理することができるＩＣのテストに関する。 - 特許庁

The test data generator 200 is provided with a HSI sample data generator 210 and a noise injecting block 220.例文帳に追加

テストデータ発生器２００は、ＨＳＩサンプルデータ生成器２１０及びノイズ注入ブロック２２０を備える。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

The write-protection device stores test data in a first register, causes the processor to write the test data read from the first register into a second register, and permits the processor to write data into a third register after a data determination means compares the test data in the first register and the data in the second register to find their matching.例文帳に追加

本発明では、試験データを第１のレジスタに記憶し、プロセッサが第１のレジスタから読み出した試験データを第２のレジスタに書き込み、データ判定手段が第１のレジスタの試験データと第２のレジスタのデータとを比較して一致した時に、プロセッサのデータが第３のレジスタへ書き込み許可される書き込み保護装置を用いる。 - 特許庁

By this means, noise is directly applied to a data line from which data from the memory cell of the test target is read.例文帳に追加

これにより、検査対象メモリセルからのデータが読み出されたデータ線に直接ノイズを印加する。 - 特許庁

The test cell enables simultaneously both observation of input data and control of output data.例文帳に追加

テストセルは、入力データが観察されることと出力データが制御されることを同時に可能にする。 - 特許庁

To efficiently demodulate data subjected to spread spectrum of a data channel in a test of a mobile terminal.例文帳に追加

移動体端末の試験において、データチャネルのスペクトラム拡散されたデータを効率的に復調する。 - 特許庁

Using Data Manager, you can then quickly populate the test schema with a subset of the production data. 例文帳に追加

データマネージャを使えば、そのテストスキーマを生産データのサブセットの一つと共に住まわせることが手早くできる。 - コンピューター用語辞典

The flag register stores a plurality of flag data, and the data register stores a first test data inputted corresponding to the command input.例文帳に追加

フラグレジスタは複数のフラグデータを記憶し、データレジスタはコマンド入力に対応して入力された第１テストデータを記憶する。 - 特許庁

If start-up/transition information defines that a command of selected test data is a transition command for a lower level screen, the CPU 10 sequentially selects test data from combination test data of the lower level screen of the transition destination in accordance with a predetermined rule.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、選択したテストデータのコマンドが下位画面への遷移コマンドであると起動遷移情報に定義されていれば、遷移先の下位画面の組合せテストデータから、所定ルールに従って順次テストデータを選択する。 - 特許庁

A test interface circuit TIC provided between a mixed memory MCR and a test data input/output terminal 9 is provided with a first-in/first-out circuit 10 storing successively test data, and latency of data read out from the mixed memory is adjusted.例文帳に追加

混載メモリ（ＭＣＲ）とテストデータ入出力端子（９）の間に設けられるテストインターフェイス回路（ＴＩＣ）において、テストデータを順次格納するファーストイン・ファーストアウト回路（１０）を設け、混載メモリから読出されたデータのレイテンシを調整する。 - 特許庁

To support the creation of error-free test data by detecting the presence or absence of description errors and shaping test data so that the place of description errors can be identified in test data which can describe block structures in a free format.例文帳に追加

フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータにおいて、記述ミスの有無を容易に検出でき、記述ミスの箇所を特定できるようにテストデータを整形することで、記述ミスのないテストデータを作成できるよう支援する。 - 特許庁

When the mobile terminal 11 selects a test of radio data collection or the like, the exchange 13 discriminates whether or not the test personnel can conduct selection test on the basis of the entered test personnel ID.例文帳に追加

また、移動端末１１から無線データ収集等の試験を選択した際、交換機１３は入力されている試験者ＩＤからその試験者が選択試験が可能であるか判定する。 - 特許庁

A contour extracting part 22 obtains the test contour of a test pattern formed on the test object 14 from the binary image and writes the test contour in the sample contour storing part 28 of a sample data storing means 26.例文帳に追加

輪郭抽出部２２は、２値画像から検査対象１４に形成されている検査パターンの検査輪郭線を求めてサンプルデータ記憶手段２６のサンプル輪郭線記憶部２８に書き込む。 - 特許庁

To shorten a test data input time and a test result output time to quicken a scanning test, as to a scanning chain circuit used in a scanning test for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテスト時に用いるスキャンチェーン回路に関し、テストデータ入力時間及びテスト結果出力時間を短縮し、スキャンテストの高速化を図ることができるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

The framework determines the output result from a DUT or the DUT model to the prescribed test item executed based on the test plan program based on the test result data stored in the test result database.例文帳に追加

フレームワークは、テストプランプログラムに基づいて実行される所定のテスト項目に対するDUT又はＤＵＴモデルからの出力結果を、試験結果データベースに格納された試験結果データに基づいて決定する。 - 特許庁

Since the data can be thereby supplied serially from the test data terminals to the latch circuits during the test operation, therefore, the number of terminals used at the operation test can be greatly reduced.例文帳に追加

これにより、テスト動作時においてテストデータ端子からラッチ回路へデータをシリアルに供給できることから、動作試験において使用する端子の数を大幅に削減することが可能となる。 - 特許庁

A digital signal generating/analyzing section 11 performs loop-back test for determining whether the loop-back test data output to the transmission/reception part 19 and loop-back test data fed back from the transmitting/receiving section 19 match.例文帳に追加

デジタル信号生成・解析部１１は、送受信部１９に出力したループバック試験データと、送受信部１９から帰還したループバック試験データとが一致するかを判定するループバック試験を行う。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

In this device, signal waveforms of a test signal and the response signal are generated and displayed by test signal generation data serving to test signal generation and determination data which is a determination standard for the response signal.例文帳に追加

本発明は、テスト信号の生成に供するテスト信号生成データ、応答信号の判定基準である判定データより、テスト信号、応答信号の信号波形を生成して表示する。 - 特許庁

A circuit 6 for test derives the above-mentioned data for test read from the RAM 5 to the outside and captures data from the outside after the completion of operation corresponding to the above-mentioned test mode.例文帳に追加

テスト用回路６は上記テストモードに対応した動作が終了した後にＲＡＭ５から読み出される上記テスト用データを外部に導出すると共に外部からのデータを取り入れる。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

The personal computer reads test data of a test piece being a failure detection subject, and executes various operations to determine a failure for the test data, by applying the set failure detection rule.例文帳に追加

パーソナルコンピュータは、異常検出対象となる試験片の試験データを読込み、その試験データに対して、設定した異常検出ルールを適用して異常判定の各種演算を実行する。 - 特許庁

To provide a software automatic test system which can perform automatic test even about software composed of image data including variable image data and with which artificial mistakes are reduced and a test time is shortened.例文帳に追加

可変イメージデータを含むイメージデータからなるソフトウエアについても自動テストを行うことができ、かつ、人為的なミスを削減し、テスト時間を短縮するようにしたソフトウエア自動テストシステムを提供する。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

Thereafter, the test output data in the FIFO memory 2 are read out after returning to the test mode A, and outputted from an output terminal 12, and the data are compared with expected value data, to thereby determine acceptance.例文帳に追加

その後、テストモードＡに戻し、ＦＩＦＯメモリ２のテスト出力データを読み出して出力端子１２から出力し、これを期待値データと比較して合否を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can eliminate the need for a 16-bit data output port for sending out read data for test even when a data bus is a one-way bus and realize a high-speed test.例文帳に追加

データバスが単方向バスであっても試験用のリードデータを送出する１６ビットのデータ出力ポートを不要にでき、高速のテストを実現できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

A reduction data obtaining section 40 reads out reduction logical data to which detail logical data being a test result from a CFM 120 in a semiconductor test device 100 is reduced and obtains it.例文帳に追加

縮小データ取得部４０は、半導体試験装置１００内のＣＦＭ１２０から試験結果としての詳細ロジカルデータを縮小した縮小ロジカルデータを読み出して取得する。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

When a user inputs test data to a test terminal 101, and inputs information related to an expected recognition result and decision conditions as evaluation conditions, an evaluation condition setting part 205 sets the evaluation conditions, and a test data transmission control part 202 transmits test data to each image recognition part.例文帳に追加

利用者がテスト端末１０１に、テストデータを入力し、期待する認識結果に関する情報と判定条件を評価条件として入力すると、評価条件設定部２０５は評価条件を設定し、テストデータ送信制御部２０２はテストデータを各画像認識部に送信する。 - 特許庁

Further, a test data selection section 104 is disposed to selectively output one of test data output from the first and second test pattern generation sections 101 and 102 based on the signal value of the second clock CK2, and input it as test data to a memory 105.例文帳に追加

さらに、第１のテストパターン生成部１０１および第２のテストパターン生成部１０２から出力されるテストデータのいずれか一方を、第２のクロックＣＫ２の信号値によって選択的に出力し、メモリ１０５へテストデータとして入力するテストデータ選択部１０４を設ける。 - 特許庁