「Test Driver」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Operations are performed by means of an ascending/descending device 19 which ascends/descends by winding up a wire; and a supporting body 13, a box 14 and a rotating driver 17, including the device 19, are made to serve as weights and selectively combined so that four kinds of loads can be constituted and imposed on the test rod 10, respectively.例文帳に追加

動作はワイヤーを巻き上げ昇降する昇降装置１９により、昇降装置１９を含め支持体１３、ボックス１４、回転駆動体１７を錘体として、選択的に組み合わせ４種類の荷重を構成し各々の荷重を試験用ロッド１０に負荷させる。 - 特許庁

The system includes a parallel/serial converter for converting a parallel output of the IC tester into a serial signal, and the first differential current driver for converting an output from the parallel/serial converter into a differential current signal and outputting it to the test object.例文帳に追加

本システムは、ＩＣテスタのパラレル出力をシリアル信号に変換するパラレル／シリアル変換器と、このパラレル／シリアル変換器の出力を差動電流信号に変換し、被試験対象に出力する第１の差動電流ドライバとを備えたことを特徴とするシステムである。 - 特許庁

The tester comprises the formatter for outputting a test signal, a latch circuit that is disposed every tested object, inputs the output of the formatter, and outputs it through or outputs it while holding it, and a driver for inputting the output of the latch circuit and outputting it to the tested object.例文帳に追加

本装置は、試験信号を出力するフォーマッタと、被試験対象ごとに設けられ、フォーマッタの出力を入力し、スルーして出力または保持して出力するラッチ回路と、このラッチ回路の出力を入力し、被試験対象に出力するドライバとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The simulation processing part carries out simulation processing based on the test input information 150, the display driver model 10, and the display panel model 90, and simulation result data are outputted to an image data file 160, which is used for displaying an image to be displayed on the display panel on a display device, after converting a format of the simulation result data.例文帳に追加

シミュレーション処理部は、テスト入力情報１５０と表示ドライバモデル１０と表示パネルモデル９０に基づいてシミュレーション処理を行い、表示パネルに表示されるべき画像を表示装置に表示するための画像データファイル１６０に、シミュレーション結果データをフォーマット変換して出力する。 - 特許庁

Thereby, the storm test can be performed by easily setting the direction of the wind discharged from the air blower 12 toward the panel SP with the wind direction change driver A in accordance with the environment in which the panel SP is actually used in the condition of the panel SP being fixed to the panel supporting member 11 by a mounting member.例文帳に追加

よって、取付部材によりパネルＳＰをパネル支持部材１１に固定した状態で、そのパネルＳＰが実際に使用される環境に応じて、送風機１２からパネルＳＰに向かって吐出する風の向きを風向変更駆動装置Ａにより容易に設定して暴風試験を行うことができる。 - 特許庁

The test device 2 for the arousal level includes: a driver information input unit 16; a face temperature measurement unit 8 for measuring the temperature of a facial skin in a contactless manner; a finger temperature measurement unit 10 for measuring the temperature of a finger skin; a pulse measurement unit 12 for measuring a pulse rate of the finger; a control unit 4; and a memory unit 6.例文帳に追加

この覚醒度検査装置２は、運転者情報入力部１６と、顔面皮膚温度を非接触で計測する顔面温度計測部８と、手指皮膚温度を計測する手指温度計測部１０と、手指から脈拍数を計測する脈拍計測部１２と、制御装置４と、記憶装置６とを備えている。 - 特許庁

In the meantime, the collation device diagnostic driver 3 of a collation processing server 10 monitors whether or not the fault data are newly added at a polling interval shorter than the collation processing cycle of the collation processor 20 and samples required data, and the test environment of the fault generated in the collation processor can be reproduced.例文帳に追加

一方、照合処理サーバ１０の照合装置診断ドライバ３は、照合処理装置２０の照合処理サイクルより短いポーリング間隔で、障害データが新たに追加されたか否かを監視し、必要なデータを採取し、照合処理装置において発生した障害のテスト環境を再現可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a collision between a write data to a write driver and a read data from a sense amplifier is avoided while maintaining a short test time, in such a case that a verify circuit and two or more write drivers are connected via a common bus and the verify circuit and two or more sense amplifiers are connected via the common bus.例文帳に追加

ベリファイ回路と複数のライトドライバとが共通のバスで接続され、ベリファイ回路と複数のセンスアンプとが共通のバスで接続されるような場合に、短いテスト時間を維持しつつ、ライトドライバへの書込みデータおよびセンスアンプからの読出しデータが衝突することを回避した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The redundancy data storage circuit of the semiconductor memory includes: a memory cell array; a write driver configured to write redundancy data in the memory cell array in response to a test signal; and a sense amplifier configured to detect and output the redundancy data recorded on the memory cell in response to a read signal.例文帳に追加

本発明に係る半導体メモリのリダンダンシデータ格納回路は、メモリセルアレイと、テスト信号に応じてリダンダンシデータをメモリセルアレイに記録するように構成された書き込みドライバと、読み出し信号に応じて、前記メモリセルに記録されたリダンダンシデータを感知して出力するように構成されたセンスアンプとを備えることを特徴とする。 - 特許庁

A test signal generating circuit 7 is provided to an input side of a differential driver adopting a low voltage differential signal transmission system, the current detection circuit 2 is connected in series with a differential drive output terminal transmission line 3, and the transmission line 3 adopts a removable flexible printed circuit or a twisted pair cable.例文帳に追加

低電圧差動信号伝送方式の差動ドライバ１の入力側にテスト信号生成回路７を有し、差動ドライバ出力端伝送線路３には直列に電流検出回路２を有し、伝送線路３は着脱可能な可撓性プリント回路あるいはツイストペア型ケーブルの伝送線路である。 - 特許庁

The interferometer system comprises: a synchronous signal generating section 43 for setting up an instantaneous photographing period so as to fall within a light reception acceptable period of a photographing surface 33; and an AOM 13 and an AOM driver 14 which are used for irradiating the test body 7 with a measurement light beam emitted from a semiconductor laser light source 11 only during the instantaneous photographing period.例文帳に追加

撮像面３３の受光許容期間内に含まれるように瞬間的撮像期間を設定する同期信号生成部４３と、半導体レーザ光源１１から出射された測定用光束が、この瞬間的撮像期間にのみ被検体７に照射されるためのＡＯＭ１３およびＡＯＭドライバ１４とを備える。 - 特許庁

The environmental test device includes a wind direction change driver A for changing the wind direction by rocking an air blower 12 around a horizontal axis H1, the air blower 12 being rockably supported around the horizontal axis H1 which passes through near the center of the surface of the solar panel SP supported by a panel supporting member 11, and a wind receiving member C facing the air blower 12 by placing the panel SP inbetween.例文帳に追加

パネル支持部材１１により支持されたソーラーパネルＳＰのパネル表面の略中心を通る水平軸Ｈ１まわりに揺動可能に支持された送風機１２を水平軸Ｈ１まわりに揺動させて風向を変更する風向変更駆動装置Ａ、パネルＳＰを挟んで送風機１２に対向する風受部材Ｃを備えた。 - 特許庁

The driver IC for display 10 has an interface circuit 100 through which signals are to be putted and outputted between the MPU 300 and the interface circuit, a command decoder 110 decoding the test command inputted from the MPU 300 via the circuit 100 and an inspecting circuit 200 outputting the inspection result signal based on a signal from the decoder 110.例文帳に追加

表示用ドライバＩＣ１０は、ＭＰＵ３００との間で信号が入出力されるインターフェース回路１００と、ＭＰＵ３００からインターフェース回路１００を介して入力されたテストコマンドをデコードするコマンドデコーダ１１０と、コマンドデコーダ１１０からの信号に基づいて検査結果信号を出力する検査回路２００とを有する。 - 特許庁

When head rank information indicating the characteristics of the head is inputted or is acquired from the measurement result of a test pattern or the like, a driver module 206 corrects the LUT of an original data base in accordance with the head rank to generate the LUT corresponding to the head and registers it in a database file 212 as a corrected data base correspondingly to the head ID.例文帳に追加

ヘッドの特性を表すヘッドランク情報を入力されるか、あるいはテストパターンの測定結果等から取得すると、ドライバモジュール２０６は、そのヘッドランクに応じてオリジナルデータベースのＬＵＴを修正して、そのヘッドに対応したＬＵＴを作成し、修正データベースとしてヘッドＩＤと対応させてデータベースファイル２１２登録する。 - 特許庁

The output buffer 3 is formed by using a P channel transistor 1 as a transistor which inputs an input signal at its gate electrode and the source potential of an N channel transistor forming a NAND gate 8 as a precedent-stage driver is switched by a switch circuit 11 to make the level of the signal inputted to the gate electrode of the P channel transistor lower in a test than in normal use.例文帳に追加

出力バッファ３を、入力信号がそのゲート電極に入力されるトランジスタにＰチャネルトランジスタ１を用いて形成し、前段ドライバとしてのＮＡＮＤゲート８を形成しているＮチャネルトランジスタのソース電位を、スイッチ回路１１で切り替えることにより、上記Ｐチャネルトランジスタのゲート電極に入力される信号のレベルを、テスト時には通常使用時よりも低いレベルとするようにしたものである。 - 特許庁