「Test Driver」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A weight body 13 is held by a holding device 4B of the pile driver body 1, a load mounting test is performed to a testing pile 5 by making it fall after it has been moved to a position with a predetermined height.例文帳に追加

前記杭打ち機本体１の把持装置４Ｂに錘体１３を把持させ、所定の高さ位置に移動後落下させて試験用杭５に載荷試験を行う。 - 特許庁

In the driver layer 3, the pseudo-data response part 6 returns the pseudo-data delivered from the application layer 2 to the test object application 4 as the data delivered from the hardware layer 7.例文帳に追加

ドライバ層３において、疑似データ応答部６は、アプリケーション層２から渡された疑似データを、ハードウェア層７から渡されたデータとして試験対象アプリケーション４へ返す。 - 特許庁

A read-out driver circuit 1092 gives a compared result of data successively read out to the latch circuit 1073b in accordance with a read-clock signal RCLK, in a test operation mode.例文帳に追加

読出ドライバ回路１０９２では、テスト動作モードにおいては、順次読出されるデータの比較結果をリードクロック信号ＲＣＬＫに応じて、ラッチ回路１０７３ｂに与える。 - 特許庁

To provide a communication control circuit, where an LSI tester can easily conduct the operating test of the communication control circuit, including a PHY(physical layer driver) circuit at a high-speed equal to that in an actual operation.例文帳に追加

ＰＨＹ回路を含む通信制御回路の動作テストをＬＳＩテスタ上で、容易に、実動作と同等の高速動作で行える通信制御回路を提供する。 - 特許庁

To provide a driver monolithic liquid crystal panel which is excellent in resistance to static electricity trouble and exactly conducts test of operation during manufacture and a simple method for manufacturing the same.例文帳に追加

静電気トラブル耐性に優れ、製造中に動作検査を的確に行うことが可能なドライバーモノリシック液晶パネルと、その簡便な製造方法を提供する。 - 特許庁

At the time, the position of the test data on the data column of data to be inputted to a serializing driver 103 is made different between the n-th cycle and n+1th cycle of a reference clock.例文帳に追加

この際、シリアライズドライバー１０３に入力するデータのデータ列上におけるテストデータの位置を基準クロックのＮサイクル目とＮ＋１サイクル目とで異なる位置とする。 - 特許庁

By using the test circuit arranged at the opposite side of the data lines, even the presence of point defects can be determined in addition to the inspections such as disconnection of the data lines and digital driver output.例文帳に追加

データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。 - 特許庁

A low-speed test signal transmission control part 22 generates a predetermined low-speed test signal to be transmitted to the semiconductor device 4 based on an instruction from the LSI tester 3, and outputs the generated low-speed test signal to a first driver 23 with predetermined timing based on an output instruction from the tester 3.例文帳に追加

低速テスト信号送信制御部２２は、ＬＳＩテスタ３からの指令に基づき、半導体装置４に送信すべき所定の低速テスト信号を生成し、ＬＳＩテスタ３からの出力指令に基づいて所定のタイミングで、その生成する低速テスト信号を第１ドライバ２３に出力する。 - 特許庁

A device is provided with a test head that transmits and receives a signal and tests, a performance board electrically connected to this test head to transmit and receive the signal with the test head, and the DUT card connected to this performance board by switching the output pin of the image activating driver.例文帳に追加

本装置は、信号の授受を行い、試験を行うテストヘッドと、このテストヘッドと電気的に接続し、テストヘッドと信号の授受を行うパフォーマンスボードと、このパフォーマンスボードに映像駆動ドライバの出力ピンを切り替えて電気的に接続するＤＵＴカードとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

A high-speed test signal transmission control part 24 generates a predetermined high-speed test signal to be transmitted to the semiconductor device 4 based on an instruction from the LSI tester 3, and outputs the generated high-speed test signal to a second driver 25 in predetermined timing based on the output instruction from the LSI tester 3.例文帳に追加

高速テスト信号送信制御部２４は、ＬＳＩテスタ３からの指令に基づき、半導体装置４に送信すべき所定の高速テスト信号を生成し、ＬＳＩテスタ３からの出力指令に基づいて所定のタイミングで、その生成する高速テスト信号を第２ドライバ２５に出力する。 - 特許庁

Two neighboring liquid crystal driver chips 14, 14 mounted on a TCP11 are arranged, and input lead 15 sides or output lead 16 sides are made to face each other, and input test terminals 17 or output test terminals 18 are made in common.例文帳に追加

ＴＣＰ１１に搭載された隣接する２つの液晶ドライバチップ１４,１４は、入力リード１５側または出力リード１６側を対向させて配置し、入力テスト端子１７または出力テスト端子１８を共通にしている。 - 特許庁

When the output of the comparing circuit 58 is asserted during the period, the tester makes the driver unusable, and prevents damage to be caused by an excessive back drive period which a test formation process does not predict when the driver is not made inapplicable.例文帳に追加

前記比較回路の出力が、該時間にわたってアサートされた場合は、前記テスタは、前記ドライバを使用不能にし、これによって、そうしない場合にはテスト生成プロセスが予測しなかった過度のバックドライブ期間によって受けたであろう損傷を防止する。 - 特許庁

On the other hand, in the case where the digital signal is outputted to the under test device 16, the digital bit stream 20 is inputted to the driver 36 by the first switch 38, and by the second switch 40, a determined level analogue signal 42 coming from a D/A converter 44 is made reference signal Vih of the driver 36.例文帳に追加

一方、デジタル信号を被検査デバイス16へ出力する場合は、第１のスイッチ38によりデジタルビットストリーム20をドライバ36に入力し、第２のスイッチ40により、D/Aコンバータ44から到来する一定レベルのアナログ信号42をドライバ36のリファレンス信号Vihとする。 - 特許庁

A write-driver circuit 1090 gives write-in data of which level is reversed every write-in cycle to a selected memory cell based on write-in data held in a latch circuit 1073a at the point of time at which write-in operation in a test operation mode is specified, in a test operation mode.例文帳に追加

ドライバ回路１０９０は、テスト動作モードにおいては、テスト動作モードにおける書込動作が指定された時点で、ラッチ回路１０７３ａに保持された書込データに基づいて、書込サイクルごとにレベルが反転する書込データを選択されたメモリセルに与える。 - 特許庁

The driving operation assistance device for the vehicle generates a test pattern from a side support of a seat back part of a driver's seat when a main switch is turned on and presumes the physique of the driver on the basis of a side support angle and a motor input current during generation of the test pattern.例文帳に追加

車両用運転操作補助装置は、メインスイッチがオンされると運転席シートのシートバック部のサイドサポートからテストパターンを発生し、テストパターン発生中のサイドサポート角度およびモータ入力電流とに基づいて、運転者の体格を推定する。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

To provide a test system wherein a module control driver or the like can specify a resource definition of a slave module including a relation between a resource and a port number, in module control of a mater-slave system.例文帳に追加

マスタ・スレーブ方式のモジュール制御において、モジュール制御ドライバ等が、リソースとポート番号との関係を含むスレーブ・モジュールのリソース定義を特定可能な試験システムを提供する。 - 特許庁

In order to enable a highly reliable test of the functions of the video image display device, additional vehicle operating parameters 6 are taken into consideration, and the vehicle driver is notified of the malfunction.例文帳に追加

ビデオ画像表示装置の機能における信頼性の高い試験を可能とするために、追加の車両運転パラメータ６が考慮され、車両運転者に誤動作を通知する。 - 特許庁

The held data is analyzed by use of analytic software 8, and the analyzed data is used in test tool software 9 capable of generating USB transfer by use of the logical device driver 2.例文帳に追加

保持されたデータを解析ソフトウェア８を用いて解析し、解析データを、ロジカルデバイスドライバ２を利用してＵＳＢ転送を発生させることの可能なテストツールソフトウェア９で用いる。 - 特許庁

The test signal is converted into a digital signal by a comparator 224 at the distal signal route, and supplied to a data memory 228 and a digital trigger circuit 230 via a digital output driver 226.例文帳に追加

デジタル信号経路では、比較器２２４により試験信号をデジタル信号にして、デジタル出力ドライバ２２６を介してデータ・メモリ２２８及びデジタル・トリガ回路２３０に供給する。 - 特許庁

The display driver further includes a test circuit 16 that is provided between the gradation data register circuit 14 and the gradation voltage selector circuit 18, the test circuit 16 connecting at least a part of a plurality of bit lines among bit lines provided between both of the circuits through a common node in a test mode, so as to perform failure detection based on a value of current that flows in the common node.例文帳に追加

さらに、階調データレジスタ回路１４と階調電圧セレクタ回路１８との間に設けられ、テストモード時において、両回路間に設けられたビット線に含まれる少なくとも一部の複数ビット線を共通ノードを介して互いに接続し、この共通ノードを流れる電流値に基づいて故障検出を行うテスト回路１６を備える。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing an LCD driver comprises a memory map for previously designating an address for storing the data at each output pin and step voltage of the LCD driver to store the data in the address corresponding to the memory map irrespective of the capturing order of the pins and the steps of the test data.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを試験する半導体試験装置において、ＬＣＤドライバの出力ピンとステップ電圧毎にデータを格納するアドレスの番地をあらかじめ指定したメモリマップを設け、試験データのピンとステップの取り込み順に関係無く、該メモリマップの対応するアドレスの番地に格納する。 - 特許庁

When the amount of data in a data queue for storing data ready for delivery is low, the thread scheduling of this system is modified to promote the thread of the device driver to give the test driver opportunity to place more data in the data queue for consumption by the application.例文帳に追加

配信の用意ができているデータを格納するためのデータキュー内のデータ量が少ない場合、システムのスレッドスケジューリングは、デバイスドライバのスレッドを促進するように変更され、アプリケーションによって消費するためのより多くのデータをデータキューに入れる機会をデバイスドライバに与える。 - 特許庁

This invention is related to a data transmission method and apparatus between a timing controller and a source driver, which additionally has a bit error rate test (BERT) function for sensing an error rate in real time when data is transmitted and received between the timing controller and the source driver.例文帳に追加

本発明は、タイミングコントローラとソースドライバの間のデータ送受信時のエラー率をリアルタイムに感知するためのビットエラー率テスト（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ Ｔｅｓｔ：ＢＥＲＴ）機能が追加されたタイミングコントローラとソースドライバの間のデータ伝送方法及び装置に関する。 - 特許庁

An operation support data preparation means (34) prepares operation support data for proper vehicle operation based on the driving aptitude test result information of the specified driver, and an operation support data presentation means (35) presents the operation support data to the driver.例文帳に追加

運行支援データ作成手段(34)により、特定した運転者に関する運転適正検査結果情報に基づいて、適正な車両運行を行わせるための運行支援データを作成し、運行支援データ提示手段(35)により、当該運転者に対して運行支援データを提示する。 - 特許庁

In this evaluation test method of a bearing for a rolling stock, a rotor 53 with one end connected to a driver 54 and another end connected to the bearing 20 is rotated, and the evaluation test of the bearing 20 is performed by providing a mix of normal rotation, stoppage, and reverse rotation in a rotation of the rotor 53.例文帳に追加

本発明の鉄道車両用軸受の評価試験方法は、一方が駆動装置５４に接続され、他方が軸受２０に接続されている回転体５３を回転させ、回転体５３の回転の正転、停止、逆転を混在させて軸受２０の評価試験を行なう。 - 特許庁

The A/D converters 133-1 to 133-m of a data driver 13 measure a test voltage VEL between both ends of the organic EL element 111 when the test current flows into the organic EL element 111 of each pixel 11_ij through the transistor T2 of each pixel 11_ij, respectively.例文帳に追加

また、データドライバ１３のＡ／Ｄコンバータ１３３−１〜１３３−ｍは、それぞれ、各画素１１_ijのトランジスタＴ２を介して、各画素１１_ijの有機ＥＬ素子１１１に検定電流を流したときの有機ＥＬ素子１１１の両端間の検定電圧ＶＥＬを測定する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 100 is provided with a test mode setting circuit 5 detecting a test mode, a row decoder 7 and a word driver 8 controlling activation of a word line of a memory cell array 6, and a RXTM generating circuit 15 generating a word line driving signal for driving a word line.例文帳に追加

本発明に係る半導体集積回路１００は、テストモードを検知するテストモード設定回路５、メモリセルアレイ６のワード線の活性を制御するロウデコーダ７およびワードドライバ８、ならびにワード線を駆動するためのワード線駆動信号を発生するＲＸＴＭ発生回路１５を備える。 - 特許庁

At a retention test time, transistors Q21 and Q22 connected respectively to bit lines 2 and 3 are brought into an off state by a retention test signal RT, and one of the bit lines 2 and 3 is turned to a high impedance by a write driver 30 while '0' is outputted to the other bit line.例文帳に追加

リテンションテスト時に、リテンションテスト信号ＲＴによりビット線２，３にそれぞれ接続されたトランジスタＱ２１，Ｑ２２をオフ状態とするとともに、書き込みドライバ３０によりビット線２，３の一方をハイインピーダンスにし、かつ他方に「０」を出力するような構成とする。 - 特許庁

To provide a load driver capable of more surely preventing simultaneous turning-on of two MOSFETs even in application of an overvoltage and easily executing a high voltage application test.例文帳に追加

過電圧が印加された場合でも、２つのＭＯＳＦＥＴが同時にオンすることをより確実に防止すると共に、高電圧印加試験を容易に実施することができる負荷駆動装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device interface for a semiconductor tester allowing a low-impedance device test easily with amplitude rise/fall time performance on each driver side of a conventional semiconductor tester.例文帳に追加

本発明は、従来の半導体試験装置の各ドライバ側の振幅と立ち上がりと立ち下がり時間の性能でも、低インピーダンスのデバイス試験が容易できる半導体試験装置のデバイスインタフェースを提供する。 - 特許庁

By driving the test transistors 145 without mounting the source driver IC14, an image can be displayed on a display screen 22, and defects such as a point defect, a line defect and color slippage can be easily detected.例文帳に追加

テストトランジスタ１４５を動作させることにより、ソースドライバＩＣ１４を実装せずとも、表示画面２２に画像を表示でき、点欠陥、線欠陥、色ずれなどを容易に検出することができる。 - 特許庁

The test circuit 10 is a circuit which operates, only when the NchMOS transistors N1, N2 are turned on and evaluates the characteristics of the output signals outputted from the driver stage 3 in both phases.例文帳に追加

テスト回路１０は、ＮｃｈＭＯＳトランジスタＮ１、Ｎ２がオンした時にだけ動作し、ドライバ段３から出力された両相出力信号特性の評価を行なうために設けられた回路である。 - 特許庁

To deal with pitch narrowing of a pad pitch by effectively avoiding an increase in an area of an electrode pad by applying, for example, to a test of a liquid crystal drive driver for driving a liquid crystal display panel.例文帳に追加

本発明は、例えば液晶表示パネルを駆動する液晶駆動ドライバーの試験に適用して、電極パッドの面積の増大を有効に回避して、パッドピッチの狭ピッチ化に対応する。 - 特許庁

The driver's aid system includes a driver's aid device 5a which causes a display device 4a to display a travel speed pattern which a driver of a test vehicle 6 follows for driving, and a driver's aid auxiliary device 5b which causes an auxiliary display device 4b to display a travel route for performing travel test based on the data for generating a travel speed pattern.例文帳に追加

被試験車両６の運転者が追従して運転するための走行速度パターンを表示装置４ａに表示させるドライバーズエイド装置５ａと、走行速度パターンを作成するデータに基づいて走行試験を行う走行経路を補助表示装置４ｂに表示させるドライバーズエイド補助装置５ｂとを備える。 - 特許庁

To provide a compact integrated circuit in which a data storing function (or a latch function), a level shifting function, and a decoding function are integrated, and also to provide a source driver apparatus having a small-sized chip and reducing the time of a reliability test.例文帳に追加

データ保存機能（またはラッチ機能）、レベルシフト機能、およびデコード機能が統合されたコンパクトな集積回路を提供し、チップサイズが小さく信頼性テストの時間を減らすことができるソースドライバ装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that at the time of performing the test on the chassis dynamometer, the display of the driver's aide is arranged on the left or right of a blower so as not to be affected by the wind from the blower, therefore the driver drives the vehicle while tilting his neck.例文帳に追加

シャシーダイナモメータ上で試験を実行するときのドライバーズエイドの表示器は、ブロアからの風に影響を与えないようにブロアの左右の何れかに設置されるため、ドナイバーは首を曲げて運転している。 - 特許庁

To realize an access timing desired by an operator by varying the timing of access to a file device by a device driver, in a testing device for file device and a test method in the file device testing device.例文帳に追加

本発明はファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法に関し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現する。 - 特許庁

If set values of both outputs are different when the outputs from the amplifier and the driver are hit each other, a runtime error signal is generated, and an ON/OFF set value of a relay is fixed, and a test is finished forcibly.例文帳に追加

増幅器とドライバの出力をぶつけるときの両方の出力の設定値が異なるとランタイムエラー信号を発生させ、リレーのオンオフ設定値を固定すると共に、テストを強制的に終了させるようにした。 - 特許庁

The test unit 3 comprises a heat-insulating case 31, a driver board 32 stored in the internal space of the heat-insulating case 31, and a motherboard 33 having a slot with a plurality of connectors for fitting a burn-in board 4.例文帳に追加

テストユニット３は、断熱ケース３１、断熱ケース３１の内部空間に収容されたドライバボード３２、バーンインボード４を装着するための複数のコネクタを備えたスロットを備えたマザーボード３３を備えている。 - 特許庁

A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.例文帳に追加

パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁

In a control circuit 21 within the vehicular power generation controller, when a test mode judging section 222 judges a test mode, a communication driver 220 sends binary pulse train signals corresponding to a value of an exciting current detected by an exciting current detecting section 212 regardless of the presence of transmission permission sent from an ECU.例文帳に追加

車両用発電制御装置内の制御回路２１では、テストモード判定部２２２によってテスト状態であると判定されると、ＥＣＵから送られてくる送信許可の有無に関わらず励磁電流検出部２１２によって検出された励磁電流の値に対応する２値パルス列信号を通信ドライバ２２０から送信する。 - 特許庁

The game machine is provided with an initial process for determining whether the check signal is outputted from the second driver part 62 or not and a skip process for performing control so that the trial shooting test signal is not outputted when the check signal is not recognized by a first means.例文帳に追加

第２ドライバ部６２からチェック信号が出力されているか否かを判定する初期処理と、第１手段がチェック信号を認識できない場合には、試射テスト信号を出力しないよう制御するスキップ処理を備える。 - 特許庁

To provide a driver circuit capable of realizing an accurate test of a high-frequency emphasis circuit built in a DUT, by variably generating a simulation signal simulating a signal that receives transmission loss, without requiring complex circuit configuration.例文帳に追加

複雑な回路構成を必要とすることなく、伝送損失を受けた信号を模擬した模擬信号を可変的に生成し、ＤＵＴに内蔵された高域強調回路の正確な試験を実現することができるドライバ回路を提供する。 - 特許庁

When the test mode judging section 222 judges no test mode, the communication driver 220 outputs the binary pulse train signals corresponding to the value of the exciting current detected by the exciting current detecting section 212, and to the content of a power generation state detected by a power generation state detecting section 210, when a signal indicating the transmission permission sent from the ECU is received.例文帳に追加

また、テストモード判定部２２２によってテスト状態でないと判定されると、ＥＣＵから送られてくる送信許可を示す信号を受信したときに、励磁電流検出部２１２によって検出された励磁電流の値や発電状態検出部２１０によって検出された発電状態の内容に対応する２値パルス列信号を通信ドライバ２２０から出力する。 - 特許庁