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Test doubleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 66件
The false acupuncture is stuck to and indwelled on the skin, and has a same external appearance to that of the real one, however, it is prevented from sticking into the skin so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the acupuncture therapy.例文帳に追加
偽鍼によれば皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、皮膚には刺さらないので、鍼灸治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁
In an initial stage, in a test recording signal recorded area on the first recording layer of a double-layer optical disk 1, recording is performed by a laser beam having a level varied stepwise only by erasing power of a DC erasing means 5 (DC erasing).例文帳に追加
最初の段階では、２層光ディスク１の一層目記録層のテスト記録信号記録領域を、ＤＣ消去手段５が消去パワーのみでレベルを段階的に可変させたレーザ光により記録する（ＤＣ消去する）。 - 特許庁
The false magnetic plaster is stuck to and indwelled on the skin with the plaster and has a same external appearance, however, it has no magnetism so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the magnetic therapy.例文帳に追加
また、偽磁気絆創膏によれば、絆創膏により皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、磁気を持たないので、磁気治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁
In a method for manufacturing a double shell tank, a spacing S formed between an inner tank and an outer tank, is fed with dry air that has higher dryness than that of the air previously existing in the spacing during the period of time after starting the storage of a test fluid to the inner tank 2, and then a blanket is installed in the spacing S.例文帳に追加
内槽２への試験用液体の貯留開始以降の期間で、内槽と外槽との隙間Ｓに、当該隙間に予め存在する空気よりも乾燥した乾燥空気を供給し、その後隙間Ｓにブランケットを設置する。 - 特許庁
This DDR (double data rate) SDRAM (synchronous DRAM) performs write-in operation having write-latency at the normal operation, and at a test, receives a data strobe signal DQS and a data signal before one clock cycle of a write-command WRT and performs write-in operation having no write-latency.例文帳に追加
このＤＤＲ ＳＤＲＡＭは、通常動作時はライトレイテンシを持った書込動作を行ない、テスト時はライトコマンドＷＲＴの１クロックサイクル前にデータストローブ信号ＤＱＳおよびデータ信号を受けてライトレイテンシを持たない書込動作を行なう。 - 特許庁
The constant temperature bath is formed as an approximately rectangular box by a double wall structure including an inner wall 31, an outer wall 32, and a heat insulating material 33 between the inner wall 31 and the outer wall 32, and at the same time, a main body 2 zoning and forming a test chamber 35 with the inner wall 31 is provided.例文帳に追加
内壁３１及び外壁３２と、その内外壁３１，３２の間の断熱材３３とを含む二重壁構造によって略矩形の箱型に形成されると共に、内壁３１によって試験室３５が区画形成された本体２を備える。 - 特許庁
In the L-shape peeling test, an L-shaped jig made from stainless steel and an acrylic sheet are affixed via the pressure sensitive adhesive double-sided sheet, and it is treated at 50°C and 5 atm for 15 minutes, followed by pulling the jig made from stainless steel in a vertical direction with respect to the face of the acrylic sheet to measure the peel force.例文帳に追加
上記Ｌ字剥離試験では、Ｌ字型ステンレス製治具とアクリル板とを両面粘着シートを介して貼り合わせ、５０℃、５気圧、１５分間処理後、ステンレス製治具を、アクリル板の面と垂直方向に引っ張り、剥離力を測定する。 - 特許庁
In this test method for a semiconductor memory, read-data RDT read out from a ROM synchronizing with a clock CLK of the prescribed period is sampled once during double the prescribed period, sampled data is outputted to the outside as sampling data SDT.例文帳に追加
開示される半導体記憶装置のテスト方法は、所定周期のクロックＣＬＫに同期してＲＯＭから読み出されたリードデータＲＤＴを所定周期の２倍の時間の間に１回サンプリングし、サンプリングしたデータをサンプリングデータＳＤＴとして外部に出力する。 - 特許庁
An explanation variable for maximizing a degree of freedom double regulated contribution rate is determined among the candidate parameters dominating the lifetime, a second lifetime estimation formula is determined by performing multiple regression analysis again using that explanation variable and then the life time of life time test using bearing steel is estimated according to the second lifetime estimation formula.例文帳に追加
前記寿命支配パラメータ候補の中から自由度２重調整済み寄与率が最大になる説明変数を求めるとともに、この説明変数を用いて再度重回帰分析を行って第２の寿命推定式を求め、第２の寿命推定式により軸受用鋼を用いた寿命試験の寿命を推定する。 - 特許庁
In the woven fabric using polybenzazole fibers having a double cylindrical structure as warps and/or wefts, a tensile strength per unit basis weight in the warp direction is ≥0.5 Nm^2/g, the tensile strength in the warp direction is ≥0.5 Nm^2/g, and cycles until breakage in an abrasion test are ≥5200 cycles.例文帳に追加
2重円筒構造を有するポリベンザゾール繊維を経糸及び／又は緯糸に使用してなる単位目付当たりに対する経糸方向の引張強度が０．５Ｎｍ^２／ｇ以上、緯糸方向の引張強度が０．５Ｎｍ^２／ｇ^ 以上である摩耗試験における破断までのサイクルが５２００回以上である織物。 - 特許庁
To provide a probe card for using even a chip device having a small electrode size which is a test object, by reducing position deviation of a probe tip, concerning a probe card having a double elastic mechanism having a small-dimension probe used for inspection of an electric characteristic of chip devices integrated in high density on a semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウェハ上に高密度に集積されたチップデバイスの電気的特性の検査に使用する微小寸法のプローブを有する二重弾性機構のプローブカードにおいて、プローブ先端の位置ずれを小さくすることによって、被試験体であるチップデバイスの電極サイズの小さなものであっても使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁
This double coated adhesive sheet for bonding information recording media to each other is prepared so that the surface of this sheet after the second peeling sheet is peeled off has 4B-6B hardness when the hardness is measured by the pencil hardness test prescribed in JIS K 5400.例文帳に追加
両面粘着シートの両面に第一剥離シートと第二剥離シートを有する情報記録媒体接合用両面粘着シートであって、第二剥離シートの剥離表面の硬度が、ＪＩＳ Ｋ ５４００における鉛筆硬度試験で、４Ｂ〜６Ｂの範囲にあることを特徴とする情報記録媒体接合用両面粘着シートを用いる。 - 特許庁
The explanation variable maximizing a contribution rate subjected to double adjustment in terms of the degree of freedom is obtained from the life dominant parameter candidates, a final life estimation formula is obtained by executing the multiple linear regression analysis again by using the explanation variable, and the service life of the life test using the bearing steels is estimated by the final life estimation formula.例文帳に追加
前記寿命支配パラメータ候補の中から自由度２重調整済み寄与率が最大になる説明変数を求めるとともに、この説明変数を用いて再度重回帰分析を行って最終寿命推定式を求め、最終寿命推定式により軸受用鋼を用いた寿命試験の寿命を推定する。 - 特許庁
The double-sided adhesive sheet comprises: a plastic film substrate; and an adhesive layer on both sides of the plastic film substrate, wherein a 180°C peeling adhesive force of a surface (surface A) of one of the adhesive layer to a stainless steel plate as measured at a tensile speed of 300 mm/min is 8 N/20 mm or more, and an adhesive residue is not generated in the releasability evaluation test.例文帳に追加
プラスチックフィルム基材の両面側に粘着剤層を有する両面粘着シートであって、一方の粘着剤層表面（Ａ面）の引張速度３００ｍｍ／分で測定されるステンレス板に対する１８０°引き剥がし粘着力が８Ｎ／２０ｍｍ以上であり、かつ再剥離性評価試験において糊残りを生じないことを特徴とする。 - 特許庁
This double-sided pressure-sensitive sheet has a thickness difference per 1 m^2 between the maximum thickness and the minimum thickness of ≤ 100 μm, the compression stress damping factor of ≤ 15 % that is measured from the maximum compression stress in the compression test in which the compression distance after compression is kept constant and the compression stress value after 0.1 second after the maximum value is obtained.例文帳に追加
両面粘着シートは、１ｍ^２内の最大厚みと最小厚みとの差が１００μｍ以内であり、圧縮後の圧縮距離を一定に保持する圧縮試験における圧縮応力最大値と、その圧縮応力最大値が得られた時点から０．１秒後の圧縮応力値とから求められる圧縮応力減衰率が１５％以下である。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device wherein the problems are prevented such as a short circuit, an adhesion failure, and focus deviation etc., due to over-etching of wiring because the areas of overlapping regions for connection are randomly different, in a method for forming fine wiring which is a test pattern and wide leads connected to it on a semiconductor substrate by double exposure using two masks.例文帳に追加
テストパターンである微細配線とそれに繋がる幅広の引き出し配線とを２枚のマスクを用いた２重露光により半導体基板上に形成する方法において、繋ぎ合わせるオーバーラップ領域の面積がランダムに異なっていたため発生していた、配線のオーバーエッチングにより短絡、密着性不良、フォーカスずれ等の諸問題を発生させない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
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