「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The powder X-ray diffraction spectrum of the sodium alendronate type B is shown.例文帳に追加

アレンドロネートナトリウムＢ型の粉末Ｘ線回折スペクトルを示す。 - 特許庁

The protective film has the X-ray diffraction peak intensity of (110) plane of chromium higher than the X-ray diffraction peak intensity of (200) plane.例文帳に追加

保護膜は、Ｘ線回折によるクロムの（１１０）面の回折ピーク強度が、クロムの（２００）面の回折ピーク強度よりも大きい。 - 特許庁

X-ray diffraction is influenced by the electron density distribution of the atomic shell and electron diffraction (is influenced) by the screened Coulomb potential of the nuclei. 例文帳に追加

X線回折は、原子殻の電子密度分布に支配され、そして電子回折は、原子核の遮蔽されたクーロン電位に支配される。 - 科学技術論文動詞集

COMPACT MULTI-FOCUS X-RAY SOURCE, X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM, AND METHOD FOR FABRICATING COMPACT MULTI-FOCUS X-RAY SOURCE例文帳に追加

小型多焦点ｘ線源、ｘ線回折イメージングシステム、及び小型多焦点Ｘ線源を製作するための方法 - 特許庁

DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計 - 特許庁

INTENSITY CORRECTION AT OBLIQUE INCIDENCE TO DETECTOR OF DIFFRACTION X-RAY IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS例文帳に追加

Ｘ線構造解析における回折Ｘ線の検出器への斜め入射時の強度補正 - 特許庁

The positive electrode active material has a diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ in X-ray diffraction by a CuKα ray.例文帳に追加

該正極活物質は、ＣｕＫα線によるＸ線回折において、回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に回折ピークを有する。 - 特許庁

It is preferable that the X-ray diffraction peak is the diffraction peak originated from an alkyl chain and developed in the vicinity of 21° of diffraction angle 2θ.例文帳に追加

前記Ｘ線回折ピークが、回折角２θの２１°付近に発現するアルキル鎖由来の回折ピークであることが好ましい。 - 特許庁

A diffraction grating reflecting light deviates from a light source 1 in the direction of a diffraction groove (in the direction of the X-axis) by inclining the diffraction grating 2.例文帳に追加

回折格子２を傾斜させることにより、回折格子反射光が、光源１から回折溝方向（Ｘ軸方向）にずれる。 - 特許庁

To provide an inexpensive x-ray diffraction apparatus capable of quickly and accurately detecting a shape of a diffraction ring.例文帳に追加

回折環の形状を短時間で精度良く検出できる、安価なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission type X-ray diffraction device capable of excluding an effect of scattered X rays in an incident part to the utmost to detect the diffracted X rays generated in a sample, and an X-ray diffraction method.例文帳に追加

入射部での散乱Ｘ線の影響を極力排して試料で生じた回折Ｘ線を検出できる透過型のＸ線回折装置とＸ線回折方法とを提供する。 - 特許庁

METHOD AND IMPLEMENT FOR FIXING SAMPLE IN X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT例文帳に追加

Ｘ線回折測定における試料固定方法および試料固定具 - 特許庁

INTENSITY CALCULATION METHOD OF DIFFRACTION SPOT IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS例文帳に追加

Ｘ線構造解析における回折斑点の強度算出方法 - 特許庁

STRESS EVALUATION METHOD AND STRESS EVALUATION DEVICE BY X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折による応力評価方法及び応力評価装置 - 特許庁

To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるＸ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR OBSERVING CRYSTAL BY USING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ＣＣＤセンサの制御方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus having an improved measurement accuracy.例文帳に追加

測定精度の向上が図られるＸ線回折装置、を提供する。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR METAL SURFACE OXIDE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

金属材表面酸化物の測定方法およびＸ線回折装置 - 特許庁

The amount of formation of akermanite is measured by X-ray diffraction, for instance.例文帳に追加

例えば、オケルマナイト生成量はＸ線回折によって測定される。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device and an X-ray diffraction system which is easily portable and handleable, having an inexpensive structure, and capable of imaging simply an image of a diffraction ring.例文帳に追加

取扱いが容易で安価な構造であり持ち運びに便利で簡単に回折環の画像を撮像することができるＸ線回折装置及びＸ線回折システムを提供する。 - 特許庁

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.2, 12.7, 18.4 and 22.3°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．２、１２．７、１８．４及び２２．３度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

The X-ray diffraction apparatus has a X-ray source F, an X-ray detector 10, a divergence slit 2 and a scattering slit 8.例文帳に追加

Ｘ線源Ｆと、Ｘ線検出器１０と、発散スリット２と、散乱スリット８とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁

Cellulose I type crystallinity degree (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 (1) [wherein I_22.6 represents the diffraction intensity of lattice plane (plane 002) (diffraction angle 2θ=22.6°) and I_18.5 represents the diffraction intensity of amorphous part (diffraction angle 2θ=18.5°) in X-ray diffraction].例文帳に追加

セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００ （１）〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（００２面）（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁

The X-ray diffraction device comprises an X-ray diffraction device 1, a sample-mounting section 5 for supporting the sample S, and a fixation section 30 that can be moved and fixed to the sample-mounting section.例文帳に追加

Ｘ線回折装置１、試料Ｓを支持する試料取付け部５と、試料取付け部に対して移動及び固定可能な固定部３０を有する。 - 特許庁

To accurately analyze a crystal structure by using X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

Ｘ線回折測定を用いて結晶の構造を正確に解析する。 - 特許庁

SIMPLE METHOD FOR DETERMINING ZIRCONIA CRYSTAL PHASE RATIO BY X-RAY DIFFRACTION PATTERN例文帳に追加

Ｘ線回折パターンによるジルコニア結晶相割合の簡易定量法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF GONIOMETER, GONIOMETER, FOUR-AXIS GONIOMETER AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ゴニオメータの制御方法、ゴニオメータ、４軸ゴニオメータ、およびＸ線回折装置 - 特許庁

Desirable properties are obtained by causing the position 2θ of the most intense diffraction peak to be at least 30.65° and at most 30.9° in the X-ray diffraction of the phosphor.例文帳に追加

また、この蛍光体についてのX線回折で、最も強く現れる回折ピークの位置を2θ=30.65°以上30.9°以下とすることで、望ましい特性を得られる。 - 特許庁

A diffraction grating 8 has two orthogonal symmetrical axes x, y.例文帳に追加

回折格子８は、２つの直交する線対称軸ｘ，ｙを有している。 - 特許庁

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ+0.1) of 3.4, 10.2, 13.7, 17.1 and 20.7°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、３．４、１０．２、１３．７、１７．１及び２０．７度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.1, 10.4, 15.5, 17.0, 20.0 and 20.2°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．１、１０．４、１５．５、１７．０、２０．０及び２０．２度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

To enhance measurement precision for various X-ray diffractometers for usual X-ray diffraction, X-ray abnormal scattering diffraction and the like, by setting an X-ray size within a range assigned by the present invention.例文帳に追加

Ｘ線のサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、各種の、通常のＸ線回折用、及び、Ｘ線異常散乱回折用等の、Ｘ線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.例文帳に追加

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁

Substantially, only a diffraction pattern of the defective perovskite type composite oxide is detected in power X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、実質的に上記欠陥ペロブスカイト型複合酸化物の回折パターンのみが検出される。 - 特許庁

An X-ray diffraction apparatus 10 includes an X-ray generation part 22, a two-dimensional detector 50, and a slit plate 40.例文帳に追加

Ｘ線回折装置１０は、Ｘ線発生部２２と、２次元検出器５０と、スリット板４０とを備える。 - 特許庁

A light path of a low-range X-ray beam is shifted by crystal diffraction and superimposed on a high-range X-ray beam.例文帳に追加

低域Ｘ線ビームの光路を結晶回折によってシフトさせ、高域Ｘ線ビームに重畳する。 - 特許庁

To improve transparency to x-rays in between gratings regarding a diffraction grating for an x-ray interferometer.例文帳に追加

Ｘ線干渉計用の回折格子について、格子間でのＸ線に対する透明性を向上させる。 - 特許庁

The crystalline modification II to pyraclostrobin shows at least four reflections represented by formula in an X-ray powder diffraction figure at 25°C.例文帳に追加

25℃でのX線粉末回折図において、以下の反射の少なくとも4つを示す、ピラクロストロビンの結晶変態II。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer capable of forming a two-dimensional X-ray diffraction image highly accurately at a high speed.例文帳に追加

２次元Ｘ線回折像を高速且つ高精度に作成できるＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction system for coping with the shaking of a sample stage.例文帳に追加

サンプルステージのぐらつきに対応し得るＸ線回折システムを提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray diffractometer executing a wavelength modulation diffraction method by using an X-ray tube in stead of a radiation source as an X-ray source.例文帳に追加

Ｘ線源として放射光源ではなくＸ線管を用い、波長変調回折法を実施できるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

In this X-ray diffraction device, an X-ray radiated from an X-ray source F is regulated by a divergence slit 2 and irradiated to the sample S, and a diffraction line R_2 emitted from the sample S is detected by an X-ray detector 10.例文帳に追加

Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線を発散スリット２によって規制して試料Ｓに照射し、試料Ｓから出た回折線Ｒ_２をＸ線検出器１０によって検出するＸ線回折装置である。 - 特許庁

The x-ray imaging apparatus includes: an x-ray source having an electron source and a target; a diffraction grating for diffracting x-rays from the x-ray source; and a detector for detecting x-rays from a screen grid.例文帳に追加

Ｘ線撮像装置は、電子源とターゲットとを有するＸ線源と、Ｘ線源からのＸ線を回折する回折格子と、遮蔽格子からのＸ線を検出する検出器と、を備える。 - 特許庁

(Co.fcc)≤0.1, where I(Co.hcp) denotes the X-ray diffraction intensity in the (101) face of Co with an hcp structure, and I(Co.fcc) denotes the X-ray diffraction intensity in the (111) face of Co with an fcc structure.例文帳に追加

０≦Ｉ(Co・hcp)／Ｉ(Co・fcc)≦０．１ ここで、Ｉ(Co・hcp)はhcp 構造のＣｏの(101) 面におけるＸ線回折強度で、Ｉ(Co・fcc)はfcc 構造のＣｏの(111) 面におけるＸ線回折強度である。 - 特許庁