「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The fullerene whose half-width of peak of maximum intensity measured by X-ray diffraction is 0.20 ° or larger is reacted with the reactive gas.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における最大強度のピークの半値幅が０．２０°以上であるフラーレン類と反応性ガスとを反応させる。 - 特許庁

The plate particles have a peak intensity ratio [003]/[104] of 1.6 or less in X-ray diffraction, and an aspect ratio of 2.1 to 20.例文帳に追加

板状粒子においては、Ｘ線回折におけるピーク強度比［００３］／［１０４］が１．６以下であり、アスペクト比が２．１〜２０である。 - 特許庁

The first diffraction grating 100 has a refractive index distribution of one-dimensional periodicity in the X-direction and can form a photonic band gap.例文帳に追加

第１の回折格子１００は、Ｘ方向の一次元の周期的な屈折率分布を有し、フォトニックバンドギャップを構成しうる。 - 特許庁

In the carbon power, it is preferable to have <3370 nm distance between surface (d002) of the graphite layers measured by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

炭素粉末は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満であることがより好ましい。 - 特許庁

Further, the half peak width obtained by the X-ray diffraction analysis of martensite of the rolling element 3 is ≤7.6° for all rolling elements.例文帳に追加

また、転動体３のマルテンサイトのＸ線回折分析により得られたピークの半価幅は、全転動体ともに７．６°以下である。 - 特許庁

The reciprocal lattice map measurement of X-ray diffraction requires setting of the measuring range of 2θ/ω and setting of the measuring range of ω.例文帳に追加

Ｘ線回折の逆格子マップを測定するには，２θ／ωの測定範囲とωの測定範囲を設定する必要がある。 - 特許庁

To provide a membrane X-ray diffraction apparatus capable of obtaining the crystal data of the minute area in a polycrystal membrane sample.例文帳に追加

多結晶薄膜試料における微小領域の結晶情報を得ることの可能な薄膜Ｘ線回折装置を提供する。 - 特許庁

When the X-ray diffraction measurement is performed on the anode side electrode 14, a pattern showing that the particles 28 are amorphous is obtained.例文帳に追加

このアノード側電極１４についてＸ線回折測定を行うと、粒子２８が非晶質であることを示すパターンが得られる。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device with which pole figure measurement is exactly performed even when a two-dimensional detector is used.例文帳に追加

２次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The spread shapes in the peaks A, B measured by the X-ray diffraction are standardized again, thus newly creating a profile for comparison.例文帳に追加

Ｘ線回折で測定されたピークＡ、Ｂの拡がりの形状を規格化しなおすことにより、比較用プロファイルを新たに作製する。 - 特許庁

The α-Mn_2O_3 has a new crystal structure in which peak intensity of lattice planes in X-ray diffraction satisfies (222)<(400).例文帳に追加

Ｘ線回折における格子面のピーク強度が（２２２）＜（４００）である新規な結晶構造を有するα−Ｍｎ_２Ｏ_３を用いる。 - 特許庁

To provide a method of measuring lattice constants, which can correctly and easily discriminate between the intensity peak of diffraction X-rays from a semiconductor substrate and the intensity peak of diffraction X-rays from a cladding layer, and which prevents the lattice constant of the semiconductor substrate and the lattice constant of the cladding layer from being changed wrongly.例文帳に追加

半導体基板からの回折Ｘ線の強度のピークとクラッド層からの回折Ｘ線の強度のピークとを、正しくかつ容易に識別することができ、半導体基板の格子定数とクラッド層の格子定数とを取り違えない格子定数の測定方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a method of measuring a crystallite diameter of a thin film material for easily measuring the crystallite diameter of the thin film material by X-ray diffraction measurement with high precision, a measuring objective sample for performing the X-ray diffraction measurement of the thin film, and a method of manufacturing the measuring objective sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により薄膜材料の結晶子径を簡易且つ高精度に測定する薄膜材料の結晶子径測定方法、薄膜に対するＸ線回折測定を行うための測定対象試料、及びこの測定対象試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

The bentonite particle does not have an X-ray diffraction peak derived from SiO_2 crystals, but has an X-ray diffraction peak derived from the plane index (001) of dioctahedral type smectite treated with ethylene glycol, and an electroconductivity of ≤4.0 mS/cm.例文帳に追加

ＳｉＯ_２結晶に由来するＸ線回折ピークは有していないが、エチレングリコール処理した状態の２八面体型スメクタイトの面指数（００１）に由来するＸ線回折ピークは有しており、且つ電気伝導度が４．０ｍＳ／ｃｍ以下の範囲にあることを特徴とする。 - 特許庁

The rolled copper foil, when recrystallization-annealed, develops a texture in which the intensity (I) of a rolled face (200) determined by X-ray diffraction has such a relation with the intensity (I_0) of the face (200) on the fine powder of copper determined by the X-ray diffraction, as to satisfy I_(200)/I_0(200)<1.0.例文帳に追加

再結晶焼鈍を施すことにより、Ｘ線回折で求めた圧延面の（２００）面の強度（Ｉ）が、微粉末銅のＸ線回折で求めた（２００）面の強度（Ｉ_０）に対し、Ｉ_（２００）／Ｉ_０（２００）＜１．０である集合組織が発現することを特徴とする圧延銅箔 - 特許庁

A stable crystalline dihydrate D olanzapine polymorph has a typical X-ray powder diffraction pattern as represented by specific interplanar spacings, or a stable crystalline dihydrate B olanzapine polymorph has a typical X-ray powder diffraction pattern as represented by specific interplanar spacings.例文帳に追加

特定の面間隔によって示される典型的なＸ線粉体回折パターンを有する安定な結晶２水和物Ｄオランザピン多形又は、特定の面間隔によって示される典型的なＸ線粉体回折パターンを有する結晶２水和物Ｂオランザピン多形。 - 特許庁

The aripiprazole anhydride crystals have the same ^1H-NMR spectrum as ^1H-NMR spectrum shown in Fig 9, the same powder X-ray diffraction spectrum as powder X-ray diffraction spectrum shown in Fig 10, and the same IR spectrum as an IR (KBr) spectrum shown in Fig 11.例文帳に追加

本発明のアリピプラゾール無水物結晶は、例えば図９に示される^１Ｈ−ＮＭＲスペクトルと同じ^１Ｈ−ＮＭＲスペクトル、図１０に示される粉末Ｘ線回析スペクトルと同じ粉末Ｘ線回析スペクトル、図１１に示されるＩＲ（ＫＢｒ）スペクトルと同じＩＲスペクトルを示す。 - 特許庁

The initial characteristics (A): the Y-titanylphthalocyanine crystal has peaks at Bragg's angles 2θ±0.2° of 7.4° and 9.6° in an X-ray diffraction spectrum and, when peak intensities of them are presented as X, Y, the value of X/Y(-) is less than 0.3.例文帳に追加

（Ａ）初期特性 Ｙ型チタニルフタロシアニン結晶が、Ｘ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ±０．２°＝７．４°及び９．６°にピークを有し、それらのピーク強度をそれぞれＸ及びＹとした場合に、Ｘ／Ｙ（−）の値が０．３未満の値である。 - 特許庁

The spherical porous silica particles combinedly have the fine pores of mesopores and micropores, have a diffraction peak showing a regular arrangement structure of the fine pores at a diffraction angle of 0.3 to 2.0 degrees (CuKα) in small angle X-ray diffraction, and have a particle diameter of 20 to 500 μm.例文帳に追加

メソポアとマイクロポアの微細孔とを併せ持ち、小角Ｘ線回折において回折角０．３乃至２．０度（ＣｕＫα）に細孔の規則配列構造を示す回折ピークを有し、且つ粒径が２０乃至５００μｍの球状粒子からなる球状多孔質シリカ粒子。 - 特許庁

This is a catalyst for the fuel cell which contains RuTe_2 as an active component, and the half width of a maximum diffraction peak in a region of diffraction angle 2θ (±0.3) 27° or more and 29° or less by X-ray diffraction method (Cu-Kα line) of RuTe_2 is 1.80° or less.例文帳に追加

活性成分としてＲｕＴｅ_２を含む触媒であって、ＲｕＴｅ_２のＸ線回折法（Ｃｕ−Ｋ_α線）による回折角２θ（±０．３゜）が２７゜以上２９゜以下の領域における最大回折ピークの半値幅が、１．８０゜以下である燃料電池用触媒。 - 特許庁

Then, when the imaging plate 7a is dismounted from the X-ray diffraction device 5 and mounted on a reading device 11, image information of the diffraction ring is read from the imaging plate 7a, and the image information of the diffraction ring is analyzed by an evaluation device 12, to thereby evaluate the residual stresses or the like in the rail 1.例文帳に追加

次に、イメージングプレート７ａをＸ線回折装置５から取り外して読取装置１１に装着すると、イメージングプレート７ａから回折環の画像情報が読み取られて、この回折環の画像情報を評価装置１２が解析してレール１の残留応力などを評価する。 - 特許庁

The copper alloy containing 2.0 to 4.0mass% Ti is characterized in that other impurity elements are ≤0.01mass% in total and that the diffraction peak of a β phase (TiCu_3) observed on an X-ray diffraction pattern is <1/10 of the diffraction peak of (111) if largest.例文帳に追加

Ｔｉを２．０〜４．０質量％含有する銅合金において、他の不純物元素が合計で０．０１質量％以下であり、Ｘ線回折パターン上に見られるβ相（ＴｉＣｕ_３）の回折ピークが最大のものでも（１１１）の回折ピークの１／１０未満であることを特徴とする銅合金。 - 特許庁

The graphitized carbon fiber to be incorporated into a thermally conductive polymeric composition has a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak (101) to the (100) diffraction peak of ≥1.15.例文帳に追加

熱伝導性高分子組成物に含有される黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満で、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上である。 - 特許庁

In the diffraction lens having a diffraction relief pattern on the lens surface, the diffraction relief pattern on at least one lens surface is expressed by formula (2) when the distance h in the perpendicular direction from the x-axis, which is the optical axis of the diffraction lens, is in the range of formula (1).例文帳に追加

レンズ面上に回折レリーフを有する回折レンズにおいて、前記回折レンズの光軸をｘ軸とし、前記光軸と垂直な方向の前記光軸よりの距離をｈとして、ｈが下記の式（１）の範囲にあるとき、少なくとも１つのレンズ面上の回折レリーフの形状が下記の式（２）で表されることを特徴とする回折レンズ。 - 特許庁

An X-ray diffraction and thermal analysis simultaneous measurement device includes functions for executing X-ray diffraction measurement by irradiating a sample for measurement with X-rays and simultaneously executing thermal analysis measurement by heating the sample for measurement and the standard sample, and includes a furnace heating which heats the sample for measurement and the standard sample.例文帳に追加

被測定試料に対しＸ線を照射してＸ線回折測定を実施するとともに、当該被測定試料および標準試料を加熱して熱分析測定を同時に実施する機能を備えたＸ線回折・熱分析同時測定装置であり、被測定試料および標準試料を加熱する加熱炉を備えている。 - 特許庁

Further, the second cBN sintered compact contains 70 to 99.5 vol.% of cBN, wherein the remaining part comprises a bond phase and an inevitable impurity, a half-value width of the diffraction peak of a face (331) of cBN measured by X-ray diffraction is 1.35 deg or more.例文帳に追加

また、第二のcBN焼結体は、cBNを70体積％以上99.5体積％以下含有し、残部が結合相及び不可避不純物からなり、Ｘ線回折によるcBNの（331）面の回折ピークの半価幅が1.35deg以上である。 - 特許庁

The liquid crystalline resin composition includes two liquid crystalline polyesters (A) and (B), wherein the half width of a crystallization peak is ≥2° at the diffraction angle 2θ of 18-20°observed in X-ray diffraction.例文帳に追加

２種の液晶性ポリエステル（Ａ）と（Ｂ）からなる液晶性樹脂組成物であり、Ｘ線回折によって回折角度２θが１８〜２０°に観測される結晶ピークの半値幅が２°以上である液晶性樹脂組成物。 - 特許庁

This silicon steel sheet has an extra-thin ceramic film consisting of crystallites having dominantly such orientations that a ratio of diffraction peak intensity (222)/(200) by X-ray diffraction can be 1.2 or higher, which is coated on the surface of the grain-oriented silicon steel sheet that has been finish-annealed.例文帳に追加

仕上げ焼鈍済の一方向性珪素鋼板の表面に、Ｘ線回折による（２２２）／（２００）回折ピーク強度比が1.2 以上に優先配向した結晶質に成る、極薄セラミック被膜を被成する。 - 特許庁

The inclusion of the TiC-based compound is confirmed by that a finding the diffraction line peaks at 2θ=36.2°, 42.3°, and 61.6° by X-ray diffraction method of the obtained Ti-C-based material correspond to (111), (200), and (220) in TiC.例文帳に追加

ＴｉＣ系化合物の含有は、得られたＴｉ−Ｃ系材料のＸ線回折法による、２θ＝36.2°、42.3°、および61.6°の回折線ピークがＴｉＣにおける(111)、(200)、および(220)に対応することにより確認された。 - 特許庁

This catalyst for producing the polyester comprises a solid titanium compound obtained by dehydrating and drying a titanium hydroxide and having ≤50% crystallinity calculated from an X-ray diffraction pattern within the range of 18-35° 2θ (angle of diffraction).例文帳に追加

チタン水酸化物を脱水乾燥することにより得られ、２θ（回折角度）が１８°〜３５°の範囲にあるＸ線回折パターンから算出した結晶化度が５０％以下である固体状チタン化合物からなる。 - 特許庁

This recording liquid contains, as the colorant, a pseudo- unidimensional organic phthalocyanine pigment of which a diffraction ray exhibiting the maximum strength is the main peak in the X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性フタロシアニン系有機顔料からなることを特徴とする色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

(Step 1) A X-ray diffraction pattern of a titanium surface is measured in an condition that an X-ray incident angle is maintained at a low angle of two degree or less, which is in an initial state before maintaining it in an atmospheric environment.例文帳に追加

（ステップ１）Ｘ線入射角度を２度以下の低角度に保った条件で大気環境中保持前である初期状態のチタン表面のＸ線回折図形の測定を行う。 - 特許庁

By selecting the solar slit 12 and the collimator and selecting the function of the X-ray detector 21, X-ray diffraction and measurement can be performed under a proper condition regardless of the size of a crystal grain.例文帳に追加

ソーラスリット１２とコリメータとを選択し、Ｘ線検出装置２１の機能を選択することにより、結晶粒の大小に拘わらず適正な条件でＸ線回折測定を行うことができる。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.例文帳に追加

汚染された破壊面からでもＸ線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするＸ線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To enhance measurement accuracy of an X-ray diffractometer for measuring an atomic radial distribution function and anomalous diffraction scattering X-rays, by setting the size of a slit within the range specified by this invention.例文帳に追加

スリットサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、原子動径分布関数測定用、及び、異常散乱Ｘ線回折用の、Ｘ線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数（ＧＩ）２．０以下、平均粒子径５〜４０μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が４０〜３００μmである複合粒子。 - 特許庁

The optional portion of the sample held by the transmission type sample holder or the reflection type sample holder can be arranged on the X-ray irradiation position of the X-ray diffraction apparatus by a driving force of the driving motor.例文帳に追加

駆動モータの駆動力により、透過型試料ホルダまたは反射型試料ホルダに保持された試料の任意の部位をＸ線回折装置のＸ線照射位置へ配置することができる。 - 特許庁

To highly accurately detect diffraction angles of diffracted X rays going out of a specimen in various directions with the direction of the specimen kept unchanged as far as possible relative to incident X rays.例文帳に追加

入射Ｘ線に対して試料の向きをできるだけ変化させることなく，かつ，試料からいろいろな方向に出ていく回折Ｘ線について，その回折角を高精度で検出できるようにする。 - 特許庁

To observe a reaction process (a carbon deposition) of a sample (a zinc ferrite desulfurization agent) on site by an X-ray diffraction while the large quantity of a reaction gas flows.例文帳に追加

多量の反応ガスを流しながらＸ線回折で試料（亜鉛フェライト脱硫剤）の反応過程（炭素析出）をその場で観察する。 - 特許庁

The crystallite size caused by the (111) plane of the negative electrode active material particles obtained by X-ray diffraction is 5 nm or more, and 130 nm or less.例文帳に追加

Ｘ線回折により得られる負極活物質粒子の（１１１）面に起因する結晶子サイズは、５ｎｍ以上１３０ｎｍ以下である。 - 特許庁

Then, the oxide powder is heated and held under the non-oxidizing atmosphere, thereby having an X-ray diffraction peak belonging to a pyrochlore phase and exhibiting a high OSC.例文帳に追加

そして非酸化性雰囲気下で加熱保持することで、パイロクロア相に帰属するＸ線回折ピークを有するようになり、高い OSCを示す。 - 特許庁

This insert contains, in addition, W_2C in an amount such that in the X-ray diffraction pattern the peak ratio W_2C(101)/W(110) is ∠ 0.3.例文帳に追加

このインサートは、他にＷ_2Ｃを含み、Ｘ線回折パターンにおいてピーク比Ｗ_2Ｃ（１０１）／Ｗ（１１０）が０．３未満になる量である。 - 特許庁

A polybasic salt of a complex metal having a specified chemical composition and X-ray diffraction peaks is used as a stabilizer for a chlorine- containing polymer.例文帳に追加

特定の化学組成及びＸ線回折ピークを有する複合金属多塩基性塩を塩素含有重合体用安定剤として用いる。 - 特許庁

X-ray diffraction pattern (lattice plane spacing d/Å): 13.2±0.6, 12.3±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1, and 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン格子面間隔ｄ／Å（オングストローム）１３．２±０．６１２．３±０．３９．０±０．３６．８±０．３３．９±０．２３．５±０．１３．４±０．１ - 特許庁

To improve analysis efficiency when X-ray diffraction quantitative analysis of many samples is performed using a base standard absorption correction method.例文帳に追加

多数の試料について基底標準吸収補正法を用いたＸ線回折定量分析を行う場合の分析効率を向上させる。 - 特許庁