「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To surely obtain an X-ray diffraction profile derived from a thin film formed on the surface of a base material having a periodic structure in which a crystal structure or a molecular structure is oriented in a specific direction, by the X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により、結晶構造または分子構造が特定方向に配向した周期構造を有した基材表面に形成された薄膜由来のＸ線回折プロファイルを確実に得る。 - 特許庁

To enable detection for diffraction X rays as well appearing in a higher angle region as in the measurement of the stress of a sample in the X-ray diffraction apparatus using a curved PSPC(Position Sensitive Proportional Counter).例文帳に追加

湾曲ＰＳＰＣ（Position Sensitive Proportional Counter：位置感応型Ｘ線検出器）を用いたＸ線回折装置において、試料の応力測定のごとく高角度領域にあらわれる回折Ｘ線についても検出できるようにする。 - 特許庁

A convenient technique capable of observing simultaneously the magnetostriction and the magnetization in the same area of the sample is provided, by combining newly a technique for measuring magnetostriction by an X-ray diffraction method and an X-ray magnetic diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。 - 特許庁

The first crystal 2 which is situated first from the incident side of the X-rays is a single crystal which divides the X-rays into two optical paths by their diffraction and their transmission.例文帳に追加

Ｘ線の入射側から最初に位置する第一結晶２は、回折と透過とによってＸ線を二つの光路に分割する単結晶である。 - 特許庁

To provide an X-ray photographing apparatus and X-ray photographing method capable of photographing an image with high accuracy regardless of misalignment of diffraction grating.例文帳に追加

回折格子のずれに拘わらず、高精度の撮影画像を得ることが可能なＸ線撮影装置およびＸ線撮影方法を提供する。 - 特許庁

This film has characteristics in that manganese nitride singly or manganese nitride and metallic manganese are identified by X-ray diffraction and that the film is used for a piston ring, a valve lifter, a compressor vane, etc.例文帳に追加

この皮膜は,窒化マンガンあるいは窒化マンガンと金属マンガンがX線回折で同定され、ピストンリング、バルブリフタ、圧縮機のベーンなどに使用される。 - 特許庁

For the ferrite with cadmium chloride structure (LiFeO_2 with CdCl_2 structure), the integrated intensity ratio of the diffraction peak of (003) against the diffraction peak of (104), obtained by the powder method of X ray diffraction, is 2.5 or more, or the half value width of the diffraction peak of (003) is 0.45 of less.例文帳に追加

この塩化カドミウム型フェライト（ＣｄＣｌ_2 型ＬｉＦｅＯ_2 ）は、粉末Ｘ線回折法により得られる、（１０４）の回折ピークに対する（００３）の回折ピークの積分強度比が２．５以上、または（００３）の回折ピークの半値幅が０．４５以下となっている。 - 特許庁

(1) When a half-value width of a diffraction peak 'a' in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 22 to 27° is FWHMa, an FWHMa value is to be 0.6 or more.例文帳に追加

（イ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが２２〜２７°付近に存在する回折ピークａの半価幅をＦＷＨＭａとした時に、ＦＷＨＭａ値が０．６以上である。 - 特許庁

This method yields the porcelain composition containing merwinite as a crystal phase, wherein a main diffraction intensity of X ray diffraction of a co-existing akermanite corresponds to ≤6% of a main diffraction intensity of the merwinite crystal.例文帳に追加

この方法によれば、メルウィナイトを結晶相として含有し、共存するアケマナイト結晶のＸ線回折における主回折強度がメルウィナイト結晶の主回折強度の６％以下である磁器組成物が得られる。 - 特許庁

The hydrobromide salt of the donepezil or a crystal of a solvate thereof has diffraction peaks at 6.6° and 26.9° diffraction angles (2θ±0.2°), etc., in powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）６．６°及び２６．９°などに回折ピークを有する、１−ベンジル−４−［（５，６−ジメトキシ−１−インダノン）−２−イル］メチルピペリジンの臭化水素塩又はその溶媒和物の結晶。 - 特許庁

The carbon material is insoluble in an organic solvent and has the highest peak at diffraction angles of 10 to 18° in a range of diffraction angle of 3 to 30° in X-ray diffraction measurement results using the CuKα-line.例文帳に追加

有機溶媒に不溶であり、かつ、ＣｕＫα線を使用したＸ線回折測定結果における回折角３〜３０°の範囲内で、最も強いピークが回折角１０〜１８°の範囲に存在する炭素材料。 - 特許庁

The cellulose I type crystallinity (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 wherein, I_22.6 is a diffracted intensity of a lattice plane (angle of diffraction 2θ= 22.6°) in X-ray diffraction; and I_18.5 is a diffracted intensity of an amorphous portion (angle of diffraction 2θ= 18.5°).例文帳に追加

セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁

The copper conductor for the audio/video signal is formed so that an X-ray diffraction intensity I (111) of a (111) face and the X-ray diffraction intensity I (200) of a (200) face at irradiating the X-ray to the cross-section satisfies I (111)≥15×I (200).例文帳に追加

オーディオ・ビデオ信号用銅導体は、横断面にＸ線を照射したときの（１１１）面のＸ線回折強度Ｉ（１１１）と（２００）面のＸ線回折強度Ｉ（２００）とがＩ（１１１）≧１５×Ｉ（２００）の関係を満たすように形成されている。 - 特許庁

This X-ray diffraction measuring method is provided for measuring X-ray diffraction by transmitting incident X-rays through a sample 48 in a direction almost along a predetermined rotation axis Zs while rotating the sample 48 around the rotation axis Zs.例文帳に追加

本発明のＸ線回折測定方法は、所定の回転軸線Ｚｓまわりに試料４８を回転させながらこの回転軸線Ｚｓに略沿った方向の入射Ｘ線を試料４８に透過させることにより、Ｘ線回折が測定される。 - 特許庁

After setting the sample, a diffracted X-ray obtained by diffracting an X-ray from an X-ray tube 1 by the sample 6 is detected to execute X-ray diffraction analysis, by moving synchronously and rotatavely the X-ray tube 1 and a detector 3 around the rotation center 5.例文帳に追加

試料のセッティング後、Ｘ線管１と検出器３を回転中心５の回りに同期して回転駆動することによって、Ｘ線管１からのＸ線が試料６によって回折された回折Ｘ線を検出してＸ線回折分析が行われる。 - 特許庁

It is preferable that the molding has a sheet shape and the intensity ratio, I_(002)/I_(110) of intensity I_(110) of a diffraction peak at a (110) plane of carbon to intensity I_(002) of a diffraction peak at a (002) plane in an X-ray diffraction chart obtained by irradiating X-ray in the thickness direction of the sheet, is ≤10.例文帳に追加

成形体がシート状をなし、その厚み方向にＸ線を照射して得られる黒鉛粉末のＸ線回折図における炭素の（１１０）面の回折ピークの強度Ｉ_(110)に対する（００２）面の回折ピークの強度Ｉ_(002)の比Ｉ_(002)／Ｉ_(110)が１０以下であることが望ましい。 - 特許庁

A fiber formed product has a crystallization peak in the vicinity of an angle (2θ) of diffraction of 6-10° as a result of analysis by X-ray diffraction method and the formed product is composed of a crystallized single-wall carbon nanotube.例文帳に追加

Ｘ線回折法による解析結果、回折角２θ＝６〜１０°付近に結晶化ピークを有する、結晶化した単層カーボンナノチューブからなる繊維成型体。 - 特許庁

An example of a graph of diffraction intensity by an X-ray diffraction method of the obtained ITO film (as shown), and a strong peak corresponding to the (400) plane of ITO is observed.例文帳に追加

選択図には得られたＩＴＯ膜のＸ線回折法による回折強度のグラフの一例を示し、ＩＴＯの（４００）面に対応する強いピークが観測されている。 - 特許庁

The difference in the radius of curvature between the astigmatic axis X and the intersection axis Y orthogonal to the astigmatic axis X on an astigmatism synthesized plane of the eyeglasses lens 1 can be reduced by the astigmatism given by the diffraction structure 4.例文帳に追加

眼鏡レンズ１の乱視合成面における乱視軸Xの方向と乱視軸Xに直交する交差軸Yの方向との曲率半径の差異を、回折構造４により付与された非点収差分小さくすることができる。 - 特許庁

In the method, triaxial stress components are measured on the basis of a diffraction ring obtained by irradiating a specimen with X rays.例文帳に追加

被検物にＸ線を照射して得られる回折環に基いて３軸応力を測定する方法である。 - 特許庁

It is desirable that the crystallite diameter of the magnetite as measured by an X-ray diffraction method is 60-90 nm.例文帳に追加

Ｘ線回折法で測定されたマグネタイトの結晶子径が６０〜９０ｎｍであることが好適である。 - 特許庁

Further, the inspection method of the crystal axis in the screening step is one utilizing an X-ray diffraction phenomenon.例文帳に追加

更に、選別工程における結晶軸の検査方法は、Ｘ線の回折現象を利用した方法とする。 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus, capable of easily adjusting the crystal azimuth of a single-crystal sample with high accuracy.例文帳に追加

単結晶試料の結晶方位を容易かつ高精度に調整可能なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

In the copper alloy, the integrated intensity ratio I {200}/I{111} obtained by X-ray diffraction regarding a rolling face is ≤1.5.例文帳に追加

圧延面についてのＸ線回折により求まる積分強度比Ｉ｛２００｝／Ｉ｛１１１｝が１.５以下である銅合金。 - 特許庁

When an electron beam from the electron source is made incident, the emitting surfaces emit x-rays to the diffraction grating.例文帳に追加

出射面は、電子源からの電子線が入射することにより、回折格子へ向かうＸ線を出射する。 - 特許庁

The crystalline form IV of a compound of formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram.例文帳に追加

その粉末Ｘ線回折図表により特徴付けられる、式（Ｉ）：で示される化合物の結晶形態IV。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of easily performing measurement of small angle scattering, X-ray diffraction, or reflectance by use of one apparatus.例文帳に追加

一台の装置で、小角散乱、Ｘ線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。 - 特許庁

The x-rays emitted from the emitting surfaces are diffracted by the diffraction grating to form interference patterns.例文帳に追加

出射面から出射されたＸ線は、回折格子で回折されることにより、干渉パターンを形成する。 - 特許庁

A refraction angle of X-ray beams caused by the sample is detected at a time by X-ray detectors 18 by utilizing a plurality of number of times of X-ray diffraction by a plurality of analyzer crystals 11, 12.例文帳に追加

試料によって生じたＸ線ビームの屈折角を、複数のアナライザー結晶１１，１２による複数回のＸ線回折を利用してＸ線検出器１８で同時に検出する。 - 特許庁

Diffraction X rays generated are recorded in a two-dimensional X-ray detector at a stroke in a short period of time, thereby visualizing the intensity of diffraction X rays from the ultrafine structure in a reciprocal lattice space to rapidly analyze its structure.例文帳に追加

基板結晶表面上に育成された超微細ナノワイヤ、基板結晶とその表面を覆うキャップ層の間に挟まれた、埋もれた超微細ナノワイヤ、あるいは、薄膜結晶などの超微細構造体に、0.1 nm以下の短波長X線を表面から数°以下の角度で入射させ、生じる回折X線を２次元X線検出器に短時間で一度に記録することにより、前記超微細構造体からの回折X線強度を逆格子空間において可視化し、その構造を迅速に解析する。 - 特許庁

To provide an airtight sample holder for x-ray diffraction measurement which is a holder to be used for holding a measurement target sample in a measurement instrument in an airtight state in x-ray diffraction measurement and is capable of easily setting a sample and preventing occurrence of such a problem that diffraction from a portion such as an x-ray transmission window other than the sample may be detected.例文帳に追加

Ｘ線回折測定において測定対象試料を気密状態で測定装置内に保持するために使用されるホルダーであって、試料のセットが容易で、かつＸ線透過窓等の試料以外の部分からの回折を検出する問題も生じさせないＸ線回折測定用気密試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

An X-ray imaging apparatus capturing a specimen comprises: a diffraction grating which shapes an interference pattern by diffracting an X-ray from an X-ray source; a masking grating which blocks a part of the X-ray shaping the interference pattern; and an X-ray detector which detects X-ray strength distribution from the masking grating.例文帳に追加

被検体を撮像するＸ線撮像装置は、Ｘ線源からのＸ線を回折することにより干渉パターンを形成する回折格子と、干渉パターンを形成するＸ線の一部を遮る遮蔽格子と、遮蔽格子からのＸ線の強度分布を検出するＸ線検出器を備える。 - 特許庁

The objective receptor is composed of a titanylphthalocyanine crystal having the maximum diffraction peak at least at 27.2° as the diffraction peak (±0.2°) of the Bragg angle 2θ with the characteristic X-ray of CuKα (1.514A wavelength), a peak at 7.3° as the diffraction peak of the smallest diffraction angle and further a peak at 26.3°.例文帳に追加

ＣｕＫαの特性Ｘ線（波長１．５１４Å）に対するブラッグ角２θの回折ピーク（±０．２°）として、少なくとも２７．２°に最大回折ピークを有し、且つ最も低角側の回折ピークとして７．３°にピークを有し、且つ２６．３°にもピークを有するチタニルフタロシアニン結晶。 - 特許庁

When the GaN compound semiconductor crystal is epitaxially grown, the substrate where a diffraction angle (2θ) at which a diffraction peak by an X-ray diffraction method appears is within a prescribed range, to put it concretely, NdGaO_3 where a position of the diffraction peak is 40.200° to 40.400° is used.例文帳に追加

ＧａＮ系化合物半導体結晶をエピタキシャル成長させる際に、Ｘ線回折法による回折ピークの現れる回折角度（２θ）が所定の範囲内にある基板、具体的には、回折ピークの位置が４０．２００°〜４０．４００°であるＮｄＧａＯ_3を用いるようにした。 - 特許庁

The negative electrode active material contains Si and O wherein the atomic ratio x of O to Si is expressed as 0<x<2, and wherein B<3° (2θ) where B represents the half width of the diffraction peak of the (220) plane of Si in the X-ray diffraction pattern measured using CuKα radiation.例文帳に追加

ＳｉとＯとを含み、Ｓｉに対するＯの原子比ｘが０＜ｘ＜２で表され、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折パターンにおいて、Ｓｉ（２２０）面回折ピークの半値幅をＢとするとき、Ｂ＜３°（２θ）である負極活物質を用いることを特徴とする。 - 特許庁

An angle ω0 where the intensity of light from the light source 4 entering the photodetector 5 is maximized, and an angle ω1 where the intensity of diffraction X-rays which are detected by an X-ray diffraction system that is set at a specific angle is maximized, are measured.例文帳に追加

次いで、測定対象試料を装着して同様に光強度が最大になる角度ω_２と回折Ｘ線強度が最大になる角度ω_３を測定し、次式に基づき測定対象試料の偏差角δを求める。 - 特許庁

In the expression, I{420} represents an X-ray diffraction intensity of a crystal face {420} on the plate surface of the copper alloy plate material, and I_0{420} represents an X-ray diffraction intensity of the crystal face {420} of a standard powder of pure copper.例文帳に追加

Ｉ｛４２０｝／Ｉ_0｛４２０｝＞１.０ ……（１） ここで、Ｉ｛４２０｝は当該銅合金板材の板面における｛４２０｝結晶面のＸ線回折強度、Ｉ_0｛４２０｝は純銅標準粉末の｛４２０｝結晶面のＸ線回折強度である。 - 特許庁

The diffraction conditions of X-rays are related to not only a component r_ijy in the y-direction of a bond vector r_ij, connecting an atom A_i and an atom A_j, but also to a component r_ijx in the x-direction in a test piece which causes diffraction.例文帳に追加

Ｘ線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、Ａ_ｉ原子及びＡ_ｊ原子を結ぶボンドベクトルｒ_ｉｊのｙ方向成分ｒ_ｉｊｙのみならず、ｘ方向の成分ｒ_ｉｊｘとも関係する。 - 特許庁

The formula (1): orientation α=(180-Δβ)/180, provided that Δβ expresses a half width when the X-ray diffraction intensity distribution from 0 to 360° azimuth angle direction is measured by fixing a peak scattering angle in the X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

配向度α＝（１８０−Δβ）／１８０…（１）（但し、Δβは、Ｘ線回折測定によるピーク散乱角を固定して方位角方向の０〜３６０度までのＸ線回折強度分布を測定したときの半値幅を表す。） - 特許庁

In the expression, β is an angle defined by an incident plane of the incident X-ray and one direction in a surface of the transparent support, and I is diffraction intensity at 2θ=8° in an X-ray diffraction chart measured at the angle β.例文帳に追加

上記式中、βは、入射するＸ線の入射面と前記透明支持体面内のある１方向とのなす角度であり、Ｉは、角度βで測定したＸ線回折チャートにおける２θ＝８°での回折強度である。 - 特許庁

A diffraction condition of an X-ray relates not only to a y-directional component r_ijy of a bond vector r_ij connecting an A_i atom and an A_j within a test piece generating diffraction but also to an x-directional component r_ijx.例文帳に追加

即ち、Ｘ線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、Ａ_ｉ原子及びＡ_ｊ原子を結ぶボンドベクトルｒ_ｉｊのｙ方向成分ｒ_ｉｊｙみならず、ｘ方向の成分ｒ_ｉｊｘとも関係する。 - 特許庁

That is, the crystal orientation property of the copper plated film 102 is controlled so that the rate of X-ray pattern diffraction strength I(111) of the (111) face of the copper plated film 102 to X-ray pattern diffraction strength I(220) of the (220) face of the copper plated film 102 can be set as I(220)/I(111)<0.2.例文帳に追加

詳しくは、銅めっき膜１０２の（１１１）および（２２０）面のそれぞれのＸ線パターン回折強度Ｉ（１１１），Ｉ（２２０）の比が、Ｉ（２２０）／Ｉ（１１１）＜０．２となるように銅めっき膜１０２の結晶配向性を制御する。 - 特許庁

An aqueous pigment dispersion contains a colorant, a dispersant and water, and is characterized in that the colorant is composed of an azo pigment represented by formula (1) or an azo pigment represented by formula (2) which has characteristic X-ray diffraction peaks at specific positions in CuKα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折における特定位置に特徴的Ｘ線回折ピークを有する、式（１）のアゾ顔料、又は式（２）のアゾ顔料を着色剤とした、分散剤、水を含む水系顔料分散物。 - 特許庁

(3) an intensity peak ratio I_003/I_110 of the diffraction peak intensity I_003 of the (003) planes determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity I_110 in the (110) planes in the vicinity of 2θ=66° is 4 to 10.例文帳に追加

（３）前記Ｘ線回折像において測定される前記（００３）面回折ピーク強度Ｉ_００３と２θ＝６６°付近の（１１０）面回折ピーク強度Ｉ_１１０との強度比Ｉ_００３／Ｉ_１１０が、４以上１０以下であること。 - 特許庁