「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The integrated intensity of the diffracted X-ray on the X-ray recording region is determined in a region inside the intensity calculation frame 26, and the result is used as the intensity of the diffraction spot 34.例文帳に追加

強度算出枠２６の内側の領域で，Ｘ線記録領域上の回折Ｘ線の積分強度を求めて，これを回折斑点３４の強度とする。 - 特許庁

To provide a method and device for preventing a water-containing crystal from drying to appropriately freeze a sample during diffraction measurement by X-rays etc.例文帳に追加

本発明は、X線等による回折測定時の含水結晶の乾燥を防ぎ、適切な試料凍結を行う方法及びそのための装置の提供を目的とする。 - 特許庁

A surface 24A of a test specimen 24 is irradiated with X-ray and a strain of the test specimen 24 is measured from a diffraction angle 2θ of the diffracted X-ray transmitting through the test specimen 24.例文帳に追加

試験片２４の表面２４ＡにＸ線を照射し、試験片２４を透過した回折Ｘ線の回折角２θから試験片２４のひずみを測定する。 - 特許庁

To fix a sample with an arbitrary shape and thickness regardless of the shape and thickness of the sample in an X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、試料の形状や厚みに係わらず任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁

The relief profile (R), the superimposition function (M) and also the diffraction structure (S;S*;S**) are functions of the co-ordinates x and y.例文帳に追加

レリーフ・プロファイル（Ｒ）、重畳関数（Ｍ）、および回折構造体（Ｓ；Ｓ^＊；Ｓ^＊＊）は座標軸ｘおよびｙの関数である。 - 特許庁

The integrated intensity of X-ray diffraction on a rolled surface of the copper alloy satisfy the relations (1): 30≤(I/I_0{220})/(I/I_0{200})≤95 and (2) 0.36≤2×(I/I_0{111})+(I/I_0{311})≤0.48.例文帳に追加

（１）３０≦（Ｉ／Ｉ_0｛２２０｝）／（Ｉ／Ｉ_0｛２００｝）≦９５、（２）０．３６≦２×（Ｉ／Ｉ_0｛１１１｝）＋（Ｉ／Ｉ_0｛３１１｝）≦０．４８ - 特許庁

The crystal of the L-psicose has angles of diffraction (2θ) of 15.2°, 18.8°, and 19.5° as main angles in powder X-ray diffractometry.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法で主な回折角（２θ）として１５．２°、１８．８°および１９．５°を示すＬ−プシコースの結晶。 - 特許庁

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁

To make processes speeded up by automatizing structural analyses of a specific polymer crystal using diffraction phenomena of X rays.例文帳に追加

Ｘ線の回折現象を利用した特定高分子結晶の構造解析を自動化して、処理の迅速化を図る。 - 特許庁

Orientational index = [34.56°/(31.88°+34.56°+36.36°)×100 (Each numerical value in the formula represents a strength at 2θ angle in X-ray diffraction).例文帳に追加

配向性指数＝[34.56°／（31.88°＋34.56°＋36.36°）×１００…(１) （式中の各数値は、Ｘ線回折における２θ角の強度を表わす） - 特許庁

The name of an element, characteristic X-ray type and diffraction order for state analysis are input to an input device 12.例文帳に追加

入力装置１２から状態分析を行う元素の元素名、特性Ｘ線種及び回折次数を入力する。 - 特許庁

Specifically, an optimum ageing condition is determined while a change of Ta-N coupling is observed by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

具体的には、Ｘ線回折法によりＴａーＮ結合の変化を観察しながら、最適なエージング条件を決める。 - 特許庁

To provide a new X-ray photographing film capable of reliably photographing moire fringes without using a diffraction grating.例文帳に追加

回折格子を用いることなくモアレ縞を確実に撮像することができる新たなＸ線撮像フイルムを提供する。 - 特許庁

An intensity ratio [I(200)/I(111)] between crystal orientation faces (200) and (111) measured by X-ray diffraction of the nickel belt is set to ≥5.0.例文帳に追加

ニッケルベルトのＸ線回折により測定される結晶配向面(200)と(111)の強度比〔Ｉ(200)/Ｉ(111)〕を５．０以上とする。 - 特許庁

This invention relates to a crystal solid designated as IZM-1 which has a specific X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

本発明は、ＩＺＭ−１で指定された結晶固体であって、特定のＸ線回折図を有するものに関する。 - 特許庁

The hydroxygallium phthalocyanin crystal exhibits major diffraction peaks at the Bragg angles of (2θ+0.2°) of 7.9°, 8.3°, 14.6°, 17.3°, 22.8°, 24.0°, 26.0°, and 28.9° in the X-ray diffraction spectrum by the CuK α-rays.例文帳に追加

ＣｕＫα線によるＸ線回折スペクトルにおいてブラッグ角（２θ±０．２°）７．９°、８．３°、１４．６°、１７．３°、２２．８°、２４．０°、２６．０°、２８．９°に主たる回折ピークを示すヒドロキシガリウムフタロシアニン。 - 特許庁

The first tantalum carbide coating film has a maximum peak value at 80° or more in an orientation angle of the (311) plane of a diffraction peak which corresponds to the tantalum carbide in an X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

第１炭化タンタル被覆膜は、Ｘ線回折により炭化タンタルに対応した回折ピークの（３１１）面の配向角度において８０°以上に最大のピーク値を有する。 - 特許庁

The tantalum carbide coating film 42 has a maximum peak value at 80° or more in an orientation angle of the (311) plane of a diffraction peak which corresponds to the tantalum carbide in an X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

炭化タンタル被覆膜４２は、Ｘ線回折により炭化タンタルに対応した回折ピークの（３１１）面の配向角度において８０°以上に最大のピーク値を有する。 - 特許庁

Each crystal has crystallinity that shows the diffraction peak of X-rays at a position same as the diffraction point (200) of TiO or TiN with a face-centered cubic lattice structure.例文帳に追加

この結晶は、後述するように、面心立方格子構造のＴｉＯもしくはＴｉＮの回折点（２００）と同じ位置にＸ線の回折ピークを示す結晶性を有するものである。 - 特許庁

The bis-maleic acid salt (a mixture of bis-maleic acid salt form I and bis-maleic acid salt form III) and free base forms of the compound have peaks at specific diffraction angles in a powder X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図において、特定の回折角にピークを有するビスマレイン酸塩（ビスマレイン酸塩Ｉ型、ビスマレイン酸塩ＩＩＩ型）及び遊離塩基型化合物。 - 特許庁

Preferably, the maximum peak diffraction angle in the wide angle X-ray diffraction of the polyethylene naphthalate fiber is 25.5-27.0, and the tanδ peak temperature of the fiber is 150-170°C.例文帳に追加

さらには、該ポリエチレンナフタレート繊維におけるＸ線広角回折における最大ピーク回折角が２５．５〜２７．０であることや、ｔａｎδのピーク温度が１５０〜１７０℃であることが好ましい。 - 特許庁

Further, the above oxide has a half-value width at a diffraction peak appearing at 15°<2θ<20° and 30°<2θ<45° of 5°(2θ) or more in an X-ray diffraction method using CuKα beams.例文帳に追加

また、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、１５°＜２θ＜２０°および３０°＜２θ＜４５°に現れる回折ピークの半値幅が５°（２θ）以上である上記酸化物を用いる。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus having high resolving power in a high-angle region of an angle 2θ of diffraction, low in background at a low angle and extremely simple in the control of slit width.例文帳に追加

回折角度２θの高角度領域において分解能が高く、低角度でバックグラウンドが低く、しかもスリット幅の制御が非常に簡単であるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

By the rotational oscillation of oscillation mirror 14 by the driving device 16, the incident position of the zero order diffraction light, and ±first order diffraction light becomes oscillating to X-axis direction while keeping mutual interval.例文帳に追加

駆動装置１６による振動ミラー１４の回転振動により、０次光、±１次回折光の入射位置は、互いの間隔を維持したまま、Ｘ軸方向に振動するようになる。 - 特許庁

This catalyst is a titanosilicate catalyst which has an X-ray diffraction pattern of the values indicated below and is also represented by the general formula: xTiO_2-(1-x)SiO_2 (x in the formula represents a figure of 0.0001 to 0.1), and serves for producing propylene oxide.例文帳に追加

下記に示す値のＸ線回折パターンを有し、かつ一般式 ｘＴｉＯ_２・（１−ｘ）ＳｉＯ_２ （式中ｘは０．０００１〜０．１の数値を表す。）で表されるチタノシリケートであるプロピレンオキサイド製造用触媒。 - 特許庁

To improve the measurement accuracy of the amount of adhesion of a metallic phase by improving X-ray diffraction intensity from the metallic phase contained in a plated layer in a method for measuring the amount of adhesion of the metallic phase contained in the plated layer using the X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた、めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法において、めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線強度を高め、金属相の付着量の測定精度を向上させる。 - 特許庁

The ceramic sintered compact has a perovskite structure, wherein a (002)/(200) ratio by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.0 and a half-value width of (002) by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.2.例文帳に追加

ペロブスカイト型構造を有するセラミックス焼結体であって、分極を施した後のＸ線回折による（００２）／（２００）比が１．０以上であり、又分極を施した後のＸ線回折による（００２）の半値幅が１．２以上である焼結体。 - 特許庁

For the ferroelectric BLT film, a peak intensity at an angle of diffraction of about 33.0° (a/b axis component) in an X-ray diffraction image in a direction of a film thickness is greater than a peak intensity at an angle of diffraction of about 30.0° (a component corresponding to a (117) plane).例文帳に追加

本発明のＢＬＴ系強誘電体膜は、膜厚方向のＸ線回折像において、回折角約３３．０°（ａ・ｂ軸成分）のピーク強度が、回折角約３０．０°（（１１７）面に対応する成分）のピーク強度よりも大きい。 - 特許庁

The transition metal composite oxide has a maximum diffraction peak by a X-ray diffraction using CuKα-ray in 10°<2θ<20° as a single peak and does not have a peak with intensity of not less than 1/10 of the maximum diffraction peak in 20°<2θ<25°.例文帳に追加

遷移金属複合酸化物は、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折での最大回折ピークが１０°＜２θ＜２０°に単一ピークとして存在し、且つ２０°＜２θ＜２５°に最大回折ピークの１／１０以上の強度のピークが存在しない。 - 特許庁

When the diffraction intensity of the (101) face of hexacelsian in the crystallized glass in X-ray diffraction is represented by I(101) and diffraction intensity from the (110) face by I(110), the relation of 0≤I(101)/I(110)≤1.5 is satisfied.例文帳に追加

ヘキサセルジアンを主結晶相とする結晶化ガラスであって、Ｘ線回折においてヘキサセルジアンの（１０１）面の回折強度をＩ（１０１）とし、（１１０）面からの回折強度をＩ（１１０）としたとき、０≦Ｉ（１０１）／Ｉ（１１０）≦１．５である。 - 特許庁

The carrier is characterized by developing one or two main diffraction lines in the ranges of 2θ of 2-14° and 2θ of 14-50° and providing a characteristic diffraction line of anhydrous α-MgCl2 in the X-ray powder diffraction spectrum.例文帳に追加

この担体のＸ線粉末回折スペクトルには、１つあるいは２つの主要な回折ラインが２〜１４°の２θ、及び１４〜５０の２θの範囲に現れ、無水α−ＭｇＣｌ_２の特徴的な回折ラインが存在することを特徴とする担体。 - 特許庁

In the sample fixing method of X-ray diffraction measurement, a sample is pasted to one surface of a base having a hollow exceeding an X-ray irradiation area for irradiating the sample with X rays from a target and capturing and counting diffracted X rays from the sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における試料固定方法は、ターゲットからＸ線を試料に照射し、試料からの回折されたＸ線を捕捉して計数するために、Ｘ線照射面積を越える中空を有する土台の片面に試料を貼るものである。 - 特許庁

The crystalline polymorph (form A) of the bazedoxifene acetate characterized according to the powder X-ray diffraction data, IR data, and DSC data, and the composition containing the crystalline polymorph are provided.例文帳に追加

より良好なバイオアベイラビリティー又はより良好な安定性を示すバゼドキシフェンアセテートの結晶多形の提供。 - 特許庁

The HC adsorbent has high heat resistance and keeps high XRD (X-ray diffraction) intensity after tested for heat resistance and durability.例文帳に追加

当該ＨＣ吸着剤は、耐熱性が高く耐熱耐久処理後におけるＸＲＤ回折強度が高く維持される。 - 特許庁

A mark-off line 2 is provided to the substrate 1 in parallel to a crystal azimuth for performing an OF process by use of an X-ray diffraction instrument.例文帳に追加

この基板１に対し、Ｘ線回折装置を用いてＯＦ加工を施す結晶方位に平行なケガキ線２を付ける。 - 特許庁

In the cryptocrystalline magnesia, a powder X-ray diffraction spectrum at a wavelength of 1.5405Å has an apex of a peak at 2θ=42.8°±0.3°.例文帳に追加

水酸化マグネシウム及び／又は炭酸マグネシウムを３００℃以上、１０００℃未満で加熱し、潜晶質マグネシアを製造する。 - 特許庁

The X-ray diffraction pattern (spacing of lattice plane, d/Å) 12.4±0.8, 10.8±0.3, 9.0±0.3, 6.0±0.3, 3.9±0.1, 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン（格子面間隔ｄ／Å）１２．４±０．８１０．８±０．３９．０ ±０．３６．０ ±０．３３．９ ±０．１３．４ ±０．１ - 特許庁

Each of the titania-based porous bodies consists essentially of titania and has X-ray diffraction peaks assigned to lattice-planes having 0.290±0.002 nm interplanar spacing and contains also crystals other than anatase phase crystals.例文帳に追加

チタニアを主成分とする多孔体であり、面間隔 0.290± 0.002nmの格子面に帰属されるＸ線回折ピークをもつ。 - 特許庁

The GaN type sample is subjected to X-ray diffraction measurement to calculate an hkl profile for each of a plurality of selected different reflection indexes hkl.例文帳に追加

ＧａＮ系試料をＸ線回折測定して、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。 - 特許庁

The diffraction peak of X rays is searched, while making the sample (crystal) 10 mounted on a goniometer vibrate by a piezoelectric element 34.例文帳に追加

ゴニオメータに搭載された試料（結晶）１０を、ピエゾ素子３４により振動させながらＸ線の回折ピークを探索する。 - 特許庁

An X-ray diffraction is measured with respect to the GaN type sample to calculate hkl profiles at every a plurality of selected reflection indexes hkl.例文帳に追加

ＧａＮ系試料に対してＸ線回折測定をし、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。 - 特許庁

The oxide containing vanadium is an oxide containing vanadium that exhibits a main peak at 2θ=26.2°(±0.2°) in X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

バナジウム含有酸化物は、Ｘ線回折スペクトルにおいて２θ＝２６．２°（±０．２°）にメインピークを示すバナジウム含有酸化物である。 - 特許庁

To provide a new carrier which contains an alcohol and which is based on magnesium chloride, having a specific X-ray powder diffraction spectrum.例文帳に追加

アルコールを含み、特別なＸ線粉末回折スペクトルを有する新規の塩化マグネシウムをベースとする担体を提供すること。 - 特許庁

The crystal is confirmed to be a single crystal β-FeSi2 phase from X-ray diffraction of the formed β-FeSi2.例文帳に追加

生成したβ−ＦｅＳｉ_2のＸ線回折から、結晶は単結晶β−ＦｅＳｉ_2相であることが確認された。 - 特許庁

A solid IM-11 with the LTA-type structure has an X-ray diffraction pattern having at least its peaks shown in Table 1.例文帳に追加

ＬＴＡ型構造を有する固体のＩＭ−１１は、少なくとも表１に示す線を持つＸ線回折図を有する。 - 特許庁