「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The obtained silicon oxide becomes noncrystalline SiO_x (x<1) which does not show a diffraction peak derived from metal silicon and silicon dioxide in X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

得られた珪素酸化物は、Ｘ線回折測定において金属珪素および二酸化珪素に由来する回折ピークを示さない、非結晶質のＳｉＯ_x（ｘ＜１）となる。 - 特許庁

When the molding is measured in X-ray diffraction by using a 7.5 kW X ray, the compact having a peak in the angle of diffraction of 0.4-12.6° is excluded.例文帳に追加

該成形体は、７．５ｋＷのＸ線を用いてＸ線回折を測定したときに、０．４〜１２．６°の範囲の回折角に対応するピークを備えるものを除く。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR MEASURING DIFFRACTION OF OBLIQUELY EMITTED X-RAYS AND APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING DIFFRACTION OF OBLIQUELY EMITTED X-RAYS USING THE SAME例文帳に追加

斜出射Ｘ線回折測定用試料ホルダ及びこれを用いた斜出射Ｘ線回折測定装置、並びに、これを用いた斜出射Ｘ線回折測定方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR OBLIQUELY INCIDENT X-RAY DIFFRACTION AND APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING OBLIQUELY INCIDENT X-RAY DIFFRACTION USING THE SAME例文帳に追加

斜入射Ｘ線回折用試料ホルダ及びこれを用いた斜入射Ｘ線回折測定装置、並びに、これを用いた斜入射Ｘ線回折測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MEASURING DATA OF CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ＣＣＤセンサの測定データ取得方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁

To judge the presence of a twist distribution by subjecting a GaN type sample to X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

ＧａＮ系試料をＸ線回折測定して、twist 分布の存否を判定する。 - 特許庁

STRUCTURE FACTOR TENSOR ELEMENT DETERMINATION METHOD, AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE UTILIZATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

構造因子テンソル要素決定法及びそのためのＸ線回折装置利用法 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and/or an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び／又は振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 17.7, 18.9, 19.3, 20.2, 20.7, 21.3 and 25.5 degree at a diffraction angle (2θ±0.1) in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１７．７、１８．９、１９．３、２０．２、２０．７、２１．３および２５．５度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

In other words, a diffraction peak can not be observed in a X-ray diffraction spectrum of the electric charge blocking layer 105, or a half width of the highest diffraction peak therein is ≥5 degrees.例文帳に追加

または、電荷ブロッキング層１０５のＸ線回折スペクトルにおいて回折ピークが現れない、もしくはその中で最大となる回折ピークの半値幅が５°以上とする。 - 特許庁

The anode material contains a carbonaceous material having a diffraction peak between 2θ diffraction angles of 30 to 32° in an X-ray (CuKα) powder diffraction pattern.例文帳に追加

負極材料は、Ｘ線（ＣｕＫα）粉末回折パターンにおける２θ回折角３０度〜３２度の間に回折ピークを有する炭素質材料を含有する。 - 特許庁

This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 5.0, 16.1,18.8,19.1,20.7,21.1 and 23.9 degree at a diffraction angle (2θ±0.1 in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、５．０、１６．１、１８．８、１９．１、２０．７、２１．１および２３．９度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

The crystal of (2R,4R)-monatin potassium salt shows an X-ray powder diffraction pattern having characteristic peaks at diffraction angles 2θ of 5.5°, 7.2°, 8.1°, 8.9° and 16.3°, by powder X-ray diffraction (Cu-Kα ray).例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線による粉末Ｘ線回折で得られるＸ線回折パターンにおいて、５．５°、７．２°、８．１°、８．９°および１６．３°に回折角２θの特徴的ピークを有する、（２Ｒ，４Ｒ）−モナティンのカリウム塩結晶。 - 特許庁

The skin 1 is irradiated with X rays through a beam passing hole 47 to perform measurement by an X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置によってビーム通過孔４７を通して皮膚１にＸ線を照射して計測が行われる。 - 特許庁

The opening of the first slit is extended in parallel to a diffraction plane (plane including an incident X-ray and a diffracted X-ray).例文帳に追加

第１スリットの開口は，回折平面（入射Ｘ線と回折Ｘ線とを含む平面）に平行に延びている。 - 特許庁

This method is a micro X-ray diffraction measuring method for irradiating a micro part of a sample S with an X-ray to detect the diffracted X-ray generated in the micro part.例文帳に追加

試料Ｓの微小部にＸ線を照射してその微小部に発生する回折Ｘ線を検出する微小部Ｘ線回折測定方法である。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus with a smaller amount of movement required for X-ray adjustment and with a smaller amount of time required for X-ray adjustment.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、Ｘ線調整に要する動作量を減少させ、また、Ｘ線調整に要する調整時間を減少させる。 - 特許庁

In the graphite sheet, the peak strength ratio (P100/002) of (100) diffraction peak to (002) diffraction peak and the peat strength ratio (P110/002) of (110) diffraction peak to (002) diffraction peak, both by X-ray diffraction method, are set at 10 or higher.例文帳に追加

グラファイトシートにおいて、Ｘ線回折法による、（１００）回折ピーク及び（００２）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１００／００２）と、（１１０）回折ピーク及び（００２）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１１０／００２）とが１０以上に設定されている。 - 特許庁

To precisely measure diffraction rings without reference to the intensity of diffracted X rays.例文帳に追加

回折Ｘ線の強度にかかわらず、回折環を精度よく測定できるようにする。 - 特許庁

FRESNEL ZONE PLATE, AND INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

フレネルゾーンプレートおよびＸ線回折測定装置ならびにＸ線回折測定方法 - 特許庁

The X-ray diffraction measurement of the measuring objective sample is performed with a transmission method.例文帳に追加

この測定対象試料に対して透過法によるＸ線回折測定を行う。 - 特許庁

Alternatively, in the range of discharge depth of 50-90%, the relationship of a minimum value I1 of X-ray diffraction intensity of at least one or more X-ray diffraction peak to X-ray diffraction intensity I0 at 100% of discharge depth satisfies I1/I0>0.5.例文帳に追加

または、放電深度５０％〜９０％の範囲内において、少なくとも１以上のＸ線回折ピークのＸ線回折強度の最小値Ｉ_1 が放電深度１００％でのＸ線回折強度Ｉ_0 に対しＩ_1／Ｉ_0＞０．５なる関係を満たす。 - 特許庁

To provide an oblique entrance type multilayer diffraction grating spectroscope which has high diffraction efficiency and high heat resistance in an X-ray range having the energy of 1-3 keV (the wavelength: 0.4-1.2 nm) and in which a multilayer film is applied to a diffraction grating and the total reflection of an obliquely-entranced X-ray is utilized.例文帳に追加

1-3keV（波長：0.4-1.2nm）のエネルギーをもつX線領域において、高い回折効率および高い耐熱性をもつ、回折格子に多層膜を適用した斜入射による全反射を利用した斜入射型の多層膜回折格子分光器を提供する。 - 特許庁

POWDER X-RAY DIFFRACTION DATA MEASURING METHOD USING ONE-DIMENSIONAL OR TWO-DIMENSIONAL DETECTOR例文帳に追加

１次元または２次元検出器を用いた粉末Ｘ線回折データ測定方法 - 特許庁

This composite oxide has an X-ray diffraction peak that corresponds to the fluorite type structure.例文帳に追加

この複合酸化物は、蛍石型構造に対応するＸ線回折ピークを有する。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device which miniaturizes a heater and enlarges the burning region for heating a sample without adversely affecting the measurement result of X-ray diffraction, and to simultaneously apply X-ray diffraction measurement to a plurality of samples.例文帳に追加

Ｘ線回折の測定結果に悪影響を及ぼすことなく、ヒータの小型化が図れながら試料を加熱する均熱領域を広くできるＸ線回折装置を提供し、複数の試料に対して同時にＸ線回折測定が良好に行えるようにする。 - 特許庁

The total axial orientation of the substrate 1 by the X-ray diffraction measurement is ≥50%.例文帳に追加

基板１のＸ線回折測定による全軸配向度が５０％以上である。 - 特許庁

To calibrate an X-ray diffraction system for measuring a lattice constant highly accurately.例文帳に追加

高精度に格子定数を測定するためのＸ線回折システムの校正を可能にする。 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE EQUIPPED WITH TWO-DIMENSIONAL DETECTOR, AND DELETION METHOD OF ITS BLANK INTENSITY例文帳に追加

２次元検出器を備えたＸ線回折装置とそのブランク強度の削除方法 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device capable of acquiring sufficient diffraction line intensity in a 2θ high angle domain where the diffraction line intensity is weakened, when the sample quantity is small, and maintaining accurately relative X-ray intensity of a diffraction peak in a 2θ middle angle domain and in a 2θ low angle domain where the X-ray irradiation width is widened.例文帳に追加

試料の量が少ない場合に、回折線強度が弱くなる２θ高角度領域で十分な回折線強度を獲得でき、Ｘ線照射幅が広くなる２θ中角度領域及び２θ低角度領域において回折ピークの相対Ｘ線強度を正しく維持できるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To irradiate a sample with an incident X-ray of optional wave-length to easily conduct various kinds of X-ray diffraction measurement, by using continuous X-rays generated from an X-ray tube.例文帳に追加

Ｘ線管から発生する連続Ｘ線を利用することにより、任意波長の入射Ｘ線を試料に照射して各種のＸ線回折測定を容易に実施可能とする。 - 特許庁

In a powder X-ray diffraction pattern of the lithium composite metal oxide by powder X-ray diffractometry in the diffraction angle 2θ of 10° to 90° using CuKα as the source, a diffraction peak (diffraction peak A) is present in the diffraction angle 2θ of 20° to 23°.例文帳に追加

ＣｕＫαを線源とし、かつ回折角２θの測定範囲を１０°以上９０°以下とする粉末Ｘ線回折測定により得られるリチウム複合金属酸化物の粉末Ｘ線回折図形において、２θが２０°以上２３°以下の範囲に回折ピーク（回折ピークＡ）を与えることを特徴とするリチウム複合金属酸化物。 - 特許庁

The X-ray intensity data are improved by measuring diffraction X rays from the metallic phase contained in the plated layer at a plurality of positions to the same Debey ring and integrating the obtained diffraction X-ray intensity data.例文帳に追加

めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線を、同一のデバイ環に対して複数の位置で測定し、得られる回折Ｘ線強度データを積算することにより、Ｘ線強度データを高める。 - 特許庁

The intermediate side part 1D has a diffraction structure 4, and a longitudinal axis y and a horizontal axis x of the diffraction structure 4 has different pitches.例文帳に追加

中間部側方１Ｄには回折構造４が設けられ、この回折構造４の縦軸ｙと横軸ｘとで異なるピッチとした。 - 特許庁

The semiconductor laminate 13 has an X-ray diffraction half-value width of ≤100 seconds (0002) plane direction, an X-ray diffraction half-value width of ≤250 seconds in a (10-12) plane direction.例文帳に追加

半導体積層１３では（０００２）面方向のＸ線回折半値幅は１００秒以下であり、（１０−１２）面方向のＸ線回折半値幅は２５０秒以下である。 - 特許庁

In the aluminum nitride powder, the intensity ratio I(002)/I(100) of diffraction peak of (002) plane to that of (100) plane in X-ray diffraction using a Cu-Kα ray is 0.2-0.5.例文帳に追加

Cu−Kα線を用いたX線回折において（００２）面と（１００）面からの回折ピークの強度比Ｉ（００２）／Ｉ（１００）が０．２〜０．５であることを特徴とする窒化アルミニウム粉末。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus in which an X-ray diffraction of a thin film formed on a cylindrical basic body, including an electrophotographic photosensitive body, can be measured with sufficient intensity.例文帳に追加

電子写真感光体を始めとする円筒状の基体の上に形成された薄膜のＸ線回折を十分な強度で測定することができるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an X-ray diffraction apparatus capable of performing X-ray diffraction and measurement with respect to both of a sample large in crystal grain and a sample small in crystal grain under a proper condition.例文帳に追加

結晶粒の大きい試料及び結晶粒の小さい試料の両方に対して適正な条件でＸ線回折測定を行うことができるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

An X-ray imaging unit 11 is placed in a position at an approximate Talbot distance L from a diffraction grating for Talbot and is a unit for imaging X-rays diffracted by the diffraction grating for Talbot.例文帳に追加

Ｘ線撮像ユニット１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像するためのユニットである。 - 特許庁

When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁

That is to say, it is preferable if a diffraction peak can be obtained at diffraction angles 2θ within the range of 42° or more and 44° or less when the Si alloy powder is put under a powder X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

つまり、このＳｉ合金粉末について粉末Ｘ線回折測定を行うと、回折角度２θが４２°以上４４°以下の範囲内に回折ピークが得られることが好ましい。 - 特許庁

An X-ray diffraction device is equipped with: an X-ray source; a movable holding table which holds samples; a two-dimensional detector which detects X-rays to be emitted by diffraction from samples; and a control processing part which controls the X-ray source and the two-dimensional detector.例文帳に追加

Ｘ線回折装置は、Ｘ線源と、試料を保持し、移動可能な保持台と、試料から回折により出射されるＸ線を検出する２次元検出器と、Ｘ線源と保持台と２次元検出器とを制御する制御処理部とを備える。 - 特許庁

The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.例文帳に追加

絶縁層のＸ線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、０．６以上とする。 - 特許庁

To perform simultaneously X-ray diffraction measurement by a plurality of kinds of characteristic X-rays by irradiating a sample simultaneously with the plurality of kinds of characteristic X-rays.例文帳に追加

複数種類の特性Ｘ線を同時に試料に照射して，複数種類の特性Ｘ線によるＸ線回折測定を同時に実施できるようにする。 - 特許庁