「X diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The copper-base alloy excellent in press workability, in which, as to the X-ray diffraction intensity of the cross section of the material, the sum of the diffraction intensity of {111} and that of {222} becomes two or more times that of {200}, and its manufacturing method are provided.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

The FeF_3 powder is impalpable powder of half-width of 0.2 rad or more of diffraction peak in (012) plane by X-ray diffraction.例文帳に追加

本発明の正極活物質は、アルカリ金属イオンを挿入・脱離可能なＦｅＦ_３粉末からなる正極活物質であって、ＦｅＦ_３粉末は、Ｘ線回折による（０１２）面の回折ピークの半値幅が０．２ｒａｄ以上である微粉末である。 - 特許庁

The Al electrode layer 4 is an oriented film grown by epitaxial growth and is also a polycrystalline thin film having a twin structure in which a diffraction pattern observed in an X-ray diffraction pole figure has a plurality of symmetry centers.例文帳に追加

Ａｌ電極層４は、エピタキシャル成長した配向膜であり、かつＸ線回折極点図において観察される回折パターンが複数の対称中心を有する双晶構造を持つ多結晶薄膜となるようにされる。 - 特許庁

Lithium manganate of which the variation of a half-value width of an essential diffraction line by the X-ray diffraction under a charging condition of 0%-100%, is 25% or less, is used in a positive electrode active material, and amorphous carbon is used in a negative electrode active material.例文帳に追加

正極活物質に充電状態０％乃至１００％間のＸ線回折による主要回折線の半値幅変化を２５％以下としたマンガン酸リチウムを用い、負極活物質に非晶質炭素を用いた。 - 特許庁

To provide a micro-portion X-ray irradiation device and its method of an X-ray diffraction device having an unchanged irradiation field even when a sample is tilted at a tilt angle of 15-30 degrees with respect to an incident beam and subjected to in-plane rotation.例文帳に追加

試料を入射ビームに対し１５〜３０度の傾斜角度で傾けて面内回転しても照射野の変化のないＸ線回折装置の微小部Ｘ線照射装置とその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a selection inspection method for a mother shell expected to prepare a pearl satisfactory gloss, by measuring the orientation of an aragonite crystal in a pearl layer inside the shell by X-ray diffraction.例文帳に追加

本発明は、貝殻内部の真珠層におけるアラゴナイト結晶の配向性を、X線回折により測定することで、光沢のよい真珠を作ることができると思われる母貝の選別検査法を提供する。 - 特許庁

A diffraction grating 20 for an X-ray Talbot interferometer has a plurality of X-ray absorption parts 20b formed on a substrate 22 by cutting a metal film 20bx in a wavy shape at prescribed intervals in one direction.例文帳に追加

基板２２上に金属膜２０ｂｘを切削して形成したＸ線吸収部２０ｂが、一方向に沿って所定間隔で畝状に複数形成されているＸ線タルボ干渉計用回折格子２０である。 - 特許庁

In the dust core, the soft magnetic particles are composed of mixed particles of Fe-Si-Al alloy particles and Fe-Ni alloy particles, and when the dust core is analyzed by X-ray diffractometry, the next diffraction peak intensity ratio is 0.45 or less.例文帳に追加

この圧粉磁心は、前記軟磁性粒子は、Fe-Si-Al合金粒子とFe-Ni合金粒子と混合粒子で構成され、当該圧粉磁心をX線回折法により分析した際、次の回折ピーク強度比が0.45以下である。 - 特許庁

The X-ray diffraction pattern of a residual part after the hydrate phase of the hydrate product is dipped into a 5-10 vol% sulfuric acid aqueous solution and absolutely dried has a halo form having a peak in 24±1° (expressed by Cukα2θ).例文帳に追加

水和生成物の水和相を5乃至10容量％の硫酸水溶液中にて浸漬した後の絶乾処理した残査部分のX線回折パターンが、24°±１°（Cukα2θ表示）にピークを持つハロー図形を示す。 - 特許庁

A method for analysis includes: a step of directing a converging beam 30 of X-rays 26 toward a surface of a sample 22 having an epitaxial layer formed thereon; and a step of sensing the X-rays that are diffracted from the sample while resolving the sensed X-rays as a function of angle so as to generate a diffraction spectrum including a diffraction peak and fringe spectrum due to the epitaxial layer.例文帳に追加

Ｘ線２６の集束するビーム３０を、エピタキシャル層がその上に形成されたサンプル２２の表面に配向するステップと、１つの回折ピークとエピタキシャル層に起因する周辺スペクトルを有する回折スペクトルを生成するため、サンプルから回折されたＸ線を検知し、同時に、検知されたＸ線を角度の関数として解析するステップと、からなる分析方法。 - 特許庁

By comparing a reference data base in which two-dimensional X-ray diffraction line data of an equatorial direction (2θ direction) and a Debye ring direction (β direction) on a plurality of substances is stored with two-dimensional X-ray diffraction line data of the equatorial direction and the Debye ring direction on substance to be measured, the substance to be measured is identified.例文帳に追加

複数の物質に関する赤道方向（２θ方向）およびデバイリング方向（β方向）の２次元Ｘ線回折線データを記憶した標準データベースと、被測定物質の赤道方向およびデバイリング方向の２次元Ｘ線回折線データとを比較することにより、被測定物質の同定を行う。 - 特許庁

The ceramic substrate for the wafer prober with a chuck top conductor layer formed on the surface thereof is provided, wherein an X-ray diffraction chart of the ceramic substrate, in addition to a peak of the ceramic constituting a main crystal phase thereof, a peak of carbon is detected to an angle of X-ray diffraction of 2θ=44 to 45°.例文帳に追加

その表面にチャックトップ導体層が形成されてなるセラミック基板において、前記セラミック基板のＸ線回折チャートにおいて、主結晶相を構成するセラミックのピークの他に、Ｘ線回折角度２θ＝４４〜４５°にカーボンのピークが検出されることを特徴とするウエハプローバに使用されるセラミック基板。 - 特許庁

The image forming material comprises a perimidine-based squarylium dye that has a specific structure for showing diffraction peaks at least at Bragg angles (2θ±0.2°) of 17.7°, 19.9°, 22.1°, 23.2° and 24.9° in its X-ray powder diffraction spectrum measured by irradiation with X-rays generated from Cu target with a wavelength of 1.5405 Å.例文帳に追加

Ｃｕターゲットで波長が１．５４０５ÅのＸ線照射により測定される粉末Ｘ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角（２θ±０．２°）で、少なくとも１７．７°、１９．９°、２２．１°、２３．２°、２４．９°に回折ピークを示す特定構造のペリミジン系スクアリリウム色素を含有することを特徴とする画像形成材料。 - 特許庁

This sample holding device is equipped with a transmission type sample holder support member 42 capable of mounting detachably a transmission type sample holder 40 adaptable to the X-ray diffraction measurement by the transmission method, and a reflection type sample holder support member capable of mounting detachably a reflection type sample holder adaptable to the X-ray diffraction measurement by the reflection method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定に適合する透過型試料ホルダ４０を、着脱自在に装着可能な透過型試料ホルダ支持部材４２と、反射法によるＸ線回折測定に適合する反射型試料ホルダを、着脱自在に装着可能な反射型試料ホルダ支持部材とを備える。 - 特許庁

By applying heat treatment to a metal magnetic powder containing Fe, Si, and Al produced by an atomize method, when the diffraction intensity by X-ray diffraction method from (111) is made to be I(111) and the diffraction intensity from (220) is made to be I(220), the metal magnetic powder is adjusted so as to be I(111)/I(220)≥0.025.例文帳に追加

アトマイズ法により作製したＦｅ、ＳｉおよびＡｌを含む金属磁性粉末に、熱処理を施して、Ｘ線回折法による（１１１）からの回折強度をＩ（１１１）、（２２０）からの回折強度をＩ（２２０）としたとき、Ｉ（１１１）／Ｉ（２２０）≧０．０２５からなる金属磁性粉末となるように調整する。 - 特許庁

It is more preferable that the center line average roughness Ra75 in the surface of the plating layer is ≤0.8 μm, and the ratio of the diffraction intensity Iζof a ζ phase to the diffraction intensity Iδ_1 of a δ1 phase in the plating layer measured using an X-ray diffraction method is ≤0.1.例文帳に追加

めっき層表面の中心線平均粗さＲａ７５が０．８μｍ以下であり、Ｘ線回折法を用いて測定されためっき層中のζ相の回折強度Ｉζとδ１相の回折強度Ｉδ_1との比であるＩζ／Ｉδ_1が０．１以下であることはより好ましい実施態様である。 - 特許庁

The alkaline storage battery 1 is constructed so that at least a part of the crystal structure of the anode active material is changed by charge and discharge, and the anode active material is controlled so as to indicate a new diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ, by X-ray diffraction using a CuKα ray.例文帳に追加

アルカリ蓄電池１は、充放電により正極活物質の結晶構造の少なくとも一部が変化し、正極活物質がＣｕＫα線によるＸ線回折で回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に新たな回折ピークを示すようになることを抑制するように構成されている。 - 特許庁

When analyzed by X-ray diffraction measurement, this molybdenum exhibits, in at least part of the region corresponding to a sheet-thicknesswise depth of one fifth of the whole thickness from the surface, areas which each contain such a domain where the peak intensities of the (110) and (220) diffraction planes are each lower than the peak intensity of the (211) diffraction plane.例文帳に追加

本発明のモリブデン材は、表面から板厚方向に向かって全厚の５分の１の深さに該当する領域において、Ｘ線回折測定した場合、結晶回折面（１１０）および（２２０）のそれぞれのピーク強度が、（２１１）のピーク強度未満となる領域が存在する部分を少なくとも一部に有する。 - 特許庁

To provide a polychrometer discriminating light of a plurality of desired wavelengths contained in a soft X ray incident to a device and forming an image on a detection device or a photosensitive substance surface, in a soft X ray range of a few kilo-electron volts wherein a conventional diffraction grating spectroscopic device is not practicable.例文帳に追加

本発明は、従来回折格子分光器が実用とならなかった数keVの軟X線領域において装置に入射する軟Ｘ線光に含まれる複数の所望の波長の光を分別し検出器または感光物質面に結像させうる多色計（ポリクロメータ）を提供するものである。 - 特許庁

The incident angle θ of the X rays R_1 entering a sample S is changed at a predetermined angular velocity at the time measurement and the detected angle 2θ of the diffraction line due to the X-ray detector 10 is changed in the direction reverse to a θ-direction at an angular velocity twice the incident angle θ of X rays.例文帳に追加

試料Ｓへ入射するＸ線Ｒ_１の入射角度θは測定に際して所定角速度で変化し、Ｘ線検出器１０による回折線検出角度２θはＸ線入射角θの２倍の角速度でθ方向と逆方向に変化する。 - 特許庁

This method for producing the dielectric ceramic composition comprising barium titanate, a glass component and an additive component is characterized by using a barium titanate raw material in which a (111) plane diffraction peak is observed in an X-ray diffraction using Cu-Kα beam as the X-ray source, and the half-value width of the diffraction peak is controlled to be 0.2° or less.例文帳に追加

チタン酸バリウムと、ガラス成分と、添加物成分とを有する誘電体磁器組成物を製造する方法であって、Ｘ線源にＣｕ−Ｋα線を用いたＸ線回折において、（１１１）面の回折ピークが観察され、該回折ピークの半値幅が０．２°以下に制御されたチタン酸バリウム原料を用いて、前記誘電体磁器組成物を製造することを特徴とする誘電体磁器組成物の製造方法。 - 特許庁

As a positive electrode active material for a secondary battery, β-FeOOH is used with aspect ratio of particles of not more than 5, and with half-value width Y of 0.30 <Y(2θ) showing a (110) face diffraction peak with an X-ray diffraction method using a CuKα beam.例文帳に追加

二次電池用正極活物質として、粒子のアスペクト比が５以下のβ—ＦｅＯＯＨであって、さらにＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、半値幅Ｙが０．３°＜Ｙ（２θ）の（１１０）面回折ピークを示すβ—ＦｅＯＯＨを用いる。 - 特許庁

This enables the arranging of one end 22a of the core line 22 built in the curved PSPC 20 at a position that allows the detection of diffraction X rays generated from the sample to a higher angle region extending to 180° in the angle of diffraction.例文帳に追加

このような配置とすることにより、試料から発生する回折Ｘ線を回折角１８０°に至る高角領域まで検出可能な位置へ、湾曲ＰＳＰＣ２０に内蔵した芯線２２の一端２２ａを配置することが可能となる。 - 特許庁

The above problem can be solved by using a coloring agent composed of a pseudo-unidimensional crystalline organic color pigment exhibiting X-ray diffraction spectrum having the refraction line showing the maximum intensity and its n-th order ((n) is an integer of ≥2) diffraction lines as main peaks.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線とそのｎ次（ｎ：２以上の整数）の回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性カラー有機顔料からなる着色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

In the lithium manganese multiple oxide, the peak intensity ratio (A/B) of the deffraction peak intensity (A) observed at 15.3±1.0° to the diffraction peak intensity (B) observed at 18.2±1.0° in a powder X-ray diffraction under the following measurement condition is expressed by 0.001<A/B.例文帳に追加

下記測定条件での粉末Ｘ線回折で１５．３±１．０°に観測される回折ピーク強度（Ａ）と１８．２±１．０°に観測される回折ピーク強度（Ｂ）とのピーク強度比（Ａ／Ｂ）が ０．００１ ＜ Ａ／Ｂ であるリチウムマンガン複合酸化物。 - 特許庁

The carbon electrode includes carbon powder having a wood tar as a raw material and a diffraction line near 2θ=26° and 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuK_α for a line source as a claim 1.例文帳に追加

本発明の炭素電極は、請求項１として、木タールを原料とし、線源にＣｕＫαを用いた粉末Ｘ線回折パターンにおいて、２θ＝２６°付近と２θ＝４４°付近に回折線を有する炭素粉末を含有することを特徴とする。 - 特許庁

Each of the feed material 11 and the seed material 12 has a surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and when the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed.例文帳に追加

フィード材１１及びシード材１２のそれぞれは、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有し、かつ、表層のＸ線回折により（１１１）結晶面に対応した回折ピークが観察されるものである。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

To provide a sample holding device capable of coping with both X-ray diffraction measurements of a transmission method or a reflection method, holding a plurality of samples, and arranging an optional portion of each held sample on an X-ray irradiation position.例文帳に追加

透過法と反射法、いずれのＸ線回折測定にも対応可能で、複数の試料を保持でき、しかも保持した各試料の任意の部位をＸ線照射位置へ配置することができる試料保持装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction equipment fit for large samples, in which large samples can be moved in a small space and a stress in a direction normal to the direction of X-ray beams can be measured for large samples.例文帳に追加

小さなスペースで大型試料を移動することができ、また、大型の試料についてもＸ線ビーム方向と垂直な方向の応力測定を行うことができる、大型試料に適したＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The -Z surface of the quartz Lambert's ore is angularly measured by a conventional X-ray diffraction device and the Z-axis is rotated by an angle (38°13'-θ) centering around the X-axis on the basis of the r-surface to cut the quartz Lambert's ore in parallel to the obtained surface.例文帳に追加

補助ブロックの−Ｚ面を従来のＸ線回折装置で測角し、そのｒ面を基準にＸ軸を中心にＺ軸を角度（３８°１３′−θ）回転させ、得られた面に平行に水晶ランバード原石を切断する。 - 特許庁

The W sputtering target is characterized in that a half band width of a peak corresponding to a crystal plane (110) of the target is 0.35 or less when a surface of the target to be sputtered is analyzed by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｗスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のＸ線回折により得られた結晶面（１１０）のピークの半値幅が０．３５以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus capable of showing the explanation related to a measuring condition to an operator on the screen of a display device and not making it hard to see the screen.例文帳に追加

測定条件に関する説明を表示装置の画面上でオペレータに提示することができ、しかも、画面が見難くなることのないＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

When in the tetragonal form, the piezoelectric ceramics has a lattice constant ratio c/a of 1.017 to 1.023, and the half-width of an X-rays diffraction strength at (101) surface of 0.1° to 0.3°.例文帳に追加

その正方晶においては、格子定数比ｃ／ａが１．０１７〜１．０２３であり、かつ（１０１）面のＸ線回折強度の半値幅が０．１°〜０．３°である。 - 特許庁

As compared with a method for measuring the diffraction line intensity of asbestos by scanning the light detection slit 5 and the X-ray detector 8, a measuring time can be shortened largely.例文帳に追加

受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

A half width of an x-ray diffraction peak corresponding to a (100) plane of the zirconium crystal is between 0.7° and 1.5°, and an average value of a crystallite size is 3-20 nm.例文帳に追加

ジルコニウム結晶の（１００）面に対応するＸ線回折ピークの半値幅は０．７°から１．５°であり、結晶子サイズの平均値は３ｎｍ以上２０ｎｍ以下である。 - 特許庁

The hemihydrate of the compound shown by an X-ray powder diffraction diagram includes a melting point of Tm.p.=120±5°C (measured by differential scanning calorimetry; evaluation by the peak maximum; and heating rate: 10°C/min).例文帳に追加

Ｔm.p.＝１２０±５℃の融点（示差走査熱量測定法により測定；ピーク最大により評価；加熱速度：１０℃／分）でＸ線粉末回折図で示される半水化物。 - 特許庁

(1) A crystallite size of (110) planes in the vicinity of 2θ=66° determined in an X-ray diffraction image using CuK_α radiation line is 1000Å or more.例文帳に追加

（１）ＣｕＫαを線源とするＸ線回折像において測定される２θ＝６６゜付近の（１１０）面結晶子サイズが、１０００オングストローム以上であること。 - 特許庁

An X-ray diffraction device 1 is constituted by installing a signal processing unit 21 comprised of a DSP (digital signal processor) on the outside of a computer comprised of a CPU 17, a memory 20 and the like.例文帳に追加

ＣＰＵ１７、メモリ２０等から成るコンピュータの外部にＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）から成る信号処理部２１を設置して成るＸ線回折装置１である。 - 特許庁

Moreover, the distribution of the first peak intensity showing the maximum intensity in an X-ray diffraction pattern inside a stimulable phosphor layer face is isotropic from the center of the support 11.例文帳に追加

そして、輝尽性蛍光体層面内のＸ線回折パターンにおいて最大強度を示す第１ピーク強度の分布が支持体中心から等方的である。 - 特許庁

The nucleating agent consists of a compound expressed by formula (1), having ≤10 μm mean particle diameter and essentially exhibits no crystalline peak in an X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

下記一般式（１）で表される化合物からなり、平均粒径１０μｍ以下で且つＸ線回折分析で結晶性ピークを実質的に有しない造核剤。 - 特許庁

The primary particle diameter may be 5-10 μm, and the X-ray diffraction peak intensity ratio of I(111)/I(311) may be 1.5-3.0.例文帳に追加

前記一次粒子直径が５ないし１０μｍであり、前記Ｘ線回折ピーク強度のＩ（１１１）／Ｉ（３１１）が、１．５ないし３．０であることを特徴とする。 - 特許庁

Then, water glass G is poured from a pouring port 5 into a cavity 4 formed in the sleeve 2 by the dies 1, 3 and hardened to prepare a diffraction optical device X.例文帳に追加

ここで、金型１、３によりスリーブ２内に形成されたキャビティ４内に注入口５から水ガラスＧを注入して硬化させ、回折光学素子Ｘを作成する。 - 特許庁

An anode active material of the anode 22 contains hardly graphitizable carbon with an interval of (002) face of ≥0.37 nm as measured in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

負極２２の負極活物質は、Ｘ線回折法により測定される（００２）面の面間隔が０．３７ｎｍ以上である難黒鉛化性炭素を含有している。 - 特許庁

To provide a method of analyzing crystal structures, which can be improved in detection sensitivity in comparison with conventional methods, when evaluating degradation of structure using X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた構造劣化を評価する上で、従来と比較して検出感度の向上が可能な、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁